CN107741279A - 一种非制冷红外探测器的两点校正方法 - Google Patents
一种非制冷红外探测器的两点校正方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN107741279A CN107741279A CN201711022214.9A CN201711022214A CN107741279A CN 107741279 A CN107741279 A CN 107741279A CN 201711022214 A CN201711022214 A CN 201711022214A CN 107741279 A CN107741279 A CN 107741279A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- mrow
- msub
- mover
- catch
- detector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012937 correction Methods 0.000 title claims abstract description 44
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 17
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims abstract description 31
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 27
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 14
- 241001074085 Scophthalmus aquosus Species 0.000 claims abstract description 13
- 206010020843 Hyperthermia Diseases 0.000 claims description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 6
- 230000036031 hyperthermia Effects 0.000 claims description 6
- NAWXUBYGYWOOIX-SFHVURJKSA-N (2s)-2-[[4-[2-(2,4-diaminoquinazolin-6-yl)ethyl]benzoyl]amino]-4-methylidenepentanedioic acid Chemical compound C1=CC2=NC(N)=NC(N)=C2C=C1CCC1=CC=C(C(=O)N[C@@H](CC(=C)C(O)=O)C(O)=O)C=C1 NAWXUBYGYWOOIX-SFHVURJKSA-N 0.000 claims description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 3
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 claims 1
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000003331 infrared imaging Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/52—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using comparison with reference sources, e.g. disappearing-filament pyrometer
- G01J5/53—Reference sources, e.g. standard lamps; Black bodies
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/80—Calibration
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
本发明公开了一种非制冷红外探测器的两点校正方法,利用两种辐射率不同的材料做挡片,对探测器进行两点校正。首先搭建非制冷红外探测器的两点校正系统,包括:挡片A、挡片B、探测器及输出电路模块、挡片控制模块和FPGA数据处理模块;然后利用探测器及输出电路模块采集模拟信号并转化为数字信号;利用挡片控制模块控制挡片A和挡片B有序的出现在探测器玻璃窗前,获得不同的辐射通量;最后利用FPGA数据处理模块利用采集数据实现两点非均匀校正。本发明对探测器光敏元的偏置和增益都作了补偿,有效地提高了成像质量。
Description
技术领域
本发明涉及一种红外探测器校正方法,特别是一种非制冷红外探测器的两点校正方法。
背景技术
探测器组件是红外热像仪的关键部件,但其固有的非均匀性严重影响到红外成像系统的成像质量。由于非制冷红外探测器进行非均匀校正时通常会用到黑体,成像时通过扫描机构的扫描运动使场景和高低温黑体同时成像,继而完成校正系数的计算。在外场试验时难以正常使用,通常采用一个挡片进行校正,造成校正效果不理想。因此,需要寻找一种简单方便的参考源对探测器的响应进行更加合理的校正。
双挡片校正的方法,采用了辐射率不同的两种材料做成定标参考源,通过在同一环境下使同一个探测器有不同的输出相应,继而对探测器进行两点校正,改善了原有的单一挡片进行单点校正的造成空间噪声大的问题,具有控制简单,使用方便,不受环境限制的优点成为本设计的关键。
发明内容
本方法的目的在于提供一种非制冷红外探测器在外场试验时的两点校正方法,解决以往在试验中只用单一的挡片进行单点校正空间噪声偏大的问题。
一种非制冷红外探测器的两点校正方法的具体步骤为:
第一步 搭建非制冷红外探测器的两点校正系统
非制冷红外探测器的两点校正系统,包括:挡片A、挡片B、探测器及输出电路模块、挡片控制模块和FPGA数据处理模块。
探测器及输出电路模块的功能为:采集模拟信号并转化为数字信号。
挡片控制模块的功能为:控制挡片A和挡片B有序的出现在探测器玻璃窗前,获得不同的辐射通量。
FPGA数据处理模块的功能为:利用采集数据实现两点非均匀校正。
第二步 探测器及输出电路模块进行信号采集和转化
采集模拟信号并转化为数字信号,探测器把采集到的红外辐射信号转化为电信号,再经过射随放大器和运放芯片转化为差分信号,经过AD芯片采样进行模拟与数字信号的转换之后,送到PFGA里面,进行后续的信号处理。
第三步 挡片控制模块对挡片A和挡片B进行控制
挡片控制模块通过电机控制挡片在探测器玻璃窗前面,在正常工作中,先用挡片A在探测器的玻璃窗前进行遮挡,挡片B离开,得到低温辐射通量XL的探测器的响应;再用挡片B对探测器前的玻璃窗进行遮挡,挡片A离开,得到高温辐射通量XH下探测器的又一次响应。
第四步 FPGA数据处理模块进行两点非均匀校正
FPGA数据处理模块把产生低温辐射通量XL和高温辐射通量XH作为温度定标点。则探测器光敏元(i,j)在辐射通量XL和XH下的输出分为:
Yij(XL)=aijXL+bij (1)
以及
Yij(XH)=aijXH+bij (2)
而探测器光敏元(i,j)在任意辐射通量X下的输出响应为
Yij(X)=aijX+bij (3)
将式(1)、(2)与(3)联立得
对所有光敏元在高温和低温下的输出分别取空域平均得:
以及
而所有光敏元在辐射通量X下输出的空域平均等价于光敏元(i,j)在任意辐射通量X下的非均匀校正后的输出Y'(X),即
其中,N为阵列中光敏元个数,为阵列中所有光敏元的平均增益因子,为阵列中所有光敏元的平均截距因子。
联立式(5)、(6)与(7)得
将式(3)代入式(8)得到光敏元(i,j)在任意辐射通量X下的非均匀校正后的输出为
将上式写为:
Yij′(X)=GijYij(X)+Oij (10)
其中,为增益系数,为偏置系数。
在实际应用中,将各探测元的增益系数Gij和偏置系数Oij预先存储起来,在探测器工作过程中不断读取Gij和Oij的值,然后按照式(10)进行校正,就完成了实时非均匀校正。
本发明使用吸收率不同的两种材料的挡片,在同一环境下,为探测器光敏元提供不同的辐射通量,对探测器进行两点校正,对探测器光敏元的偏置和增益都作了补偿,有效地提高了成像质量。
附图说明
图1一种非制冷红外探测器的两点校正方法所述两种材料挡片的工作示意图。
具体实施方式
一种非制冷红外探测器的两点校正方法的具体步骤为:
第一步 搭建非制冷红外探测器的两点校正系统
非制冷红外探测器的两点校正系统,包括:挡片A、挡片B、探测器及输出电路模块、挡片控制模块和FPGA数据处理模块。
探测器及输出电路模块的功能为:采集模拟信号并转化为数字信号。
挡片控制模块的功能为:控制挡片A和挡片B有序的出现在探测器玻璃窗前,获得不同的辐射通量。
FPGA数据处理模块的功能为:利用采集数据实现两点非均匀校正。
第二步 探测器及输出电路模块进行信号采集和转化
采集模拟信号并转化为数字信号,探测器把采集到的红外辐射信号转化为电信号,再经过射随放大器和运放芯片转化为差分信号,经过AD芯片采样进行模拟与数字信号的转换之后,送到PFGA里面,进行后续的信号处理。
第三步 挡片控制模块对挡片A和挡片B进行控制
挡片控制模块通过电机控制挡片在探测器玻璃窗前面,在正常工作中,先用挡片A在探测器的玻璃窗前进行遮挡,挡片B离开,得到低温辐射通量XL的探测器的响应;再用挡片B对探测器前的玻璃窗进行遮挡,挡片A离开,得到高温辐射通量XH下探测器的又一次响应。
第四步 FPGA数据处理模块进行两点非均匀校正
FPGA数据处理模块把产生低温辐射通量XL和高温辐射通量XH作为温度定标点。则探测器光敏元(i,j)在辐射通量XL和XH下的输出分为:
Yij(XL)=aijXL+bij (1)
以及
Yij(XH)=aijXH+bij (2)
而探测器光敏元(i,j)在任意辐射通量X下的输出响应为
Yij(X)=aijX+bij (3)
将式(1)、(2)与(3)联立得
对所有光敏元在高温和低温下的输出分别取空域平均得:
以及
而所有光敏元在辐射通量X下输出的空域平均等价于光敏元(i,j)在任意辐射通量X下的非均匀校正后的输出Y'(X),即
其中,N为阵列中光敏元个数,为阵列中所有光敏元的平均增益因子,为阵列中所有光敏元的平均截距因子。
联立式(5)、(6)与(7)得
将式(3)代入式(8)得到光敏元(i,j)在任意辐射通量X下的非均匀校正后的输出为
将上式写为:
Yij′(X)=GijYij(X)+Oij (10)
其中,为增益系数,为偏置系数。
在实际应用中,将各探测元的增益系数Gij和偏置系数Oij预先存储起来,在探测器工作过程中不断读取Gij和Oij的值,然后按照式(10)进行校正,就完成了实时非均匀校正。
Claims (4)
1.一种非制冷红外探测器的两点校正方法,其特征在于具体步骤为:
第一步 搭建非制冷红外探测器的两点校正系统
非制冷红外探测器的两点校正系统,包括:挡片A、挡片B、探测器及输出电路模块、挡片控制模块和FPGA数据处理模块;
第二步 探测器及输出电路模块采集模拟信号并转化为数字信号;
第三步 挡片控制模块控制挡片A和挡片B有序的出现在探测器玻璃窗前,获得不同的辐射通量;
第四步 FPGA数据处理模块利用采集数据实现两点非均匀校正。
2.如权利要求1所述的非制冷红外探测器的两点校正方法,其特征在于,
第二步 探测器及输出电路模块进行信号采集和转化的具体过程为:
采集模拟信号并转化为数字信号,探测器把采集到的红外辐射信号转化为电信号,再经过射随放大器和运放芯片转化为差分信号,经过AD芯片采样进行模拟与数字信号的转换之后,送到PFGA里面,进行后续的信号处理。
3.如权利要求1所述的非制冷红外探测器的两点校正方法,其特征在于,
第三步 挡片控制模块对挡片A和挡片B进行控制的具体过程为:
挡片控制模块通过电机控制挡片在探测器玻璃窗前面,在正常工作中,先用挡片A在探测器的玻璃窗前进行遮挡,挡片B离开,得到低温辐射通量XL的探测器的响应;再用挡片B对探测器前的玻璃窗进行遮挡,挡片A离开,得到高温辐射通量XH下探测器的又一次响应。
4.如权利要求3所述的非制冷红外探测器的两点校正方法,其特征在于,
第四步 FPGA数据处理模块进行两点非均匀校正的具体过程为:
FPGA数据处理模块把产生低温辐射通量XL和高温辐射通量XH作为温度定标点;则探测器光敏元(i,j)在辐射通量XL和XH下的输出分为:
Yij(XL)=aijXL+bij (1)
以及
Yij(XH)=aijXH+bij (2)
而探测器光敏元(i,j)在任意辐射通量X下的输出响应为
Yij(X)=aijX+bij (3)
将式(1)、(2)与(3)联立得
<mrow>
<mfrac>
<mrow>
<msub>
<mi>Y</mi>
<mrow>
<mi>i</mi>
<mi>j</mi>
</mrow>
</msub>
<mrow>
<mo>(</mo>
<mi>X</mi>
<mo>)</mo>
</mrow>
<mo>-</mo>
<msub>
<mi>Y</mi>
<mrow>
<mi>i</mi>
<mi>j</mi>
</mrow>
</msub>
<mrow>
<mo>(</mo>
<msub>
<mi>X</mi>
<mi>L</mi>
</msub>
<mo>)</mo>
</mrow>
</mrow>
<mrow>
<msub>
<mi>Y</mi>
<mrow>
<mi>i</mi>
<mi>j</mi>
</mrow>
</msub>
<mrow>
<mo>(</mo>
<msub>
<mi>X</mi>
<mi>H</mi>
</msub>
<mo>)</mo>
</mrow>
<mo>-</mo>
<msub>
<mi>Y</mi>
<mrow>
<mi>i</mi>
<mi>j</mi>
</mrow>
</msub>
<mrow>
<mo>(</mo>
<msub>
<mi>X</mi>
<mi>L</mi>
</msub>
<mo>)</mo>
</mrow>
</mrow>
</mfrac>
<mo>=</mo>
<mfrac>
<mrow>
<mi>X</mi>
<mo>-</mo>
<msub>
<mi>X</mi>
<mi>L</mi>
</msub>
</mrow>
<mrow>
<msub>
<mi>X</mi>
<mi>H</mi>
</msub>
<mo>-</mo>
<msub>
<mi>X</mi>
<mi>L</mi>
</msub>
</mrow>
</mfrac>
<mo>;</mo>
<mo>-</mo>
<mo>-</mo>
<mo>-</mo>
<mrow>
<mo>(</mo>
<mn>4</mn>
<mo>)</mo>
</mrow>
</mrow>
对所有光敏元在高温和低温下的输出分别取空域平均得:
<mrow>
<mover>
<mrow>
<mi>Y</mi>
<mrow>
<mo>(</mo>
<msub>
<mi>X</mi>
<mi>L</mi>
</msub>
<mo>)</mo>
</mrow>
</mrow>
<mo>&OverBar;</mo>
</mover>
<mo>=</mo>
<munder>
<mo>&Sigma;</mo>
<mrow>
<mi>i</mi>
<mo>,</mo>
<mi>j</mi>
</mrow>
</munder>
<msub>
<mi>Y</mi>
<mrow>
<mi>i</mi>
<mi>j</mi>
</mrow>
</msub>
<mrow>
<mo>(</mo>
<msub>
<mi>X</mi>
<mi>L</mi>
</msub>
<mo>)</mo>
</mrow>
<mo>/</mo>
<mi>N</mi>
<mo>=</mo>
<mover>
<mi>a</mi>
<mo>&OverBar;</mo>
</mover>
<msub>
<mi>X</mi>
<mi>L</mi>
</msub>
<mo>+</mo>
<mover>
<mi>b</mi>
<mo>&OverBar;</mo>
</mover>
<mo>-</mo>
<mo>-</mo>
<mo>-</mo>
<mrow>
<mo>(</mo>
<mn>5</mn>
<mo>)</mo>
</mrow>
</mrow>
以及
<mrow>
<mover>
<mrow>
<mi>Y</mi>
<mrow>
<mo>(</mo>
<msub>
<mi>X</mi>
<mi>H</mi>
</msub>
<mo>)</mo>
</mrow>
</mrow>
<mo>&OverBar;</mo>
</mover>
<mo>=</mo>
<munder>
<mo>&Sigma;</mo>
<mrow>
<mi>i</mi>
<mo>,</mo>
<mi>j</mi>
</mrow>
</munder>
<msub>
<mi>Y</mi>
<mrow>
<mi>i</mi>
<mi>j</mi>
</mrow>
</msub>
<mrow>
<mo>(</mo>
<msub>
<mi>X</mi>
<mi>H</mi>
</msub>
<mo>)</mo>
</mrow>
<mo>/</mo>
<mi>N</mi>
<mo>=</mo>
<mover>
<mi>a</mi>
<mo>&OverBar;</mo>
</mover>
<msub>
<mi>X</mi>
<mi>H</mi>
</msub>
<mo>+</mo>
<mover>
<mi>b</mi>
<mo>&OverBar;</mo>
</mover>
<mo>-</mo>
<mo>-</mo>
<mo>-</mo>
<mrow>
<mo>(</mo>
<mn>6</mn>
<mo>)</mo>
</mrow>
</mrow>
而所有光敏元在辐射通量X下输出的空域平均等价于光敏元(i,j)在任意辐射通量X下的非均匀校正后的输出Y'(X),即
<mrow>
<msup>
<mi>Y</mi>
<mo>&prime;</mo>
</msup>
<mrow>
<mo>(</mo>
<mi>X</mi>
<mo>)</mo>
</mrow>
<mo>=</mo>
<mover>
<mrow>
<mi>Y</mi>
<mrow>
<mo>(</mo>
<mi>X</mi>
<mo>)</mo>
</mrow>
</mrow>
<mo>&OverBar;</mo>
</mover>
<mo>=</mo>
<munder>
<mo>&Sigma;</mo>
<mrow>
<mi>i</mi>
<mo>,</mo>
<mi>j</mi>
</mrow>
</munder>
<msub>
<mi>Y</mi>
<mrow>
<mi>i</mi>
<mi>j</mi>
</mrow>
</msub>
<mrow>
<mo>(</mo>
<mi>X</mi>
<mo>)</mo>
</mrow>
<mo>/</mo>
<mi>N</mi>
<mo>=</mo>
<mover>
<mi>a</mi>
<mo>&OverBar;</mo>
</mover>
<mi>X</mi>
<mo>+</mo>
<mover>
<mi>b</mi>
<mo>&OverBar;</mo>
</mover>
<mo>-</mo>
<mo>-</mo>
<mo>-</mo>
<mrow>
<mo>(</mo>
<mn>7</mn>
<mo>)</mo>
</mrow>
</mrow>
其中,N为阵列中光敏元个数,为阵列中所有光敏元的平均增益因子,为阵列中所有光敏元的平均截距因子;
联立式(5)、(6)与(7)得
<mrow>
<mfrac>
<mrow>
<msup>
<msub>
<mi>Y</mi>
<mrow>
<mi>i</mi>
<mi>j</mi>
</mrow>
</msub>
<mo>&prime;</mo>
</msup>
<mrow>
<mo>(</mo>
<mi>X</mi>
<mo>)</mo>
</mrow>
<mo>-</mo>
<mover>
<mrow>
<msub>
<mi>Y</mi>
<mrow>
<mi>i</mi>
<mi>j</mi>
</mrow>
</msub>
<mrow>
<mo>(</mo>
<msub>
<mi>X</mi>
<mi>L</mi>
</msub>
<mo>)</mo>
</mrow>
</mrow>
<mo>&OverBar;</mo>
</mover>
</mrow>
<mrow>
<mover>
<mrow>
<msub>
<mi>Y</mi>
<mrow>
<mi>i</mi>
<mi>j</mi>
</mrow>
</msub>
<mrow>
<mo>(</mo>
<msub>
<mi>X</mi>
<mi>H</mi>
</msub>
<mo>)</mo>
</mrow>
</mrow>
<mo>&OverBar;</mo>
</mover>
<mo>-</mo>
<mover>
<mrow>
<msub>
<mi>Y</mi>
<mrow>
<mi>i</mi>
<mi>j</mi>
</mrow>
</msub>
<mrow>
<mo>(</mo>
<msub>
<mi>X</mi>
<mi>L</mi>
</msub>
<mo>)</mo>
</mrow>
</mrow>
<mo>&OverBar;</mo>
</mover>
</mrow>
</mfrac>
<mo>=</mo>
<mfrac>
<mrow>
<mi>X</mi>
<mo>-</mo>
<msub>
<mi>X</mi>
<mi>L</mi>
</msub>
</mrow>
<mrow>
<msub>
<mi>X</mi>
<mi>H</mi>
</msub>
<mo>-</mo>
<msub>
<mi>X</mi>
<mi>L</mi>
</msub>
</mrow>
</mfrac>
<mo>-</mo>
<mo>-</mo>
<mo>-</mo>
<mrow>
<mo>(</mo>
<mn>8</mn>
<mo>)</mo>
</mrow>
</mrow>
将式(3)代入式(8)得到光敏元(i,j)在任意辐射通量X下的非均匀校正后的输出为
<mrow>
<msub>
<msup>
<mi>Y</mi>
<mo>&prime;</mo>
</msup>
<mrow>
<mi>i</mi>
<mi>j</mi>
</mrow>
</msub>
<mrow>
<mo>(</mo>
<mi>X</mi>
<mo>)</mo>
</mrow>
<mo>=</mo>
<mfrac>
<mrow>
<mover>
<mrow>
<msub>
<mi>Y</mi>
<mrow>
<mi>i</mi>
<mi>j</mi>
</mrow>
</msub>
<mrow>
<mo>(</mo>
<msub>
<mi>X</mi>
<mi>H</mi>
</msub>
<mo>)</mo>
</mrow>
</mrow>
<mo>&OverBar;</mo>
</mover>
<mo>-</mo>
<mover>
<mrow>
<msub>
<mi>Y</mi>
<mrow>
<mi>i</mi>
<mi>j</mi>
</mrow>
</msub>
<mrow>
<mo>(</mo>
<msub>
<mi>X</mi>
<mi>L</mi>
</msub>
<mo>)</mo>
</mrow>
</mrow>
<mo>&OverBar;</mo>
</mover>
</mrow>
<mrow>
<msub>
<mi>Y</mi>
<mrow>
<mi>i</mi>
<mi>j</mi>
</mrow>
</msub>
<mrow>
<mo>(</mo>
<msub>
<mi>X</mi>
<mi>H</mi>
</msub>
<mo>)</mo>
</mrow>
<mo>-</mo>
<msub>
<mi>Y</mi>
<mrow>
<mi>i</mi>
<mi>j</mi>
</mrow>
</msub>
<mrow>
<mo>(</mo>
<msub>
<mi>X</mi>
<mi>L</mi>
</msub>
<mo>)</mo>
</mrow>
</mrow>
</mfrac>
<mo>&lsqb;</mo>
<msub>
<mi>Y</mi>
<mrow>
<mi>i</mi>
<mi>j</mi>
</mrow>
</msub>
<mrow>
<mo>(</mo>
<mi>X</mi>
<mo>)</mo>
</mrow>
<mo>-</mo>
<msub>
<mi>Y</mi>
<mrow>
<mi>i</mi>
<mi>j</mi>
</mrow>
</msub>
<mrow>
<mo>(</mo>
<msub>
<mi>X</mi>
<mi>L</mi>
</msub>
<mo>)</mo>
</mrow>
<mo>&rsqb;</mo>
<mo>+</mo>
<mover>
<mrow>
<msub>
<mi>Y</mi>
<mrow>
<mi>i</mi>
<mi>j</mi>
</mrow>
</msub>
<mrow>
<mo>(</mo>
<msub>
<mi>X</mi>
<mi>L</mi>
</msub>
<mo>)</mo>
</mrow>
</mrow>
<mo>&OverBar;</mo>
</mover>
<mo>-</mo>
<mo>-</mo>
<mo>-</mo>
<mrow>
<mo>(</mo>
<mn>9</mn>
<mo>)</mo>
</mrow>
</mrow>
将上式写为:
Y′ij(X)=GijYij(X)+Oij (10)
其中,为增益系数,为偏置系数;
将各探测元的增益系数Gij和偏置系数Oij预先存储起来,在探测器工作过程中不断读取Gij和Oij的值,然后按照式(10)进行校正,就完成了实时非均匀校正。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201711022214.9A CN107741279A (zh) | 2017-10-26 | 2017-10-26 | 一种非制冷红外探测器的两点校正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201711022214.9A CN107741279A (zh) | 2017-10-26 | 2017-10-26 | 一种非制冷红外探测器的两点校正方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN107741279A true CN107741279A (zh) | 2018-02-27 |
Family
ID=61238454
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201711022214.9A Pending CN107741279A (zh) | 2017-10-26 | 2017-10-26 | 一种非制冷红外探测器的两点校正方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN107741279A (zh) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109341864A (zh) * | 2018-10-24 | 2019-02-15 | 北京航天长征飞行器研究所 | 一种轻小型宽动态空间红外定量测量装置 |
CN110567586A (zh) * | 2019-05-22 | 2019-12-13 | 吉林省中业光电技术有限公司 | 一种制冷红外校正系统 |
CN110672213A (zh) * | 2019-09-23 | 2020-01-10 | 南京理工大学 | 带有内置式校正挡片的非制冷红外系统及其校正方法 |
CN111024240A (zh) * | 2019-12-27 | 2020-04-17 | 武汉高德红外股份有限公司 | 一种两点校正温控快门的装置及方法 |
CN111562013A (zh) * | 2020-05-23 | 2020-08-21 | 北京富吉瑞光电科技有限公司 | 一种基于tec的红外热像仪自动校正方法及装置 |
CN112033544A (zh) * | 2020-08-05 | 2020-12-04 | 浙江大华技术股份有限公司 | 一种热成像仪、测温方法、装置、处理器及存储介质 |
CN112763072A (zh) * | 2020-12-31 | 2021-05-07 | 深圳市景阳信息技术有限公司 | 一种热成像校正方法、装置及终端设备 |
CN117537933A (zh) * | 2024-01-10 | 2024-02-09 | 中国人民解放军92941部队 | 基于平面镜的快速非均匀校正装置及其校正方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101470026A (zh) * | 2007-12-24 | 2009-07-01 | 南京理工大学 | 凝视型热像仪非均匀性校正实时标定装置 |
CN102768072A (zh) * | 2012-08-13 | 2012-11-07 | 电子科技大学 | 一种红外热像仪的校正装置及方法及其红外热像仪 |
CN104344897A (zh) * | 2014-10-24 | 2015-02-11 | 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 | 一种红外光学系统非均匀校正机构 |
-
2017
- 2017-10-26 CN CN201711022214.9A patent/CN107741279A/zh active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101470026A (zh) * | 2007-12-24 | 2009-07-01 | 南京理工大学 | 凝视型热像仪非均匀性校正实时标定装置 |
CN102768072A (zh) * | 2012-08-13 | 2012-11-07 | 电子科技大学 | 一种红外热像仪的校正装置及方法及其红外热像仪 |
CN104344897A (zh) * | 2014-10-24 | 2015-02-11 | 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 | 一种红外光学系统非均匀校正机构 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
苏满红 等: "非制冷红外图像非均匀性校正在FPGA上的实现", 《现代电子技术》 * |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109341864A (zh) * | 2018-10-24 | 2019-02-15 | 北京航天长征飞行器研究所 | 一种轻小型宽动态空间红外定量测量装置 |
CN110567586A (zh) * | 2019-05-22 | 2019-12-13 | 吉林省中业光电技术有限公司 | 一种制冷红外校正系统 |
CN110672213A (zh) * | 2019-09-23 | 2020-01-10 | 南京理工大学 | 带有内置式校正挡片的非制冷红外系统及其校正方法 |
CN111024240A (zh) * | 2019-12-27 | 2020-04-17 | 武汉高德红外股份有限公司 | 一种两点校正温控快门的装置及方法 |
CN111562013A (zh) * | 2020-05-23 | 2020-08-21 | 北京富吉瑞光电科技有限公司 | 一种基于tec的红外热像仪自动校正方法及装置 |
CN111562013B (zh) * | 2020-05-23 | 2021-03-23 | 北京富吉瑞光电科技股份有限公司 | 一种基于tec的红外热像仪自动校正方法及装置 |
CN112033544A (zh) * | 2020-08-05 | 2020-12-04 | 浙江大华技术股份有限公司 | 一种热成像仪、测温方法、装置、处理器及存储介质 |
CN112033544B (zh) * | 2020-08-05 | 2021-10-15 | 浙江大华技术股份有限公司 | 一种热成像仪、测温方法、装置、处理器及存储介质 |
CN112763072A (zh) * | 2020-12-31 | 2021-05-07 | 深圳市景阳信息技术有限公司 | 一种热成像校正方法、装置及终端设备 |
CN117537933A (zh) * | 2024-01-10 | 2024-02-09 | 中国人民解放军92941部队 | 基于平面镜的快速非均匀校正装置及其校正方法 |
CN117537933B (zh) * | 2024-01-10 | 2024-03-12 | 中国人民解放军92941部队 | 基于平面镜的快速非均匀校正装置及其校正方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN107741279A (zh) | 一种非制冷红外探测器的两点校正方法 | |
CN107341780B (zh) | 一种红外图像预处理校正方法 | |
CN107836111A (zh) | 用于增强动态范围红外成像的系统和方法 | |
CN106500846A (zh) | 一种红外成像系统的非均匀性校正方法 | |
CN110460781B (zh) | 一种图像传感器、图像处理方法及存储介质 | |
CN103954366A (zh) | 一种用于真空低温条件下的超大面源黑体校准系统 | |
CN104111413A (zh) | 一种用于评估输变电设备电晕放电的装置和方法 | |
CN107093196A (zh) | 视频卫星面阵相机在轨相对辐射定标方法 | |
US9154711B2 (en) | Infrared thermal imaging system and method | |
CN103778637B (zh) | 一种基于直方图平衡的在轨90°辐射定标处理方法 | |
CN106296627A (zh) | 一种校正红外成像系统的非均匀性的方法 | |
CN105092054A (zh) | 一种用于热释电非制冷红外焦平面探测器的测试评价装置 | |
CN102564614B (zh) | 激光光斑动态测量方法及测量仪 | |
US9024269B2 (en) | High yield complementary metal-oxide semiconductor X-ray detector | |
EP4012363A1 (en) | Infrared imaging-related uncertainty gauging systems and methods | |
JP6991371B1 (ja) | 赤外線撮像装置 | |
Zhang et al. | Modified Two-Point Correction Method for Wide-Spectrum LWIR Detection System | |
Fowler et al. | Evaluation of the SBRC 256 x 256 InSb focal plane array and preliminary specifications for the 1024 x 1024 InSb focal plane array | |
CN106780403B (zh) | 一种推扫式热红外高光谱遥感图像非均匀性校正方法 | |
CN114353955B (zh) | 非制冷红外探测器成像调节系统及方法 | |
US20140183607A1 (en) | Complementary Metal-Oxide-Semiconductor (CMOS) X-Ray Detector With A Repaired CMOS Pixel Array | |
US20240089610A1 (en) | Stray light mitigation systems and methods | |
CN110487420A (zh) | 一种快速稳定的非制冷红外焦平面读出电路 | |
CN106657828A (zh) | 基于硬件模型的光电系统动态范围优化方法 | |
Jacquot et al. | Multiple-samples-method enabling high dynamic range imaging for high frame rate CMOS image sensor by FPGA and co-processor |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20180227 |