CN107525645A - 用于测试手机按键的方法 - Google Patents

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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • G01M7/08—Shock-testing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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Abstract

本发明涉及一种用于测试手机按键的方法，包括：将待测试手机放置在手机待测试工作台上的凹槽中，该凹槽的深度为待测试手机厚度的0.5倍到0.7倍；在所述手机待测试工作台上安装两个直线电机，确认两个位于同一水平面上的直线电机分别位于所述待测试手机的左右两侧；在两个所述直线电机的驱动轴上套设橡胶垫，随后启动两个所述直线电机，通过两个驱动轴将所述待测试手机进行限位，确认所述待测试手机上部通过两个驱动轴限位，所述待测试手机下部通过所述凹槽限位。上述测试手机按键的方法，可以自动测试、测试准确度高且效率高。

Description

用于测试手机按键的方法
技术领域
本发明涉及手机测试方法，特别是涉及用于测试手机按键的方法。
背景技术
随着技术的发展，越来越多的电子产品被研制出来，而作为人机界面的一种输入设备，键盘也越来越普及，其种类繁多，计算机键盘是其常见的一种，其使用非常频繁，对键盘上的按键的使用寿命要求也较长。一般键盘制造商在键盘制造完成之后，要对键盘进行检测，以挑选出不符质量要求的键盘。现有的键盘测试是通过人工用预定的力逐个点击键盘上的按键，依据键盘相应的输入情况判定该键盘是否为合格品。
然而，用人工点击键盘，劳动强度大，效率较低。而且不能保证确实用预定的力点击键盘，甚至有时会漏了点击一些按键，或点击按键位置不符合规定。
发明内容
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种用于测试手机按键的方法，可以自动测试、测试准确度高且效率高。
一种用于测试手机按键的方法，包括：
将待测试手机放置在手机待测试工作台上的凹槽中，该凹槽的深度为待测试手机厚度的0.5倍到0.7倍；
在所述手机待测试工作台上安装两个直线电机，确认两个位于同一水平面上的直线电机分别位于所述待测试手机的左右两侧；
在两个所述直线电机的驱动轴上套设橡胶垫，随后启动两个所述直线电机，通过两个驱动轴将所述待测试手机进行限位，确认所述待测试手机上部通过两个驱动轴限位，所述待测试手机下部通过所述凹槽限位；
将手机按键测试装置移动至所述待测试手机的正上方；其中，所述手机按键测试装置，包括：支撑架、及数个安装于支撑架上的自由落体打击装置，所述支撑架包括第一与第二固定板，该第一与第二固定板分别设有第一与第二安装孔；所述自由落体打击装置包括驱动装置、与驱动装置可移动连接的配重杆、位于配重杆下方的撞针、及固定连接于撞针的打击头，所述驱动装置固定安装于所述第一安装孔，所述撞针固定安装于所述第二安装孔；
通过上下移动的所述打击头来对所述待测试手机的按键进行测试；
在测试的同时对所述打击头进行计数，所述打击头作出一个往返运动为一次，当测试次数为预设次数时，停止测试；
将所述待测试手机取出进行按键性能测试，完成整个测试步骤。
上述测试手机按键的方法，可以自动测试、测试准确度高且效率高。
在另外的一个实施例中，所述预设次数为五千到1万次。
在另外的一个实施例中，所述驱动装置是气缸或者直线电机。
在另外的一个实施例中，所述手机待测试工作台上的凹槽中设有海绵层。
在另外的一个实施例中，通过红外线自动检测计数装置记录检测次数。
在另外的一个实施例中，所述打击头由软性材料制成。
在另外的一个实施例中，所述打击头在第奇数次和第偶数次测试手机按键时撞击手机按键的速度不同。
附图说明
图1为本申请实施例提供的一种用于测试手机按键的方法的流程图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
参阅图1，一种用于测试手机按键的方法，包括：
S110、将待测试手机放置在手机待测试工作台上的凹槽中，该凹槽的深度为待测试手机厚度的0.5倍到0.7倍。
S120、在所述手机待测试工作台上安装两个直线电机，确认两个位于同一水平面上的直线电机分别位于所述待测试手机的左右两侧。
S130、在两个所述直线电机的驱动轴上套设橡胶垫，随后启动两个所述直线电机，通过两个驱动轴将所述待测试手机进行限位，确认所述待测试手机上部通过两个驱动轴限位，所述待测试手机下部通过所述凹槽限位。
S140、将手机按键测试装置移动至所述待测试手机的正上方；其中，所述手机按键测试装置，包括：支撑架、及数个安装于支撑架上的自由落体打击装置，所述支撑架包括第一与第二固定板，该第一与第二固定板分别设有第一与第二安装孔；所述自由落体打击装置包括驱动装置、与驱动装置可移动连接的配重杆、位于配重杆下方的撞针、及固定连接于撞针的打击头，所述驱动装置固定安装于所述第一安装孔，所述撞针固定安装于所述第二安装孔。
S150、通过上下移动的所述打击头来对所述待测试手机的按键进行测试。
S160、在测试的同时对所述打击头进行计数，所述打击头作出一个往返运动为一次，当测试次数为预设次数时，停止测试。
S170、将所述待测试手机取出进行按键性能测试，完成整个测试步骤。
上述测试手机按键的方法，可以自动测试、测试准确度高且效率高。
在另外的一个实施例中，所述预设次数为五千到1万次。
在另外的一个实施例中，所述驱动装置是气缸或者直线电机。
在另外的一个实施例中，所述手机待测试工作台上的凹槽中设有海绵层。
在另外的一个实施例中，通过红外线自动检测计数装置记录检测次数。
在另外的一个实施例中，所述打击头由软性材料制成。
在另外的一个实施例中，所述打击头在第奇数次和第偶数次测试手机按键时撞击手机按键的速度不同。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (7)

1.一种用于测试手机按键的方法，其特征在于，包括：
将待测试手机放置在手机待测试工作台上的凹槽中，该凹槽的深度为待测试手机厚度的0.5倍到0.7倍；
在所述手机待测试工作台上安装两个直线电机，确认两个位于同一水平面上的直线电机分别位于所述待测试手机的左右两侧；
在两个所述直线电机的驱动轴上套设橡胶垫，随后启动两个所述直线电机，通过两个驱动轴将所述待测试手机进行限位，确认所述待测试手机上部通过两个驱动轴限位，所述待测试手机下部通过所述凹槽限位；
将手机按键测试装置移动至所述待测试手机的正上方；其中，所述手机按键测试装置，包括：支撑架、及数个安装于支撑架上的自由落体打击装置，所述支撑架包括第一与第二固定板，该第一与第二固定板分别设有第一与第二安装孔；所述自由落体打击装置包括驱动装置、与驱动装置可移动连接的配重杆、位于配重杆下方的撞针、及固定连接于撞针的打击头，所述驱动装置固定安装于所述第一安装孔，所述撞针固定安装于所述第二安装孔；
通过上下移动的所述打击头来对所述待测试手机的按键进行测试；
在测试的同时对所述打击头进行计数，所述打击头作出一个往返运动为一次，当测试次数为预设次数时，停止测试；
将所述待测试手机取出进行按键性能测试，完成整个测试步骤。
2.根据权利要求1所述的用于测试手机按键的方法，其特征在于，所述预设次数为五千到1万次。
3.根据权利要求1所述的用于测试手机按键的方法，其特征在于，所述驱动装置是气缸或者直线电机。
4.根据权利要求1所述的用于测试手机按键的方法，其特征在于，所述手机待测试工作台上的凹槽中设有海绵层。
5.根据权利要求1所述的用于测试手机按键的方法，其特征在于，通过红外线自动检测计数装置记录检测次数。
6.根据权利要求1所述的用于测试手机按键的方法，其特征在于，所述打击头由软性材料制成。
7.根据权利要求1所述的用于测试手机按键的方法，其特征在于，所述打击头在第奇数次和第偶数次测试手机按键时撞击手机按键的速度不同。
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