CN107356521A - 一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测装置及方法 - Google Patents

一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测装置及方法 Download PDF

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Abstract

本发明涉及一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测装置及方法。包括依次连接的腐蚀阵列连接电路、电子切换开关电路、电流转电压放大电路、AD范围内的电压转换电路以及单片机控制与采样系统；所述单片机控制与采样系统通过运算放大器输入偏置电压消除电路与电流转电压放大电路连接，该单片机控制与采样系统还与电子切换开关电路连接，电子切换开关电路和电流转电压放大电路同时与负电压转换电路连接。因此，本发明具有如下优点：1、利用DAC消除运放失调电压；2、实时切换比对，提高测量精度。

Description

一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测装置及方法
技术领域
本发明涉及电路领域，尤其是涉及一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测装置及方法。
背景技术
在绝大多数情况下，金属腐蚀是一种电化学过程，即金属溶解释放出电子(阳极反应)，其它环境介质如氧气接收电子(阴极反应)。这种阳极反应和阴极反应在金属表面的不同位置同时发生，通过金属自身这一良导体交换电子。随着该电子交换过程在整个金属表面持续地进行，一旦有足够大的面积变成阳极，腐蚀就会集中在该区域形成。采用电子方法，即通过测量电子的流动来探测金属腐蚀比其它方法更加灵敏和有效，但是由于电子的流动发生在金属内部，在实际中无法直接探测和测量。
阵列电极是基于微积分的原理，将一个大面积电极分割成若干个微电极，然后将这些微电极重新组合排列，相互绝缘并进行分装来模拟大面积电极；各个微电极既能相互耦合作为大面积电极使用，给出大面积电极所提供的统计平均信号，又能作为独立的微小探头，分别测试该微小区域的电化学参数，给出大面积电极无法提供的表面参数分布及差异大小等重要信息，表征出电极表面的电化学不均匀性。利用相应的测控系统对各个微小探头上的数据进行采集、处理，即可准确获得电极表面电化学参数信息。阵列电极的特点是通过测量每个微小电极的电化学信号，从而获得电化学参数分布情况，进而研究金属材料表面腐蚀的电化学非均匀性。阵列电极技术已经成为研究腐蚀电化学的重要手段。对于阵列电极中，如何准确地测定微小腐蚀电流，需要设计满足电流转电压的放大电路，由于腐蚀电流十分微小，因此，常规的电流转电压电路难以满足uA级电流测量的要求。现有的技术虽然解决了单个电偶腐蚀电流的测量，但不适合阵列腐蚀电流的测量。阵列腐蚀电流的测量的难点在于：一是如何消除非理想运算放大器条件偏置电流与偏置电压的影响下，构造零内阻的电流转电压电路；二是如何实现多阵列腐蚀电流的的集成化测量；三是要求测量有较高的测量精度，受外界干扰噪声的影响小，信噪比高、误差小。
为此，本申请提出利用DAC控制的方法消失调电压的影响、利用多路模拟电子开关的切换实现多阵列腐蚀电流集成化测量、利用双极性电压与大电阻的转换实现腐蚀电流的高精度与高分辨率测量。
发明内容
本发明的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的：
一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测装置，其特征在于，包括依次连接的腐蚀阵列连接电路、电子切换开关电路、电流转电压放大电路、AD范围内的电压转换电路以及单片机控制与采样系统；所述单片机控制与采样系统通过运算放大器输入偏置电压消除电路与电流转电压放大电路连接，该单片机控制与采样系统还与电子切换开关电路连接，电子切换开关电路和电流转电压放大电路同时与负电压转换电路连接。
在上述的一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测装置，所述腐蚀阵列连接电路包括若干腐蚀阵列传感器以及阵列连接电路，所述腐蚀阵列传感器包括至少8个腐蚀微阵列探头；所述阵列连接电路包括与腐蚀阵列对应的至少8个以上100欧的电阻R1-Rn；
通过电阻接地R1-Rn的方式，把腐蚀阵列探头的各个电极元件连接起来。在此方式下，与被测金属的腐蚀过程一样，在电极元件处可以形成阳极区(腐蚀)和阴极区。电阻的大小不能太大，这里选择为100欧姆。
在上述的一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测装置，所述运算放大器输入偏置电压消除电路包括3个电阻R31、R32、R36，电阻R31、R32、R36一端连在一起。其中电阻R31＝200k，电阻R31另一端接-3v；电阻R32＝100欧姆，电阻R32另一端接地；电阻R36＝200k，电阻R32另一端接DAC；取中间点的电压，接入运算放大器U2A的正向输入端，运算的负端接地并与运放的输出端相接。
选择单片机STM32的DAC输出与电阻分压网络，控制运算放大器的正向输入端，保证运放工作在放大状态时，负端输入电压为0V，消除运放负反馈放大过程中，输入偏置电压的影响。
偏置电压控制范围的计算，电路连接如图4所示：
2Vi-3-2003x＝0
可以看出当输入电压Vi由0-3V变化时，x的值从-1.5mv-1.5mv的变化，满足运算放大器最大可能偏置电压的消除。
在上述的一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测装置，所述负电压转换电路包括型号为TP7660负电压芯片U5，负电压芯片U5的1脚、3脚、6脚接地，2脚和4脚接电解电容C1，5脚接电解电容C2并输出负电压Vss，7脚不接，8脚接电源电压VCK和0.1uf电容C30接地，
电路连接图如图5所示，为了提高腐蚀电流的测量精度，运放工作在双电压状态下，保证所测电流为对地电流，容易消除噪声电流干扰的影响。负电压芯片采用TP7660，测量系统不需要外界负电压,转换所得的负电压输出值为Vss。
在上述的一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测装置，所述电子切换开关电路包括型号是ADG706的。多路电子开关U3，1脚接电源电压VCk，11和12脚接地，14到18脚接STM32引脚的PB7--PB3，19到26脚接对应的腐蚀阵列探头，如图6所示。
电路连接图如图6所示，选用电子切换开关，由单片机进行分时控制阵列探头的各电极、地与电压转换电路的开关连接状态，分别实现消除输入偏置的信号判断与腐蚀电流的测量，有利于测量系统的集成化。
在上述的一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测装置，所述电流转电压放大电路包括电阻R31、电阻R32、电阻R36组成的偏置电压消除电路，电路接运算放大器输入偏置电压消除电路中运算放大器U2A的正端，负端与输出端之间接入阻值为100k欧的电阻R，并在负端接入阻值为2.5欧的电阻R26与电子开关产生的电压VDG相连。
电路连接图如图7所示，分别与运算放大器输入偏置电压消除电路、电子切换开关输出端相连，通过运算放大器与电阻R实现电流电压的转换，一般电阻R要求较大，使较小的电流也能产生较大的电压信号，这里R＝100k；
在上述的一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测装置，，所述AD范围内的电压转换电路包括运算放大器U2B，所述运算放大器U2B正向输入端接阻值为10k欧的电阻R24和阻值为20k欧的电阻R23串联所产生的中间电压，R24另一端接地，R23另一端接电源电压VCk；负向输入端与输出端之间接入阻值为10k欧的电阻R33，并在负端接入阻值为20k欧的电阻R29，R29另一端接地；从而在AD范围内的电压转换，如图8所示。电路连接图如图8所示，通过该电路，输入有极性电压变为0-3.3V的无极性电压输出，便于AD转换。
在上述的一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测装置，所述单片机控制与采样系统采用STM32F103的单片机芯片，该单片机芯片与电子开关U3、负电压芯片U5、运算放大器连接，用于消除运放输入偏置电压影响的DAC的输出控制与无极性输出电压的AD转换。
一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测方法，其特征在于，包括：
步骤1，电子切换开关接地，先控制DAC输出消除输入失调电压的影响；
步骤2，电子切换开关接电极整列腐蚀传感器,进行腐蚀电流测量算法。在上述的一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测方法，其特征在于，所述步骤1的具体操作包括以下步骤：
步骤1.1、控制DAC输出为1.5V
步骤1.2、断开电子开关时的输出电压的测量V1，得到0电流状态下的输出
步骤1.3、切换电子开关与地连通，然后检测接地时的电压信号测量V2
步骤1.4、控制DAC的输出使V2与V1接近，保证与0电流状态输出结果相同
步骤1.5、接阵列点时的信号输出，与0电流状态下进行比较，得到实际电流大小
在上述的一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测方法，所述步骤2的具体操作包括以下步骤：
步骤2.1、DAC控制输出，消除输入失调电压影响
步骤2.2、电流转电压放大：V1＝(V2/R26)*R22；其中V1为运放的输出端，V2为运放的负端，R26的阻值为2.5欧，R22的阻值为100K欧。
步骤2.3、电子开关切换，连通腐蚀电极。
步骤2.4、AD转换采样输出信号，AD范围内的电压转换：V为转化所得的电压，R23和R29的阻值为20K欧，R24和R33的阻值为10K欧，VCk为电源电压。
步骤2.5、计算整体阵列腐蚀电流。
因此，本发明具有如下优点：1、利用DAC消除运放失调电压；2、实时切换比对，提高测量精度。
附图说明
附图1是本发明的检测系统总体结构示意图。
附图2是本发明的腐蚀阵列连接电路图。
附图3是本发明的偏置电压消除电路图。
附图4是本发明的偏置电压控制范围的计算电路连接图。
附图5是本发明的负电压转换电路图。
附图6是本发明的电子切换开关电路图。
附图7是本发明的电流转电压放大电路图。
附图8是本发明的AD范围内的电压转换电路图。
附图9是本发明的单片机控制系统结构示意图。
附图10是本发明的消除输入失调电压的DAC控制输出流程示意图。
附图11是本发明的测量的算法流程示意图。
具体实施方式
下面通过实施例，并结合附图，对本发明的技术方案作进一步具体的说明。
实施例：
一、本发明提供一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测装置，包括依次连接的腐蚀阵列连接电路、电子切换开关电路、电流转电压放大电路、AD范围内的电压转换电路以及单片机控制与采样系统；所述单片机控制与采样系统通过运算放大器输入偏置电压消除电路与电流转电压放大电路连接，该单片机控制与采样系统还与电子切换开关电路连接，电子切换开关电路和电流转电压放大电路同时与负电压转换电路连接。
腐蚀阵列连接电路包括若干腐蚀阵列传感器以及阵列连接电路，所述腐蚀阵列传感器包括至少8个腐蚀微阵列探头；所述阵列连接电路包括与腐蚀阵列对应的至少8个以上100欧的电阻R1-Rn；通过电阻接地R1-Rn的方式，把腐蚀阵列探头的各个电极元件连接起来。在此方式下，与被测金属的腐蚀过程一样，在电极元件处可以形成阳极区(腐蚀)和阴极区。电阻的大小不能太大，这里选择为100欧姆。
运算放大器输入偏置电压消除电路包括3个电阻R31、R32、R36，电阻R31、R32、R36一端连在一起。其中电阻R31＝200k，电阻R31另一端接-3v；电阻R32＝100欧姆，电阻R32另一端接地；电阻R36＝200k，电阻R32另一端接DAC；取中间点的电压，接入运算放大器U2A的正向输入端，运算的负端接地并与运放的输出端相接。
选择单片机STM32的DAC输出与电阻分压网络，控制运算放大器的正向输入端，保证运放工作在放大状态时，负端输入电压为0V，消除运放负反馈放大过程中，输入偏置电压的影响。
偏置电压控制范围的计算，电路连接如图4所示：
2Vi-3-2003x＝0
可以看出当输入电压Vi由0-3V变化时，x的值从-1.5mv-1.5mv的变化，满足运算放大器最大可能偏置电压的消除。
负电压转换电路包括型号为TP7660负电压芯片U5，负电压芯片U5的1脚、3脚、6脚接地，2脚和4脚接电解电容C1，5脚接电解电容C2并输出负电压Vss，7脚不接，8脚接电源电压VCK和0.1uf电容C30接地。
电路连接图如图5所示，为了提高腐蚀电流的测量精度，运放工作在双电压状态下，保证所测电流为对地电流，容易消除噪声电流干扰的影响。负电压芯片采用TP7660，测量系统不需要外界负电压,转换所得的负电压输出值为Vss。
电子切换开关电路包括型号是ADG706的。多路电子开关U3，1脚接电源电压VCk，11和12脚接地，14到18脚接STM32引脚的PB7--PB3，19到26脚接对应的腐蚀阵列探头，电路连接图如图6所示，选用电子切换开关，由单片机进行分时控制阵列探头的各电极、地与电压转换电路的开关连接状态，分别实现消除输入偏置的信号判断与腐蚀电流的测量，有利于测量系统的集成化。
流转电压放大电路包括电阻R31、电阻R32、电阻R36组成的偏置电压消除电路，电路接运算放大器输入偏置电压消除电路中运算放大器U2A的正端，负端与输出端之间接入阻值为100k欧的电阻R，并在负端接入阻值为2.5欧的电阻R26与电子开关产生的电压VDG相连。电路连接图如图7所示，分别与运算放大器输入偏置电压消除电路、电子切换开关输出端相连，通过运算放大器与电阻R实现电流电压的转换，一般电阻R要求较大，使较小的电流也能产生较大的电压信号，这里R＝100k；
AD范围内的电压转换电路包括运算放大器U2B，所述运算放大器U2B正向输入端接阻值为10k欧的电阻R24和阻值为20k欧的电阻R23串联所产生的中间电压，R24另一端接地，R23另一端接电源电压VCk；负向输入端与输出端之间接入阻值为10k欧的电阻R33，并在负端接入阻值为20k欧的电阻R29，R29另一端接地；从而在AD范围内的电压转换，如图8所示。电路连接图如图8所示，通过该电路，输入有极性电压变为0-3.3V的无极性电压输出，便于AD转换。
单片机控制与采样系统采用STM32F103的单片机芯片，该单片机芯片与电子开关U3、负电压芯片U5、运算放大器连接，用于消除运放输入偏置电压影响的DAC的输出控制与无极性输出电压的AD转换。
二、本发明提供一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测方法，包括：
步骤1，电子切换开关，先控制DAC输出消除输入失调电压的影响，具体操作包括以下步骤：
步骤1.1、控制DAC输出为1.5V；
步骤1.2、断开电子开关时的输出电压的测量V1，得到0电流状态下的输出；
步骤1.3、切换电子开关与地连通，然后检测接地时的电压信号测量V2
步骤1.4、控制DAC的输出使V2与V1接近，保证与0电流状态输出结果相同；
步骤1.5、接阵列点时的信号输出，
步骤2，电子切换开关接电极整列腐蚀传感器,进行腐蚀电流测量算法，具体操作包括以下步骤：
步骤2.1、DAC控制输出，消除输入失调电压影响
步骤2.2、电流转电压放大：V1＝(V2/R26)*R22；其中V1为运放的输出端，V2为运放的负端，R26的阻值为2.5欧，R22的阻值为100K欧。
步骤2.3、电子开关切换，连通腐蚀电极。
步骤2.4、AD转换采样输出信号，AD范围内的电压转换：V为转化所得的电压，R23和R29的阻值为20K欧，R24和R33的阻值为10K欧，VCk为电源电压。
步骤2.5、计算整体阵列腐蚀电流。
本文中所描述的具体实施例仅仅是对本发明精神作举例说明。本发明所属技术领域的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，但并不会偏离本发明的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。

Claims (11)

1.一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测装置，其特征在于，包括依次连接的腐蚀阵列连接电路、电子切换开关电路、电流转电压放大电路、AD范围内的电压转换电路以及单片机控制与采样系统；所述单片机控制与采样系统通过运算放大器输入偏置电压消除电路与电流转电压放大电路连接，该单片机控制与采样系统还与电子切换开关电路连接，电子切换开关电路和电流转电压放大电路同时与负电压转换电路连接。
2.根据权利要求1的所述的一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测装置，其特征在于，所述腐蚀阵列连接电路包括若干腐蚀阵列传感器以及阵列连接电路，所述腐蚀阵列传感器包括至少8个腐蚀微阵列探头；所述阵列连接电路包括与腐蚀阵列对应的至少8个以上100欧的电阻R1-Rn；通过电阻接地R1-Rn的方式，把腐蚀阵列探头的各个电极元件连接起来；在此方式下，与被测金属的腐蚀过程一样，在电极元件处可以形成阳极区(腐蚀)和阴极区。
3.根据权利要求1的所述的一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测装置，其特征在于，所述运算放大器输入偏置电压消除电路包括3个电阻R31、R32、R36，电阻R31、R32、R36一端连在一起；其中电阻R31另一端接-3v；电阻R32另一端接地；电阻R32另一端接DAC；取中间点的电压，接入运算放大器U2A的正向输入端，运算的负端接地并与运放的输出端相接。
4.根据权利要求1的所述的一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测装置，其特征在于，所述负电压转换电路包括型号为TP7660负电压芯片U5，负电压芯片U5的1脚、3脚、6脚接地，2脚和4脚接电解电容C1，5脚接电解电容C2并输出负电压Vss，7脚不接，8脚接电源电压VCK和0.1uf电容C30接地。
5.根据权利要求1的所述的一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测装置，其特征在于，所述电子切换开关电路包括型号是ADG706的；多路电子开关U3，1脚接电源电压VCk，11和12脚接地，14到18脚接STM32引脚的PB7--PB3，19到26脚接对应的腐蚀阵列探头。
6.根据权利要求1的所述的一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测装置，其特征在于，所述电流转电压放大电路包括电阻R31、电阻R32、电阻R36组成的偏置电压消除电路，电路接运算放大器输入偏置电压消除电路中运算放大器U2A的正端，负端与输出端之间接入电阻R，并在负端接入电阻R26与电子开关产生的电压VDG相连。
7.根据权利要求1的所述的一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测装置，其特征在于，所述AD范围内的电压转换电路包括运算放大器U2B，所述运算放大器U2B正向输入端接电阻R24和电阻R23串联所产生的中间电压，电阻R24另一端接地，电阻R23另一端接电源电压VCk；负向输入端与输出端之间接入电阻R33，并在负端接入电阻R29，电R29另一端接地；从而在AD范围内的电压转换。
8.根据权利要求1的所述的一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测装置，其特征在于，所述单片机控制与采样系统采用STM32F103的单片机芯片，该单片机芯片与电子开关U3、负电压芯片U5、运算放大器连接，用于消除运放输入偏置电压影响的DAC的输出控制与无极性输出电压的AD转换。
9.一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测方法，其特征在于，包括：
步骤1，电子切换开关接地，先控制DAC输出消除输入失调电压的影响；
步骤2，电子切换开关接电极整列腐蚀传感器,进行腐蚀电流测量算法。
10.根据权利要求1所述的一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测方法，其特征在于，所述步骤1的具体操作包括以下步骤：
步骤1.1、控制DAC输出为1.5V；
步骤1.2、断开电子开关时测量输出电压为V1，得到0电流状态下的输出；V1是运放U2第7引脚输出端的电压；
步骤1.3、切换电子开关与地连通，然后检测接地时测量的电压值为V2；
步骤1.4、控制DAC的输出使V2与V1接近，保证与0电流状态输出结果相同；
步骤1.5、接阵列点时的信号输出，与0电流状态下进行比较，得到实际电流大小。
11.根据权利要求1所述的一种针对多电极阵列腐蚀传感器微小电流的检测方法，其特征在于，所述步骤2的具体操作包括以下步骤：
步骤2.1、DAC控制输出，消除输入失调电压影响；
步骤2.2、电流转电压放大：V1＝(V2/R26)*R22；其中V1为运放的输出端，V2为运放的负端，R26的阻值为2.5欧，R22的阻值为100K欧；
步骤2.3、电子开关切换，连通腐蚀电极；
步骤2.4、AD转换采样输出信号，AD范围内的电压转换：V为转化所得的电压，R23和R29的阻值为20K欧，R24和R33的阻值为10K欧，VCk为电源电压；
步骤2.5、计算整体阵列腐蚀电流；
2.5.1、没有腐蚀电流时，输出电压约为1.65V，对应的AD转换结果为2048；
2.5.2、有腐蚀电流时，输出电压V＝1.65+i*R,其中i为腐蚀电流，R是阻值为100K欧姆的电阻；这时对应的AD转换结果得出腐蚀电流
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109581040A (zh) * 2018-10-31 2019-04-05 湖北工业大学 一种消除空间噪声的阵列腐蚀电流检测系统及方法
US20210242179A1 (en) * 2020-02-05 2021-08-05 Fuji Electric Co., Ltd. Power semiconductor module
CN113804960A (zh) * 2021-10-14 2021-12-17 常州同惠电子股份有限公司 快速消除fA级电流测试电路底数的电路及方法
CN114705731A (zh) * 2022-06-01 2022-07-05 中国电建集团华东勘测设计研究院有限公司 监测涂层剥离深度和破损处腐蚀状态的传感器及监测方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6181264B1 (en) * 1999-05-18 2001-01-30 Agilent Technologies Precision bipolar digital-to-analog converter for an instrument probe interface
WO2008151408A1 (en) * 2007-06-14 2008-12-18 Voiceage Corporation Device and method for frame erasure concealment in a pcm codec interoperable with the itu-t recommendation g.711
CN102980933A (zh) * 2012-11-22 2013-03-20 中国石油大学(华东) 基于微电极阵列的多通道电偶腐蚀测试系统及测试方法
CN103399201A (zh) * 2013-08-16 2013-11-20 中国科学院微电子研究所 一种传感器微弱信号通用检测芯片系统
CN105510674A (zh) * 2015-11-30 2016-04-20 上海仪电科学仪器股份有限公司 一种微电流测量电路
CN205506910U (zh) * 2016-04-15 2016-08-24 常州信息职业技术学院 一种微电流电压转换器电路

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6181264B1 (en) * 1999-05-18 2001-01-30 Agilent Technologies Precision bipolar digital-to-analog converter for an instrument probe interface
WO2008151408A1 (en) * 2007-06-14 2008-12-18 Voiceage Corporation Device and method for frame erasure concealment in a pcm codec interoperable with the itu-t recommendation g.711
CN102980933A (zh) * 2012-11-22 2013-03-20 中国石油大学(华东) 基于微电极阵列的多通道电偶腐蚀测试系统及测试方法
CN103399201A (zh) * 2013-08-16 2013-11-20 中国科学院微电子研究所 一种传感器微弱信号通用检测芯片系统
CN105510674A (zh) * 2015-11-30 2016-04-20 上海仪电科学仪器股份有限公司 一种微电流测量电路
CN205506910U (zh) * 2016-04-15 2016-08-24 常州信息职业技术学院 一种微电流电压转换器电路

Non-Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
WEIWANG等: "The influence of local glucose oxidase activity on the potential/current distribution on stainless steel: A study by the wire beam electrode method", 《ELECTROCHIMICA ACTA》 *
张霞等: "利用丝束电极技术研究模拟微生物膜/金属界面的电化学不均匀性", 《腐蚀科学与防护技术》 *
肖乐: "基于ADuC847微电流测量仪的研究与开发", 《中国优秀硕士学位论文全文数据库》 *
许超群等: "用于Ｘ射线传感器的多通道微弱电流采集系统", 《新器件新技术》 *

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109581040A (zh) * 2018-10-31 2019-04-05 湖北工业大学 一种消除空间噪声的阵列腐蚀电流检测系统及方法
CN109581040B (zh) * 2018-10-31 2020-12-18 湖北工业大学 一种消除空间噪声的阵列腐蚀电流检测系统及方法
US20210242179A1 (en) * 2020-02-05 2021-08-05 Fuji Electric Co., Ltd. Power semiconductor module
US11929354B2 (en) * 2020-02-05 2024-03-12 Fuji Electric Co., Ltd. Power semiconductor module
CN113804960A (zh) * 2021-10-14 2021-12-17 常州同惠电子股份有限公司 快速消除fA级电流测试电路底数的电路及方法
CN114705731A (zh) * 2022-06-01 2022-07-05 中国电建集团华东勘测设计研究院有限公司 监测涂层剥离深度和破损处腐蚀状态的传感器及监测方法

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Publication number Publication date
CN107356521B (zh) 2020-01-07

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