CN107329071A - 一种igbt驱动器的性能测试电路、测试装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种IGBT驱动器的性能测试电路、测试装置及方法，其中，所述IGBT驱动器的性能测试电路与IGBT驱动器连接，由PWM信号发生器产生PWM信号，所述PWM信号经幅值变换模块进行幅值调节后输出至IGBT驱动器，由提取运算模块对所述PWM信号的时间参数进行提取调节后输出至模式切换模块，通过模式切换模块切换当前的测试模式，触发IGBT驱动器处于驱动模式或过流保护模式，并输出相应的性能测试结果，能对PWM信号进行提取运算获得不同测试模式下的信号波形，且通过模式切换可实现正常驱动以及过流保护模式下IGBT驱动器的性能测试，电路简单，通用性高，有效保证了IGBT驱动器的可靠性和安全性。

Description

一种IGBT驱动器的性能测试电路、测试装置及方法

技术领域

本发明涉及电力电子技术领域，特别涉及一种IGBT驱动器的性能测试电路、测试装置及方法。

背景技术

目前，驱动电路形式主要有分立元件构成、光电耦合器、厚膜驱动电路及专用集成驱动电路。由于分立式IGBT驱动电路的分立元件多，保护电路复杂，可靠性和性能都比较差，且对设计应用人员要求较高，出现故障时需要有专业人员进行维护，成本较高，因此实际应用中大多采用集成驱动电路。如日本富士公司的EXB系列(如EXB841)、德国西门康公司的SKHI系列(如SKHI22AH4 R)及瑞士CONCEPT公司(如2SD315AI)等生产的专为IGBT和功率MOSFET提供的SCALE系列集成电路等的运用都很广泛。因各个公司知识产权的因素，国内外生产的专用驱动模块种类繁多，但在驱动原理和保护电路均相似，仅在驱动保护功能配置等方面稍有不同。

而如何校验验证所选IGBT驱动芯片或厚膜驱动模块的驱动性能及保护性能变得极为重要，已有专利CN106324466A公开了一种变流器IGBT模块现场故障预诊断方法，包括以下步骤：S1，系统停机；S2，利用输入电源给直流电容充电，直到电压稳定；S3，断开输入电源与变流器之间的连接，令直流电容放电，直到其电压下降为设定值；S4，记录被测IGBT的直通短路电流；S5，将步骤S4得到的直通短路电流的峰值与被测IGBT健康状态时的直通短路电流峰值进行比较，判断被测IGBT是否故障；S6，直流电容完全放电；S7，返回步骤S2，进行下一个被测IGBT的故障测试，直到所有IGBT测试完毕。上述专利虽然较为真实的在IGBT模块上做了故障诊断，但应用设备多，操作较为繁琐复杂，且设备均为强电，需要有专业人员维护，仅满足其特定应用场合，对工程应用人员及测试人员不具通用性，适用性差。

因而现有技术还有待改进和提高。

发明内容

鉴于上述现有技术的不足之处，本发明的目的在于提供一种IGBT驱动器的性能测试电路、测试装置及方法，能对PWM信号进行提取运算获得不同测试模式下的信号波形，且通过简单的模式切换可实现正常驱动以及过流保护模式下IGBT驱动器的性能测试，电路及操作简单，通用性高，有效保证了IGBT驱动器的可靠性和安全性。

为了达到上述目的，本发明采取了以下技术方案：

一种IGBT驱动器的性能测试电路，与IGBT驱动器连接，其包括PWM信号发生器、幅值变换模块、提取运算模块和模式切换模块，由PWM信号发生器产生PWM信号，所述PWM信号经幅值变换模块进行幅值调节后输出至IGBT驱动器，由提取运算模块对所述PWM信号的时间参数进行提取调节后输出至模式切换模块，通过模式切换模块切换当前的测试模式，触发IGBT驱动器处于驱动模式或过流保护模式，并输出相应的性能测试结果。

所述的IGBT驱动器的性能测试电路中，所述幅值变换模块包括调节单元、放大单元和限流单元，所述PWM信号经调节单元进行幅值调整后输出至放大单元，由所述放大单元对PWM信号进行推挽输出放大处理后输出至限流单元，经限流单元限流处理后输出至IGBT驱动器。

所述的IGBT驱动器的性能测试电路中，所述提取运算模块包括第一提取单元、第二提取单元、反相单元和运算调节单元，由第一提取单元提取所述PWM信号中的正脉冲，经第二提取单元提取得到正脉冲对应的负脉冲阈值，并经反相单元进行反相处理后得到负脉冲，由运算调节单元根据所述负脉冲进行反相积分处理后捕获得到所述PWM信号的上升沿，并对上升沿的触发时间和持续时间进行调节后输出至模式切换模块。

所述的IGBT驱动器的性能测试电路中，所述模式切换模块包括与提取运算模块和IGBT驱动器连接的切换开关，所述切换开关用于设置提取运算模块的输出端和IGBT驱动器的若干引脚之间的连接关系，使IGBT驱动器处于驱动模式或过流保护模式，并输出相应的性能测试结果。

所述的IGBT驱动器的性能测试电路中，所述调节单元包括第一电阻，所述放大单元包括第一三极管和第二三极管，所述限流单元包括第二电阻；所述第一电阻的第一连接端连接PWM信号端，所述第一电阻的第二连接端接地，所述第一电阻的控制端连接PWM信号端、第一三极管的基极和第二三极管的基极；所述第一三极管的集电极连接15V供电端，所述第一三极管的发射极连接第二三极管的发射极和第二电阻的一端；所述第二三极管的集电极接地；所述第二电阻的另一端连接IGBT驱动器的IGBT_G端和提取运算模块。

所述的IGBT驱动器的性能测试电路中，所述第一提取单元包括第一电容和第三电阻，所述第二提取单元包括第一反相器、第二电容和第四电阻，所述反相单元包括第二反相器，所述运算调节单元包括第三反相器、第五电阻、第六电阻和第三电容；所述第一电容的一端连接IGBT驱动器的IGBT_G端和幅值变换模块，所述第一电容的另一端连接第一反相器的输入端、还通过第三电阻接地；所述第一反相器的输出端通过第二电容连接第四电阻的第一连接端和第二反相器的输入端，所述第四电阻的第二连接端和控制端接地；所述第二反相器的输出端连接WIDTH信号端和第三反相器的输入端；所述第三反相器的输出端通过第五电阻连接第六电阻的控制端和第一连接端；所述第六电阻的第二连接端连接OUTPUT信号端和模式切换模块、还通过第三电容接地。

所述的IGBT驱动器的性能测试电路中，所述切换开关的第一端连接提取运算模块的输出端，所述切换开关的第二端连接IGBT驱动器的IGBT_E端和地，所述切换开关的第三端连接IGBT驱动器的IGBT_C端。

所述的IGBT驱动器的性能测试电路中，所述切换开关为单刀三掷开关。

一种IGBT驱动器的性能测试装置，包括外壳，所述外壳内设置有PCB板，所述PCB板上设置有如上所述的IGBT驱动器的性能测试电路。

一种IGBT驱动器的性能测试方法，其包括如下步骤：

A、由PWM信号发生器产生PWM信号；

B、由幅值变换模块对所述PWM信号进行幅值调节后输出至IGBT驱动器；

C、由提取运算模块对所述PWM信号的时间参数进行提取调节后输出至模式切换模块；

D、通过模式切换模块切换当前的测试模式，触发IGBT驱动器处于驱动模式或过流保护模式，并输出相应的性能测试结果。

相较于现有技术，本发明提供的IGBT驱动器的性能测试电路、测试装置及方法中，所述IGBT驱动器的性能测试电路与IGBT驱动器连接，其包括PWM信号发生器，幅值变换模块、提取运算模块和模式切换模块，由PWM信号发生器产生PWM信号，所述PWM信号经幅值变换模块进行幅值调节后输出至IGBT驱动器，由提取运算模块对所述PWM信号的时间参数进行提取调节后输出至模式切换模块，通过模式切换模块切换当前的测试模式，触发IGBT驱动器处于驱动模式或过流保护模式，并输出相应的性能测试结果，能对PWM信号进行提取运算获得不同测试模式下的信号波形，且通过简单的模式切换可实现正常驱动以及过流保护模式下IGBT驱动器的性能测试，电路及操作简单，通用性高，有效保证了IGBT驱动器的可靠性和安全性。

附图说明

图1 为本发明提供的IGBT驱动器的性能测试电路的结构框图。

图2 为本发明提供的IGBT驱动器的性能测试电路的电路图。

图3 为本发明提供的IGBT驱动器的性能测试电路应用实施例中选用的IGBT驱动器及其外围电路图。

图4 为本发明提供的IGBT驱动器的性能测试电路应用实施例中PWM信号与WIDTH信号的测试波形界面图。

图5 为本发明提供的IGBT驱动器的性能测试电路应用实施例中PWM信号与OUTPUT信号的测试波形界面图。

图6 为本发明提供的IGBT驱动器的性能测试电路应用实施例中IGBT驱动器正常驱动模式下的测试波形界面图。

图7 为本发明提供的IGBT驱动器的性能测试电路应用实施例中IGBT驱动器逐波过流模式下的测试波形界面图。

图8 为本发明提供的IGBT驱动器的性能测试电路应用实施例中IGBT驱动器连续过流模式下的测试波形界面图。

图9 为本发明提供的IGBT驱动器的性能测试方法的流程图。

具体实施方式

本发明提供一种IGBT驱动器的性能测试电路、测试装置及方法，能对PWM信号进行提取运算获得不同测试模式下的信号波形，且通过简单的模式切换可实现正常驱动以及过流保护模式下IGBT驱动器的性能测试，电路及操作简单，通用性高，有效保证了IGBT驱动器的可靠性和安全性。

为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本发明进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

请参阅图1，本发明提供的IGBT驱动器的性能测试电路与IGBT驱动器11连接，其包括PWM信号发生器10，幅值变换模块20、提取运算模块30和模式切换模块40，所述PWM信号发生器10通过幅值变换模块20连接IGBT驱动器11，所述PWM信号发生器10还通过提取运算模块30连接模式切换模块40，所述模式切换模块40还连接IGBT驱动器11，通过PWM信号发生器10产生PWM信号，所述PWM信号经幅值变换模块20进行幅值调节后输出至IGBT驱动器11，由提取运算模块30对所述PWM信号的时间参数进行提取调节后输出至模式切换模块40，通过模式切换模块40切换当前的测试模式，触发IGBT驱动器11处于驱动模式或过流保护模式，并输出相应的性能测试结果。

本发明提供的IGBT驱动器的性能测试电路是通过模式切换模块40对提取运算模块30和IGBT驱动器之间的通路进行选择切换，由提取运算模块30对PWM信号进行提取运算获得不同测试模式下所需的测试波形，触发IGBT驱动器处于驱动模式或过流保护模式，分别测试IGBT驱动器的驱动性能以及过流保护性能，有效保证了IGBT驱动器在不同情况下的可靠性和安全性。

优选地，本发明中所述PWM信号发生器10可基于硬件或软件实现，硬件可采用TI-uc38系列或SG3525获得，软件可由芯片配置EPWM寄存器进行，总之能产生PWM信号即可，本发明对此不作限定。

进一步地，请一并参阅图2，所述幅值变换模块20包括调节单元21、放大单元22和限流单元23，所述调节单元21、放大单元22和限流单元23依次连接，所述限流单元23还连接IGBT限流器的IGBT_G端，即IGBT的栅极引脚，由PWM信号发生器10产生的PWM信号经调节单元21进行幅值调整后输出至放大单元22，由所述放大单元22对PWM信号进行推挽输出放大处理后输出至限流单元23，经限流单元23限流处理后输出至IGBT驱动器。

由于IGBT性能的好坏直接影响到驱动板电路运行的效率、可靠性及安全性，因此为保证IGBT安全、可靠运行，必须对IGBT驱动器的正常驱动及保护能力进行测试，其中保护功能触发过流由Vcesat（集电极-发射极饱和压降）捕捉判断，如使用英飞凌IGBT—FF300R12KE3，查其手册得其饱和压降最大为2.15V，而一般阈值电压Vn可取IGBT正常导通电压的2～2.5倍)，由于不同IGBT对应不同Vcesat电压值，因此IGBT驱动器的性能测试电路保护幅值也应能根据不同IGBT进行调整，本发明中PWM信号首先通过调节单元21进行幅值调整后得到当前所需的电压幅值后再进行放大和限流处理，满足不同IGBT的测试需求，且进行信号放大和限流处理后保证测试的准确性和安全性。

进一步地，所述提取运算模块30包括第一提取单元31、第二提取单元32、反相单元33和运算调节单元3421，所述第一提取单元31、第二提取单元32、反相单元33和运算调节单元3421依次连接，所述第一提取单元31还连接限流单元23，由第一提取单元31提取所述PWM信号中的正脉冲，经第二提取单元32提取得到正脉冲对应的负脉冲阈值，并经反相单元33进行反相处理后得到负脉冲，由运算调节单元3421根据所述负脉冲进行反相积分处理后捕获得到所述PWM信号的上升沿，并对上升沿的触发时间和持续时间进行调节后输出至模式切换模块40。如上所述，不同IGBT对应不同的Vcesat电压值，因此性能测试电路保护幅值应能根据不同IGBT进行调整，同样不同IGBT的保护时刻以及保护时间也不相同，需要对PWM信号的时间参数进行提取调整，获得不同测试模式下相应IGBT时间参数的测试输入波形，以适应不同模式以及不同IGBT的驱动器性能测试，提高性能测试电路的适用范围和通用性。

更进一步地，所述模式切换模块40包括与提取运算模块30和IGBT驱动器连接的切换开关SW1，所述切换开关SW1用于设置提取运算模块30的输出端和IGBT驱动器的若干引脚之间的连接关系，使IGBT驱动器处于驱动模式或过流保护模式，并输出相应的性能测试结果。即通过切换开关SW1来控制提取运算模块30的输出端和IGBT驱动器之间的通路切换，进而为IGBT驱动器提供不同的测试波形，触发IGBT驱动器处于正常驱动模式或者过流保护模式，实现不同情况下的性能测试，全方位的保证IGBT驱动器的工作可靠性。

具体实施时，所述切换开关SW1采用单刀三掷开关，所述切换开关SW1的第一端连接提取运算模块30的输出端，所述切换开关SW1的第二端连接IGBT驱动器的IGBT_E端（即IGBT的发射极引脚）和地，所述切换开关SW1的第三端连接IGBT驱动器的IGBT_C端（即IGBT的集电极引脚）。通过控制单刀三掷开关各个端子的连接关系，从而控制提取运算模块30的输出端和IGBT驱动器之间的通路切换，实现测试模式的切换。

请继续参阅图2，本发明提供的IGBT驱动器的性能测试电路中，所述调节单元21包括第一电阻R1，所述放大单元22包括第一三极管Q1和第二三极管Q2，所述限流单元23包括第二电阻R2；所述第一电阻R1的第一连接端连接PWM信号端，所述第一电阻R1的第二连接端接地，所述第一电阻R1的控制端连接PWM信号端、第一三极管Q1的基极和第二三极管Q2的基极；所述第一三极管Q1的集电极连接15V供电端，所述第一三极管Q1的发射极连接第二三极管Q2的发射极和第二电阻R2的一端；所述第二三极管Q2的集电极接地；所述第二电阻R2的另一端连接IGBT驱动器的IGBT_G端和提取运算模块30。所述幅值变换模块20还包括第一二极管D1和第二二极管D2，所述第一二极管D1的正极连接第二电阻R2的一端和第二二极管D2的负极，所述第一二极管D1的负极连接15V供电端；所述第二二极管D2的正极接地。本实施例中所述第一三极管Q1为NPN型三极管，所述第二三极管Q2的PNP三极管，所述第一电阻R1为可调电阻。

具体来说，通过PWM信号发生器10产生PWM信号后，先通过第一电阻R1调节PWM信号的幅值，再经过第一三极管Q1和第二三极管Q2推挽输出放大后，经限流电阻即第二电阻R2限流后输出接到IGBQ驱动器的栅极引脚IGBT_G，实现PWM信号的幅值调整，以及放大限流处理，同时通过两个二极管，第一二极管D1和第二二极管D2实现过压保护，保证电路中各元器件的安全性。

进一步地，所述第一提取单元31包括第一电容C1和第三电阻R3，所述第二提取单元32包括第一反相器A1、第二电容C2和第四电阻R4，所述反相单元33包括第二反相器A2，所述运算调节单元3421包括第三反相器A3、第五电阻R5、第六电阻R6和第三电容C3；所述第一电容C1的一端连接IGBT驱动器的IGBT_G端和幅值变换模块20，具体为第二电阻R2的另一端，所述第一电容C1的另一端连接第一反相器A1的输入端、还通过第三电阻R3接地；所述第一反相器A1的输出端通过第二电容C2连接第四电阻R4的第一连接端和第二反相器A2的输入端，所述第四电阻R4的第二连接端和控制端接地；所述第二反相器A2的输出端连接WIDTH信号端和第三反相器A3的输入端；所述第三反相器A3的输出端通过第五电阻R5连接第六电阻R6的控制端和第一连接端；所述第六电阻R6的第二连接端连接OUTPUT信号端和模式切换模块40（具体为切换开关SW1的第一端）、还通过第三电容C3接地。优选地，所述第二提取单元32还包括第三二极管D3，所述第三二极管D3的负极连接第四电阻R4的第一连接端，所述第三二极管D3的正极接地，性能测试电路还设置有第四二极管D4，所述第四二极管D4的负极连接第六电阻R6的第二连接端，所述第四二极管D4的正极接地，本实施例中，所述第四电阻R4和第六电阻R6均为可调电阻，用于调节PWM信号的时间参数。

具体地，PWM信号经第一电容C1和第三电阻R3进行微分运算，提取PWM信号中的正脉冲，之后通过第一反相器A1反相，第二电容C2和第四电阻R4微分整形后提取正脉冲对应的负脉冲阈值，再通过第二反相器A2反相得到负脉宽，再通过第三反相器A3及第五电阻R5、第六电阻R6和第三电容C3组成的反相积分电路输出至OUTPUT，得到相应输入PWM信号的上升沿，该上升沿就是每个周期中检测IGBT驱动器逐波过流的正脉冲，其中通过第四电阻R4调节负脉宽(Width)，即调节保护时间的长短，通过第六电阻R6调节积分时间常数，调节正脉冲到来的时间，即调节了延迟或超前保护的时刻，从而实现对PWM信号时间参数的调整，满足不同IGBT的需求。

提取运算模块30输出端输出的信号，即OUTPUT信号再通过一单刀三掷开关进行不同选择，对正常驱动时把C、E引脚间短接(IGBT正常工作时导通压降很低)，即所述单刀三掷开关的第二端与第三端连接；连续过流模式时将第三端悬空(即C与E断开时，驱动器等效检测到Vcesat为高电平，即相当于连续过流)；逐波过流模式时需对每个PWM周期波中提取单脉冲(高电平)，即单刀三掷开关的第一端与第三端连接，其中节点IGBT_G、IGBT_C、IGBT_E接至驱动器相应IGTB的栅极、集电极与发射极引脚，实现不同测试模式的简单切换，对一般应用工程及测试人员具有通用性，操作简单，可靠地验证IGBT驱动器的驱动及保护功能。

为更好地理解本发明提供的IGBT驱动器的性能测试电路的工作过程及测试效果，以下举应用实施例，对所述IGBT驱动器的性能测试电路进行进一步说明：

本应用实施例中，选用北京落木源一厚膜集成驱动模块TX-KA962进行验证测试，相关外围电路如图3所示，由于其为现有技术，此处对该外围电路的连接关系不再赘述，具体测试时，将本发明提供的IGBT驱动器的性能测试电路中的PWM信号端、IGBT_G端、IGBT_C端、IGBT_E端与IGBT驱动器的对应引脚连接，并控制所述单刀三掷开关进行模式选择，测试结果如图4至图8所示。

其中，图4和图5分别为输入PWM信号与输出WIDTH信号以及输入PWM信号与输出OUTPUT信号的测试波形示意图，测试频率f=80kHz，图6、图7和图8分别为所述IGBT驱动器的性能测试电路具体测试厚膜集成驱动模块TX-KA962是，模拟正常驱动模式、逐波过流模式以及连续过流模式下的测试波形示意图。

其中，图6显示该驱动器性能很好，驱动板驱动特性参数延迟小(低于0.50us)，上升、下降沿陡峭(上升、下降时间低于0.4us)，满足IGBT对栅极驱动波形特性的要求，在正常驱动时正幅值UGE=15.5V，关断时加的负幅值UGE=-8.5V，这使得TX-KA962在正常工作时能可靠的驱动IGBT导通与关断。

从图7可以看出在发生逐波过流后驱动器执行软关断，驱动器即封锁输入PWM信号，即使PWM信号此时变成低电平，也不会立即将输出拉到正常的负电平，而要将软关断过程进行到底（将输出拉低到-3.5V，以确保IGBT可靠关断）。因此驱动器能在IGBT发生过流时保护，能最大限度地使其不被损坏。在下一周期又循环往复。

从图8可以看出在发生连续过流后，驱动器软关断IGBT，如果控制电路没有采取动作，则驱动器再次输出驱动脉冲的间隔时间，此时间均可通过保护参数进行设置，达到过流保护效果。

因此，本应用实施例中，IGBT驱动器经本发明提供的性能测试电路模拟正常驱动、逐波过流及连续过流保护时均能正常的驱动及保护，进一步验证了性能测试电路在测试验证IGBT驱动器时的可靠性与安全性。

基于上述IGBT驱动器的性能测试电路，本发明还相应提供一种IGBT驱动器的性能测试装置，包括外壳，所述外壳内设置有PCB板，所述PCB板上设置有如上所述的IGBT驱动器的性能测试电路，由于上文已对所述IGBT驱动器的性能测试电路进行了详细介绍，此处不作详述。

本发明还相应提供一种IGBT驱动器的性能测试方法，如图9所示，包括如下步骤：

S100、由PWM信号发生器产生PWM信号；

S200、由幅值变换模块对所述PWM信号进行幅值调节后输出至IGBT驱动器；

S300、由提取运算模块对所述PWM信号的时间参数进行提取调节后输出至模式切换模块；

S400、通过模式切换模块切换当前的测试模式，触发IGBT驱动器处于驱动模式或过流保护模式，并输出相应的性能测试结果。

综上所述，本发明提供的IGBT驱动器的性能测试电路、测试装置及方法中，所述IGBT驱动器的性能测试电路与IGBT驱动器连接，其包括PWM信号发生器，幅值变换模块、提取运算模块和模式切换模块，由PWM信号发生器产生PWM信号，所述PWM信号经幅值变换模块进行幅值调节后输出至IGBT驱动器，由提取运算模块对所述PWM信号的时间参数进行提取调节后输出至模式切换模块，通过模式切换模块切换当前的测试模式，触发IGBT驱动器处于驱动模式或过流保护模式，并输出相应的性能测试结果，能对PWM信号进行提取运算获得不同测试模式下的信号波形，且通过简单的模式切换可实现正常驱动以及过流保护模式下IGBT驱动器的性能测试，电路及操作简单，通用性高，有效保证了IGBT驱动器的可靠性和安全性。

可以理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，而所有这些改变或替换都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims (10)

1.一种IGBT驱动器的性能测试电路，与IGBT驱动器连接，其特征在于，包括PWM信号发生器、幅值变换模块、提取运算模块和模式切换模块，由PWM信号发生器产生PWM信号，所述PWM信号经幅值变换模块进行幅值调节后输出至IGBT驱动器，由提取运算模块对所述PWM信号的时间参数进行提取调节后输出至模式切换模块，通过模式切换模块切换当前的测试模式，触发IGBT驱动器处于驱动模式或过流保护模式，并输出相应的性能测试结果。

2.根据权利要求1所述的IGBT驱动器的性能测试电路，其特征在于，所述幅值变换模块包括调节单元、放大单元和限流单元，所述PWM信号经调节单元进行幅值调整后输出至放大单元，由所述放大单元对PWM信号进行推挽输出放大处理后输出至限流单元，经限流单元限流处理后输出至IGBT驱动器。

3.根据权利要求1所述的IGBT驱动器的性能测试电路，其特征在于，所述提取运算模块包括第一提取单元、第二提取单元、反相单元和运算调节单元，由第一提取单元提取所述PWM信号中的正脉冲，经第二提取单元提取得到正脉冲对应的负脉冲阈值，并经反相单元进行反相处理后得到负脉冲，由运算调节单元根据所述负脉冲进行反相积分处理后捕获得到所述PWM信号的上升沿，并对上升沿的触发时间和持续时间进行调节后输出至模式切换模块。

4.根据权利要求1所述的IGBT驱动器的性能测试电路，其特征在于，所述模式切换模块包括与提取运算模块和IGBT驱动器连接的切换开关，所述切换开关用于设置提取运算模块的输出端和IGBT驱动器的若干引脚之间的连接关系，使IGBT驱动器处于驱动模式或过流保护模式，并输出相应的性能测试结果。

5.根据权利要求2所述的IGBT驱动器的性能测试电路，其特征在于，所述调节单元包括第一电阻，所述放大单元包括第一三极管和第二三极管，所述限流单元包括第二电阻；所述第一电阻的第一连接端连接PWM信号端，所述第一电阻的第二连接端接地，所述第一电阻的控制端连接PWM信号端、第一三极管的基极和第二三极管的基极；所述第一三极管的集电极连接15V供电端，所述第一三极管的发射极连接第二三极管的发射极和第二电阻的一端；所述第二三极管的集电极接地；所述第二电阻的另一端连接IGBT驱动器的IGBT_G端和提取运算模块。

6.根据权利要求3所述的IGBT驱动器的性能测试电路，其特征在于，所述第一提取单元包括第一电容和第三电阻，所述第二提取单元包括第一反相器、第二电容和第四电阻，所述反相单元包括第二反相器，所述运算调节单元包括第三反相器、第五电阻、第六电阻和第三电容；所述第一电容的一端连接IGBT驱动器的IGBT_G端和幅值变换模块，所述第一电容的另一端连接第一反相器的输入端、还通过第三电阻接地；所述第一反相器的输出端通过第二电容连接第四电阻的第一连接端和第二反相器的输入端，所述第四电阻的第二连接端和控制端接地；所述第二反相器的输出端连接WIDTH信号端和第三反相器的输入端；所述第三反相器的输出端通过第五电阻连接第六电阻的控制端和第一连接端；所述第六电阻的第二连接端连接OUTPUT信号端和模式切换模块、还通过第三电容接地。

7.根据权利要求4所述的IGBT驱动器的性能测试电路，其特征在于，所述切换开关的第一端连接提取运算模块的输出端，所述切换开关的第二端连接IGBT驱动器的IGBT_E端和地，所述切换开关的第三端连接IGBT驱动器的IGBT_C端。

8.根据权利要求4所述的IGBT驱动器的性能测试电路，其特征在于，所述切换开关为单刀三掷开关。

9.一种IGBT驱动器的性能测试装置，包括外壳，所述外壳内设置有PCB板，其特征在于，所述PCB板上设置有如权利要求1-8任意一项所述的IGBT驱动器的性能测试电路。

10.一种IGBT驱动器的性能测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

A、由PWM信号发生器产生PWM信号；

B、由幅值变换模块对所述PWM信号进行幅值调节后输出至IGBT驱动器；

C、由提取运算模块对所述PWM信号的时间参数进行提取调节后输出至模式切换模块；

D、通过模式切换模块切换当前的测试模式，触发IGBT驱动器处于驱动模式或过流保护模式，并输出相应的性能测试结果。