CN107507178A - 光栅膜的检测方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种光栅膜的检测方法及装置，涉及显示技术领域。该光栅膜的检测方法包括：获取平行光在多个预设位置透过光栅膜后于成像平面形成的多张成像图像；获取所述多张成像图像中的多个光点分别对应于预设坐标系中的多个坐标；判断所述多个坐标中与所述预设坐标系中对应的预设坐标的差值的绝对值大于预设值的坐标数量是否小于预设数量；在为是时，则判定所述光栅膜为合格，在为否时，则判定所述光栅膜为不合格。该光栅膜的检测方法及装置，实用性高，能较为方便地实现光栅膜的检测。

Description

光栅膜的检测方法及装置

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，具体而言，涉及一种光栅膜的检测方法及装置。

背景技术

在传统的3D显示领域，用户通常需要在观看3D显示效果时佩戴3D眼镜。现实的三维立体世界为人的双眼提供了两幅具有一定位差的图像，当两幅具有一定位差的图像映入双眼后即形成了立体视觉所需的视差，经视神经中枢的融合反射以及视觉心理反应便产生了三维立体感觉。利用这个原理，通过显示装置将两副具有位差的左、右图像分别呈现给左眼和右眼，就能获得3D的感觉。

最新的3D显示设备中，大多是将光栅膜贴合于显示屏幕，从而实现3D显示效果。因此，光栅膜的质量是影响3D显示效果的重要因素。光栅膜的质量与光栅膜的厚度有较大关系，而目前对于光栅膜的厚度的检测常为人工利用测量仪器进行检测，再对厚度进行判断，得到检测结果，这种方法非常的不方便，给检测人员带来了困扰。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种光栅膜的检测方法及装置，以解决上述问题。

为了实现上述目的，本发明采用的技术方案如下：

一种光栅膜的检测方法，所述方法包括：获取平行光在多个预设位置透过光栅膜后于成像平面形成的多张成像图像；获取所述多张成像图像中的多个光点分别对应于预设坐标系中的多个坐标；判断所述多个坐标中与所述预设坐标系中对应的预设坐标的差值的绝对值大于预设值的坐标数量是否小于预设数量；在为是时，则判定所述光栅膜为合格，在为否时，则判定所述光栅膜为不合格。

一种光栅膜的检测装置，所述装置包括：第一图像获取模块、第一图像处理模块、数量判断模块以及执行模块，其中，所述第一图像获取模块用于获取平行光在多个预设位置透过光栅膜后于成像平面形成的多张成像图像；所述第一图像处理模块用于获取所述多张成像图像中的多个光点分别对应于预设坐标系中的多个坐标；所述数量判断模块用于判断所述多个坐标中与所述预设坐标系中对应的预设坐标的差值的绝对值大于预设值的坐标数量是否小于预设数量；所述执行模块用于在为是时，则判定所述光栅膜为合格，在为否时，则判定所述光栅膜为不合格。

本发明实施例提供的光栅膜的检测方法及装置，通过获取平行光在多个预设位置透过光栅膜后于成像平面形成的多张成像图像，再获取多张成像图像中的多个光点分别对应于预设坐标系中的多个坐标，然后判断多个坐标中与预设坐标系中对应的预设坐标的差值的绝对值大于预设值的坐标数量是否小于预设数量；在为是时，则判定该光栅膜为合格；在为否时，判定该光栅膜为不合格。从而，可以实现对光栅膜的自动化检测，解决现有的光栅膜的检测方法不方便，给检测人员带来困扰的问题。

为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

图1示出了本发明实施例提供的检测设备的方框示意图；

图2示出了本发明实施例提供的光栅膜的检测方法的流程图；

图3示出了本发明实施例提供的光栅膜的检测方法的步骤S120的流程图；

图4示出了本发明实施例提供的光栅膜的检测装置的功能模块图；

图5示出了本发明实施例提供的光栅膜的检测装置的图像处理模块的功能模块图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时，在本发明的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

图1示出了一种可应用于本发明实施例中用于实现光栅膜的检测方法的的检测设备的结构框图。如图1所示，检测设备100包括存储器102、存储控制器104，一个或多个(图中仅示出一个)处理器106、外设接口108、射频模块110、音频模块112、显示单元114等。这些组件通过一条或多条通讯总线/信号线116相互通讯。

存储器102可用于存储软件程序以及模块，如本发明实施例中的光栅膜的检测方法及装置对应的程序指令/模块，处理器106通过运行存储在存储器102内的软件程序以及模块，从而执行各种功能应用以及数据处理，如本发明实施例提供的光栅膜的检测装置。

存储器102可包括高速随机存储器，还可包括非易失性存储器，如一个或者多个磁性存储装置、闪存、或者其他非易失性固态存储器。处理器106以及其他可能的组件对存储器102的访问可在存储控制器104的控制下进行。

外设接口108将各种输入/输出装置耦合至处理器106以及存储器102。在一些实施例中，外设接口108，处理器106以及存储控制器104可以在单个芯片中实现。在其他一些实例中，他们可以分别由独立的芯片实现。

射频模块110用于接收以及发送电磁波，实现电磁波与电信号的相互转换，从而与通讯网络或者其他设备进行通讯。

音频模块112向用户提供音频接口，其可包括一个或多个麦克风、一个或者多个扬声器以及音频电路。

显示单元114在用户终端100与用户之间提供一个显示界面。具体地，显示单元114向用户显示视频输出，这些视频输出的内容可包括文字、图形、视频及其任意组合。

在本发明实施例中，检测设备100还可以包括带动平行光光源移动的位移机构以及图像采集设备。位移机构可以设置于光栅膜的一侧，位移机构可以沿平行于光栅膜的延伸方向的方向移动。图像采集设备可以设置于成像平面的一侧，用于采集位于成像平面的成像图像。检测设备100可以控制位移机构沿预设方向带动平行光光源按预设速度移动，并且可以同时控制图像采集设备在平行光光源移动过程中在预设的时间点对平行光透过光栅膜后于成像平面形成的成像图像进行采集。

可以理解，图1所示的结构仅为示意，检测设备100还可包括比图1中所示更多或者更少的组件，或者具有与图1所示不同的配置。图1中所示的各组件可以采用硬件、软件或其组合实现。

第一实施例

如图2示出了本发明实施例提供的光栅膜的检测方法的流程图。请参见图2，该方法包括：

步骤S110：获取平行光在多个预设位置透过光栅膜后于成像平面形成的多张成像图像。

由于光栅膜在各个部位具有不同的厚度，因此检测光栅膜的质量需要在不同的位置测定光栅膜的厚度。

根据折射的原理，光栅膜的厚度的不同，使平行光经过光栅膜的各个部位后于成像平面的成像位置也不同。因此，可以根据平行光经过光栅膜多个位置后于成像平面的成像位置，与平行光经过标准光栅膜的对应的多个位置后于成像平面的成像位置进行比对，以判断光栅膜的各个位置的厚度是否与标准光栅膜的对应的各个位置的厚度是否一致，从而检测出光栅膜的质量。

因此，可以根据平行光在多个预设位置透过光栅膜后于成像平面形成的多张成像图像，进行图像处理后，与平行光在多个对应的预设位置透过标准光栅膜后于成像平面的多张成像图像，进行比对，以判断出光栅膜的质量。

首先，可以获取平行光在多个预设位置透过光栅膜后于成像平面形成的多张成像图像。具体的，请参见图3，步骤S110可以包括：

控制平行光光源按照预设方向依次移动至多个预设位置对应的位置；控制图像采集设备采集所述平行光光源在所述多个预设位置透过光栅膜后于成像界面形成的多张成像图像。

具体控制平行光光源按照预设方向依次移动至各个预设位置时，可以控制平行光光源沿平行于光栅膜延伸方向的方向按照预设速度移动，每个预设位置为对应于光栅膜的不同厚度的位置，可以根据每个需要检测厚度的位置之间的距离依据预设速度设置移动的时间，按照预设的速度移动不同的时间从而依次移动至多个预设位置对应的位置处，使平行光光源发出的平行光可以通过每个预设位置，并且以相同的入射角摄入光栅膜，使每个预设位置处平行光投射至成像平面的光点位于同一直线。并且，每到达一个预设位置对应的位置处，控制图像采集设备对平行光光源发出的平行光透过光栅膜后于成像界面形成的多张成像图像进行采集，并且采集的每张成像图像的规格大小相同，具体可以是采集的每张成像图像的规格大小与成像平面的大小对应。从而，可以获取到多张平行光在每个预设位置透过光栅膜后于成像平面形成的成像图像。

当然，当光栅膜规格较大时，也可以设置多个平行光光源分别对应于多个预设位置对应的位置处，多个平行光光源可以位于同一直线，且该直线与光栅膜延伸的方向平行。即在光栅膜每个的需要检测厚度位置斜对的位置处设置平行光光源，并且每个平行光光源发出的平行光在通过光栅膜对应的预设位置时，入射角应当相同，使每个预设位置处平行光投射至成像平面的光点位于同一直线。控制多个平行光光源依据排列顺序依次点亮，并且在每个平行光光源点亮时控制成像设备采集平行光透过光栅膜后于成像平面的成像图像。并且采集的每张成像图像的规格大小相同，具体可以是采集的每张成像图像的规格大小与成像平面的大小对应。从而可以获取到多张平行光在每个预设位置透过光栅膜后于成像平面形成的成像图像。

步骤S120：获取所述多张成像图像中的多个光点分别对应于预设坐标系中的多个坐标。

在获取到平行光在多个预设位置透过光栅膜后于成像平面形成多张成像图像后，可以对多张成像图像进行图像处理，获取各成像图像中平行光对应投射到成像平面的光点，并将所有成像图像中的光点对应到相同的预设坐标系中，获得每个光点的坐标，以便于后续与标准光栅膜对应的多张成像图像中的光点的坐标进行比对。具体的，请参见图3，获取所述多张成像图像中的多个光点分别对应于预设坐标系中的多个坐标，可以包括：

步骤S121：获取所述多张成像图像对应的多张二值图，每张二值图中包括光点。

步骤S121中，可以先获取所述多张成像图像对应的多张灰度图；再根据预设阈值分别对所述多张灰度图中每张灰度图进行二值分割，获得所述多张灰度图对应的多张二值图。

具体分别对每张成像图像进行二值化可以是，先获取每张成像图像的灰度图，再对每张成像图像对应的灰度图进行二值分割，从而获得每张灰度图对应的二值图。

获取每张成像图像的灰度图，可以是，在对每张成像图像进行去噪处理、平滑处理后，消除每张成像图像中的噪声等成像时造成的不利因素，然后对经过去噪处理以及平滑处理后的成像图像进行灰度化，获取到每张成像图像对应的灰度图。

然后再对每张成像图像对应的灰度图进行二值分割，具体可以根据预设阈值对灰度图进行二值分割，以获得每张灰度图对应的二值图。

在本发明实施例中，预设阈值可以是110-150范围内的一个数值。

在具体进行二值分割时，可以将灰度图中大于预设阈值的点取255，小于预设阈值的点取0，从而得到的二值图中，平行光通过光栅膜后投射到成像平面的成像图像中的光点对应的颜色为白色。

当然，在具体进行二值分割时，也可以将灰度图中大于预设阈值的点取0，小于预设阈值的点取255，从而得到的二值图中，平行光通过光栅膜后投射到成像平面的成像图像中的光点对应的颜色为黑色。

从而，可以获取到多张成像图像对应的多张二值图，并且每张二值图的规格大小相同，都对应于成像平面的大小。另外，每张二值图中包括有黑色或者白色对应的光点。

步骤S122：将所述多张二值图对应于预设坐标系中，获得所述多张二值图中的多个光点对应于所述预设坐标系中的多个坐标。

在获取到多张成像图像的多张二值图之后，可以将每张二值图都对应于预设坐标系中，并且获取每个二值图中光点对应的坐标。

由于每张二值图的规格大小相同，且在采集成像图像时，每个预设位置处平行光投射至成像平面的光点位于同一直线，因此多张二值图对应到同一预设坐标系后，每个光点的横坐标或者纵坐标应当相同，即光点位于同一直线。

步骤S130：判断所述多个坐标中与所述预设坐标系中对应的预设坐标的差值的绝对值大于预设值的坐标数量是否小于预设数量。

在获得多张成像图像中的多个光点分别对应于预设坐标系中的多个坐标后，再将多个坐标与标准光栅膜对应的多张成像图像的多个光点对应于预设坐标系中的多个坐标进行比对。

因此，在步骤S130之前，该光栅膜的检测方法还可以包括：获取所述平行光在所述多个预设位置透过标准光栅膜后于所述成像平面形成的多张标准光栅膜对应的多张标准成像图像；获得所述多张标准成像图像中的多个标准光点对应于所述预设坐标系中的多个标准坐标，所述多个标准坐标即为所述预设坐标。

具体的，在获取多张标准光栅膜对应的多张标准成像图像时，可以参照步骤S110的实施方式，在此不再一一赘述。然后在获取多张成像图像对应的多个标准光点对应于预设坐标系中的多个标准坐标，其实施方式可以参照步骤S120的实施方式，在此不再一一赘述。

从而，可以计算多个坐标与多个预设坐标的差值的绝对值。具体的，在进行计算时，如果多个坐标的纵坐标相同，多个预设坐标的纵坐标相同，可以将多个坐标的横坐标按照横坐标的大小顺序进行排序，获得数组x[n]，例如x[1]，x[2]，x[3]等，将多个预设坐标的横坐标按照横坐标的大小顺序进行排序，获得数组x’[n]，例如x’[1]，x’[2]，x’[3]等。然后按照x[n]与x’[n]相减的方式，即x[1]与x’[1]相减，x[2]与x’[2]相减，x[3]与x’[3]相减，获得到多个坐标与多个预设坐标的差值。

然后获取多个差值的绝对值大于预设差值的差值数量，即多个坐标中与预设坐标系中对应的预设坐标的差值的绝对值大于预设值的坐标数量。在本发明实施例中，预设差值可以为0。当然，预设差值的具体数值正在本发明实施例中并不作为限定，可以根据对光栅膜质量的检测要求而选取。

再判断多个差值的绝对值大于预设差值的差值数量是否小于预设数量，即判断多个坐标中与预设坐标系中对应的预设坐标的差值的绝对值大于预设值的坐标数量是否小于预设数量。具体的，预设数量可以为10。当然，预设数量的具体数值正在本发明实施例中并不作为限定，可以根据对光栅膜质量的检测要求而选取。

步骤S140：在为是时，则判定所述光栅膜为合格，在为否时，则判定所述光栅膜为不合格。

如果多个差值的绝对值大于预设差值的差值数量小于预设数量，即可以确定出检测的光栅膜的与标准光栅膜的厚度不一致的位置数量小于预设数量，则可以判定检测的光栅膜为合格。如果多个差值的绝对值大于预设差值的差值数量大于或者等于预设数量，即可以确定出检测的光栅膜的与标准光栅膜的厚度不一致的位置数量大于或者等于预设数量，则可以判定检测的光栅膜为不合格。从而，获取到光栅膜的检测结果。

第二实施例

本发明第二实施例提供了一种光栅膜的检测装置200，请参见图4，该光栅膜的检测装置200包括第一图像获取模块210、第一图像处理模块220、数量判断模块230以及执行模块240。其中，所述第一图像获取模块210用于获取平行光在多个预设位置透过光栅膜后于成像平面形成的多张成像图像；所述第一图像处理模块220用于获取所述多张成像图像中的多个光点分别对应于预设坐标系中的多个坐标；所述数量判断模块230用于判断所述多个坐标中与所述预设坐标系中对应的预设坐标的差值的绝对值大于预设值的坐标数量是否小于预设数量；所述执行模块240用于在为是时，则判定所述光栅膜为合格，在为否时，则判定所述光栅膜为不合格。

在本发明实施例中，所述图像获取模块210包括光源移动控制单元以及图像采集控制单元。其中，所述光源移动控制单元用于控制平行光光源按照预设方向依次移动至多个预设位置；所述图像采集控制单元用于控制图像采集设备采集所述平行光光源发出的平行光在所述多个预设位置透过光栅膜后于成像界面形成的多张成像图像。

在本发明实施例中，请参见图5，所述图像处理模块220包括二值图获取单221以及坐标获取单元222。其中，所述二值图获取单元221用于取所述多张成像图像对应的多张二值图，每张二值图中包括光点；所述获取单元222用于将所述多张二值图对应于预设坐标系中，获得所述多张二值图中的多个光点对应于所述预设坐标系中的多个坐标。

在本发明实施例中，所述二值图获取单元221包括预处理子单元以及二值分割子单元。其中，所述预处理子单元用于获取所述多张成像图像对应的多张灰度图；所述二值分割子单元用于根据预设阈值分别对所述多张灰度图中每张灰度图进行二值分割，获得所述多张灰度图对应的多张二值图。

在本发明实施例中，该光栅膜的检测装置200还包括第二图像获取模块以及第二图像处理模块。其中，所述第二图像获取模块用于获取所述平行光在所述多个预设位置透过标准光栅膜后于所述成像平面形成的多张标准光栅膜对应的多张标准成像图像；所述第二图像处理模块用于获得所述多张标准成像图像中的多个标准光点对应于所述预设坐标系中的多个标准坐标，所述多个标准坐标即为所述预设坐标。

综上所述，本发明实施例提供的光栅膜的检测方法及装置，通过获取平行光在多个预设位置透过光栅膜后于成像平面形成的多张成像图像，再获取多张成像图像中的多个光点分别对应于预设坐标系中的多个坐标，然后判断多个坐标中与预设坐标系中对应的预设坐标的差值的绝对值大于预设值的坐标数量是否小于预设数量；在为是时，则判定该光栅膜为合格；在为否时，判定该光栅膜为不合格。从而，可以实现对光栅膜的自动化检测，解决现有的光栅膜的检测方法不方便，给检测人员带来困扰的问题。

需要说明的是，本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。对于装置类实施例而言，由于其与方法实施例基本相似，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，也可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，附图中的流程图和框图显示了根据本发明的多个实施例的装置、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或代码的一部分，所述模块、程序段或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现方式中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个连续的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或动作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。

另外，在本发明各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分，也可以是各个模块单独存在，也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。

所述功能如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种光栅膜的检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取平行光在多个预设位置透过光栅膜后于成像平面形成的多张成像图像；

获取所述多张成像图像中的多个光点分别对应于预设坐标系中的多个坐标；

判断所述多个坐标中与所述预设坐标系中对应的预设坐标的差值的绝对值大于预设值的坐标数量是否小于预设数量；

在为是时，则判定所述光栅膜为合格，在为否时，则判定所述光栅膜为不合格。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取平行光在多个预设位置透过光栅膜后于成像平面形成的多张成像图像，包括：

控制平行光光源按照预设方向依次移动至所述多个预设位置对应的位置；

控制图像采集设备采集所述平行光光源发出的平行光在所述多个预设位置透过光栅膜后于成像界面形成的多张成像图像。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述多张成像图像中的多个光点分别对应于预设坐标系中的多个坐标，包括：

获取所述多张成像图像对应的多张二值图，每张二值图中包括光点；

将所述多张二值图对应于预设坐标系中，获得所述多张二值图中的多个光点对应于所述预设坐标系中的多个坐标。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，获取所述多张成像图像对应的多张二值图，包括：

获取所述多张成像图像对应的多张灰度图；

根据预设阈值分别对所述多张灰度图中每张灰度图进行二值分割，获得所述多张灰度图对应的多张二值图。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述判断所述多个坐标中与所述预设坐标系中对应的预设坐标的差值的绝对值大于预设值的坐标数量是否小于预设数量之前，所述方法还包括：

获取所述平行光在所述多个预设位置透过标准光栅膜后于所述成像平面形成的多张标准光栅膜对应的多张标准成像图像；

获得所述多张标准成像图像中的多个标准光点对应于所述预设坐标系中的多个标准坐标，所述多个标准坐标即为所述预设坐标。

6.一种光栅膜的检测装置，其特征在于，所述装置包括：第一图像获取模块、第一图像处理模块、数量判断模块以及执行模块，其中，

所述第一图像获取模块用于获取平行光在多个预设位置透过光栅膜后于成像平面形成的多张成像图像；

所述第一图像处理模块用于获取所述多张成像图像中的多个光点分别对应于预设坐标系中的多个坐标；

所述数量判断模块用于判断所述多个坐标中与所述预设坐标系中对应的预设坐标的差值的绝对值大于预设值的坐标数量是否小于预设数量；

所述执行模块用于在为是时，则判定所述光栅膜为合格，在为否时，则判定所述光栅膜为不合格。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述图像获取模块包括光源移动控制单元以及图像采集控制单元，其中，

所述光源移动控制单元用于控制平行光光源按照预设方向依次移动至多个预设位置；

所述图像采集控制单元用于控制图像采集设备采集所述平行光光源发出的平行光在所述多个预设位置透过光栅膜后于成像界面形成的多张成像图像。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述图像处理模块包括二值图获取单元以及坐标获取单元，其中，

所述二值图获取单元用于取所述多张成像图像对应的多张二值图，每张二值图中包括光点；

所述获取单元用于将所述多张二值图对应于预设坐标系中，获得所述多张二值图中的多个光点对应于所述预设坐标系中的多个坐标。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述二值图获取单元包括预处理子单元以及二值分割子单元，其中，

所述预处理子单元用于获取所述多张成像图像对应的多张灰度图；

所述二值分割子单元用于根据预设阈值分别对所述多张灰度图中每张灰度图进行二值分割，获得所述多张灰度图对应的多张二值图。

10.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括第二图像获取模块以及第二图像处理模块，其中，

所述第二图像获取模块用于获取所述平行光在所述多个预设位置透过标准光栅膜后于所述成像平面形成的多张标准光栅膜对应的多张标准成像图像；

所述第二图像处理模块用于获得所述多张标准成像图像中的多个标准光点对应于所述预设坐标系中的多个标准坐标，所述多个标准坐标即为所述预设坐标。