CN107490350A - 一种超声波测厚仪 - Google Patents

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付中强
张翠云
付仁长
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    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B17/00—Measuring arrangements characterised by the use of infrasonic, sonic or ultrasonic vibrations
    • G01B17/02—Measuring arrangements characterised by the use of infrasonic, sonic or ultrasonic vibrations for measuring thickness

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Abstract

本发明公开了一种超声波测厚仪，包括测厚仪主体、测量探头、超声波发射器、超声波接收器和固定吸盘，所述测厚仪主体上安装有显示屏和操作按钮，所述显示屏设置在操作按钮的顶部，所述测厚仪主体的顶部安装有接线端口，所述接线端口上安装有连接线，所述连接线的一端安装有测量探头。本发明通过在测量探头的一侧上安装的压杆和固定吸盘，便于在测厚时通过固定吸盘和压杆将测量探头固定在待测物体上，避免手持测量探头在测量过程中由于人为因素造成测量探头位移影响测厚的精准，提高测厚仪的测量精度，解放测量人员双手，便于人员数据记录，降低测厚仪使用难度，提高测厚仪主体散热性能，降低测厚仪由于温度升高对测厚精度的影响程度。

Description

一种超声波测厚仪
技术领域
本发明涉及测量设备技术领域，具体为一种超声波测厚仪。
背景技术
超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度，凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。但现有的测厚仪在使用时，测厚仪的测量探头在测量过程中需要人员手持固定在测量物表面，一方面将会禁锢测量人员双手，造成测厚仪使用困难，不便于测量人员对测量数据的记录；一方面手持过程中由于人为因素造成测量探头发生位移的几率增加，从而影响测厚仪的测量精度；以及由于测厚仪本身散热性较差，测厚仪温度升高时则会影响测厚的准确度。
发明内容
本发明要解决的技术问题是克服现有技术的缺陷，提供一种超声波测厚仪。
为了解决上述技术问题，本发明提供了如下的技术方案：
本发明超声波测厚仪，包括测厚仪主体、测量探头、超声波发射器、超声波接收器和固定吸盘，所述测厚仪主体上安装有显示屏和操作按钮，所述显示屏设置在操作按钮的顶部，所述测厚仪主体的顶部安装有接线端口，所述接线端口上安装有连接线，所述连接线的一端安装有测量探头，所述测厚仪主体的内部安装有单片机芯片，所述单片机芯片通过导线与超声波发射器和超声波接收器连接，所述超声波发射器通过导线与接线端口连接，所述测量探头和连接线之间连接有安装座，所述测量探头的顶部安装有压杆，所述压杆的一端通过连接杆与固定吸盘连接。
优选的，所述单片机芯片、超声波发射器和超声波接收器上均安装有多个散热片。
优选的，所述固定吸盘的底部和测量探头的底部在同一水平面上。
优选的，所述测厚仪主体的底部安装有标准块。
优选的，所述超声波接收器上安装有信号放大器。
本发明所达到的有益效果是：该超声波测厚仪，结构简单，使用方便，通过在测量探头的一侧上安装的压杆和固定吸盘，便于在测厚时通过固定吸盘和压杆将测量探头固定在待测物体上，避免手持测量探头在测量过程中由于人为因素造成测量探头发生位移影响测厚的精准，从而有效提高测厚仪的测量精度，解放测量人员双手，便于人员数据记录，降低测厚仪使用难度，以及安装在测厚仪主体上的散热片，降低测厚仪由于温度升高对测厚精度的影响程度。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：
图1是本发明的结构示意图；
图2是本发明的剖视图；
图3是本发明的测量探头结构示意图。
图中：1-测厚仪主体，2-显示屏，3-操作按钮，4-接线端口，5-连接线，6-测量探头，7-标准块，8-单片机芯片，9-超声波发射器，10-超声波接收器，11-信号放大器，12-安装座，13-压杆，14-固定吸盘，15-散热片。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。
实施例
如图1-3所示，一种超声波测厚仪，包括测厚仪主体1、测量探头6、超声波发射器9、超声波接收器10和固定吸盘14，所述测厚仪主体1上安装有显示屏2和操作按钮3，所述显示屏2设置在操作按钮3的顶部，所述测厚仪主体1的顶部安装有接线端口4，所述接线端口4上安装有连接线5，所述连接线5的一端安装有测量探头6，所述测厚仪主体1的内部安装有单片机芯片8，单片机芯片8采用的类型为AT89C2051，所述单片机芯片8通过导线与超声波发射器9和超声波接收器10连接，所述超声波发射器9通过导线与接线端口4连接，所述测量探头6和连接线5之间连接有安装座12，所述测量探头6的顶部安装有压杆13，所述压杆13的一端通过连接杆与固定吸盘14连接，便于在测厚时通过固定吸盘14和压杆13将测量探头6固定在待测物体上，避免手持测量探头6在测量过程中由于人为因素造成测量探头6发生位移影响测厚的精准，从而有效提高测厚仪的测量精度，解放测量人员双手，便于人员数据记录，降低测厚仪使用难度。
所述单片机芯片8、超声波发射器9和超声波接收器10上均安装有多个散热片15，提高测厚仪的散热性能，降低测厚仪由于温度升高对测厚精度的影响程度，所述固定吸盘14的底部和测量探头6的底部在同一水平面上，保证吸盘固定时，测量探头6能与测量物接触，所述测厚仪主体1的底部安装有标准块7，便于随时对测厚仪进行校正，所述超声波接收器10上安装有信号放大器11，提高测厚仪的测量精度。
工作原理：该超声波测厚仪，在使用时，首先将固定吸盘14吸附在待测厚物体上，固定吸盘14通过压杆13将测厚仪的测量探头6固定压在待测点上，从而避免手持测量探头6在测量过程中由于人为因素造成测量探头6发生位移影响测厚的精准，有效提高测厚仪的测量精度，解放测量人员双手，便于人员数据记录，降低测厚仪使用难度，然后将测量探头6上的连接线5插入测厚仪主体1上的接线端口4中，通过操作按钮3中的启动按钮使测厚仪主体1上的超声波发射器9发射出超声波，根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量，当测量探头6发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回测量探头6，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
最后应说明的是：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种超声波测厚仪，包括测厚仪主体(1)、测量探头(6)、超声波发射器(9)、超声波接收器(10)和固定吸盘(14)，其特征在于：所述测厚仪主体(1)上安装有显示屏(2)和操作按钮(3)，所述显示屏(2)设置在操作按钮(3)的顶部，所述测厚仪主体(1)的顶部安装有接线端口(4)，所述接线端口(4)上安装有连接线(5)，所述连接线(5)的一端安装有测量探头(6)，所述测厚仪主体(1)的内部安装有单片机芯片(8)，所述单片机芯片(8)通过导线与超声波发射器(9)和超声波接收器(10)连接，所述超声波发射器(9)通过导线与接线端口(4)连接，所述测量探头(6)和连接线(5)之间连接有安装座(12)，所述测量探头(6)的顶部安装有压杆(13)，所述压杆(13)的一端通过连接杆与固定吸盘(14)连接。
2.根据权利要求1所述的超声波测厚仪，其特征在于：所述单片机芯片(8)、超声波发射器(9)和超声波接收器(10)上均安装有多个散热片(15)。
3.根据权利要求1所述的超声波测厚仪，其特征在于：所述固定吸盘(14)的底部和测量探头(6)的底部在同一水平面上。
4.根据权利要求1所述的超声波测厚仪，其特征在于：所述测厚仪主体(1)的底部安装有标准块(7)。
5.根据权利要求1所述的超声波测厚仪，其特征在于：所述超声波接收器(10)上安装有信号放大器(11)。
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