CN107356834A - 电子配件鉴别方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种电子配件鉴别方法及装置，方法包括：对电子设备运行时，其待鉴别电子配件产生的能量泄露信号进行傅里叶变换，获得实际波形；查询综合信息云，获得与所述待鉴别电子配件对应的标准波形；根据所述标准波形的特征信息，对比所述实际波形和所述标准波形，若匹配度不小于预设的第一阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品。本发明无需拆解电子设备即可无损、快速的鉴别其中的电子配件是否为赝品，鉴别方法高效且成本低。
Description
技术领域
本发明涉及电子配件安全检测领域，尤其涉及一种电子配件鉴别方法及装置。
背景技术
随着我国电子信息业，尤其是自主研发的国产电子类产品制造业的日渐繁荣，对各种电子配件尤其是核心电子配件的需求量日趋爆发。在此情况下，部分电子设备供应商出于经济利益或其它目的，在其提供的电子设备中使用替代产品，或者使用低成本芯片，或者在某些核心机构所使用的电子设备中采用非正规途径的电子配件作为核心部件，采用这些赝品电子配件，会降低电子设备的安全性，关键时刻电子设备可能出现严重事故，造成严重损失。
现有的电子设备检验手段主要有两种，一种是对电子设备进行整机功能测试和性能分析，通过整机测试和分析结果判断整机中是否存在赝品电子配件，鉴别准确率低，且无法判断具体哪个电子配件是赝品。另一种方法是拆机凭各电子配件的标签鉴别真伪，不仅鉴别准确率和效率低，而且拆机操作易对电子设备及其核心电子配件造成损伤。例如：针对电动汽车的整车控制器，目前的检测检验手段只能是对整车控制器进行功能和性能检测，而对于其核心部件如微控制器、供电电源芯片、驱动电路等是否为正品厂商提供的标准备件，无从检验。
发明内容
本发明提供一种电子配件鉴别方法及装置，用于解决现有技术中电子配件鉴别准确率和效率低的问题。
本发明的第一个方面是提供一种电子配件鉴别方法，包括：
对电子设备运行时，其待鉴别电子配件产生的能量泄露信号进行傅里叶变换，获得实际波形；
查询综合信息云，获得与所述待鉴别电子配件对应的标准波形的特征信息，所述标准波形为通过对安装在其它同一型号电子设备中的正品电子配件产生的能量泄露信号进行傅里叶变换获得；
根据所述标准波形的特征信息，对比所述实际波形和所述标准波形，若匹配度不小于预设的第一阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品。
本发明的第二个方面是提供一种电子配件鉴别装置，包括：
信号模块，用于对电子设备运行时，其待鉴别电子配件产生的能量泄露信号进行傅里叶变换，获得实际波形；
查询模块，查询综合信息云，获得与所述待鉴别电子配件对应的标准波形的特征信息，所述标准波形为通过对安装在其它同一型号电子设备中的正品电子配件产生的能量泄露信号进行傅里叶变换获得；
交互模块，用于根据所述标准波形的特征信息，对比所述实际波形和所述标准波形，若匹配度不小于预设的第一阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品。
本发明提供的电子配件鉴别方法及装置，通过对电子设备运行时，其待鉴别电子配件产生的能量泄露信号进行傅里叶变换，获得实际波形；查询综合信息云，获得与所述待鉴别电子配件对应的标准波形的特征信息；根据所述标准波形的特征信息，对比所述实际波形和所述标准波形，若匹配度不小于预设的第一阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品。本发明无需拆解电子设备即可无损、快速的鉴别其中的电子配件是否为赝品，鉴别方法高效且成本低。
附图说明
图1为本发明实施例一提供的一种电子配件鉴别方法的流程示意图；
图2为本发明实施例一提供的另一种电子配件鉴别方法的流程示意图；
图3为本发明实施例一提供的又一种电子配件鉴别方法的流程示意图；
图4为本发明实施例一提供的再一种电子配件鉴别方法的流程示意图；
图5为本发明实施例二提供的一种电子配件鉴别方法的流程示意图；
图6为本发明实施例三提供的一种电子配件鉴别装置的结构示意图；
图7为本发明实施例三提供的另一种电子配件鉴别装置的结构示意图；
图8为本发明实施例三提供的又一种电子配件鉴别装置的结构示意图；
图9为本发明实施例三提供的再一种电子配件鉴别装置的结构示意图；
图10为本发明实施例四提供的一种电子配件鉴别装置的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
图1为本发明实施例一提供的一种电子配件鉴别方法的流程示意图。如图1所示，所述方法包括如下步骤：
11、对电子设备运行时，其待鉴别电子配件产生的能量泄露信号进行傅里叶变换，获得实际波形。
当需要对待鉴别电子设备中安装的待鉴别电子配件进行鉴别时，开启待鉴别电子设备，运行与待鉴别电子配件对应的一项或多项指令，并在待鉴别电子设备运行时，采集待鉴别电子配件产生的能量泄露信号，对所述能量泄露信号进行傅里叶计算变换为频域特征，获得并存储待鉴别电子配件产生的能量泄露信号对应的实际波形。
12、查询综合信息云，获得与所述待鉴别电子配件对应的标准波形的特征信息，所述标准波形为通过对安装在其它同一型号电子设备中的正品电子配件产生的能量泄露信号进行傅里叶变换获得。
综合信息云中包括安装在与待鉴别电子设备型号相同的其它电子设备中的各正品电子配件对应的标准波形的特征信息，该特征信息能够反映或者还原出标准波形。各正品电子配件对应的标准波形可以通过如下方式获得：开启安装有该正品电子配件的电子设备，运行与该正品电子配件对应的一项或多项指令，并在该电子设备运行时，采集该正品电子配件产生的能量泄露信号，对所述能量泄露信号进行傅里叶计算变换为频域特征，获得该正品电子配件产生的能量泄露信号对应的标准波形。进一步的，获得该标准波形的特征信息，并存储至综合信息云。
查询综合信息云，获得安装在与待鉴别电子设备的型号相同的其它电子设备中的正品电子配件所对应的标准波形的特征信息，所述正品电子配件的型号与待鉴别电子配件的型号相同。其中，正品电子配件是根据该电子配件的生产厂商来确定的，正品电子配件的生产厂商为通过正规途径提供该型号电子配件的生产厂商。
进一步的，所述综合信息云中还可以包括各正品电子配件的型号信息和附属信息，所述附属信息包括各正品电子配件的厂商、生产时间、检验时间等信息。
13、根据所述标准波形的特征信息，对比所述实际波形和所述标准波形，若匹配度不小于预设的第一阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品。
根据标准波形中的特征信息，将步骤12中获得的正品电子配件对应的标准波形和待鉴别电子配件对应的实际波形进行对比，判断所述实际波形与所述标准波形的匹配度，若匹配度不小于预设的第一阈值，则判定待鉴别电子配件为正品，若匹配度低于预设的第一阈值，则判定待鉴别电子配件为赝品。
在实际应用中，可以对一个电子设备中的一个或者多个电子配件进行赝品鉴别，当对一个电子设备中的一个电子配件进行赝品鉴别时，通过本实施例的方案对该电子配件进行赝品鉴别；当对一个电子设备中的多个电子配件进行赝品鉴别时，针对每个电子配件，开启该电子设备，运行与该电子配件对应的一项或多项指令，执行本实施例中的步骤11-步骤13对该电子配件进行赝品鉴别。可以理解，采用本实施例的方案，也可以对多个型号相同或者不同的电子设备中的一个或者多个电子配件进行赝品鉴别，在此不再赘述。
图2为本发明实施例一提供的另一种电子配件鉴别方法的流程示意图。如图2所示，在图1所示实施方式的基础上，所述综合信息云中还可以包括：安装在不同型号电子设备中的各电子配件对应的采集位置。相对应的，步骤11可以包括：
111、查询所述综合信息云，确定安装在所述电子设备中的所述待鉴别电子配件对应的采集位置。
综合信息云中不仅包括安装在各不同型号的电子设备中的各正品电子配件对应的标准波形，还包括安装在不同型号电子设备中的各电子配件对应的采集位置。其中，所述安装在不同型号的电子设备中的各电子配件可以是正品电子配件。
查询综合信息云，获得安装在与待鉴别电子配件所在的电子设备的型号相同的其它电子设备中的正品电子配件所对应的采集位置，将所述采集位置作为所述待鉴别电子配件对应的采集位置。
实际应用中，相同的电子配件安装在不同型号的电子设备中时，其产生的能量泄露信号和采集其能量泄露信号的位置是不同的。具体的，安装在某电子设备中一个电子配件可以与一个或多个采集位置对应，在其对应的采集位置采集到的信号能够更加准确地反映该电子配件产生的能量泄露信号。此外，实际应用中，同一个采集位置也可以对应于安装在电子设备中的一个或多个电子配件，本实施例对此并不限制。例如，所述采集位置可以是各电子设备的管脚，即电子设备的一个管脚可以与该电子设备中的一个或多个电子配件对应，电子设备中的一个电子配件也可以与该电子设备的一个或多个管脚对应。本实施方式中，通过在综合信息云中存储各电子设备的各电子配件对应的采集位置，实现鉴别过程中，相同型号电子设备的相同电子配件的采集位置相同，从而能够提高比对结果的准确性。
举例来说，假设针对型号A的电子设备A1中的某型号B的正品电子配件，选取电子设备A1的管脚1作为采集位置，从管脚1采集的信号能够准确反映该电子配件产生的能量泄露信号，通过对采集的信号进行处理后获得相应的标准波形，进一步的，将该标准波形的特征信息和本次的采集位置存储至综合信息云。后续，当需要对相同型号A的另一电子设备A2中的型号B的电子配件进行赝品检测时，可以先基于综合信息云，确定出相应的采集位置，即电子设备A2的管脚1。则相应的，基于前述方案，从电子设备A2的管脚1采集信号，获得电子设备A2中的型号B的电子配件的能量泄露信号，通过对采集的信号进行处理后获得相应的实际波形，根据标准波形的特征信息，对实际波形和标准波形进行比对，确定电子设备A2中的型号B的电子配件是否为正品。
112、将从所述电子设备的所述采集位置处采集的信号，作为所述能量泄露信号，并对所述能量泄露信号进行傅里叶变换，获得所述实际波形。
开启待鉴别电子设备，运行与待鉴别电子配件对应的一项或多项指令，并在待鉴别电子设备运行时，在步骤111中确定的采集位置处采集待鉴别电子配件产生的能量泄露信号，对所述能量泄露信号进行傅里叶变换，获得待鉴别电子配件产生的能量泄露信号对应的实际波形。通过在待鉴别电子配件对应的采集位置处采集待鉴别电子配件产生的能量泄露信号，使得采集的能量泄露信号与待鉴别电子配件实际产生的能量泄露信号的匹配度更高。
以实际应用举例来说，当用户需要鉴别应用于电动汽车的整车控制器中的微控制器是否为赝品时，开启该待鉴别整车控制器，运行打火指令，所述打火指令与待鉴别微控制器对应。查询综合信息云，确定待鉴别整车控制器中待鉴别微控制器对应的管脚。通过待鉴别微控制器对应的管脚，采集待鉴别整车控制器运行时安装在其中的待鉴别微控制器产生的能量泄露信号，对所述能量泄露信号进行傅里叶变换，获得待鉴别微控制器产生的能量泄露信号对应的实际波形；查询综合信息云，获得安装在与待鉴别整车控制器型号相同的其他整车控制器中的正品微控制器对应的标准波形，其中，正品微控制器对应的标准波形为通过对所述正品微控制器在所述其他整车控制器运行打火指令时产生的能量泄露信号进行傅里叶变换获得；根据所述正品微控制器对应的标准波形的特征信息，对比待鉴别微控制器对应的实际波形和所述正品微控制器对应的标准波形，若匹配度不小于预设的第一阈值，则判定待鉴别微控制器为正品，若匹配度低于预设的第一阈值，则判定待鉴别微控制器为赝品。
图3为本发明实施例一提供的又一种电子配件鉴别方法的流程示意图。如图3所示，在图1或图2所示实施方式的基础上，步骤13中所述标准波形的特征信息可以包括所述标准波形的峰值对应的频点。标准波形的峰值对应的频点即标准波形中峰值特征值对应的频点。相对应的，步骤13中，对比所述实际波形和所述标准波形，若匹配度不小于预设的第一阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品，包括：
131、获取所述实际波形在所述频点的第一特征值。
具体的，根据所述标准波形中峰值特征值对应的各频点，获取所述实际波形在所述各频点的第一特征值。
132、若所述频点中第一频点的数量达到预设的第二阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品，其中，所述实际波形在所述第一频点的第一特征值与所述标准波形在所述第一频点的特征值之差在误差范围内，且所述实际波形在所述第一频点的第一特征值为峰值。
在步骤131所述的各频点中，若所述实际波形在其中某一频点的第一特征值为峰值，且所述实际波形在该频点的第一特征值与所述标准波形在该频点的峰值特征值之差在误差范围内，则将该频点判定为第一频点，统计所述第一频点的数量，若所述第一频点的数量达到预设的第二阈值，则判定待鉴别电子配件为正品，若所述第一频点的数量小于所述第二阈值，则判定待鉴别电子配件为赝品。通过将待鉴别电子配件对应的实际波形和正品电子配件对应的标准波形，从频点、峰值以及特征值三个角度进行匹配度对比，获得的匹配度结果更为精确。
图4为本发明实施例一提供的再一种电子配件鉴别方法的流程示意图。如图4所示，在图1或图2所示实施方式的基础上，步骤13中所述标准波形的特征信息可以包括所述标准波形在预设的多个频点的特征值。相对应的，步骤13中，对比所述实际波形和所述标准波形，若匹配度不小于预设的第一阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品，包括：
133、获取所述实际波形在所述多个频点的特征值。
具体的，获取所述实际波形在所述预设的多个频点的特征值。
134、对比所述实际波形和所述标准波形在所述多个频点中的每个频点的特征值。
具体的，针对所述预设的多个频点中的每个频点，对比所述实际波形和所述标准波形在该频点的特征值。
135、若所述多个频点中第二频点所占的比重达到预设的第二阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品，其中，所述实际波形中所述第二频点的特征值与所述标准波形中所述第二频点的特征值之差在误差范围内。
在所述预设的多个频点中，若所述实际波形在其中某一频点的特征值与所述标准波形在该频点的特征值之差在误差范围内，则将该频点判定为第二频点，统计所述第二频点的数量，若所述第二频点的数量在所述预设的多个频点的总数量中所占的比重达到预设的第三阈值，则判定待鉴别电子配件为正品，若所述第二频点的数量在所述预设的多个频点的总数量中所占的比重小于所述第三阈值，则判定待鉴别电子配件为赝品。通过调整预设的多个频点的数量，可以满足用户对不同电子配件具有不同鉴别准确度的要求。
本实施例提供的电子配件鉴别方法，通过对安装在电子设备中的待鉴别电子配件在运行时产生的能量泄露信号进行傅里叶变换，获得实际波形；查询综合信息云，获得与所述待鉴别电子配件对应的标准波形；对比所述实际波形和所述标准波形，若匹配度不小于预设的第一阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品。本实施例无需拆解电子设备即可无损、快速的鉴别其中的电子配件是否为赝品，鉴别方法高效且成本低。
图5为本发明实施例二提供的一种电子配件鉴别方法的流程示意图。如图5所示，在上述任一实施方式的基础上，在步骤12之前，所述方法还包括：
51、获取所述电子设备的设备标识。
所述电子设备的设备标识用来表征所述电子设备的型号。具体的，所述电子设备的设备标识可以是所述电子设备的名称或者是所述电子设备的型号。
相应的，步骤12包括：
121、查询所述综合信息云，获得与所述设备标识和所述待鉴别电子配件对应的标准波形的特征信息。
具体的，综合信息云中包括安装在各不同型号的电子设备中的各正品电子配件对应的标准波形，某一型号的电子设备中的某一正品电子配件对应的标准波形通过如下方式获得：开启安装有该正品电子配件的电子设备，运行与该正品电子配件对应的一项或多项指令，并在该电子设备运行时，采集该正品电子配件产生的能量泄露信号，对所述能量泄露信号进行傅里叶变换，获得该正品电子配件产生的能量泄露信号对应的标准波形。
查询综合信息云，根据步骤51中获得的设备标识，获得安装在与待鉴别电子设备的设备标识相同的其它电子设备中的正品电子配件所对应的标准波形，所述正品电子配件的型号与待鉴别电子配件的型号相同。其中，正品电子配件是根据该电子配件的生产厂商来确定的，正品电子配件的生产厂商为通过正规途径提供该型号电子配件的生产厂商。
本实施例提供的电子配件鉴别方法，通过对安装在电子设备中的待鉴别电子配件在运行时产生的能量泄露信号进行傅里叶变换，获得实际波形；查询综合信息云，获得与所述待鉴别电子配件对应的标准波形；对比所述实际波形和所述标准波形，若匹配度不小于预设的第一阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品。本实施例无需拆解电子设备即可无损、快速的鉴别其中的电子配件是否为赝品，鉴别方法高效且成本低。
图6为本发明实施例三提供的一种电子配件鉴别装置的结构示意图。如图6所示，所述装置包括：
信号模块61，用于对电子设备运行时，其待鉴别电子配件产生的能量泄露信号进行傅里叶变换，获得实际波形。
当需要对待鉴别电子设备中安装的待鉴别电子配件进行鉴别时，开启待鉴别电子设备，运行与待鉴别电子配件对应的一项或多项指令。信号模块61在待鉴别电子设备运行时，采集待鉴别电子配件产生的能量泄露信号，对所述能量泄露信号进行傅里叶计算变换为频域特征，获得并存储待鉴别电子配件产生的能量泄露信号对应的实际波形。
查询模块62，用于查询综合信息云，获得与所述待鉴别电子配件对应的标准波形的特征信息，所述标准波形为通过对安装在其它同一型号电子设备中的正品电子配件产生的能量泄露信号进行傅里叶变换获得。
具体的，综合信息云中包括安装在与待鉴别电子设备型号相同的其它电子设备中的各正品电子配件对应的标准波形，各正品电子配件对应的标准波形通过如下方式获得：开启安装有该正品电子配件的电子设备，运行与该正品电子配件对应的一项或多项指令，并在该电子设备运行时，采集该正品电子配件产生的能量泄露信号，对所述能量泄露信号进行傅里叶变换，获得该正品电子配件产生的能量泄露信号对应的标准波形。
查询模块62查询综合信息云，获得安装在与待鉴别电子设备的型号相同的其它电子设备中的正品电子配件所对应的标准波形，所述正品电子配件的型号与待鉴别电子配件的型号相同。其中，正品电子配件是根据该电子配件的生产厂商来确定的，正品电子配件的生产厂商为通过正规途径提供该型号电子配件的生产厂商。
交互模块63，用于根据所述标准波形的特征信息，对比所述实际波形和所述标准波形，若匹配度不小于预设的第一阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品。
交互模块63将查询模块62获得的正品电子配件对应的标准波形和待鉴别电子配件对应的实际波形进行对比，并根据所述标准波形中的特征信息，判断所述实际波形与所述标准波形的匹配度，若匹配度不小于预设的第一阈值，则交互模块63判定待鉴别电子配件为正品，若匹配度低于预设的第一阈值，则交互模块63判定待鉴别电子配件为赝品。
在实际应用中，可以对一个电子设备中的一个或者多个电子配件进行赝品鉴别，也可以对多个型号相同或者不同的电子设备中的一个或者多个电子配件进行赝品鉴别，在此不再赘述。
图7为本发明实施例三提供的另一种电子配件鉴别装置的结构示意图。在图6所示实施方式的基础上，所述综合信息云中还可以包括：安装在不同型号电子设备中的各电子配件对应的采集位置。如图7所示，相对应的，信号模块61可以包括：
位置单元711，用于查询所述综合信息云，确定安装在所述电子设备中的所述待鉴别电子配件对应的采集位置。
综合信息云中不仅包括安装在各不同型号的电子设备中的各正品电子配件对应的标准波形，还包括安装在不同型号电子设备中的各电子配件对应的采集位置。其中，所述安装在不同型号的电子设备中的各电子配件可以是正品电子配件。
位置单元711查询综合信息云，获得安装在与待鉴别电子配件所在的电子设备的型号相同的其它电子设备中的正品电子配件所对应的采集位置，并将所述采集位置作为所述待鉴别电子配件对应的采集位置。
实际应用中，安装在电子设备中一个电子配件可以与一个或多个采集位置对应，同一个采集位置也可以对应于安装在电子设备中的一个或多个电子配件，本实施例对此并不限制。例如，所述采集位置可以是各电子设备的管脚，即电子设备的一个管脚可以与该电子设备中的一个或多个电子配件对应，电子设备中的一个电子配件也可以与该电子设备的一个或多个管脚对应。
信号单元712，用于将从所述电子设备的所述采集位置处采集的信号，作为所述能量泄露信号，并对所述能量泄露信号进行傅里叶变换，获得所述实际波形。
开启待鉴别电子设备，运行与待鉴别电子配件对应的一项或多项指令。待鉴别电子设备运行时，信号单元712在位置单元711确定的采集位置处采集待鉴别电子配件产生的能量泄露信号，并对所述能量泄露信号进行傅里叶变换，获得待鉴别电子配件产生的能量泄露信号对应的实际波形。通过在待鉴别电子配件对应的采集位置处采集待鉴别电子配件产生的能量泄露信号，使得采集的能量泄露信号与待鉴别电子配件实际产生的能量泄露信号的匹配度更高。
以实际应用举例来说，当用户需要鉴别应用于电动汽车的整车控制器中的微控制器是否为赝品时，开启待鉴别整车控制器，运行打火指令，所述打火指令与待鉴别微控制器对应。位置单元711查询综合信息云，确定待鉴别整车控制器中待鉴别微控制器对应的管脚。信号单元712通过待鉴别微控制器对应的管脚，采集待鉴别整车控制器运行时安装在其中的待鉴别微控制器产生的能量泄露信号，并对所述能量泄露信号进行傅里叶变换，获得待鉴别微控制器产生的能量泄露信号对应的实际波形；查询模块62查询综合信息云，获得安装在与待鉴别整车控制器型号相同的其他整车控制器中的正品微控制器对应的标准波形，其中，正品微控制器对应的标准波形为通过对所述正品微控制器在所述其他整车控制器运行打火指令时产生的能量泄露信号进行傅里叶变换获得；交互模块63根据根据所述正品微控制器对应的标准波形的特征信息，对比待鉴别微控制器对应的实际波形和所述正品微控制器对应的标准波形，若匹配度不小于预设的第一阈值，则交互模块63判定待鉴别微控制器为正品，若匹配度低于预设的第一阈值，则交互模块63判定待鉴别微控制器为赝品。
图8为本发明实施例三提供的又一种电子配件鉴别装置的结构示意图。图6或图7所示实施方式的基础上，所述标准波形的特征信息可以包括所述标准波形的峰值对应的频点。标准波形的峰值对应的频点即标准波形中峰值特征值对应的频点。如图8所示，相对应的，交互模块63包括：
第一特征单元811，用于获取所述实际波形在所述频点的第一特征值。
具体的，第一特征单元811根据所述标准波形中峰值特征值对应的各频点，获取所述实际波形在所述各频点的第一特征值。
第一交互单元812，用于若所述频点中第一频点的数量达到预设的第二阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品，其中，所述实际波形在所述第一频点的第一特征值与所述标准波形在所述第一频点的特征值之差在误差范围内，且所述实际波形在所述第一频点的第一特征值为峰值。
在所述频点中，若所述实际波形在其中某一频点的第一特征值为峰值，且所述实际波形在该频点的第一特征值与所述标准波形在该频点的峰值特征值之差在误差范围内，则第一交互单元812将该频点判定为第一频点，并统计所述第一频点的数量，若所述第一频点的数量达到预设的第二阈值，则第一交互单元812判定待鉴别电子配件为正品，若所述第一频点的数量小于所述第二阈值，则第一交互单元812判定待鉴别电子配件为赝品。通过将待鉴别电子配件对应的实际波形和正品电子配件对应的标准波形，从频点、峰值以及特征值三个角度进行匹配度对比，获得的匹配度结果更为精确。
图9为本发明实施例三提供的再一种电子配件鉴别装置的结构示意图。在图1或图2所示实施方式的基础上，所述标准波形的特征信息可以包括所述标准波形在预设的多个频点的特征值。如图9所示，相对应的，交互模块63包括：
第二特征单元911，用于获取所述实际波形在所述多个频点的特征值。
具体的，第二特征单元911获取所述实际波形在所述预设的多个频点的特征值。
第二交互单元912，用于对比所述实际波形和所述标准波形在所述多个频点中的每个频点的特征值。
具体的，第二交互单元912针对所述预设的多个频点中的每个频点，对比所述实际波形和所述标准波形在该频点的特征值。
判定单元913，用于若所述多个频点中第二频点所占的比重达到预设的第二阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品，其中，所述实际波形中所述第二频点的特征值与所述标准波形中所述第二频点的特征值之差在误差范围内。
在所述预设的多个频点中，若所述实际波形在其中某一频点的特征值与所述标准波形在该频点的特征值之差在误差范围内，则判定单元913将该频点判定为第二频点，并统计所述第二频点的数量，若所述第二频点的数量在所述预设的多个频点的总数量中所占的比重达到预设的第三阈值，则判定单元913判定待鉴别电子配件为正品，若所述第二频点的数量在所述预设的多个频点的总数量中所占的比重小于所述第三阈值，则判定单元913判定待鉴别电子配件为赝品。通过调整预设的多个频点的数量，可以满足用户对不同电子配件具有不同鉴别准确度的要求。
本实施例提供的电子配件鉴别装置，通过对安装在电子设备中的待鉴别电子配件在运行时产生的能量泄露信号进行傅里叶变换，获得实际波形；查询综合信息云，获得与所述待鉴别电子配件对应的标准波形；对比所述实际波形和所述标准波形，若匹配度不小于预设的第一阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品。本实施例无需拆解电子设备即可无损、快速的鉴别其中的电子配件是否为赝品，鉴别方法高效且成本低。
图10为本发明实施例四提供的一种电子配件鉴别装置的结构示意图。如图10所示，在上述任一实施方式的基础上，所述装置还包括：
标识模块10，用于获取所述电子设备的设备标识。
所述电子设备的设备标识用来表征所述电子设备的型号。具体的，所述电子设备的设备标识可以是所述电子设备的名称或者是所述电子设备的型号。
相应的，查询模块62具体用于：查询所述综合信息云，获得与所述设备标识和所述待鉴别电子配件对应的标准波形的特征信息。
具体的，综合信息云中包括安装在各不同型号的电子设备中的各正品电子配件对应的标准波形，某一型号的电子设备中的某一正品电子配件对应的标准波形通过如下方式获得：开启安装有该正品电子配件的电子设备，运行与该正品电子配件对应的一项或多项指令，并在该电子设备运行时，采集该正品电子配件产生的能量泄露信号，对所述能量泄露信号进行傅里叶变换，获得该正品电子配件产生的能量泄露信号对应的标准波形。
查询模块62查询综合信息云，根据标识模块10获得的设备标识，获得安装在与待鉴别电子设备的设备标识相同的其它电子设备中的正品电子配件所对应的标准波形，所述正品电子配件的型号与待鉴别电子配件的型号相同。其中，正品电子配件是根据该电子配件的生产厂商来确定的，正品电子配件的生产厂商为通过正规途径提供该型号电子配件的生产厂商。
本实施例提供的电子配件鉴别装置，通过对安装在电子设备中的待鉴别电子配件在运行时产生的能量泄露信号进行傅里叶变换，获得实际波形；查询综合信息云，获得与所述待鉴别电子配件对应的标准波形；对比所述实际波形和所述标准波形，若匹配度不小于预设的第一阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品。本实施例无需拆解电子设备即可无损、快速的鉴别其中的电子配件是否为赝品，鉴别方法高效且成本低。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的装置的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。
Claims (10)
1.一种电子配件鉴别方法，其特征在于，包括：
对电子设备运行时，其待鉴别电子配件产生的能量泄露信号进行傅里叶变换，获得实际波形；
查询综合信息云，获得与所述待鉴别电子配件对应的标准波形的特征信息，所述标准波形为通过对安装在其它同一型号电子设备中的正品电子配件产生的能量泄露信号进行傅里叶变换获得；
根据所述标准波形的特征信息，对比所述实际波形和所述标准波形，若匹配度不小于预设的第一阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述综合信息云还包括：安装在不同型号电子设备中的各电子配件对应的采集位置；所述对电子设备运行时，其待鉴别电子配件产生的能量泄露信号进行傅里叶变换，获得实际波形，包括：
查询所述综合信息云，确定安装在所述电子设备中的所述待鉴别电子配件对应的采集位置；
将从所述电子设备的所述采集位置处采集的信号，作为所述能量泄露信号，并对所述能量泄露信号进行傅里叶变换，获得所述实际波形。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述标准波形的特征信息包括所述标准波形的峰值对应的频点；所述对比所述实际波形和所述标准波形，若匹配度不小于预设的第一阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品，包括：
获取所述实际波形在所述频点的第一特征值；
若所述频点中第一频点的数量达到预设的第二阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品，其中，所述实际波形在所述第一频点的第一特征值与所述标准波形在所述第一频点的特征值之差在误差范围内，且所述实际波形在所述第一频点的第一特征值为峰值。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述标准波形的特征信息包括所述标准波形在预设的多个频点的特征值；所述对比所述实际波形和所述标准波形，若匹配度不小于预设的第一阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品，包括：
获取所述实际波形在所述多个频点的特征值；
对比所述实际波形和所述标准波形在所述多个频点中的每个频点的特征值；
若所述多个频点中第二频点所占的比重达到预设的第三阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品，其中，所述实际波形在所述第二频点的特征值与所述标准波形在所述第二频点的特征值之差在误差范围内。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述查询综合信息云之前，还包括：
获取所述电子设备的设备标识；
所述查询综合信息云，获得与所述待鉴别电子配件对应的标准波形的特征信息，包括：
查询所述综合信息云，获得与所述设备标识和所述待鉴别电子配件对应的标准波形的特征信息。
6.一种电子配件鉴别装置，其特征在于，包括：
信号模块，用于对电子设备运行时，其待鉴别电子配件产生的能量泄露信号进行傅里叶变换，获得实际波形；
查询模块，查询综合信息云，获得与所述待鉴别电子配件对应的标准波形的特征信息，所述标准波形为通过对安装在其它同一型号电子设备中的正品电子配件产生的能量泄露信号进行傅里叶变换获得；
交互模块，用于根据所述标准波形的特征信息，对比所述实际波形和所述标准波形，若匹配度不小于预设的第一阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述综合信息云还包括：安装在不同型号电子设备中的各电子配件对应的采集位置；所述信号模块，包括：
位置单元，用于查询所述综合信息云，确定安装在所述电子设备中的所述待鉴别电子配件对应的采集位置；
信号单元，用于将从所述电子设备的所述采集位置处采集的信号，作为所述能量泄露信号，并对所述能量泄露信号进行傅里叶变换，获得所述实际波形。
8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述标准波形的特征信息包括所述标准波形的峰值对应的频点；所述交互模块，包括：
第一特征单元，用于获取所述实际波形在所述频点的第一特征值；
第一交互单元，用于若所述频点中第一频点的数量达到预设的第二阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品，其中，所述实际波形在所述第一频点的第一特征值与所述标准波形在所述第一频点的特征值之差在误差范围内，且所述实际波形在所述第一频点的第一特征值为峰值。
9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述标准波形的特征信息包括所述标准波形中预设的多个频点的特征值；所述交互模块，包括：
第二特征单元，用于获取所述实际波形在所述多个频点的特征值；
第二交互单元，用于对比所述实际波形和所述标准波形在所述多个频点中的每个频点的特征值；
判定单元，用于若所述多个频点中第二频点所占的比重达到预设的第三阈值，则判定所述待鉴别电子配件为正品，其中，所述实际波形在所述第二频点的特征值与所述标准波形在所述第二频点的特征值之差在误差范围内。
10.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
标识模块，用于获取所述电子设备的设备标识；
所述查询模块，具体用于查询所述综合信息云，获得与所述设备标识和所述待鉴别电子配件对应的标准波形的特征信息。
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|---|---|---|---|
| CN201710593346.0A CN107356834A (zh) | 2017-08-21 | 2017-08-21 | 电子配件鉴别方法及装置 |
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| CN (1) | CN107356834A (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108764938A (zh) * | 2018-05-07 | 2018-11-06 | 上海博泰悦臻电子设备制造有限公司 | 一种汽车维修零件非正品识别方法及系统 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104573700A (zh) * | 2015-02-04 | 2015-04-29 | 广州广电运通金融电子股份有限公司 | 一种褶皱票据鉴别方法及装置 |
| CN105676067A (zh) * | 2016-01-26 | 2016-06-15 | 云南电网有限责任公司电力科学研究院 | 一种输电线路故障诊断方法及系统 |
| CN106842246A (zh) * | 2017-03-24 | 2017-06-13 | 北京北斗云鑫科技有限公司 | 北斗芯片在线认证方法及装置 |
-
2017
- 2017-08-21 CN CN201710593346.0A patent/CN107356834A/zh active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104573700A (zh) * | 2015-02-04 | 2015-04-29 | 广州广电运通金融电子股份有限公司 | 一种褶皱票据鉴别方法及装置 |
| CN105676067A (zh) * | 2016-01-26 | 2016-06-15 | 云南电网有限责任公司电力科学研究院 | 一种输电线路故障诊断方法及系统 |
| CN106842246A (zh) * | 2017-03-24 | 2017-06-13 | 北京北斗云鑫科技有限公司 | 北斗芯片在线认证方法及装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108764938A (zh) * | 2018-05-07 | 2018-11-06 | 上海博泰悦臻电子设备制造有限公司 | 一种汽车维修零件非正品识别方法及系统 |
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