CN107423173A - 一种提升内存测试环节的优化方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种提升内存测试环节的优化方法，所述的方法包括以下步骤：步骤1：下载内存测试工具；步骤2：在内存测试工具中插入中断退出函数；步骤3：刷新内存测试工具并运行。该方法增加了一键退出功能，当有突发需要终止当前内存测试时，只要按下ESC键，程序会正常退出并保存完整的log文件，使测试更具适应性。

Description

一种提升内存测试环节的优化方法

技术领域

本发明主要涉及涉及计算机内存卡的测试领域，尤其涉及一种提升内存测试环节的优化方法。

背景技术

在当前计算机内存卡测试中，都要进行FCT功能测试。在当前计算机内存卡工厂大规模FCT功能测试中，大都是在老化室用Linux操作系统进行内存测试，正常情况下一般不会有问题，但当有突发或不可控事件时，比如这一批进入老化房的机子少刷了一种固件，需要重新烧录才能跑老化，现有的处理流程就会存在以下方面的缺陷：1)通过系统指令kill中断正在进行的内存测试，使程序异常结束，父进程退出，子进程没有全部退出而变成僵尸进程，耗费系统资源，并且生成相关的log不完整。2)等内存测试运行结束，正常退出，但正常老化时的内存测试一般都要耗费数小时，浪费时间较长。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提供了一种提升内存测试环节的优化方法，增加了一键退出功能，当有突发需要终止当前内存测试时，只要按下ESC键，程序会正常退出并保存完整的log文件，使测试更具适应性。同时，增加了定时功能，可以根据自己的需求，设定时间大小，减少了时间的浪费。

本发明采用以下技术方案：

一种提升内存测试环节的优化方法，其特征在于，所述的方法包括以下步骤：

步骤1：下载内存测试工具；

步骤2：在内存测试工具中插入中断退出函数；

步骤3：刷新内存测试工具并运行。

进一步的，在步骤2完成后，还可以在内存测试工具中插入定时器触发函数。

优选的，所述的内存测试工具为memtester工具。

进一步的，所述的中断触发函数至少包括按键识别功能。

优选的，所述按键识别功能中设定的按键为ESC键。

进一步的，在内存测试工具中插入定时器触发函数的具体过程为：

1)设置定时器步长；

2)设定定时触发退出标准；

3)设置测试参数优先级。

优选的，定时器步长设定为2秒。

进一步的，定时触发退出标准为：当时间达到指定值时，退出测试，并修改loop参数。

进一步的，测试参数优先级的设定标准为以下三种方式中的一种：

1)设置时间参数为优先级参数，则满足时间参数条件时立即退出测试；

2)设置循环参数为优先级参数，则完成所有项测试一次时立即退出测试；

3)同时设置时间参数和循环参数为优先级参数，则满足任意一个参数条件时，立即退出测试。

本发明的有益效果是：

1、通过设置中断退出函数，可以随时触发并中断整个测试过程，程序会正常退出并保存完整的Log文件，使测试更具适应性。

2、通过设置定时器触发函数，提供了以下三种退出方式：1)当时间和循环参数同时给定时，哪个参数先测试完就以那个参数为准，并退出；2)当只有时间参数时，不管循环是否够一次或循环几次，时间满足则退出测试；3)若只有循环参数时，不管测试时间有多长短，只要完成所有项测试一次就退出测试。

附图说明

图1是本发明方法流程图。

具体实施方式

如图1所示的一种提升内存测试环节的优化方法，主要用于当有突发需要终止当前内存测试时，程序正常退出并保存完整的log文件，使测试更具适应性，所述的方法包括以下步骤：

步骤1：下载内存测试工具，本申请提出的比较典型的内存测试工具为memtester工具，但是并不限于这一种测试工具。

步骤2：在内存测试工具中插入中断退出函数，所述的中断触发函数主要包括按键识别功能，该按键实现一键中断并退出的功能，本申请中对于按键识别功能中按键设定为ESC键，本领域内的技术人员也可以设置成键盘上的任意按键。

步骤3：在内存测试工具中插入定时器触发函数，具体过程为：

1)设置定时器步长，本申请给出一种通用定时器步长设定时间为2秒；

2)设定定时触发退出标准，具体标准为：当时间达到指定值时，退出测试，并修改loop参数；

3)设置测试参数优先级，测试参数优先级的设定标准为以下三种方式中的一种：

1)设置时间参数为优先级参数，则满足时间参数条件时立即退出测试；

2)设置循环参数为优先级参数，则完成所有项测试一次时立即退出测试；

3)同时设置时间参数和循环参数为优先级参数，则满足任意一个参数条件时，立即退出测试。

步骤4：刷新内存测试工具并运行。

内存测试工具修改完成后，给定时间、循环次数、内存大小具体测试项参数，执行测试工具，也可不给定任何参数，按默认值测试，如中途发生意外情况，可以按ESC键来终止测试。

尽管说明书及附图和实施例对本发明创造已进行了详细的说明，但是，本领域技术人员应当理解，仍然可以对本发明创造进行修改或者等同替换；而一切不脱离本发明创造的精神和范围的技术方案及其改进，其均涵盖在本发明创造专利的保护范围当中。

Claims (9)

1.一种提升内存测试环节的优化方法，其特征在于，所述的方法包括以下步骤：

步骤1：下载内存测试工具；

步骤2：在内存测试工具中插入中断退出函数；

步骤3：刷新内存测试工具并运行。

2.根据权利要求1所述的一种提升内存测试环节的优化方法，其特征在于，在步骤2完成后，还需要在内存测试工具中插入定时器触发函数。

3.根据权利要求1或2所述的一种提升内存测试环节的优化方法，其特征在于，所述的内存测试工具为memtester工具。

4.根据权利要求1或2所述的一种提升内存测试环节的优化方法，其特征在于，所述的中断触发函数至少包括按键识别功能。

5.根据权利要求4所述的一种提升内存测试环节的优化方法，其特征在于，所述按键识别功能中设定的按键为ESC键。

6.根据权利要求2所述的一种提升内存测试环节的优化方法，其特征在于，在内存测试工具中插入定时器触发函数的具体过程为：

1)设置定时器步长；

2)设定定时触发退出标准；

3)设置测试参数优先级。

7.根据权利要求6所述的一种提升内存测试环节的优化方法，其特征在于，定时器步长设定为2秒。

8.根据权利要求6所述的一种提升内存测试环节的优化方法，其特征在于，定时触发退出标准为：当时间达到指定值时，退出测试，并修改loop参数。

9.根据权利要求8所述的一种提升内存测试环节的优化方法，其特征在于，测试参数优先级的设定标准为以下三种方式中的一种：

1)设置时间参数为优先级参数，则满足时间参数条件时立即退出测试；

2)设置循环参数为优先级参数，则完成所有项测试一次时立即退出测试；

3)同时设置时间参数和循环参数为优先级参数，则满足任意一个参数条件时，立即退出测试。