CN107547148A - 带内中继基站回传通道发射机的射频测试系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供的带内中继基站回传通道发射机的射频测试系统和方法，测试端的数据接口与被测中继基站的调试接口相连接，使得频谱仪的子帧配置与被测中继基站的子帧配置保持一致，保证了被测中继基站在发射信号后，频谱仪能准确的接收到发射信号，解决了现有技术中由于子帧配置不一致而无法通过接收中继基站的信号的问题；通过测试端获取被测中继基站的发数地址，将其加载到的测试数据存入到被测中继基站的发数地址中，频谱仪接收被测中继基站的回传通道发射端口发出的发射信号，并对发射信号进行回传通道发射机的射频测试，实现了被测中继基站自身调度测试数据发出信号，保证了测试环境的真实性，提高了测试得到的射频性能指标的准确率。

Description

带内中继基站回传通道发射机的射频测试系统及方法

技术领域

本发明涉及无线通信设备测试领域，尤其涉及一种带内中继基站回传通道发射机的射频测试系统及方法。

背景技术

带内中继基站是无线通信系统组网中不可或缺的一部分，其性能的优劣影响整个系统，需要通过实验验证其射频性能是否达到了设计要求。

现有的中继基站的回传通道射频要求是按照终端要求来测试的，如图1所示，为现有的对带内中继基站的测试硬件设计，测试所用的外部设备为综测仪，测试时将测试设备接入到综测仪上，由综测仪来进行指令调度控制测试设备的输出信号，综测仪根据自身的调度和对设备输出信号的分析来测试具体的性能指标，但是带内中继基站由于其子帧配置和普通终端的不一致，特别是时分系统的中继基站，其子帧配置和综测仪规定的子帧配置不同，所以不能使用常规的综测仪来测试其射频性能。因此，克服现有技术中存在综测仪无法测试带内中继基站回传通道发射机的射频性能的问题和缺陷是亟待解决的问题。

发明内容

本发明实施例提供的带内中继基站回传通道发射机的射频测试系统和方法以解决现有技术中用于中继基站的子帧配置与综测仪的子帧配置不一致，而导致无法对中继基站回传通道发射机射频性能进行测试的技术问题。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种带内中继基站回传通道发射机的射频测试系统，包括：频谱仪和测试端；

测试端的数据接口与被测中继基站的调试接口相连，频谱仪的时钟与被测中继基站的时钟保持一致；

测试端获取被测中继基站的发数地址，并将其加载到的测试数据通过数据接口和调试接口存入被测中继基站的发数地址中；频谱仪接收被测中继基站的回传通道发射端口发出的发射信号，并对发射信号进行回传通道发射机的射频测试；发射信号为被测中继基站将发数地址中的测试数据进行发射过程中的变化处理后输出的信号。

本发明实施例还提供一种带内中继基站回传通道发射机的射频测试方法，包括：

测试端获取被测中继基站的发数地址，并将其加载到的测试数据存入被测中继基站的发数地址中；

频谱仪接收被测中继基站的回传通道发射端口发出的发射信号，并对发射信号进行回传通道发射机的射频测试；发射信号为被测中继基站将发数地址中的测试数据进行发射过程中的变化处理后输出的信号。

本发明的有益效果是：

根据本发明实施例提供的带内中继基站回传通道发射机的射频测试系统和方法，该系统包括频谱仪和测试端，测试端的数据接口与被测中继基站的调试接口相连接，测试端获取被测中继基站的发数地址，并将其加载到的测试数据通过数据接口和调试接口存入到被测中继基站的发数地址中，频谱仪接收被测中继基站的回传通道发射端口发出的发射信号，并对发射信号进行回传通道发射机的射频测试；通过设置频谱仪的时钟与被测中继基站的时钟保持一致，使得频谱仪的子帧配置与被测中继基站的子帧配置处于一致状态，保证了被测中继基站在发射信号后，频谱仪能准确的接收到发射信号，在测试时，频谱仪只需要进行单纯的接收发射信号以及测试回传通道的射频性能，而发射信号是通过测试端来控制被测中继基站来产生，使得频谱仪不需要发送调度指令也可以接收到被测中继基站发射的信号，解决了综测仪无法接收被测中继基站发射的信号而导致无法进行射频测试的问题；通过本发明实施例提供的系统对被测中继基站回传通道发射机的发射性能进行测试，频谱仪不需要发送调度指令就可以从测试接入通道的射频测试系统中直接接收被测中继基站的发数地址通过发射端口发出的信号对回传通道的发射机进行射频测试，解决了现有的测试方法综测仪必须要通过发射调度指令来控制被测中继基站发射特定的信号来测试对应的性能指标的问题，保证了测试环境能够真实的反映中继基站回传通道的发射机的发射性能。

附图说明

图1为现有的对带内中继基站的测试硬件结构图；

图2为本发明第一实施例提供的带内中继基站回传通道发射机的射频测试系统的结构示意图；

图3为本发明第一实施例提供的带内中继基站回传通道发射机的射频测试另一种结构示意图；

图4为本发明第一实施例提供的被测中继基站发出发射信号的处理流程图；

图5为本发明第二实施例提供的带内中继基站回传通道的射频测试系统的第一种结构示意图；

图6为本发明第二实施例提供的带内中继基站回传通道的射频测试系统的第二种结构示意图；

图7为本发明第二实施例提供的带内中继基站回传通道的射频测试系统的第三种结构示意图；

图8为本发明第二实施例提供的带内中继基站回传通道的射频测试系统的第四种结构示意图；

图9为本发明第二实施例提供的带内中继基站回传通道的射频测试系统的第五种结构示意图；

图10为本发明第三实施例提供的带内中继基站发射机的射频测试方法的流程图。

具体实施方式

下面通过具体实施方式结合附图对本发明实施例作进一步详细说明。

第一实施例：

为了解决中继基站回传通道发射机的射频性能无法通过综测仪对设备进行信号调度等方式进行测试的问题，本发明实施例提供了一种带内中继基站回传通道发射机的射频测试系统，该系统主要通过设置被测中继基站自身的发数地址寄存器进行发数、使用自身测试调度命令等一系列操作进行回传通道发射机的射频性能测试，请参见图2，图2为本实施例提供的带内中继基站回传通道发射机的射频测试系统，该系统2具体包括：频谱仪21和测试端22，其中测试端22的数据接口与被测中继基站1的调试接口10相连接，频谱仪21的时钟与被测中继基站1的时钟保持一致；

测试端22获取被测中继基站1的发数地址，并将其加载到的测试数据通过数据接口和调试接口10存入被测中继基站1的发数地址中；频谱仪21接收被测中继基站1的回传通道发射端口11发出的发射信号，并对发射信号进行回传通道发射机的射频测试；发射信号为被测中继基站1将发数地址中的测试数据进行发射过程中的变化处理后输出的信号。

在本实施例中，测试端22具体可以为电脑，也可以是带内中继基站的控制平台；当测试端22为电脑时，通过电脑的数据输出接口与被测中继基站1的调试接口10连接，通过电脑获取被测中继基站1的发数地址，并将加载到的测试数据存入到被测中继基站的发数地址中，该测试数据可以是用户通过电脑根据测试需求进行设计的数据测试文件，在测试时，通过电脑将该数据测试文件存入到被测中继基站1中的发数地址，被测中继基站1通过对存入内存的发数地址的数据测试文件进行编译执行，得到对应的发射信号，并通过发射端口发射出去，该发射信号也可以是被测中继基站将发数地址中的测试数据进行发射过程中的变化处理输出的信号。

在本实施例中，设置频谱仪21的时钟与被测中继基站1的时钟保持一致的方式包括直接采用连线的方式实现，也可以是频谱仪21根据接收到的发射信号进行调整，这时被测中继基站1在发射信号之前需要在信号中增加当前时间，频谱仪21接收到被测中继基站1发送的信号后，提取信号中的时间信息，根据时间信息更新频谱仪的时钟。

具体的，如图3所示，当设置频谱仪21的时钟与被测中继基站1的时钟保持一致采用时钟数据线的方式连接时，通过时钟数据线将被测中继基站1的时钟输出端口12与频谱仪21的时钟端口211连接，并以被测中继基站1中的时钟信号为基准调整频谱仪21上的时钟信号，从而使得频谱仪21的接收时隙与被测中继基站1的发射时隙一致，保证了频谱仪21通过接收端口212可以准确的接收到被测中继基站1发出的发射信号，并根据接收到的发射信号对回传通道发射机进行射频测试。

通过测试端22将加载到的测试数据存入到被测中继基站1内存中的发数地址中，测试端22加载测试数据具体是指测试端22将预先设置制作好的数据测试文件通过被测中继基站1的数据传输接口发送至被测中继基站1内部的主控芯片中，主控芯片把数据测试文件转存至数据存储内存寄存器中。

如图4所示为基于本实施例提供的硬件基础上提供的被测中继基站发出发射信号的处理流程图，其具体处理过程为：

被测中继基站1中的主控芯片从内存中读取对应的测试数据发送至FPGA，具体是被测中继基站1将在内存中对应的发数地址中存放的测试数据通过主控芯片发送到FPGA(现场可编程逻辑阵列)，FPGA将得到的测试数据进行变频处理，将测试数据当前的频率变频到中频，之后将变频后的测试数据发送到数模转换器。

数模转换器将接收到的测试数据转换成模拟信号，并发送至上变频混频器进行混频处理，最后将混频后的模拟信号发送至数控衰减器中进行信号的衰减处理，再通过功放将衰减处理后的模拟信号放大。

最后，将模拟信号通过被测中继基站1的发射端口亿射频的形式发射出去。为了配合频谱仪的接收，通过在发射端口上设置不同的发射设备来实现发射频率的控制，例如，在发射端口上设置回传天线。

进一步的，还可以通过在发射端口与频谱仪之间设置不同的信号处理设备对信号进行分析处理，得到可以测试不同射频性能指标的信号，频谱仪根据接收到的不同信号测试不同的射频性能指标，这里的射频性能指标包括最大输出功率、配置发射功率、最小输出功率、绝对功率容限、相对功率容限、累计功率容限、频率误差、ECM、IQ原点偏移功率、未分配RB的带内辐射、频谱平坦度、占用带宽、频谱发射模版、邻道泄漏功率比、发射机杂散辐射、发射机关断功率、开关时间模版、发射机杂散辐射、发射机互调下的频谱发射模版、发射机互调下的邻道泄漏功率比、发射机互调下的杂散辐射。

在本实施例中，处理设备可以包括衰减器、限幅器、陷波器中的至少一个，并将处理设备连接在频谱仪和被测中继基站之间，所述射频仪与被测中继基站之间的信号传输均通过射频线完成。

当处理设备为衰减器时，发射信号从被测中继基站的回传通道发射端口发出后，经过衰减器，衰减器将该发射信号调整到预设的信号大小范围内并传输至频谱仪，频谱仪接收调整后的发射信号对回传通道发射机的射频性能进行测试。

当处理设备为限幅器时，发射信号从被测中继基站的回传通道发射端口发出后，经过限幅器，限幅器将发射信号进行限幅处理后发送到频谱仪。

当处理设备为陷波器时，发射信号从被测中继基站的回传通道发射端口发出后，经过陷波器，陷波器将发射信号进行大信号抑制处理后发送到频谱仪。

具体的，若是通过限幅器输出的模拟信号，则频谱仪测试的射频参数指标包括发射机关断功率和开关时间模版中的至少一个；

若是通过陷波器输出的模拟信号，则频谱仪测试的射频参数指包括发射机杂散辐射。

在本实施例中，根据不同射频性能的测试需求，判断是否需要引入信号源进行互调，若需要，则在设置处理设备时具体还包括在被测中继基站与频谱仪之间设置环形器，环形器与处理设备连接后再与频谱仪连接，以及在环形器的另一输入口上设置一个信号源，环形器对发射信号和信号源输入的信号进行互调处理后输出互调信号，互调信号经过衰减器进行衰减处理后发送到频谱仪。

在本实施例中，所述测试端22还包括通过数据接口和调试接口向被测中继基站发送功率调度命令，该命令用于调整被测中继基站的功率大小，使其输出信号的功率落在频谱仪22的最佳范围内。

本发明实施例提供的带内中继基站回传通道发射机的射频测试系统，该系统宝库测试端和频谱仪，测试端的数据借口偶与被测中继基站的调试接口相连接，并且设置频谱仪的时钟与测中继基站的时钟一致，使得频谱仪的接收时隙与被测中继基站的发射时隙在时钟频率上，保证频谱仪能准确接收到的被测中继基站发出的发射信号，从而解决了现有技术中综测仪无法接收中继基站的信号而导致测试不了回传通道发射机的射频性能的问题；测试端首先获取被测中继基站的发数地址，并将其加载到的测试数据存入被测中继基站的发数地址中，从而控制被测中继基站发送发射信号，频谱仪接收所述发射信号，并根据所述发射信号进行回传通道发射机的射频测试，通过对本发明实施例提供的系统的实施，可以使得被测中继基站不需要通过频谱仪控制其发射信号，被测中继基站可通过自身发数地址中存入的测试数据来产生需要的信号，频谱仪只需要对发射的信号进行接收以及对回传通道进行测试即可，由于是被测中继基站根据自身发数地址中的测试数据发射的信号，保证了测试环境的真实性，提高了测试得到的射频性能指标的准确率。

第二实施例：

请参见图5，图5为本实施例提供的带内中继基站回传通道的射频测试系统的第一种结构示意图。

在本实施例中，所述射频测试系统2包括频谱仪21、测试端22和衰减器23，其中，所述测试端22的数据接口与所述被测中继基站1的调试接口11相连接，所述被测中继基站1产生的发射信号通过发射端口12发送至衰减器23上，所述衰减器23将接收到的信号根据预设的信号大小范围调整至合适的范围内，并发送至频谱仪，频谱仪21通过接收端口212接收衰减器23发送的信号，并根据该信号对回传通道发射机进行射频测试处理。

在本实施例中，为了保证频谱仪21能准确地接收到被测中继基站1发出的发射信号，将所述被测中继基站1上的时钟输出端口13与频谱仪21的时钟端口211连接，并以被测中继基站的时钟信号为准，调整所述频谱仪21的接收时隙与被测中继基站的发射时隙一致。

具体的，本实施例提供的测试端为电脑，发射端口为天线口，所述被测中继基站1的调试接口11通过网线或者串口线等数据传输线连接到外部电脑上，电脑通过数据线连接被测中继基站1，进行数据的加载和调度命令的传输。

所述发射端口12与衰减器23之间和衰减器23与接收端口212之间均通过射线连接。该射频测试系统的处理流程如下：

电脑通过被测中继基站1的数据接口加载软件配置信息后，将查询发数地址消息发送到主控芯片，主控芯片从内存查询到地址后将消息通过数据接口返回给电脑。

电脑得到地址后，将电脑上的数据流通过数据接口发送给主控芯片，主控芯片将获取到的数据流放入到内存中的对应地址。

地址中存放的数据流通过主控芯片发送到FPGA(现场可编程逻辑阵列)，FPGA将得到的数据流变频到中频，之后将数据流发送到数模转换器，数模转换芯片将数据流转换为模拟信号。

该模拟信号经过上变频混频器后变频到发射频率，之后经过数控衰减将模拟信号功率控制到要求的功率大小。

进一步，该功率大小也可通过电脑发出软件对应的功率调度命令，该命令通过数据接口发送到主控芯片，主控芯片调度射频软件系统修改数控衰减的衰减值，达到修改功率大小的目的。

经过数控衰减后的模拟信号，通过功放放大后发送到天线，即图5中的发射端口12，信号经过衰减器23到达频谱仪21的接收端口212，频谱仪21就接收到了被测中继基站1的发射信号。

通过频谱仪21的配置软件操作，按照终端协议的相关规定配置完成后即可进行对应的射频性能测试。所述测试的射频指标包括最大输出功率、配置发射功率、最小输出功率、绝对功率容限、相对功率容限、累计功率容限、频率误差、ECM、IQ原点偏移功率、未分配RB的带内辐射、频谱平坦度、占用带宽、频谱发射模版、邻道泄漏功率比、发射机杂散辐射中的至少一个。

在本发明的实施例中，在所述被测中继基站1和频谱仪21之间设置的处理设备还可以是限幅器24，所述限幅器的作用为在保证仪表测量动态范围的情况，可以同时测试到天线口开关情况下的输出信号，其具体结构示意图如图6所示。

这时，被测中继基站1发出的信号经过器内部的数控衰减后的模拟信号，通过功放放大后发送到天线，即图6中的发射端口12，信号经过限幅器24到达频谱仪21的接收端口212，频谱仪21就接收到了被测中继基站1的发射信号。

通过频谱仪21的配置软件操作，按照终端协议的相关规定配置完成后即可进行对应的射频性能测试。所述测试的射频指标包括发射机关断功率和开关时间模版中的至少一个。

在本发明的实施例中，在所述被测中继基站1和频谱仪21之间设置的处理设备还可以是陷波器25，所述陷波器25的作用是为了在天线口输出大功率信号的情况，抑制该大信号，从而满足仪表的动态可以测量到其他频段很低的杂散信号，其具体结构示意图如图7所示。

这时，被测中继基站1发出的信号经过器内部的数控衰减后的模拟信号，通过功放放大后发送到天线，即图7中的发射端口12，信号经过陷波器25到达频谱仪21的接收端口212，频谱仪21就接收到了被测中继基站1的发射信号。

通过频谱仪21的配置软件操作，按照终端协议的相关规定配置完成后即可进行对应的射频性能测试。所述测试的射频指标为发射机杂散辐射。

在本发明的实施例中，在所述被测中继基站1和频谱仪21之间设置的处理设备还可以是环形器26和衰减器23，在环行器26的另外一个输入口连接一个信号源27。环行器26的作用为在天线发射信号的同时，可以从环行器26的另外一个输入口接收到互调指标测试要求的互调信号，其具体结构示意图如图8所示。

这时，被测中继基站1发出的信号经过器内部的数控衰减后的模拟信号，通过功放放大后发送到天线，即图8中的发射端口12，信号经过环形器26和衰减器23到达频谱仪21的接收端口212，频谱仪21就接收到了被测中继基站1的发射信号。

信号源27输出协议规定的功率信号，通过环行器26到达被测中继基站1的发射端口12。

通过频谱仪21的配置软件操作，按照终端协议的相关规定配置完成后即可进行对应的射频性能测试。所述测试的射频指标包括发射机互调下的频谱发射模版和发射机互调下的邻道泄漏功率比中的至少一个。

在本发明的实施例中，在所述被测中继基站1和频谱仪21之间设置的处理设备还可以是环形器26和陷波器25，在环行器26的另外一个输入口连接一个信号源27。环行器26的作用为在天线发射信号的同时，可以从环行器26的另外一个输入口接收到互调指标测试要求的互调信号，其具体结构示意图如图9所示。

这时，被测中继基站1发出的信号经过器内部的数控衰减后的模拟信号，通过功放放大后发送到天线，即图9中的发射端口12，信号经过环形器26和陷波器25到达频谱仪21的接收端口212，频谱仪21就接收到了被测中继基站1的发射信号。信号源27输出协议规定的功率信号，通过环行器26到达被测中继基站1的发射端口12。

通过频谱仪的配置软件操作，按照终端协议的相关规定配置完成后即可进行对应的射频性能测试。所述测试的射频指标为发射机互调下的杂散辐射。

综上所述，本发明通过提供一种带内中继基站回传通道发射机的射频测试系统，从而实现了对回传通道发射机的射频性能的测试，并且能够保证测试环境能够真实的反映被测中继基站的回传通道性能。

第三实施例：

请参考图10，图10为本实施例提供的带内中继基站发射机的射频测试方法的流程图，在本实施例中，所述带内中继基站发射机的射频测试方法包括：

S1001，测试端获取被测中继基站的发数地址，并将其加载到的测试数据存入被测中继基站的发数地址中。

在本实施例中，所述测试端获取被测中继基站的发数地址具体是通过测试端的数据接口与被测中继基站的调试接口连接，通过数据接口加载被测中继基站中的软件配置信息后，查询配置信息中的发数地址，并发送至被测中继基站的主控芯片，主控芯片根据发数地址从内存中找到对应的地址后，向测试端反馈已查到的消息，所述测试端受到反馈消息后将测试端上预先设置好的测试数据通过被测中继基站的调试接口发送至被测中继基站的主控芯片，主控芯片将获取到的测试数据存入内存中对应的发数地址。

S1002，被测中继基站根据内存中的测试数据通过发射端口发出发射信号。

在本实施例中，通过步骤S401完成测试环境的搭建后，当需要进行对被测中继基站回传通道发射机进行射频测试时，主控芯片将存储于内存中的测试数据发送至FPGA，FPGA将得到的测试数据流变频到中频，然后将测试数据发送到数模转换芯片，数模转换芯片将数据流转换为模拟信号。

该模拟信号经过上变频混频器后变频到发射频率，之后经过数控衰减将模拟信号功率控制到要求的功率大小，并通过发射端口将所述模拟信号发射出去。

S1003，频谱仪接收被测中继基站的回传通道发射端口发出的发射信号，并对发射信号进行回传通道发射机的射频测试，这里被测中继基站发送的发射信号为被测中继基站将发数地址中的测试数据进行发射过程中的变化处理后输出的信号，射频仪与被测中继基站之间的信号传输均通过射频线完成。

在本实施例中，所述发射信号在发送至频谱仪之前，还包括对发射信号的信号大小进行调整，或者进行打信号的抑制处理，或者根据增加信号源进行互调的处理。

具体的，通过在频谱仪与被测中继基站之间设置衰减器、限幅器、陷波器等器件对射频信号进行处理，其中：

衰减器用于将被测中继基站的回传通道发射端口发出的发射信号调整到预设的信号大小范围内，使得发射信号的信号大小调整至频谱仪的最佳信号大小范围之内，提高频谱仪对发射信号的分析准确度。

限幅器用于将被测中继基站的回传通道发射端口发出的发射信号进行限幅处理后发送到所述频谱仪。

陷波器用于将被测中继基站的回传通道发射端口发出的发射信号进行大信号抑制处理后发送到所述频谱仪。

在本实施例中，根据测试的具体要求，在频谱仪与被测中继基站之间还设置有环形器，环形器的输出端与衰减或限幅器或陷波器的输入端连接，其输入端与被测中继基站的输出端连接，以及环形器另一输入口相连的信号源，所述信号源根据测试要求选择输入，与发射信号相互调整，使得发射信号的各个性能参数落在频谱仪的最佳处理范围内。

在本实施例中，测试端还通过所述数据接口和调试接口向被测中继基站发送功率调度命令，该功率调度命令用于调整被测中继基站的功率大小。

综上所述，本发明实施例提供的带内中继基站回传通道发射机的射频测试系统和方法，该系统首先通过测试端获取被测中继基站内存中的发数地址，将加载的测试数据根据发射地址存入到内存中，频谱仪接收到被测中继基站的回传通道发射端口发出的发射信号，并对发射信号进行回传通道发射机的射频测试；通过本发明实施例的实施，使得被测中继基站不需要通过频谱仪控制其发射信号，被测中继基站可通过自身发数地址中存入的测试数据来产生需要的信号，频谱仪只需要对发射的信号进行接收以及对回传通道进行测试即可，由于是被测中继基站根据自身发数地址中的测试数据发射的信号，保证了测试环境的真实性，提高了测试得到的射频性能指标的准确率。进一步的，由于频谱仪的时钟与被测中继基站的时钟保持一致，使得频谱仪的接收时隙与被测中继基站的发射时隙在时钟频率上，保证频谱仪能准确接收到的被测中继基站发出的发射信号，进一步解决了现有技术中综测仪由于子帧配置不一致而无法接收中继基站的信号，导致测试不了回传通道发射机的射频性能的问题。

以上内容是结合具体的实施方式对本发明实施例所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种带内中继基站回传通道发射机的射频测试系统，其特征在于，包括：频谱仪和测试端；所述测试端的数据接口与被测中继基站的调试接口相连，所述频谱仪的时钟与被测中继基站的时钟保持一致；

所述测试端获取被测中继基站的发数地址，并将其加载到的测试数据通过所述数据接口和调试接口存入被测中继基站的发数地址中；所述频谱仪接收被测中继基站的回传通道发射端口发出的发射信号，并对所述发射信号进行回传通道发射机的射频测试；所述发射信号为被测中继基站将发数地址中的所述测试数据进行发射过程中的变化处理后输出的信号。

2.根据权利要求1所述的带内中继基站回传通道发射机的射频测试系统，其特征在于，还包括：连接在所述频谱仪和被测中继基站之间的衰减器，用于将被测中继基站的回传通道发射端口发出的发射信号调整到预设的信号大小范围内；所述频谱仪接收调整后的发射信号。

3.根据权利要求1所述的带内中继基站回传通道发射机的射频测试系统，其特征在于，还包括：连接在所述频谱仪和被测中继基站之间的限幅器，用于将被测中继基站的回传通道发射端口发出的发射信号进行限幅处理后发送到所述频谱仪。

4.根据权利要求1所述的带内中继基站回传通道发射机的射频测试系统，其特征在于，还包括：连接在所述频谱仪和被测中继基站之间的陷波器，用于将被测中继基站的回传通道发射端口发出的发射信号进行大信号抑制处理后发送到所述频谱仪。

5.根据权利要求1所述的带内中继基站回传通道发射机的射频测试系统，其特征在于，还包括：串接在所述频谱仪和被测中继基站之间的环形器和衰减器，以及与所述环形器另一输入口相连的信号源；所述环形器对所述发射信号和所述信号源输入的信号进行互调处理后输出互调信号，所述互调信号经过所述衰减器进行衰减处理后发送到所述频谱仪。

6.根据权利要求1所述的带内中继基站回传通道发射机的射频测试系统，其特征在于，还包括：串接在所述频谱仪和被测中继基站之间的环形器和陷波器，以及与所述环形器另一输入口相连的信号源；所述环形器对所述发射信号和所述信号源输入的信号进行互调处理后输出互调信号，所述互调信号经过所述陷波器进行抑制处理后发送到所述频谱仪。

7.根据权利要求1-6任一项所述的带内中继基站回传通道发射机的射频测试系统，其特征在于，所述测试端还通过所述数据接口和调试接口向被测中继基站发送功率调度命令，所述功率调度命令用于调整被测中继基站的功率大小。

8.根据权利要求1-6任一项所述的带内中继基站回传通道发射机的射频测试系统，其特征在于，所述射频仪与被测中继基站之间的信号传输均通过射频线完成。

9.一种带内中继基站回传通道发射机的射频测试方法，其特征在于，包括：

测试端获取被测中继基站的发数地址，并将其加载到的测试数据存入被测中继基站的发数地址中；

频谱仪接收被测中继基站的回传通道发射端口发出的发射信号，并对所述发射信号进行回传通道发射机的射频测试；所述发射信号为被测中继基站将发数地址中的所述测试数据进行发射过程中的变化处理后输出的信号。

10.根据权利要求9所述的带内中继基站回传通道发射机的射频测试方法，其特征在于，所述频谱仪接收被测中继基站的回传通道发射端口发出的发射信号具体包括以下方式中的至少一种：

衰减器将被测中继基站的回传通道发射端口发出的发射信号调整到预设的信号大小范围内，所述频谱仪接收调整后的发射信号；

限幅器将被测中继基站的回传通道发射端口发出的发射信号进行限幅处理后发送到所述频谱仪；

陷波器将被测中继基站的回传通道发射端口发出的发射信号进行大信号抑制处理后发送到所述频谱仪；

环形器对所述发射信号和信号源输入的信号进行互调处理后输出互调信号，所述互调信号经过衰减器进行衰减处理后发送到所述频谱仪；

环形器对所述发射信号和信号源输入的信号进行互调处理后输出互调信号，所述互调信号经过陷波器进行抑制处理后发送到所述频谱仪。