CN107301109B - 一种硬盘质量筛选方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种硬盘质量筛选方法及装置，该方法包括：检测硬盘的SMART属性是否正常；若是，则在第一预设时间内按预设规则读和写硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误；若未出现错误，则检测硬盘的SMART属性是否正常；若硬盘的SMART属性正常，则硬盘的质量无问题；本发明通过在第一预设时间内按预设规则读和写硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误，可以判断硬盘在用户使用过程中是否会出现错误，从而达到对硬盘质量的判断；通过若未出现错误，则检测硬盘的SMART属性是否正常，可以在对硬盘进行使用后判断硬盘的质量是否无问题，从而可以对问题硬盘进行淘汰，保证了硬盘的品质，增强了数据存储稳定性，节省了运营成本。
Description
技术领域
本发明涉及计算机应用技术领域，特别涉及一种硬盘质量筛选方法及装置。
背景技术
随着社会的进步和信息通信技术的发展，信息系统在各行业、各领域快速拓展，使得信息系统采集、处理、积累的数据越来越多，数据量增速越来越快，以至用“海量、爆炸性增长”等词汇已无法形容数据的增长速度，大数据时代已经来临，硬盘的稳定性显得愈发重要。
现有技术中，由于硬盘厂家提供的硬盘质量的不确定性，用户通常情况往往在使用过程中业务读写文件异常时才会发现问题硬盘，影响业务稳定性。因此，如何可以提前对所有硬盘进行测试筛选，将不符合条件的硬盘淘汰，保证硬盘的品质，增强数据存储稳定性，节省运营成本，是现今急需解决的问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种硬盘质量筛选方法及装置，以提前对所有硬盘进行测试筛选，将不符合条件的硬盘淘汰，保证硬盘的品质，增强数据存储稳定性，节省运营成本。
为解决上述技术问题，本发明提供一种硬盘质量筛选方法，包括：
检测硬盘的SMART属性是否正常；
若是，则在第一预设时间内按预设规则读和写所述硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误；
若未出现错误，则检测所述硬盘的SMART属性是否正常；
若所述硬盘的SMART属性正常，则所述硬盘的质量无问题。
可选的，所述在第一预设时间内按预设规则读和写所述硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误，包括：
在所述第一预设时间内随机读和写所述硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误；
若未出现错误，则执行所述检测所述硬盘的SMART属性是否正常的步骤。
可选的，所述在所述第一预设时间内随机读和写所述硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误之前，还包括：
在第二预设时间内顺序读和写所述硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误；
若未出现错误，则检测所述硬盘的SMART属性是否正常；
若所述硬盘的SMART属性正常，则执行所述在所述第一预设时间内随机读和写所述硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误的步骤。
可选的，所述硬盘的质量无问题之前，还包括：
对所述硬盘发送SCSI VERIFY命令，判断是否出现错误；
若未出现错误，则检测所述硬盘的SMART属性是否正常；
若所述硬盘的SMART属性正常，则所述硬盘的质量无问题。
可选的，所述检测硬盘的SMART属性是否正常之前，还包括：
遍历查找所有硬盘；
依次对每个硬盘执行所述检测硬盘的SMART属性是否正常的步骤。
此外，本发明还提供了一种硬盘质量筛选装置，包括：
第一检测模块，用于检测硬盘的SMART属性是否正常；
第一读写模块，用于若所述硬盘的SMART属性正常，则在第一预设时间内按预设规则读和写所述硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误；
第二检测模块，用于若未出现错误，则检测所述硬盘的SMART属性是否正常；
筛选模块，若所述硬盘的SMART属性正常，则所述硬盘的质量无问题。
可选的，所述第一读写模块，包括：
读写子模块，用于在所述第一预设时间内随机读和写所述硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误；若未出现错误，则向所述第二检测模块发送第一启动信号。
可选的，该装置还包括：
第二读写模块，用于在第二预设时间内顺序读和写所述硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误；
第三检测模块，用于若未出现错误，则检测所述硬盘的SMART属性是否正常；若所述硬盘的SMART属性正常，则向所述第一读写模块发送第二启动信号。
可选的，该装置还包括：
测试模块，用于对所述硬盘发送SCSI VERIFY命令，判断是否出现错误；
第四检测模块，用于若未出现错误，则检测所述硬盘的SMART属性是否正常；若所述硬盘的SMART属性正常，向所述筛选模块发送第三启动信号。
可选的，该装置还包括：
遍历模块，用于遍历查找所有硬盘。
本发明所提供的一种硬盘质量筛选方法，包括：检测硬盘的SMART属性是否正常；若是，则在第一预设时间内按预设规则读和写所述硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误；若未出现错误，则检测所述硬盘的SMART属性是否正常；若所述硬盘的SMART属性正常，则所述硬盘的质量无问题；
可见，本发明通过在第一预设时间内按预设规则读和写硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误，可以判断硬盘在用户使用过程中是否会出现错误，从而达到对硬盘质量的判断；通过若未出现错误，则检测硬盘的SMART属性是否正常，可以在对硬盘进行使用后判断硬盘的质量是否无问题，从而可以对问题硬盘进行淘汰，避免了硬盘使用过程中业务读写文件异常时才发现问题硬盘，影响业务稳定性的情况，保证了硬盘的品质，增强了数据存储稳定性，节省了运营成本。此外，本发明还提供了一种硬盘质量筛选装置，同样具有上述有益效果。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例所提供的一种硬盘质量筛选方法的流程图；
图2为本发明实施例所提供的一种硬盘质量筛选装置的结构图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参考图1，图1为本发明实施例所提供的一种硬盘质量筛选方法的流程图。该方法可以包括：
步骤101：检测硬盘的SMART属性是否正常；若是，则进入步骤102。
其中，本实施例所提供的方法，可以采用linux shell编程语言，使用sg_utiles、smartctl等工具进行；也可以使用其他编程语言或其他工具进行，本实施例对此不受任何限制。
可以理解的是，本步骤中SMART(S.M.A.R.T.，Monitoring Analysis andReporting Technology，自我监测、分析及报告技术)属性的具体检测方式，可以由设计人员根据硬盘的类型自行设置，本实施例对此不受任何限制。
具体的，如对于SATA盘的SMART属性检测方式，可以为读取SMART状态是否为PASSED；若SMART状态为PASSED，则判断每个ID的VALUE和WORST是否均大于THRESH；若每个ID的VALUE和WORST均大于THRESH，则判断重映射扇区数、重映射事件级数、待映射扇区数和CRC错误数是否均为0；若重映射扇区数、重映射事件级数、待映射扇区数和CRC错误数是否均为0，则判断WHEN_FAILED列是否不存在关键词fail且存在关键词No Errors Logged；若WHEN_FAILED列不存在关键词fail且存在关键词No Errors Logged，则硬盘的SMART属性正常。
对于SAS盘的SMART属性检测方式，可以为读取SMART状态是否为OK；若所述SMART状态为OK，则判断Elements in grown defect list和Read/Write/Verify Totaluncorrected errors是否均为零；若所述Elements in grown defect list和所述Read/Write/Verify Total uncorrected errors均为零，则所述硬盘的SMART属性正常。本实施例对此不受任何限制。
需要说明的是，对于本步骤中硬盘的SMART属性不正常的情况，可以确定硬盘的质量存在问题，也就是该硬盘为问题硬盘，可以向用户或检测人员提示该硬盘的质量存在问题的信息，以方便用户或检测人员对问题硬盘进行淘汰。
具体的，本步骤之前还可以包括遍历查找所有硬盘的步骤，以方便用户对全部硬盘的质量进行检测。对应的，本实施例所提供的方法可以为全部硬盘中的每个硬盘均需要进行的检测方法。对于具体的检测过程，可以为遍历查找所有硬盘后，每个硬盘依次进行本实施例所提供的方法；可以为全部硬盘并行进行本实施所提供的方法；还可以为每个硬盘依次进行本实施例所提供的方法的各个步骤，如首先依次对每个硬盘进行步骤101，淘汰掉问题硬盘，再对未淘汰的硬盘进行接下来的步骤。
步骤102：在第一预设时间内按预设规则读和写硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误；若否，则进入步骤103。
其中，预设规则可以为设计人员根据实用场景和用户需求自行设置的读和写硬盘的内圈和外圈的方式，如可以为顺序读和写硬盘的内圈和外圈，也可以为随机读和写硬盘的内圈和外圈，还可以为其他方式读和写硬盘的内圈和外圈。只要可以对硬盘的内圈和外圈进行读和写，对于具体的读和写的方式，本实施例对此不受任何限制。对于第一预设时间的具体数值的设置，可以为用户或设计人员自行设置的时间，本实施例对此同样不做任何限制。
可以理解的是，本步骤和步骤103的目的是为了，通过对硬盘的内圈和外圈进行读和写，判断是否出错；若未出错，则检测硬盘的SMART属性是否正常；若正常，则说明硬盘的质量无问题；若出错或不正常，则说明硬盘为问题硬盘，需要进行维修或淘汰。为了进一步保证硬盘筛选的准确性，还可以加入与步骤102或步骤102和步骤103相似的步骤，如在本步骤之前，在另一预设时间内以另一种预设规则读和写硬盘的内圈和外圈，判断是否出错；若未出错，则进入步骤102。或者在本步骤之前或步骤103之后，在另一预设时间内以另一种预设规则读和写硬盘的内圈和外圈，判断是否出错；若未出错，则测硬盘的SMART属性是否正常；若正常，则进入步骤102或步骤104。
具体的，若本步骤为在第一预设时间内随机读和写硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误，则本步骤之前还可以包括在第二预设时间内顺序读和写硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误；若未出现错误，则检测硬盘的SMART属性是否正常；若硬盘的SMART属性正常，则进入本步骤。进一步通过不同的规则读和写硬盘的内圈和外圈，提高硬盘筛选的准确性。
需要说明的是，为了进一步提高硬盘筛选的准确性，本步骤之前或步骤103之后，还可以包括：对硬盘发送SCSI VERIFY命令，判断是否出现错误；若未出现错误，则检测硬盘的SMART属性是否正常；硬盘的SMART属性正常，则进入本步骤或步骤104。其中，对硬盘发送SCSI VERIFY命令可以通过sg_verify工具，也可以通过其他工具，本实施例对此不受任何限制。
步骤103：检测硬盘的SMART属性是否正常；若是，则进入步骤104。
其中，本步骤与步骤101相似，在此不再赘述。
步骤104：硬盘的质量无问题。
需要说明的是，本步骤可以为对硬盘的质量的确定步骤。与之对应的，对于硬盘的质量存在问题的确定步骤，可以为本发明实施例所提供的方法中，硬盘的SMART属性不正常或在第一预设时间内按预设规则读和写硬盘的内圈和外圈，出现错误的情况下进行的步骤。
可以理解的是，对于质量无问题的硬盘可以进行本实施例所提供的方法的全部步骤，对于质量有问题的硬盘，可以只进行本实施例所提供的方法中的其中几个步骤，如通过步骤101便检测出硬盘的质量有问题，则不需要对该硬盘进行接下来的步骤，只需对应将该硬盘的信息提供给用户，方便用户对该硬盘进行淘汰或维修。本实施例对此不受任何限制。
本实施例中，本发明实施例通过在第一预设时间内按预设规则读和写硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误，可以判断硬盘在用户使用过程中是否会出现错误，从而达到对硬盘质量的判断；通过若未出现错误，则检测硬盘的SMART属性是否正常，可以在对硬盘进行使用后判断硬盘的质量是否无问题，从而可以对问题硬盘进行淘汰，避免了硬盘使用过程中业务读写文件异常时才发现问题硬盘，影响业务稳定性的情况，保证了硬盘的品质，增强了数据存储稳定性，节省了运营成本。
请参考图2，图2为本发明实施例所提供的一种硬盘质量筛选装置的结构图。该装置可以包括：
第一检测模块100，用于检测硬盘的SMART属性是否正常；
第一读写模块200，用于若硬盘的SMART属性正常，则在第一预设时间内按预设规则读和写硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误；
第二检测模块300，用于若未出现错误，则检测硬盘的SMART属性是否正常；
筛选模块400，若硬盘的SMART属性正常，则硬盘的质量无问题。
可选的，第一读写模块200，可以包括：
读写子模块，用于在第一预设时间内随机读和写硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误；若未出现错误，则向第二检测模块发送第一启动信号。
可选的，该装置还可以包括：
第二读写模块，用于在第二预设时间内顺序读和写硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误；
第三检测模块，用于若未出现错误，则检测硬盘的SMART属性是否正常；若硬盘的SMART属性正常，则向第一读写模块发送第二启动信号。
可选的，该装置还可以包括：
测试模块，用于对硬盘发送SCSI VERIFY命令，判断是否出现错误；
第四检测模块，用于若未出现错误，则检测硬盘的SMART属性是否正常；若硬盘的SMART属性正常，向筛选模块发送第三启动信号。
可选的，该装置还可以包括：
遍历模块，用于遍历查找所有硬盘。
本实施例中，本发明实施例通过第一读写模块200在第一预设时间内按预设规则读和写硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误，可以判断硬盘在用户使用过程中是否会出现错误，从而达到对硬盘质量的判断；通过第二检测模块300若未出现错误，则检测硬盘的SMART属性是否正常，可以在对硬盘进行使用后判断硬盘的质量是否无问题，从而可以对问题硬盘进行淘汰，避免了硬盘使用过程中业务读写文件异常时才发现问题硬盘，影响业务稳定性的情况，保证了硬盘的品质，增强了数据存储稳定性，节省了运营成本。
说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。
专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。
以上对本发明所提供的硬盘质量筛选方法及装置进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。
Claims (8)
1.一种硬盘质量筛选方法，其特征在于，包括：
检测硬盘的SMART属性是否正常；
若是，则在第一预设时间内按预设规则读和写所述硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误；
若未出现错误，则检测所述硬盘的SMART属性是否正常；
若所述硬盘的SMART属性正常，则所述硬盘的质量无问题；
所述在第一预设时间内按预设规则读和写所述硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误，包括：
在所述第一预设时间内随机读和写所述硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误；
若未出现错误，则执行所述检测所述硬盘的SMART属性是否正常的步骤。
2.根据权利要求1所述的硬盘质量筛选方法，其特征在于，所述在所述第一预设时间内随机读和写所述硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误之前，还包括：
在第二预设时间内顺序读和写所述硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误；
若未出现错误，则检测所述硬盘的SMART属性是否正常；
若所述硬盘的SMART属性正常，则执行所述在所述第一预设时间内随机读和写所述硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误的步骤。
3.根据权利要求2所述的硬盘质量筛选方法，其特征在于，所述硬盘的质量无问题之前，还包括：
对所述硬盘发送SCSI VERIFY命令，判断是否出现错误；
若未出现错误，则检测所述硬盘的SMART属性是否正常；
若所述硬盘的SMART属性正常，则所述硬盘的质量无问题。
4.根据权利要求1至3任一项所述的硬盘质量筛选方法，其特征在于，所述检测硬盘的SMART属性是否正常之前，还包括：
遍历查找所有硬盘；
依次对每个硬盘执行所述检测硬盘的SMART属性是否正常的步骤。
5.一种硬盘质量筛选装置，其特征在于，包括：
第一检测模块，用于检测硬盘的SMART属性是否正常；
第一读写模块，用于若所述硬盘的SMART属性正常，则在第一预设时间内按预设规则读和写所述硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误；
第二检测模块，用于若未出现错误，则检测所述硬盘的SMART属性是否正常；
筛选模块，若所述硬盘的SMART属性正常，则所述硬盘的质量无问题；
所述第一读写模块，包括：
读写子模块，用于在所述第一预设时间内随机读和写所述硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误；若未出现错误，则向所述第二检测模块发送第一启动信号。
6.根据权利要求5所述的硬盘质量筛选装置，其特征在于，还包括：
第二读写模块，用于在第二预设时间内顺序读和写所述硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误；
第三检测模块，用于若未出现错误，则检测所述硬盘的SMART属性是否正常；若所述硬盘的SMART属性正常，则向所述第一读写模块发送第二启动信号。
7.根据权利要求6所述的硬盘质量筛选装置，其特征在于，还包括：
测试模块，用于对所述硬盘发送SCSI VERIFY命令，判断是否出现错误；
第四检测模块，用于若未出现错误，则检测所述硬盘的SMART属性是否正常；若所述硬盘的SMART属性正常，向所述筛选模块发送第三启动信号。
8.根据权利要求5至7任一项所述的硬盘质量筛选装置，其特征在于，还包括：
遍历模块，用于遍历查找所有硬盘。
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| TA01 | Transfer of patent application right | ||
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| GR01 | Patent grant | ||
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