CN107727616A - 一种辅助对焦方法及装置 - Google Patents

一种辅助对焦方法及装置 Download PDF

Info

Publication number
CN107727616A
CN107727616A CN201710956833.9A CN201710956833A CN107727616A CN 107727616 A CN107727616 A CN 107727616A CN 201710956833 A CN201710956833 A CN 201710956833A CN 107727616 A CN107727616 A CN 107727616A
Authority
CN
China
Prior art keywords
laser
camera
focusing
main shaft
deviation post
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201710956833.9A
Other languages
English (en)
Other versions
CN107727616B (zh
Inventor
毕云峰
吕铁良
燕艳
董晓舟
周强
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shandong University
Original Assignee
Shandong University
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shandong University filed Critical Shandong University
Priority to CN201710956833.9A priority Critical patent/CN107727616B/zh
Publication of CN107727616A publication Critical patent/CN107727616A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN107727616B publication Critical patent/CN107727616B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/60—Control of cameras or camera modules
    • H04N23/67—Focus control based on electronic image sensor signals

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Laser Beam Processing (AREA)
  • Studio Devices (AREA)

Abstract

本申请公开的辅助对焦方法及装置，用于光谱检测设备，所述方法包括以下步骤：设置并固定第一激光器，使所述第一激光器的光束通过相机焦点，确定所述第一激光器的光束与相机主轴的夹角为α；通过所述相机采集所述第一激光器发出的光束在被拍摄物体上的激光点图像；识别所述激光点图像上的第一激光点；计算在所述激光点图像上所述第一激光点与所述相机主轴之间距离L，并计算对焦偏移量H，H＝ALcotα，A为相机参数；判定所述第一激光器和第一激光点与所述相机主轴的位置关系，根据所述位置关系确定所述被拍摄物体的对焦偏移位置。本申请公开的辅助对焦方法及装置，辅助实现光谱检测设备实现快速对焦，提高光谱检测设备的对焦速度。

Description

一种辅助对焦方法及装置
技术领域
本发明涉及光谱检测技术领域，尤其涉及一种辅助对焦方法及装置。
背景技术
激光诱导击穿光谱技术，通过高能量脉冲激光聚焦样品表面形成等离子体，等离子体能量衰退过程中产生连续的轫致辐射以及内部元素的离子发射线，通过光谱仪采集光谱发射信号，分析谱图中元素对应的特征峰强度即可以用于样品的定性以及定量分析。
在激光诱导击穿光谱的探测中，需要将激光聚焦至待测样品上以激发出光谱信号，激光聚焦点与样品间的距离会影响光谱信号强弱。对表面粗糙的天然样品，激光焦点偏离时会造成探测数据的不稳定甚至失败。成功探测的关键是如何使激发激光精确聚焦在探测目标上。
在实际应用中，反差对焦技术和相位检测对焦技术被广泛应用。反差式对焦通过分析不同位置图像的对比度，以图像对比度是否达到最大作为是否精确对焦的标准，但由于不可避免地存在着对比度比较的过程，因而往往对焦速度较慢。相位检测对焦通过相位检测模块应用，可一次检测即可性获得焦平面位置，但对焦过程受环境光强度影响，在弱光环境下容易导致对焦失败，影响对焦速度。
发明内容
本发明提供了一种辅助对焦方法及装置，提高光谱检测设备的对焦速度，方便光谱检测设备对焦。
根据本发明实施例的第一方面，本发明提供了辅助对焦方法，用于光谱检测设备，其特征在于，所述方法包括以下步骤：
设置并固定第一激光器，使所述第一激光器的光束通过相机焦点，确定所述第一激光器的光束与相机主轴的夹角为α；
通过所述相机采集所述第一激光器发出的光束在被拍摄物体上的激光点图像；
识别所述激光点图像上的第一激光点；
计算在所述激光点图像上所述第一激光点与所述相机主轴之间距离L，并计算对焦偏移量H，H＝AL cotα，A为相机参数；
判定所述第一激光器和第一激光点与所述相机主轴的位置关系，根据所述位置关系确定所述被拍摄物体的对焦偏移位置。
可选的，上述辅助对焦方法中，判定所述第一激光器和第一激光点与所述相机主轴的位置关系，根据所述位置关系确定所述被拍摄物体的对焦偏移位置，具体为：
当所述第一激光器和第一激光点位于所述相机主轴的同侧时，所述焦偏移位置为-AL cotα，-表示被拍摄物体靠近相机；
当所述第一激光器和第一激光点位于所述相机主轴的不同侧时，所述焦偏移位置为+AL cotα，+表示被拍摄物体远离相机。
根据本发明实施例的第二方面，提供了一种辅助对焦装置，包括第一激光器、带有物方远心镜头的相机和处理器，其中：
所述第一激光器设置在所述相机的光轴侧边，所述第一激光器的光束穿过所述相机的焦点，所述相机连接所述处理器，所述相机用于采集所述激光器发出的光束在被拍摄物体上的激光点图像；
所述处理器包括图像处理模块、对焦偏移量计算模块和对焦偏移位置模块；
所述图像处理模块用于识别所述激光点图像上的第一激光点；所述对焦偏移量计算模块用于计算在所述激光点图像上所述第一激光点与所述相机主轴之间距离L，并计算对焦偏移量H，H＝AL cotα，A为相机参数；所述对焦偏移位置模块用于判定所述第一激光器和第一激光点与所述相机主轴的位置关系，根据所述位置关系确定所述被拍摄物体的对焦偏移位置。
可选的，上述辅助对焦装置中，所述对焦偏移位置模块包括第一对焦偏移位置模块和第二焦偏移位置模块；
所述第一对焦偏移位置模块用于当所述第一激光器和第一激光点位于所述相机主轴的同侧时，所述焦偏移位置为-AL cotα，-表示被拍摄物体靠近相机；
所述第二焦偏移位置模块用于当所述第一激光器和第一激光点位于所述相机主轴的不同侧时，所述焦偏移位置为+AL cotα，+表示被拍摄物体远离相机。
由以上技术方法可见，本发明实施例辅助对焦方法及装置，用于光谱检测设备，设置第一激光器，使第一激光器的光束通过相机焦点，确定对准平面；通过相机采集第一激光器发出的光束在被拍摄物体上的激光点图像，处理图像，计算对焦偏移量，确定对焦偏移位置，根据对准平面与光谱检测设备的对应关系调整光谱检测设备的镜头或被拍摄物体，可辅助实现光谱检测设备实现快速对焦，提高光谱检测设备的对焦速度。
应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本发明。
附图说明
为了更清楚地说明本发明的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例提供的一种辅助对焦方法的结构流程图；
图2是本申请实施例提供的一种辅助对焦方法的计算原理图；
图3是本申请实施例提供的一种辅助对焦装置的结构示意图；
图4是申请实施例提供的辅助对焦装置的处理器结构。
具体实施方式
这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本发明相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本发明的一些方面相一致的装置和方法的例子。
本申请实施例提供了一种辅助对焦方法，用于光谱检测设备，辅助光谱检测设备实现快速对焦。参见附图1，具体包括以下步骤：
S101：设置并固定第一激光器，使所述第一激光器的光束通过相机焦点，确定所述第一激光器的光束与相机主轴的夹角为α。
具体的，第一激光器用于产生激光束，将第一激光器设置在相机的一侧，使第一激光器发出的光束通过相机焦点，垂直相机主轴且经过相机焦点的平面为对准平面，相机焦点是第一激光器发出的光束与对准平面的交点。相机主轴是相机镜头的中心线，垂直相机主轴方向可选择垂直向下。在调整好第一激光器位置后固定第一激光器，确定第一激光器的光束与相机主轴的夹角，记作α。确定第一激光器的光束与相机主轴的夹角，可通过计算光束与对准平面的夹角，取此夹角的余角即为α。
S102：通过所述相机采集所述第一激光器发出的光束在被拍摄物体上的激光点图像。
具体的，将被拍摄物体至于相机视野内，如放在载物台上，第一激光器发出的光束照射在被拍摄物体上，在被拍摄物体上形成激光点，通过相机拍摄第一激光器发出的光束在被拍摄物体上的激光点图像。
第一激光器在被拍摄物体上形成激光点可以为点状或十字交叉状，激光颜色看选择红色、蓝色或绿色等，形状以及颜色突出。
此处的载物台可以是在三维空间内可移动的平台，初始时载物台的支撑端面与对准平面平行，三维空间内可移动的平台可方便被拍摄物体的移动。
S103：识别所述激光点图像上的第一激光点。
具体的，进行图像处理，找出激光点图像上的第一激光点，确定第一激光点的中心位置。在第一激光点的光斑光强分布不稳定、不连续，噪声影响较大等，直接采用最大强度法难以达到高精度定位，可以采用图像去噪结合高斯拟合法等确定光斑中心位置。通常会在激光点图像上建立坐标系，找出第一激光点的光斑中心坐标，即确定了第一激光点的光斑中心位置。
S104：计算在所述激光点图像上所述第一激光点与所述相机主轴之间距离L，并计算对焦偏移量H，H＝AL cotα，A为相机参数。
具体的，根据步骤S103识别确定出的第一激光点，计算第一激光点与相机主轴在激光点图像上的垂直距离，记作L。可选的，确定图像上相机主轴的坐标，计算相机主轴坐标和第一激光点光斑中心坐标在坐标轴上的垂直距离。根据公式H＝AL cotα，计算对焦偏移量H。对焦偏移量是指第一激光器发出的光束照射在被拍摄物体上形成的激光点与对准平面之间的垂直距离，也可认为是指通过激光点与准平面平行的平面与准平面之间的距离，即找出被拍摄物体偏移对准平面的距离。
A为相机参数，如附图2所示，相机采用物方远心成像物镜，孔径光阑在其像方焦平面上，主光线成像如附图2所示，其中
S105：判定所述第一激光器和第一激光点与所述相机主轴的位置关系，根据所述位置关系确定所述被拍摄物体的对焦偏移位置。
因为距离对准平面相等的平面存在两个，在得到对焦偏移量H后，还应确定第一激光器和第一激光点与相机主轴的位置关系。
具体的，当第一激光器和第一激光点位于相机主轴的同侧时，所述焦偏移位置为-AL cotα，-表示被拍摄物体靠近相机，如附图2中所示的偏离位置Ⅱ；当第一激光器和第一激光点位于相机主轴的不同侧时，所述焦偏移位置为+AL cotα，+表示被拍摄物体远离相机，如附图2中所示的偏离位置Ⅰ。在第一激光点于相机主轴重合的时候说明被拍摄物体在相机的焦点上。
建立相机焦点与光谱检测设备焦点的联系，如光谱检测设备焦点与相机焦点重合，根据得到的焦偏移位置，控制移动载物台，使被拍摄物体移动至相机焦点即光谱检测设备焦点，完成光谱检测设备对焦。本申请实施例辅助对焦方法，用于光谱检测设备，设置第一激光器，使第一激光器的光束通过相机焦点，确定对准平面；通过相机采集第一激光器发出的光束在被拍摄物体上的激光点图像，处理图像，计算对焦偏移量，确定对焦偏移位置，根据对准平面与光谱检测设备的对应关系调整光谱检测设备的镜头或被拍摄物体，可辅助实现光谱检测设备实现快速对焦，提高光谱检测设备的对焦速度。
基于本申请实施例提供的辅助对焦方法，本申请还提供了一种辅助对焦装置，辅助对焦装置的结构如附图3所示，所述辅助对焦装置包括第一激光器、带有物方远心镜头的相机和处理器，其中：
所述第一激光器设置在所述相机的光轴侧边，所述第一激光器的光束穿过所述相机的焦点，所述相机连接所述处理器，所述相机用于采集所述激光器发出的光束在被拍摄物体上的激光点图像；
所述处理器包括图像处理模块、对焦偏移量计算模块和对焦偏移位置模块；
所述图像处理模块用于识别所述激光点图像上的第一激光点；所述对焦偏移量计算模块用于计算在所述激光点图像上所述第一激光点与所述相机主轴之间距离L，并计算对焦偏移量H，H＝AL cotα，A为相机参数；所述对焦偏移位置模块用于判定所述第一激光器和第一激光点与所述相机主轴的位置关系，根据所述位置关系确定所述被拍摄物体的对焦偏移位置。
处理器可以与光谱检测设备共用一台电脑。
进一步，本申请实施例提供的辅助对焦装置中，所述对焦偏移位置模块包括第一对焦偏移位置模块和第二焦偏移位置模块；
所述第一对焦偏移位置模块用于当所述第一激光器和第一激光点位于所述相机主轴的同侧时，所述焦偏移位置为-AL cotα，表示被拍摄物体靠近相机；
所述第二焦偏移位置模块用于当所述第一激光器和第一激光点位于所述相机主轴的不同侧时，所述焦偏移位置为+AL cotα，+为被拍摄物体远离相机。
本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。本领域技术人员在考虑说明书及实践这里的发明后，将容易想到本发明的其它实施方案。本申请旨在涵盖本发明的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本发明的一般性原理并包括本发明未发明的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本发明的真正范围和精神由下面的权利要求指出。
应当理解的是，本发明并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本发明的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (4)

1.一种辅助对焦方法，用于光谱检测设备，其特征在于，所述方法包括以下步骤：
设置并固定第一激光器，使所述第一激光器的光束通过相机焦点，确定所述第一激光器的光束与相机主轴的夹角为α；
通过所述相机采集所述第一激光器发出的光束在被拍摄物体上的激光点图像；
识别所述激光点图像上的第一激光点；
计算在所述激光点图像上所述第一激光点与所述相机主轴之间距离L，并计算对焦偏移量H，H＝ALcotα，A为相机参数；
判定所述第一激光器和第一激光点与所述相机主轴的位置关系，根据所述位置关系确定所述被拍摄物体的对焦偏移位置。
2.根据权利要求1所述的辅助对焦方法，其特征在于，判定所述第一激光器和第一激光点与所述相机主轴的位置关系，根据所述位置关系确定所述被拍摄物体的对焦偏移位置，具体为：
当所述第一激光器和第一激光点位于所述相机主轴的同侧时，所述焦偏移位置为-ALcotα，-表示被拍摄物体靠近相机；
当所述第一激光器和第一激光点位于所述相机主轴的不同侧时，所述焦偏移位置为+ALcotα，+表示被拍摄物体远离相机。
3.一种辅助对焦装置，其特征在于，包括第一激光器、带有物方远心镜头的相机和处理器，其中：
所述第一激光器设置在所述相机的光轴侧边，所述第一激光器的光束穿过所述相机的焦点，所述相机连接所述处理器，所述相机用于采集所述激光器发出的光束在被拍摄物体上的激光点图像；
所述处理器包括图像处理模块、对焦偏移量计算模块和对焦偏移位置模块；
所述图像处理模块用于识别所述激光点图像上的第一激光点；所述对焦偏移量计算模块用于计算在所述激光点图像上所述第一激光点与所述相机主轴之间距离L，并计算对焦偏移量H，H＝ALcotα，A为相机参数；所述对焦偏移位置模块用于判定所述第一激光器和第一激光点与所述相机主轴的位置关系，根据所述位置关系确定所述被拍摄物体的对焦偏移位置。
4.根据权利要求3所述的辅助对焦装置，其特征在于，所述对焦偏移位置模块包括第一对焦偏移位置模块和第二焦偏移位置模块；
所述第一对焦偏移位置模块用于当所述第一激光器和第一激光点位于所述相机主轴的同侧时，所述焦偏移位置为-ALcotα，表示被拍摄物体靠近相机；
所述第二焦偏移位置模块用于当所述第一激光器和第一激光点位于所述相机主轴的不同侧时，所述焦偏移位置为+ALcotα，+为被拍摄物体远离相机。
CN201710956833.9A 2017-10-16 2017-10-16 一种辅助对焦方法及装置 Expired - Fee Related CN107727616B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710956833.9A CN107727616B (zh) 2017-10-16 2017-10-16 一种辅助对焦方法及装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710956833.9A CN107727616B (zh) 2017-10-16 2017-10-16 一种辅助对焦方法及装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN107727616A true CN107727616A (zh) 2018-02-23
CN107727616B CN107727616B (zh) 2020-07-28

Family

ID=61211498

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201710956833.9A Expired - Fee Related CN107727616B (zh) 2017-10-16 2017-10-16 一种辅助对焦方法及装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN107727616B (zh)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109297940A (zh) * 2018-09-06 2019-02-01 中国科学院沈阳自动化研究所 一种在微米尺度下激光离焦量自动调节装置及其调节方法
CN110425979A (zh) * 2019-08-07 2019-11-08 江苏汇博机器人技术股份有限公司 一种基于实训机器人的点激光测量方法和装置
CN112040221A (zh) * 2020-08-04 2020-12-04 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司检修试验中心 一种机巡可见光相机镜头af跑焦测试装置及测试方法
CN112261300A (zh) * 2020-10-22 2021-01-22 维沃移动通信（深圳）有限公司 对焦方法、装置及电子设备
CN112532853A (zh) * 2019-09-17 2021-03-19 深圳市硕德激光技术有限公司 一种自动对焦方法、装置、激光设备及存储介质
CN112846485A (zh) * 2020-12-31 2021-05-28 武汉华工激光工程有限责任公司 激光加工的监测方法、装置及激光加工设备
CN114554086A (zh) * 2022-02-10 2022-05-27 支付宝(杭州)信息技术有限公司 一种辅助拍摄方法、装置及电子设备
CN114647058A (zh) * 2022-05-18 2022-06-21 合肥金星智控科技股份有限公司 焦点调整方法、焦点调整装置、libs检测系统和存储介质
CN116678841A (zh) * 2023-05-19 2023-09-01 莱森光学（深圳）有限公司 一种光谱信息的测量方法、光谱仪和存储介质

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030011677A1 (en) * 2001-05-29 2003-01-16 Leica Microsystems Ag Method for measuring the separation of extended objects in conjunction with an optical observation system and microscope for carrying out the same
CN101467087A (zh) * 2006-06-09 2009-06-24 维谷设备有限公司 对无限远校正显微镜进行自动聚焦的方法和装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030011677A1 (en) * 2001-05-29 2003-01-16 Leica Microsystems Ag Method for measuring the separation of extended objects in conjunction with an optical observation system and microscope for carrying out the same
CN101467087A (zh) * 2006-06-09 2009-06-24 维谷设备有限公司 对无限远校正显微镜进行自动聚焦的方法和装置

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109297940A (zh) * 2018-09-06 2019-02-01 中国科学院沈阳自动化研究所 一种在微米尺度下激光离焦量自动调节装置及其调节方法
CN110425979A (zh) * 2019-08-07 2019-11-08 江苏汇博机器人技术股份有限公司 一种基于实训机器人的点激光测量方法和装置
CN112532853A (zh) * 2019-09-17 2021-03-19 深圳市硕德激光技术有限公司 一种自动对焦方法、装置、激光设备及存储介质
CN112040221A (zh) * 2020-08-04 2020-12-04 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司检修试验中心 一种机巡可见光相机镜头af跑焦测试装置及测试方法
CN112261300A (zh) * 2020-10-22 2021-01-22 维沃移动通信（深圳）有限公司 对焦方法、装置及电子设备
CN112846485A (zh) * 2020-12-31 2021-05-28 武汉华工激光工程有限责任公司 激光加工的监测方法、装置及激光加工设备
CN114554086A (zh) * 2022-02-10 2022-05-27 支付宝(杭州)信息技术有限公司 一种辅助拍摄方法、装置及电子设备
CN114647058A (zh) * 2022-05-18 2022-06-21 合肥金星智控科技股份有限公司 焦点调整方法、焦点调整装置、libs检测系统和存储介质
CN116678841A (zh) * 2023-05-19 2023-09-01 莱森光学（深圳）有限公司 一种光谱信息的测量方法、光谱仪和存储介质
CN116678841B (zh) * 2023-05-19 2024-10-01 莱森光学（深圳）有限公司 一种光谱信息的测量方法、光谱仪和存储介质

Also Published As

Publication number Publication date
CN107727616B (zh) 2020-07-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107727616A (zh) 一种辅助对焦方法及装置
US8339463B2 (en) Camera lens calibration system
CN103759638B (zh) 一种零件检测方法
CN104266608B (zh) 视觉传感器现场标定装置和标定方法
CN111210468A (zh) 一种图像深度信息获取方法及装置
CN106168461B (zh) 一种新型远距离测量定标仪
CN108833912A (zh) 一种摄像机机芯光轴中心和视场角的测量方法及系统
Zhang et al. Accuracy improvement in laser stripe extraction for large-scale triangulation scanning measurement system
CN111750804A (zh) 一种物体测量的方法及设备
Thomason et al. Calibration of a microlens array for a plenoptic camera
JP2010032471A (ja) 画像計測装置及びコンピュータプログラム
TWI521295B (zh) 斜軸式顯微自動對焦系統及方法
CN111220088A (zh) 测量系统和方法
CN103297799A (zh) 测试相机部件的光学特征
JP5098174B2 (ja) ３次元形状測定装置
KR100926019B1 (ko) 결함 입자 측정 장치 및 결함 입자 측정 방법
CN210720179U (zh) 复检相机对焦测距装置和玻璃复检设备
JP2016015371A (ja) 厚さ測定装置、厚さ測定方法及び露光装置
CN116678322A (zh) 考虑平行激光束倾斜角度的裂缝宽度测量方法及系统
CN114034405B (zh) 一种非接触式测温方法及系统
Zhang et al. Microscopic vision based on the adaptive positioning of the camera coordinate frame
CN111707446B (zh) 光斑中心与探测器接收面中心对准的调节方法及系统
US6115450A (en) X-ray fluorescence analyzer capable of determining the center of a sample
CN108020173B (zh) 基于结构光照明的面形测量装置和方法
Moru et al. Improving optical pipeline through better alignment and calibration process

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20200728

Termination date: 20211016

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee