CN107538275A - 一种消除复位间隙的测量头结构 - Google Patents
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Abstract
一种消除复位间隙的测量头结构，解决现有测量头测针座与测量头壳体发生相对位移后再次复位时，定位球或定位圆柱之间出现接触间隙，影响测量头复位精度的技术问题，技术方案是：一种消除复位间隙的测量头结构，包括：测针、测针座和测量头壳体，测针与测针座连接，测针座与测量头壳体构成活动的定位连接，还包括电子震动装置，所述的电子震动装置固定安装在测量头壳体或测针座上。有益效果是结构简单、使用方便、测量头复位精度高定。
Description
技术领域
本发明涉及一种机械加工中使用的测量工具，特别是一种消除复位间隙的测量头结构。
背景技术
测量头作为机床加工过程中，利用机床主轴安装测量头实施对加工工件的接触测量，是现代机械加工中经常使用的测量方法，测量头在使用过程中，由于测量部位不同及多次使用，测量头的测针和测针座需要与测量头壳体发生相对位移，所以测量头的制造测量精度和测针与测量头壳体发生相对位移后的复位精度是保证测量头测量精度的关键，现有同类测量头中，测针固定在测针座上，测针座与测量头壳体发生相对位移后再次复位时，均是采用测针座上的定位球或定位圆柱与测量头壳体定位凹坑或定位圆柱或定位球之间的限位实现测针座与测量头再次复位时的定位。现有技术的缺点是，测针座与测量头壳体发生相对位移后再次复位时，定位球或定位圆柱之间出现接触间隙，影响测量头有更高精度。如本申请人于2013年申请的发明专利，专利号为201310241132.9和申请号为201210481236.2的发明专利均达到要求，本发明能将原有复位精度进一步提高。
发明目的
为解决现有测量头测针座与测量头壳体发生相对位移后再次复位时，定位球或定位圆柱之间出现接触间隙，影响测量头复位精度的技术问题本发明公开一种消除复位间隙的测量头结构。
本发明实现发明目的采用的技术方案是：一种消除复位间隙的测量头结构，包括：测针、测针座和测量头壳体，测针与测针座连接，测针座与测量头壳体构成活动的定位连接，还包括电子震动装置，所述的电子震动装置固定安装在测量头壳体或测针座上。
本发明的有益效果是结构简单、使用方便、测量头复位精度高定。
下面结合附图对本发明进行详细描述。
附图1为本发明实施例1示意图。
附图2为本发明实施例2示意图。
附图3为本发明实施例3示意图。
附图4为本发明实施例4示意图。
附图中，1电子震动装置、2测量头壳体、3测针座、4测针。
具体实施方式
参看附图，一种消除复位间隙的测量头结构，包括：测针、测针座和测量头壳体，测针与测针座连接，测针座与测量头壳体构成活动的定位连接，还包括电子震动装置1，所述的电子震动装置1固定安装在测量头壳体2或测针座3上。
使用时，当测针座3带动测针4复位后，触发电子震动装置1工作开始震动，电子震动装置1震动传导使测量头部件发生震动，消除定位部件之间的接触间隙及使消除定位部件精准复位。实施例证明本发明涉及的震动与现有技术没有震动的测量头复位精度可提高50%以上。
本发明实施例中，为实现测量头复位后自动消除间隙，电子震动装置1为定时电子震动装置，电子震动装置1上设置有触发开关，触发开关与测针座3位移传感器构成电联接。测量头每复位一次，电子震动装置1定时工作一次。
本发明实施例中，为减小电子震动装置1的体积，电子震动装置1为机械式或压电陶瓷震动片的震动装置。
Claims (3)
1.一种消除复位间隙的测量头结构，包括：测针、测针座和测量头壳体，测针与测针座连接，测针座与测量头壳体构成活动的定位连接，其特征在于：还包括电子震动装置（1），所述的电子震动装置（1）固定安装在测量头壳体（2）或测针座（3）上。
2.根据权利要求1所述的一种消除复位间隙的测量头结构，其特征在于：电子震动装置（1）为定时电子震动装置，电子震动装置（1）上设置有触发开关，触发开关与测针座（3）位移传感器构成电联接。
3.根据权利要求1所述的一种消除复位间隙的测量头结构，其特征在于：电子震动装置（1）为机械式或压电陶瓷。
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