CN107643966A - 一种计算机性能衰减测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种计算机性能衰减测试装置，包括测试仪机壳和散热扇，所述散热扇的外侧设置有散热扇保护罩，所述测试仪机壳的正面设置有显示屏所述硬盘测试模块的下方设置有数字集成电路测试功能模块，所述数字集成电路测试功能模块的底部设置有模拟集成电路测试功能模块。本发明的有益效果是：在装置的顶部设置散热扇，在装置的两侧设置通风槽，通过安装的这两种设备，可有效的将测试装置高速运转时产生的热能散去，保护了装置的持久运行，并产生精确的数据，还提高了检测装置的使用寿命；将硬盘检测装置和集成电路检测装置结合在一起，可对计算机内的主要两个结构装置进行检测，使得测试装置的检测效率得到提升。
Description
技术领域
本发明属于测试装置相关技术领域，具体涉及一种计算机性能衰减测试装置。
背景技术
计算机的性能主要有由硬盘的性能和集成电路（芯片）的性能共同决定的，最先进的集成电路是微处理器或多核处理器的核心,可以控制电脑到手机到数字微波炉的一切，存储器和ASIC是其他集成电路家族的例子，对于现代信息社会非常重要。虽然设计开发一个复杂集成电路的成本非常高，但是当分散到通常以百万计的产品上，每个IC的成本最小化。IC的性能很高，因为小尺寸带来短路径，使得低功率逻辑电路可以在快速开关速度应用。
能够测试出硬盘和集成电路性能的测试装置日益成为人们所需的一种产品。
现有技术的测试装置存在以下问题：1、测试装置在检测计算机的硬盘或集成电路的时候高速运转会产生大量的热能，如果不能及时清理出去的话，会导致测试装置的测试结果产生偏差，严重时会对装置造成损害减少其使用寿命；2、市场上的测试装置的测试功能较为单一，要么只能测试硬盘，要么只能测试集成电路。
发明内容
本发明的目的在于提供一种计算机性能衰减测试装置，以解决上述背景技术中提出的测试装置散热性能不好以及测试功能单一的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种计算机性能衰减测试装置，包括测试仪机壳和散热扇，所述测试仪机壳的顶部设置有四个均匀分布的缓冲垫，所述测试仪机壳的两侧设置有相互对称的通风槽，所述测试仪机壳的上方设置有手提杆，两个相互对称的所述散热扇安装在测试仪机壳的顶部，所述散热扇的外侧设置有散热扇保护罩，所述测试仪机壳的正面设置有显示屏，所述显示屏的下方设置有电源接口，所述电源接口的一侧设置有USB接口，所述USB接口的另一侧设置有电源开关，所述电源开关远离USB接口的一侧设置有指示灯，所述显示屏的一侧设置有硬盘测试模块，所述硬盘测试模块的下方设置有数字集成电路测试功能模块，所述数字集成电路测试功能模块的底部设置有模拟集成电路测试功能模块。
优选的，所述手提杆通过紧固螺丝安装在测试仪机壳的顶部。
优选的，所述硬盘测试模块与测试仪机壳、数字集成电路测试功能模块与测试仪机壳、模拟集成电路测试功能模块与测试仪机壳和通风槽与测试仪机壳均为一体式结构。
优选的，所述电缓冲垫与测试仪机壳的连接方式为螺纹连接。
优选的，所述电源开关与显示屏、硬盘测试模块与显示屏、数字集成电路测试功能模块与显示屏和模拟集成电路测试功能模块与显示屏的连接方式均为电性连接。
优选的，所述散热扇保护罩与测试仪机壳的连接方式为卡合连接。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：
1、本发明在装置的顶部设置散热扇，在装置的两侧设置通风槽，通过安装的这两种设备，可有效的将测试装置高速运转时产生的热能散去，保护了装置的持久运行，并产生精确的数据，还提高了检测装置的使用寿命。
2、本发明将硬盘检测装置和集成电路检测装置结合在一起，可对计算机内的主要两个结构装置进行检测，使得测试装置的检测效率得到较大的提升。
附图说明
图1为本发明的结构示意图；
图2为本发明的俯视图；
图3为本发明的侧视图；
图中：1、显示屏；2、测试仪机壳；3、散热扇保护罩；4、散热扇；5、手提杆；6、电源接口；7、USB接口；8、电源开关；9、指示灯；10、缓冲垫；11、硬盘测试模块；12、数字集成电路测试功能模块；13、模拟集成电路测试功能模块；14、紧固螺丝；15、通风槽。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-3，本发明提供以下技术方案：一种计算机性能衰减测试装置，包括测试仪机壳2和散热扇4，测试仪机壳2的顶部设置有四个均匀分布的缓冲垫10，测试仪机壳2的两侧设置有相互对称的通风槽15，测试仪机壳2的上方设置有手提杆5，两个相互对称的散热扇4安装在测试仪机壳2的顶部，散热扇4的外侧设置有散热扇保护罩3，测试仪机壳2的正面设置有显示屏1，显示屏1的下方设置有电源接口6，电源接口6的一侧设置有USB接口7，USB接口7的另一侧设置有电源开关8，电源开关8远离USB接口7的一侧设置有指示灯9，显示屏1的一侧设置有硬盘测试模块11，硬盘测试模块11的下方设置有数字集成电路测试功能模块12，数字集成电路测试功能模块12的底部设置有模拟集成电路测试功能模块13。
为了安装手提杆5，本发明中，优选的，手提杆5通过紧固螺丝14安装在测试仪机壳2的顶部。
本发明中，优选的，硬盘测试模块11与测试仪机壳2、数字集成电路测试功能模块12与测试仪机壳2、模拟集成电路测试功能模块13与测试仪机壳2和通风槽15与测试仪机壳2均为一体式结构。
为了连接缓冲垫10与测试仪机壳2，本发明中，优选的，缓冲垫10与测试仪机壳2的连接方式为螺纹连接。
本发明中，优选的，电源开关8与显示屏1、硬盘测试模块11与显示屏1、数字集成电路测试功能模块12与显示屏1和模拟集成电路测试功能模块13与显示屏1的连接方式均为电性连接。
为了安装散热扇保护罩3，本发明中，优选的，散热扇保护罩3与测试仪机壳2的连接方式为卡合连接。
本发明中的数字集成电路测试功能模块12为已经公开的广泛运用与日常生活的已知技术，型号为BFL，具有128个量测通道,可提供多种的量测功能.这些通道可提供全面性故障诊断能力，包括数字集成电路功能测试(在线/离线测试)。集成电路接脚的连接状态和电压值的量测,并连同在无电源供给的情形下使用的VI曲线的测试功能。
本发明中的模拟集成电路测试功能模块13为已经公开的广泛运用与日常生活的已知技术，型号为AICT，系统会依照集成电路在PCB上的电路型态来作功能测试，不需要编辑程序或参考电路图。在AICT模块中还包括了完整的V-I曲线测试功能，电路板或集成电路可在无电源供给的情形下，得到清楚易懂的图形化测试结果。
本发明的工作原理及使用流程：本发明安装好过后，测试仪2的正面设置显示屏1用于显示各项测试数据，在显示屏1的下方依次设置电源接口6、USB接口7、电源开关8和指示灯9，电源接口6用于外接电源，USB接口7用于数据的导出，电源开关8用于控制仪器，在显示屏1的一侧自上而下依次设置硬盘测试模块11、数字集成电路测试功能模块12和模拟集成电路测试功能模块13，均用于计算机硬盘和集成电路的检测，在测试仪2的顶部设置手提杆5方便搬运，在测试仪2的内部设置散热扇4用于机体的散热，在测试仪2的两侧安装通风槽15用于通风散热。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (6)
1.一种计算机性能衰减测试装置，包括测试仪机壳（2）和散热扇（4），其特征在于：所述测试仪机壳（2）的顶部设置有四个均匀分布的缓冲垫（10），所述测试仪机壳（2）的两侧设置有相互对称的通风槽（15），所述测试仪机壳（2）的上方设置有手提杆（5），两个相互对称的所述散热扇（4）安装在测试仪机壳（2）的顶部，所述散热扇（4）的外侧设置有散热扇保护罩（3），所述测试仪机壳（2）的正面设置有显示屏（1），所述显示屏（1）的下方设置有电源接口（6），所述电源接口（6）的一侧设置有USB接口（7），所述USB接口（7）的另一侧设置有电源开关（8），所述电源开关（8）远离USB接口（7）的一侧设置有指示灯（9），所述显示屏（1）的一侧设置有硬盘测试模块（11），所述硬盘测试模块（11）的下方设置有数字集成电路测试功能模块（12），所述数字集成电路测试功能模块（12）的底部设置有模拟集成电路测试功能模块（13）。
2.根据权利要求1所述的一种计算机性能衰减测试装置，其特征在于：所述手提杆（5）通过紧固螺丝（14）安装在测试仪机壳（2）的顶部。
3.根据权利要求1所述的一种计算机性能衰减测试装置，其特征在于：所述硬盘测试模块（11）与测试仪机壳（2）、数字集成电路测试功能模块（12）与测试仪机壳（2）、模拟集成电路测试功能模块（13）与测试仪机壳（2）和通风槽（15）与测试仪机壳（2）均为一体式结构。
4.根据权利要求1所述的一种计算机性能衰减测试装置，其特征在于：所述缓冲垫（10）与测试仪机壳（2）的连接方式为螺纹连接。
5.根据权利要求1所述的一种计算机性能衰减测试装置，其特征在于：所述电源开关（8）与显示屏（1）、硬盘测试模块（11）与显示屏（1）、数字集成电路测试功能模块（12）与显示屏（1）和模拟集成电路测试功能模块（13）与显示屏（1）的连接方式均为电性连接。
6.根据权利要求1所述的一种计算机性能衰减测试装置，其特征在于：所述散热扇保护罩（3）与测试仪机壳（2）的连接方式为卡合连接。
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