CN107665160A - 一种硬盘单体线性和旋转振动的测试治具及测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开的一种硬盘单体线性和旋转振动的测试治具及测试方法,包括硬盘托架以及安装在硬盘托架内的治具本体,所述治具本体的尺寸与重量与实测硬盘的尺寸与重量相同,治具本体内设有芯片和电池,治具本体设有传感器,传感器与芯片和电池之间通过导线连接,治具本体上端设有盖板,治具本体是完全按照硬盘的大小和重量定制的治具,可以直接放到机器硬盘槽位进行振动测试,可以实际量测硬盘在该槽位真实收到的X、Y、Z三轴向的振动。

Description

一种硬盘单体线性和旋转振动的测试治具及测试方法
技术领域
本发明涉及硬盘振动测试技术领域,具体地说是一种硬盘单体线性和旋转振动的测试治具及测试方法。
背景技术
随着服务器产业的不断发展和壮大,服务器市场已经囊括各个领域,尤其是金融、互联网等主流领域,越来越多的客户开始偏向于购买大批量的服务器作为自己的核心应用。对服务器使用期间的安全保障提出了更高的要求,这样对系统中尤其是对振动敏感的硬盘的稳定性和可靠等方面是我们必须面临和考虑的问题。所以在产品的开发测试时,都要进行开机无包装振动测试和RV测试,从而确保该产品的质量。
硬盘固定在硬盘托架上,然后安置在不同槽位中,当整机在做线性和旋转振动测试时,由于硬盘、托架、槽位之间会有力相互作用,会对硬盘在X、Y、Z等3向有不同程度的放大,这样当振动测试无法满足性能标准时,没法确定硬盘本身在机箱中所受力是否超过本身参数,没法进行准确定位分析,对解决问题产生很大困扰。
发明内容
本发明的目的在于解决上述没法进行准确定位分析问题,提供一种硬盘单体线性和旋转振动的测试治具及测试方法。
本发明解决其技术问题所采取的技术方案是:
一种硬盘单体线性和旋转振动的测试治具,包括硬盘托架以及安装在硬盘托架内的治具本体,所述治具本体的尺寸与重量与实测硬盘的尺寸与重量相同,治具本体内设有芯片和电池,治具本体内四个角上固定有传感器,传感器与芯片和电池之间通过导线连接,治具本体上端设有盖板。
进一步地,所述治具本体侧面设有开关、指示灯和SD卡插口。
进一步地,所述SD卡插口内插有SD卡。
进一步地,所述开关与电池之间通过导线连接,传感器之间并联,传感器并联后与芯片、开关和电池依次串联,指示灯与芯片之间通过导线连接。
进一步地,所述治具本体四个角上设有安装板,盖板与治具本体之间通过安装板连接。
进一步地,所述治具本体下端面两端设有台阶,硬盘托架两端设有对应的台阶。
一种硬盘单体线性和旋转振动的测试方法,根据所述的硬盘单体线性和旋转振动的测试治具,其特征是,具体包括以下步骤:
1)、将治具本体安装在硬盘托架内;
2)、将装配好的硬盘托架安装到槽位;
3)、将治具中的SD卡取出,连接电脑存储软件,软件包含.bin、error.log、profile.prf、time.ini;
4)、打开time.ini文件,将时间改为当前时间,间隔根据实际情况设置,默认单位是秒;
5)、设置完成后,将治具安装在硬盘托架上,打开右侧开关,进行振动测试;
6)、测试完成后,取出SD卡,查看error.log文件;
7)、对.bin文件进行解析;
8)、统计测试数据。
本发明的有益效果是:
1、本发明为了解决上述没法进行准确定位分析的问题,治具本体是完全按照硬盘的大小和重量定制的治具,可以直接放到机器硬盘槽位进行振动测试,可以实际量测硬盘在该槽位真实收到的X、Y、Z三轴向的振动,该测试治具能够评估出新产品机构设计情况。
2、本发明简单易用,可以快速找出哪些槽位较差,并做针对性的修改,为制定硬盘单体线性和旋转振动测试标准提供重要参考。
附图说明
图1为本发明内部结构示意图;
图2为本发明内部结构俯视图;
图3为本发明结构示意图;
图4为本发明安装结构示意图;
图5为本发明流程图。
图中:1、硬盘托架,2、治具本体,3、芯片,4、电池,5、传感器,6、盖板,7、开关,8、指示灯,9、SD卡插口,10、SD卡,11、安装板,12、台阶。
具体实施方式
为了能清楚说明本方案的技术特点,下面通过具体实施方式,并结合其附图,对本发明进行详细阐述。下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开,下文中对特定例子的部件和设置进行描述。此外,本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的,其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。应当注意,在附图中所图示的部件不一定按比例绘制。本发明省略了对公知组件和处理技术及工艺的描述以避免不必要地限制本发明。
根据图1至图4所示,一种硬盘单体线性和旋转振动的测试治具,包括硬盘托架1以及安装在硬盘托架1内的治具本体2,所述治具本体2的尺寸与重量与实测硬盘的尺寸与重量相同,治具本体2内设有芯片3和电池4,治具本体2设有传感器5,传感器5位于治具本体2内部四个角上,治具本体2内部四个角上设有传感器5能够更好的抓取测试数据,传感器5与芯片3和电池4之间通过导线连接,治具本体2上端设有盖板6。本实施例中,治具本体2是完全按照3.5寸硬盘的大小和重量定制的治具,可以直接将治具本体2放到机器硬盘槽位进行振动测试,并可以通过传感器5实际量测硬盘在该槽位真实收到的X、Y、Z三轴向的振动,以方便我们进行定位分析和解决。
所述治具本体2侧面设有开关7、指示灯8和SD卡插口9。
所述SD卡插口9内插有SD卡10,治具本体2跟普通硬盘一样直接安装在系统槽位进行测试,治具本体2不同位置安装传感器5,抓取完数据可以直接通过SD卡导出,经分析后可以直接转换成硬盘实际受到的振动值。
所述开关7与电池4之间通过导线连接,传感器5之间并联,传感器5并联后与芯片3、开关7和电池4依次串联,指示灯8与芯片3之间通过导线连接,当SD卡10有数据读入时,指示灯8闪烁,此处为现有技术,不做过多赘述。
所述治具本体2四个角上设有安装板11,盖板6与治具本体2之间通过安装板11连接,本实施例中,盖板6与治具本体2上的安装板11通过螺钉连接。
所述治具本体2下端面两端设有台阶12,硬盘托架1两端设有对应的台阶。
根据图5所示,一种硬盘单体线性和旋转振动的测试方法,根据所述的硬盘单体线性和旋转振动的测试治具,其特征是,具体包括以下步骤:
1)、将治具本体2安装在硬盘托架1内;
2)、将装配好的硬盘托架安装到槽位;
3)、将治具中的SD卡10取出,连接电脑存储软件,软件包含163000.bin、error.log、profile.prf、time.ini;
4)、打开time.ini文件,将时间改为当前时间,间隔根据实际情况设置,默认单位是秒;
5)、设置完成后,打开治具本体2右侧开关7,打开开关7后,按照设置的时间间隔,指示灯8闪烁,此时说明治具开始工作,然后开始进行相关的振动测试;
6)、测试完成后,取出SD卡10,查看error.log文件;
7)、对163000.bin文件进行解析;
8)、统计测试数据。
通过引入该振动测试治具,能够准确量测硬盘在实际机箱中所受到的3轴向的振动,对于制定开机无包装振动测试和RV测试标准提供重要依据,并且对于指导新产品机箱、背板及托架的开发有重要的参考意义。
该硬盘单体的线性和旋转振动测试治具的开发,适用于目前所有3.5寸硬盘配置的服务器和存储产品,能够准确量测硬盘在实际产品所在槽位的振动情况,从而可以评估新产品结构设计的情况,并对设计出现的问题进行指导性的修改。
该测试治具能够评估出新产品机构设计情况,并可以快速找出哪些槽位较差,并做针对性的修改;为制定硬盘单体线性和旋转振动测试标准提供重要参考;该测试治具简单易用,对于提高浪潮产品的机构设计、可靠性和市场竞争力有非常大的好处。
上述虽然结合附图对本发明的具体实施方式进行了描述,但并非对本发明保护范围的限制,在本发明技术方案的基础上,本领域技术人员不需要付出创造性劳动即可做出的各种修改或变形仍在本发明的保护范围以内。

Claims (7)

1.一种硬盘单体线性和旋转振动的测试治具,包括治具本体(2),治具本体(2)安装在硬盘托架(1)内,其特征是,所述治具本体(2)的尺寸与重量与实测硬盘的尺寸与重量相同,治具本体(2)内设有芯片(3)和电池(4),治具本体(2)内四个角上设有传感器(5),传感器(5)与芯片(3)和电池(4)之间通过导线连接,治具本体(2)上端设有盖板(6)。
2.根据权利要求1所述的一种硬盘单体线性和旋转振动的测试治具,其特征是,所述治具本体(2)侧面设有开关(7)、指示灯(8)和SD卡插扣(9)。
3.根据权利要求2所述的一种硬盘单体线性和旋转振动的测试治具,其特征是,所述SD卡插扣(9)内插有SD卡(10)。
4.根据权利要求2所述的一种硬盘单体线性和旋转振动的测试治具,其特征是,所述开关(7)与电池(4)之间通过导线连接,传感器(5)之间并联,传感器(5)并联后与芯片(3)、开关(7)和电池(4)依次串联,指示灯(8)与芯片(3)之间通过导线连接。
5.根据权利要求1所述的一种硬盘单体线性和旋转振动的测试治具,其特征是,所述治具本体(2)四个角上设有安装板(11),盖板(6)与治具本体(2)之间通过安装板(11)连接。
6.根据权利要求1所述的一种硬盘单体线性和旋转振动的测试治具,其特征是,所述治具本体(2)下端面两端设有台阶(12),硬盘托架(1)两端设有对应的台阶。
7.一种硬盘单体线性和旋转振动的测试方法,根据权利要求1-6所述的硬盘单体线性和旋转振动的测试治具,其特征是,具体包括以下步骤:
1)、将治具本体(2)安装在硬盘托架(1)内;
2)、将装配好的硬盘托架(1)安装到槽位;
3)、将治具中的SD卡(10)取出,连接电脑存储软件,软件包含163000.bin、error.log、profile.prf、time.ini;
4)、打开time.ini文件,将时间改为当前时间,间隔根据实际情况设置,默认单位是秒;
5)、设置完成后,打开治具本体(2)右侧开关(7),进行振动测试;
6)、测试完成后,取出SD卡(10),查看error.log文件;
7)、对163000.bin文件进行解析;
8)、统计测试数据。
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