CN107493202B - 可扩展的高速误码测试仪 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种可扩展的高速误码测试仪,所述误码测试仪包括:上位机装置,主机控制单元,时钟模块,电信号模块,光信号模块,采用本发明的高速误码测试仪其可扩展性强,可同时支持低速率数字信号和高速率数字信号的测试;单个电信号模块或光信号模块同时集成了码型发生器和误码检测器;集成度高,进一步提高了可扩展性;可以同时支持电信号和光信号的混合测试,可支持电信号和光信号的输入和输出,配置灵活多变,满足各种测试场合的需求;电信号模块或光信号模块在主机控制单元中都可以同时配置4块,在一定情况下可以提高光模块的生产效率。
Description
技术领域
本发明涉及一种仪器,具体涉及一种光电信号测试仪器。
背景技术
随着数字通信技术的发展,为了满足日益增长的业务需求,对通信传输速率要求越来越高,其中最为突出的反映,是对数字光模块的要求越来越高,目前数字光模块的主流速率为10Gbps和40Gbps,而25Gbps和100Gbps产品正陆续地在一些大的数字中心中推广使用,市场上甚至已经出现了速率为400Gbps的数字光模块,但相对还比较少。随着通信业务量的激增,传输数据量也成倍增长,对于光模块的需求量也是一路攀升,预计2017年就有56亿美元的市场规模,而且近4年内还有逐渐增长的势头。所以也吸引着越来越多的厂家,进入光模块的市场,并不断扩大生产规模。随着而来的,是光模块研发、生产设备的需求也越来越大。误码测试仪作为光模块研发和生产过程中的测试设备,其需求量也是有所增长。而之前的误码测试仪基本上是被国外的设备制造商所垄断,近几年,才慢慢地涌现出一些国产的设备。面对进口设备的高昂价格,国产设备的高性价比,无疑是其市场竞争的强有力优势。但国内的误码测试仪都是仅支持某一速率段,要么只支持高速率,要么只支持低速率,即扩展性比较差。提供既可以满足目前大部分厂家低速率产品的生产要求,也可以满足高速率产品的研发及生产要求的误码测试仪是一项亟待解决的问题。
发明内容
鉴于上述情况,为解决上述问题,本发明提供一种可扩展的高速误码测试仪,所述误码测试仪包括:
上位机装置,其与主机控制单元连接,用于向主机控制单元发送配置命令,对模块进行组合配置;还用于接收并显示主机控制单元、时钟模块、电信号模块、光信号模块的状态信息和误码率测试结果;
主机控制单元,其包括与上位机装置相连接的控制接口、电源接口、电源模块、处理器、总线分发器和多个可插入模块并进行模块组合配置的插槽;
时钟模块,为电信号模块和光信号模块提供参考时钟信号;所述时钟模块包括时钟芯片和时钟源;
电信号模块,用于数字差分电信号的误码率检测,所述电信号模块包括与主机控制单元相连接的连接器、码型发生器和误码检测器,所述电信号模块可以为低速率电信号模块或高速率电信号模块,
光信号模块,用于产生测试光源信号,所述光信号模块包括与主机控制单元相连接的连接器、码型发生器、误码检测器和光模块接口,所述光信号模块可以为低速率光信号模块或高速率光信号模块。
一种所述的种可扩展的高速误码测试仪,其主机控制单元设有6个插槽,可以进行如下配置:2个插槽可以插入时钟模块,1个插槽可以插入高速率电信号模块,1个插槽可以插入低速率电信号模块,1个插槽可以插入低速率光信号模块,1个插槽可以插入高速率光信号模块。
又一种所述的种可扩展的高速误码测试仪,其主机控制单元设有6个插槽,可以进行如下配置:1个插槽可以插入时钟模块,1个插槽空载,2个插槽可以插入高速率电信号模块, 2个插槽可以插入高速率光信号模块。
再一种所述的种可扩展的高速误码测试仪,其主机控制单元设有6个插槽,可以进行如下配置:1个插槽可以插入时钟模块,3个插槽空载,1个插槽可以插入高速率电信号模块, 1个插槽可以插入高速率光信号模块。
再再一种所述的可扩展的高速误码测试仪,所述主机控制单元设有6个插槽,可以进行如下配置:4个插槽可以插入4块高速率电信号模块,1个插槽可以插入时钟模块,1个插槽空载。
所述的可扩展的高速误码测试仪,其低速率电信号模块的速率范围为:1.25G~14.025G,所述高速率电信号模块的速率范围为25Gbps~28Gbps,低速率光信号模块的速率为10Gbps或40Gbps,高速率光信号模块速率为25Gbps或100Gbps。
所述的可扩展的高速误码测试仪,其低速率电信号模块的典型速率为10Gbps;所述高速率电信号模块的典型速率为25Gbps;所述低速率光信号模块的典型速率为10Gbps或40Gbps;所述高速率光信号模块的典型速率为25Gbps或100Gbps。
采用本发明的技术方案后现有技术相比,具备如下优点和有益效果:
可扩展性强,可同时支持低速率数字信号和高速率数字信号的测试;单个电信号模块或是光信号模块同时集成了码型发生器和误码检测器;集成度高,进一步提高了可扩展性;可同时配置4个电信号模块,组成16个通道输出,高速率电信号模块每个通道可以输出25Gbps的信号,当配置为16个通道后,可同时输出400Gbps的信号;可以同时支持电信号和光信号的混合测试,可支持电信号和光信号的输入和输出,配置灵活多变,满足各种测试场合的需求;电信号模块或光信号模块在主机控制单元中都可以同时配置4块,在一定情况下可以提高光模块的生产效率。
附图说明
图1 可扩展的高速误码测试仪组成框图;
图2 主机控制单元的组成框图;
图3 时钟模块的组成框图;
图4 电信号模块的组成框图;
图5 光信号模块的组成框图;
图6 本发明实施例四所述的误码仪组成框图;
图7 本发明实施例三所述的误码仪组成框图;
图8 本发明实施例二所述的误码仪组成框图;
图9 本发明实施例一所述的误码仪组成框图。
图中, 1、上位机设备;2、主机控制单元;3、时钟模块;4、电信号模块;5、光信号模块;6、控制接口;7、电源接口;8、电源模块;9、处理器;10、总线分发器;11、插槽;12光模块接口;13、时钟芯片;14、时钟源;15、参考时钟信号;16、连接器;17、码型发生器;18、码型检测器。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明。
实施例一
本实施例所示的一种可扩展的误码测试仪,其包括:
上位机装置,其与主机控制单元连接,用于向主机控制单元发送配置命令,对模块进行组合配置;还用于接收并显示主机控制单元、时钟模块、电信号模块、光信号模块的状态信息和误码率测试结果;
主机控制单元,其包括与上位机装置相连接的控制接口、电源接口、电源模块、、处理器、总线分发器和6个可插入模块并进行模块组合配置的插槽;
时钟模块,为电信号模块和光信号模块提供参考时钟信号;所述时钟模块包括时钟芯片和时钟源;
电信号模块,用于数字差分电信号的误码率检测,所述电信号模块包括与主机控制单元相连接的连接器、码型发生器和误码检测器,所述电信号模块可以为速率为10 Gbps低速率电信号模块或速率为25Gbps高速率电信号模块,
光信号模块,用于产生测试光源信号,所述光信号模块包括与主机控制单元相连接的连接器、码型发生器和误码检测器,所述光信号模块可以是速率为10Gbps或40Gbps的低速率光信号模块,也可以是速率是25Gbps或100Gbps的高速率光信号模块。
所述的误码测试仪,其主机控制单元的6个插槽,可以进行如下配置:2个插槽可以插入时钟模块,1个插槽可以插入速率为25Gbps高速率电信号模块,1个插槽可以插入速率为10 Gbps的低速率电信号模块,1个插槽可以插入速率为10Gbps或40Gbps的低速率光信号模块,1个插槽可以插入速率是25Gbps或100Gbps的高速率光信号模块。
实施例二
本实施例所示的另一种可扩展的误码测试仪,其包括:
上位机装置,其与主机控制单元连接,用于向主机控制单元发送配置命令,对模块进行组合配置;还用于接收并显示主机控制单元、时钟模块、电信号模块、光信号模块的状态信息和误码率测试结果;
主机控制单元,其包括与上位机装置相连接的控制接口、电源接口、电源模块、处理器、总线分发器和6个可插入模块并进行模块组合配置的插槽;
时钟模块,为电信号模块和光信号模块提供参考时钟信号;所述时钟模块包括时钟芯片和时钟源;
电信号模块,用于数字差分电信号的误码率检测,所述电信号模块包括与主机控制单元相连接的连接器、码型发生器和误码检测器,所述电信号模块速率为10Gbps的低速率电信号模块或速率为25Gbps的高速率电信号模块,
光信号模块,用于产生测试光源信号,所述光信号模块包括与主机控制单元相连接的连接器、码型发生器和误码检测器,所述光信号模块速率为10Gbps或40Gbps的低速率光信号模块,也可以是速率为25Gbps或100Gbps高速率光信号模块。
本实施例所述的误码测试仪,其主机控制单元的6个插槽,可以进行如下配置: 1个插槽可以插入时钟模块,1个插槽空载,2个插槽可以插入速率为25Gbps的高速率电信号模块, 2个插槽可以插入速率为25Gbps或100Gbps高速率光信号模块。
实施例三
本实施例所示的再一种可扩展的误码测试仪,其包括:
上位机装置,其与主机控制单元连接,用于向主机控制单元发送配置命令,对模块进行组合配置;还用于接收并显示主机控制单元、时钟模块、电信号模块、光信号模块的状态信息和误码率测试结果;
主机控制单元,其包括与上位机装置相连接的控制接口、电源接口、电源模块、处理器、总线分发器和6个可插入模块并进行模块组合配置的插槽;
时钟模块,为电信号模块和光信号模块提供参考时钟信号;所述时钟模块包括时钟芯片和时钟源;
电信号模块,用于数字差分电信号的误码率检测,所述电信号模块包括与主机控制单元相连接的连接器、码型发生器和误码检测器,所述电信号模块可以为速率为10Gbps的低速率电信号模块或速率为25Gbps的高速率电信号模块;
光信号模块,用于产生测试光源信号,所述光信号模块包括与主机控制单元相连接的连接器、码型发生器和误码检测器,所述光信号模块可以为速率为10Gbps或40Gbps的低速率光信号模块,也可以是速率为25Gbps或100Gbps的高速率光信号模块。
本实施例所述的误码测试仪,其主机控制单元设有6个插槽,可以进行如下配置:1个插槽可以插入时钟模块,3个插槽空载,1个插槽可以插入速率为25Gbps的高速率电信号模块, 1个插槽可以插入25Gbps或100Gbps的高速率光信号模块。
实施例四
上位机装置,其与主机控制单元连接,用于向主机控制单元发送配置命令,对模块进行组合配置;还用于接收并显示主机控制单元、时钟模块、电信号模块、光信号模块的状态信息和误码率测试结果;
主机控制单元,其包括与上位机装置相连接的控制接口、电源接口、电源模块、处理器、总线分发器和6个可插入模块并进行模块组合配置的插槽;
时钟模块,为电信号模块和光信号模块提供参考时钟信号;所述时钟模块包括时钟芯片和时钟源;
电信号模块,用于数字差分电信号的误码率检测,所述电信号模块包括与主机控制单元相连接的连接器、码型发生器和误码检测器,所述电信号模块速率为10Gbps的低速率电信号模块或速率为25Gbps的高速率电信号模块,
光信号模块,用于产生测试光源信号,所述光信号模块包括与主机控制单元相连接的连接器、码型发生器和误码检测器,所述光信号模块速率为10Gbps或40Gbps的低速率光信号模块,也可以是速率为25Gbps或100Gbps高速率光信号模块。
本实施里所述的误码测试仪,其主机控制单元设有6个插槽,可以进行如下配置:4个插槽可以插入4块速率为25Gbps的高速率电信号模块,1个插槽可以插入时钟模块,1个插槽空载。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明,对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽范围。
Claims (3)
1.一种可扩展的高速误码测试仪,其特征在于,所述误码测试仪包括:
上位机装置1,其与主机控制单元连接,用于向主机控制单元发送配置命令,对模块进行组合配置;还用于接收并显示主机控制单元、时钟模块、电信号模块、光信号模块的状态信息和误码率测试结果;
主机控制单元,其包括与上位机装置相连接的控制接口、电源接口、电源模块、处理器、总线分发器和多个可插入模块并进行模块组合配置的插槽;
时钟模块,为电信号模块和光信号模块提供参考时钟信号;所述时钟模块包括时钟芯片和时钟源;
电信号模块,用于数字差分电信号的误码率检测,所述电信号模块包括与主机控制单元相连接的连接器、码型发生器和误码检测器,所述电信号模块可以为低速率电信号模块或高速率电信号模块,
光信号模块,用于产生测试光源信号,所述光信号模块包括与主机控制单元相连接的连接器、码型发生器、误码检测器和光模块接口,所述光信号模块可以为低速率光信号模块或高速率光信号模块;
所述主机控制单元设有6个插槽,可以进行如下配置:2个插槽可以插入时钟模块,1个插槽可以插入高速率电信号模块,1个插槽可以插入低速率电信号模块,1个插槽可以插入低速率光信号模块,1个插槽可以插入高速率光信号模块;或者,
所述主机控制单元设有6个插槽,可以进行如下配置:1个插槽可以插入时钟模块,1个插槽空载,2个插槽可以插入高速率电信号模块, 2个插槽可以插入高速率光信号模块;或者,
所述主机控制单元设有6个插槽,可以进行如下配置:1个插槽可以插入时钟模块,3个插槽空载,1个插槽可以插入高速率电信号模块, 1个插槽可以插入高速率光信号模块;或者,
所述主机控制单元设有6个插槽,可以进行如下配置:4个插槽可以插入4块高速率电信号模块,1个插槽可以插入时钟模块,1个插槽空载。
2.如权利要求1所述的可扩展的高速误码测试仪,其特征在于,低速率电信号模块的速率范围为:1.25G~14.025G,所述高速率电信号模块的速率范围为25Gbps~28Gbps,低速率光信号模块的速率为10Gbps或40Gbps,高速率光信号模块速率为25Gbps或100Gbps。
3.如权利要求2所述的可扩展的高速误码测试仪,其特征在于,所述低速率电信号模块的速率为10Gbps;所述高速率电信号模块的速率为25Gbps;所述低速率光信号模块的速率为10Gbps或40Gbps;所述高速率光信号模块速率为25Gbps或100Gbps。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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