CN107816950A - 基于亚像素角点识别的试样表面变形数字图像测量装置及方法 - Google Patents

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鞠鹏
刘潇
王春
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Abstract

本发明属于数字图像测量和岩土工程试验技术领域,涉及基于亚像素角点识别的试样表面变形数字图像测量装置及方法。测量装置由新型图测压力室、CMOS工业相机、相机支架、柔性遮光罩以及计算机和配套的测量软件组成。该方法通过试样上印制的方格,将试样离散成若干个四节点有限单元,网格的角点作为有限单元的节点;基于亚像素的边缘检测和角点识别,实时跟踪特征点的变形;通过试样后方的两面成120°的平面镜来捕获试样的全表面变形信息,将三幅图像进行拼接和误差修正,实现全表面的变形观测。本发明成本低、装置简单、环境适用性强、测量精度高,能实时测量并跟踪特征点的变形,得到全表面的变形场和应变场。

Description

基于亚像素角点识别的试样表面变形数字图像测量装置及 方法
技术领域
本发明属于数字图像测量和岩土工程试验技术领域,涉及一种基于亚像素角点识别的试样表面数字图像测量装置及方法。
背景技术
试样变形测量是实验力学中最重要的内容之一,也是岩土工程试验的重要内容。传统的试样变形测量多采用应变计、霍尔效应传感器、局部变形测量传感器、电涡流传感器等测量方法,这些方法有以下缺点:(1)平均测量,(2)接触式测量,(3)测量精度不高或是测点较少。同时,都不能得到试样的整体变形图像,也得不到试样局部任意点变形的应变场,难以实现对试样局部变形特性进行研究;并且,对于有些特殊条件下的测量环境,对测量手段会有更高的要求,比如测量一个土试样在有水压力容器内的变形,采用传统的测量方法会干扰试样,且在水下有压力的环境内操作很麻烦。因此在传统的测量基础上后续发展的现代测量技术中,光学测量(下简称光测)方法应用最广。
光测具有非接触、响应快、精度高、范围宽、自动化等众多优点,现已广泛应用于众多领域。光测技术分为干涉光学测量和非干涉光学测量。干涉光学测量技术如全息干涉、散斑干涉、云纹干涉等;非干涉光学测量技术如几何云纹技术、以及数字图像测量技术;其中数字图像测量技术因其对测量环境适用性强、操作简单等特点得到快速发展。光学测量技术在材料变形特性研究方面的应用,推动了人们探知材料力学性质和行为的研究进程。在岩土工程试验领域,非饱和土样的体积变形和径向变形测量一直是一个难题,数字图像测量方法提供了一种有效的手段。
发明内容
针对现有技术存在的问题,本发明提供一种基于试样表面标记点的亚像素精度识别的土工三轴试验试样表面变形图像测量装置及方法。
本发明的技术方案为:
一种基于亚像素角点识别的试样表面变形数字图像测量装置,包括图测压力室、CMOS工业相机、相机支架15、柔性遮光罩14以及计算机。
所述的图测压力室包括图测压力室底座1、试样底座2、平面镜3、圆柱体试样4、试样加载帽5、环形LED灯6、图测压力室上盖9、半圆筒状的图测压力室外腔10、平面钢化玻璃11。所述图测压力室和传统的圆柱体压力室不同的是,图测压力室前面板为平面钢化玻璃11,平面钢化玻璃11与图测压力室外腔10固连形成密封的图测压力室腔体,图测压力室腔体内部固定两面互成120°的平面镜3,位于圆柱体试样4的正后方。所述的圆柱体试样4的下端固定安装在试样底座2上,试样底座2通过螺纹安装在图测压力室底座1上,圆柱体试样4的上端固定安装一个试样加载帽5,试样加载帽5用来传递加载杆8施加的力;所述的圆柱体试样4若为松散颗粒体,则被包裹在印有白色网格的黑色橡胶膜内,若为连续介质固体,则在圆柱体试样4表面印制白色网格,圆柱体试样4的全表面被划分网格并离散成若干个四节点有限单元,网格的角点作为有限单元的节点,以亚像素的识别精度实时跟踪和记录每一节点的坐标信息,则可以得到各个测点的变形过程。所述的图测压力室上盖9安装在图测压力室外腔10上方,其上设有一通孔,用于加载杆8穿过并通过直线轴承7导向。所述的图测压力室外腔10内顶部和底部都固定有特制耐高压的环形LED灯6,为CMOS工业相机拍摄提供稳定光源。
所述的图测压力室位于万能材料试验机12上方;所述的相机支架15固定在万能材料试验机12的旋转立轴13上,能够在旋转立轴13上自由旋转,方便实验的拆装。所述的柔性遮光罩14连接图测压力室和相机支架15的遮光罩,用于隔绝外界光线干扰,柔性遮光罩14一端固定在相机支架15上,另一端能够自由伸缩调整,实验时手动将其安装在图测压力室前面板的平面钢化玻璃上11,实验结束时拆除该端的安装即可。所述的CMOS工业相机固定在相机支架15上,且位置可调,位于图测压力室正前方,CMOS工业相机的光轴与图像压力室的前面板的平面钢化玻璃11垂直,配合图测压力室内部的两面平面镜3同时捕捉试样全表面的图像,计算机对图像处理后进行实时显示。
一种基于亚像素角点识别的试样表面变形数字图像测量方法,该测量方法根据圆柱体试样4上特制的网格作为识别特征,采用亚像素测量技术识别并实时跟踪记录网格的角点坐标,再结合两面平面镜3反射成像捕获试样全表面图像,能同时监测圆柱体试样4的轴向应变、径向应变、体积应变,最后引入有限元法根据角点的位移信息求出试样的局部和整体的应变场,具体测量过程如下:
1)安装圆柱体试样4
将准备好的圆柱体试样4安装到图测压力室内的试样底座2和试样加载帽5之间,安装试样时要求,圆柱体试样4上的识别特征的朝向正对工业相机,并观察圆柱体试样4后方的两面平面镜3成的像并成对称分布,保证圆柱体试样4上网格各个角点的坐标信息被工业相机以亚像素的识别精度实时跟踪和记录。
2)调整工业相机
通过旋转立轴13调整相机支架15,包括旋转的角度和相机的高度,要求圆柱体试样4和两面平面镜3成的像全部位于工业相机的视窗内,且占据相机视窗的幅度最佳为宜;将柔性遮光罩14安装在图测压力室前面板上,隔绝外界光线;微调万能材料试验机12,使加载杆8缓慢的接触上试样加载帽5。
调整工业相机的光圈和焦距,保证工业相机拍的像高亮且清晰,开始预“拍摄选点”。“拍摄选点”是对实验前期准备工作的检查,要求“拍摄选点”全部的角点都能够被识别,且“拍摄选点”重复性好;如果“拍摄选点”选点效果不佳,需要调整工业相机的光圈和焦距,至出现满意的“拍摄选点”效果。
3)开始实验
预“拍摄选点”结束后,完善实验设置,并可选择是否保存实验拍摄的图像;启动实验程序开始实验与测量,得到圆柱体试样4实时的全表面变形信息,方便实验人员掌握实验进程的变形趋势;实验结束后,拆卸整个测量装置。
所述得到圆柱体试样4全表面变形信息的数据处理过程是:首先把CMOS工业相机拍摄的圆柱体试样4前表面和两个平面镜3中的后表面曲面图像展开投影到X-Y平面上;然后将三幅图像进行拼接和误差修正,由于三幅图像的边缘部分存在重叠列,从而得到试样全表面的单元节点图像并进行节点重新编号;最后根据节点位移数据用基于四节点等参元的有限元方法完成试样全表面应变场和整体应变的计算,实时监测试样的轴向应变、径向应变以及体积应变,得到圆柱体试样4全表面变形信息。
本发明角点识别基本原理为:角点是图像的一个基本局部特征,它与图像中目标的形状有密切关系。在计算机视觉和图像处理中,对角点的定义有不同的描述,如:图像边界上曲率足够高的点;图像边界上曲率变化明显的点;图像边界方向变化不连续的点;图像中梯度值和梯度变化都很明显的点等等。根据图像的灰度函数模型和选定的特征判别条件,进行迭代运算找出符合条件的特征点为待定角点。
本发明基于亚像素角点检测原理为:在图像采集设备具有一定的像素值时,通过亚像素技术能很大程度上提高测量精度;亚像素角点检测是通过迭代运算法则,在灰度图像中确定角点亚像素精度的位置,如下图所示。亚像素精度角点定位的基本原理是假设角点的精确位置在q点,那么任意一个从q的指向其邻域中的另一点的向量,都与pi处的图像灰度梯度垂直。由于噪声的存在,这两个正交矢量的点积不等于零,而存在误差εi
式中,为pi处的图像灰度梯度。q点的值应该是使εi最小点的坐标。那么,将含有角点检测区域内所有pi点(假设n个点)的方程联立,将问题转化为求X使得AX=b最小化。这里A是由组成的矩阵,b为构成的列向量。当x=(ATA)-1ATb时,可使Ax-b范数最小。运算法则将新的q点作为区域的中心,继续使用这个方法进行迭代运算,获得很高的亚像素精度。迭代运算直至确定这个中心q保持在一个给定的阀值范围内时,则该角点被定位。
本发明的测量精度:测量精度是衡量一个测量方法的重要标准,而影响测量精度的因素有镜头畸变、标定样的尺寸误差、测量环境的噪声干扰等。为准确标定出本测量方法的测量精度,对以上影响因素做出修正,并采用内置冷光源,有效的隔绝外界光线的变化对实验的影响;通过大量的标定试验次数,以95%的测试结果保证率,最终得出应变测量精度达到10-5
本发明的有益效果:(1)非接触式测量,不扰动试样,不干扰试样的变形;(2)基于亚像素的边缘检测和角点识别,实时跟踪特征点的变形,实现试样全表面变形观测;(3)可以直接应用于非饱和土试样的变形的测量;(4)同步测量轴向变形和环向变形;(5)任意选择测量断面或部位;(6)可进行细部特征和剪切破坏过程研究;(7)数字图像测量技术用计算机控制数据的采集和处理,对于测点自动识别与记录,提高了数据采样频率,降低了试验人员的劳动强度;(8)数字图像处理技术在进行试样变形测量的过程中,可以用图片的形式记录下试验的全过程,便于试验结束后对试样变形的重新分析和研究;(9)测量精度高、装置简单、环境适用性强。
附图说明
图1为图像压力室纵向剖面图;
图2为图像压力室横向剖面图;
图3为测量方法的使用示意图;
图4为试样上的识别特征图;
图5为亚像素角点检测原理图;
图中:1图测压力室底座;2试样底座;3平面镜;4圆柱体试样;5试样加载帽;6环形LED灯;7直线轴承;8加载杆;9图测压力室上盖;10图测压力室外腔;11平面钢化玻璃;12万能材料试验机;13旋转立轴;14柔性遮光罩;15相机支架。
具体实施方式
以下结合说明书附图对本发明做进一步阐述。
一种基于亚像素角点识别的试样表面变形数字图像测量装置,包括图测压力室、CMOS工业相机、相机支架15、柔性遮光罩14以及计算机。
图测压力室前面板的平面钢化玻璃11与图测压力室外腔10固连形成密封的图测压力室腔体,图测压力室腔体内部固定两面互成120°的平面镜3,位于圆柱体试样4的正后方。圆柱体试样4的下端固定安装在试样底座2上,试样底座2通过螺纹安装在图测压力室底座1上,圆柱体试样4的上端固定安装一个试样加载帽5;圆柱体试样4为包裹在印有白色网格的黑色橡胶膜内。图测压力室上盖9安装在图测压力室外腔10上方,其上设有一通孔,用于加载杆8穿过并通过直线轴承7导向。图测压力室外腔10内顶部和底部都固定有特制耐高压的环形LED灯6。图测压力室位于万能材料试验机12上方;相机支架15固定在万能材料试验机12的旋转立轴13上,CMOS工业相机固定在相机支架15上,且位置可调,位于图测压力室正前方,CMOS工业相机的光轴与图像压力室的前面板的平面钢化玻璃11垂直,并与计算机进行通信。
一种基于亚像素角点识别的试样表面变形数字图像测量方法,包括以下步骤:
(1)安装试样
圆柱体试样4为松散颗粒体,被包裹在黑色橡胶膜内。黑色橡胶模上印有64个白色方格做为识别特征,共8行8列,网格尺寸为7mm×7mm;将准备好的圆柱体试样4安装到图测压力室内的试样底座2和试样加载帽5之间,圆柱体试样4上的识别特征的朝向正对工业相机,并圆柱体试样4后方的两面平面镜3成的像成对称分布。
(2)调整工业相机
通过旋转立轴13调整相机支架15,保证圆柱体试样4和两面平面镜3成的像全部位于相机的视窗内,且占据相机视窗的幅度最佳为宜;将柔性遮光罩14安装在图测压力室前面板上,隔绝外界光线;微调万能材料试验机12,使加载杆8缓慢的接触上试样加载帽5;打开测量软件并调相机的光圈和焦距,使相机拍的像高亮且清晰,开始预“拍摄选点”。
(3)开始实验及过程
预“拍摄选点”结束后,在测量软件界面完善实验设置,并可选择是否保存实验拍摄的图像;启动实验程序开始实验与测量,测量软件会自动显示圆柱体试样实时的变形信息,方便实验人员掌握实验进程变形趋势;待实验结束后,拆卸整个测量系统。

Claims (4)

1.一种基于亚像素角点识别的试样表面变形数字图像测量装置,其特征在于,包括图测压力室、工业相机以及计算机;
所述的图测压力室包括图测压力室底座(1)、试样底座(2)、平面镜(3)、圆柱体试样(4)、试样加载帽(5)、半圆筒状的图测压力室外腔((10))、平面钢化玻璃(11);所述图测压力室前面板为平面钢化玻璃(11),平面钢化玻璃(11)与图测压力室外腔(10)固连形成密封的图测压力室腔体,图测压力室腔体内部固定两面互成120°的平面镜(3),位于圆柱体试样(4)的正后方;所述的圆柱体试样(4)上印有白色网格或被套在印有白色网格的黑色橡皮膜内,其下端固定安装在试样底座(2)上,试样底座(2)安装在图测压力室底座(1)上,圆柱体试样(4)的上端安装试样加载帽(5),试样加载帽(5)用来传递加载杆(8)施加的力;所述的圆柱体试样(4)的全表面被划分网格并离散成若干个四节点有限单元,网格的角点作为有限单元的节点,以亚像素的识别精度实时跟踪和记录每一节点的坐标信息得到各个测点的变形过程;
所述的图测压力室位于万能材料试验机(12)上方;相机支架(15)固定在万能材料试验机(12)的旋转立轴(13)上,能够在旋转立轴(13)上自由旋转;所述的工业相机固定在相机支架(15)上,且位置可调,位于图测压力室正前方,工业相机的光轴与图像压力室的前面板的平面钢化玻璃(11)垂直,配合图测压力室内部的两面平面镜(3)同时捕捉试样全表面的图像,计算机对图像处理后进行实时显示。
2.根据权利要求1所述的一种基于亚像素角点识别的试样表面变形数字图像测量装置,其特征在于,所述的试样表面变形数字图像测量装置还包括柔性遮光罩(14),柔性遮光罩(14)用于隔绝外界光线干扰,一端固定在相机支架(15)上,另一端能够自由伸缩调整,实验时手动将该端安装在平面钢化玻璃(11)上,实验结束时拆除。
3.根据权利要求1或2所述的一种基于亚像素角点识别的试样表面变形数字图像测量装置,其特征在于,所述的图测压力室外腔(10)内顶部和底部都固定有特制耐高压的环形LED灯(6),为工业相机拍摄提供稳定光源。
4.一种基于亚像素角点识别的试样表面变形数字图像测量方法,其特征在于,所述的测量方法中,将圆柱体试样(4)上的网格作为识别特征,采用亚像素测量技术识别并实时跟踪记录网格的角点坐标,结合两面平面镜(3)反射成像捕获试样全表面图像,同时监测圆柱体试样(4)的轴向应变、径向应变、体积应变,最后引入有限元法根据角点的位移信息求出试样的局部和整体的应变场,得到圆柱体试样(4)全表面变形信息,测量过程如下:
1)安装圆柱体试样(4)
将准备好的圆柱体试样(4)安装到图测压力室内的试样底座(2)和试样加载帽(5)之间,圆柱体试样(4)上的网格作为识别特征,识别特征的朝向正对工业相机,要求圆柱体试样(4)后方的两面平面镜(3)成的像成对称分布,保证圆柱体试样(4)上网格各个角点的坐标信息被工业相机以亚像素的识别精度实时跟踪和记录;
2)调整工业相机
通过旋转立轴(13)调整相机支架(15),包括旋转的角度和相机的高度,要求圆柱体试样(4)和两面平面镜(3)成的像全部位于工业相机的视窗内;将柔性遮光罩(14)安装在图测压力室前面板上,隔绝外界光线;微调万能材料试验机(12),使加载杆(8)缓慢的接触上试样加载帽(5);调整工业相机的光圈和焦距,保证工业相机拍的像高亮且清晰,开始预“拍摄选点”,要求“拍摄选点”全部的角点都能够被识别,且“拍摄选点”重复性好;
3)开始实验
预“拍摄选点”结束后,开始实验与测量,工业相机拍摄得到圆柱体试样(4)前表面图像,再通过试样后方的两面成120°的平面镜捕获试样的全表面变形信息,最后将三幅图像进行拼接和误差修正,得到圆柱体试样(4)实时的全表面变形信息,实现全表面的变形观测;实验结束后,拆卸整个测量装置。
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