CN107249228A - 微波烹饪装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及微波烹饪技术领域，提供一种微波烹饪装置。该微波烹饪装置包括炉体和炉门，所述炉门包括微波屏蔽层和电磁辐射检测组件，所述电磁辐射检测组件包括用于感应微波泄露的检测探头，且所述检测探头位于所述微波屏蔽层远离所述炉体的一侧。本发明的微波烹饪装置，由于设置有电磁辐射检测组件，一旦微波屏蔽层损坏，电磁辐射组件可以及时检测到微波泄露。从而客观地反应炉门的屏蔽材料是否失效，准确的监控微波的泄露，及时控制微波烹饪装置的开关，在很大程度上降低了微波泄漏造成的危险。

Description

微波烹饪装置
技术领域
本发明属于微波烹饪技术领域，尤其涉及一种微波烹饪装置。
背景技术
以微波炉为例，传统微波炉门中使用金属网进行微波屏蔽，金属网作为微波屏蔽层时，微波屏蔽层的损坏比较直观。而随着可视化微波炉门的应用，逐渐出现了满足可视化要求的微波屏蔽层，而这些可视的微波屏蔽层一旦损坏肉眼不容易观察到，由此导致微波屏蔽层损坏后微波烹饪装置发生微波泄露。
发明内容
(一)技术方案
本发明旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。
本发明的其中一个目的是：提供一种微波烹饪装置，解决现有技术中存在的无法发现微波屏蔽层损坏导致微波烹饪装置微波泄露的问题。
为了实现该目的，本发明提供了一种微波烹饪装置，包括炉体和炉门，所述炉门包括微波屏蔽层和电磁辐射检测组件，所述电磁辐射检测组件包括用于感应微波泄露的检测探头，且所述检测探头位于所述微波屏蔽层远离所述炉体的一侧。
优选的，所述检测探头的数量为多个且呈平面阵列排布，使得所有所述检测探头的检测区域覆盖整个所述微波屏蔽层。
优选的，各个所述检测探头为天线，所述检测组件还包括阻抗和电气性能检测器，所述天线、阻抗和所述电气性能检测器连接形成导电回路。
优选的，所述天线为单极子天线和/或偶极子天线。
优选的，相邻所述单极子天线和/或偶极子天线之间的距离D小于两倍其工作频率中信号的-3dB衰减半径R。
优选的，所述天线为环形天线。
优选的，相邻所述检测探头中的环形天线紧邻分布。
优选的，所述电磁辐射检测组件还包括：
处理单元，与所述电气性能检测器连接，并根据所述电气性能检测器的数据计算出所述检测探头所在区域的平均电场密度；
判断单元，与所述处理单元连接以接收所述平均电场密度，且存储有平均电场密度幅值Smax，当平均电场密度不小于所述平均电场密度幅值Smax时，发出报警信号。
优选的，所述电磁辐射检测组件还包括滤波去噪单元，其连接所述检测探头，用于对所述检测探头的信号进行滤波去噪处理。
优选的，所述微波屏蔽层和/或所述检测探头采用可视材料。
优选的，所述炉门还包括保护盖板，位于所述微波屏蔽层远离所述炉体的一侧，且所述检测探头设置在所述微波屏蔽层和所述保护盖板之间。
优选的，所述炉门还包括门框，所述保护盖板和所述微波屏蔽层安装在所述门框中，且所述保护盖板和所述微波屏蔽层上形成有可视观察窗。
优选的，所述炉门的边缘设置有扼流圈，所述扼流圈设置在炉门的门框上。
本发明的技术方案具有以下优点：本发明的微波烹饪装置，由于设置有电磁辐射检测组件，一旦微波屏蔽层损坏，电磁辐射组件可以及时检测到微波泄露。从而客观地反应炉门的屏蔽材料是否失效，准确的监控微波的泄露，及时控制微波烹饪装置的开关，在很大程度上降低了微波泄漏造成的危险。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是实施例一的微波烹饪装置的结构示意图；
图2是实施例一的微波烹饪装置的炉门的正视示意图；
图3是实施例一的微波烹饪装置的炉门的侧面剖视图；
图4是实施例一的电磁辐射检测组件的安装示意图；
图5是实施例一的多个检测探头之间的位置关系示意图；
图6是实施例一的一种电磁辐射检测组件的结构示意图；
图7是实施例一的又一种电磁辐射检测组件的局部结构示意图；
图8是实施例二的电磁辐射检测组件的安装示意图；
图9是实施例二的电磁辐射检测组件的结构示意图；
附图标记：1、炉体；2、炉门；3、可视观察窗；4、门框；5、扼流圈；6、滤波去噪单元；7、检测探头；8、单极子天线；9、阻抗；10、偶极子天线；11、安装支撑板；12、微波屏蔽层；13、保护盖板；14、环形天线；15、导线。
具体实施方式
下面结合说明书附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例仅用于说明本发明，但不能用来限制本发明的范围。
实施例一
请参见图1，本实施例一的微波烹饪装置，包括炉体1和炉门2。其中，炉门2的结构可以参见图2和图3。
需要说明的是，本实施例一仅以可视炉门2为例进行说明。从而，炉门2的微波屏蔽层12采用可视材料。并且，在炉门2上形成有可视观察窗3。
不失一般性，本实施例一的微波烹饪装置中的炉门2也可以是不可视的。也即，下面提到的电磁辐射检测组件还可以安装在传统的微波屏蔽层12远离炉体1的一侧。
具体的，本实施例一的炉门2包括微波屏蔽层12和电磁辐射检测组件，所述电磁辐射检测组件包括用于感应微波泄露的检测探头7，且所述检测探头7位于所述微波屏蔽层12远离所述炉体1的一侧。
下文中的外侧对应“远离所述炉体1的一侧”，内侧对应“靠近所述炉体1的一侧”。
本实施例一的微波烹饪装置，由于设置有电磁辐射检测组件，一旦微波屏蔽层12损坏，电磁辐射组件可以及时检测到微波泄露。从而客观地反应炉门2的屏蔽材料是否失效，准确的监控微波的泄露，及时控制微波烹饪装置的开关，在很大程度上降低了微波泄漏造成的危险。
图4中，检测探头7的数量为多个且呈平面阵列排布，使得所有所述检测探头7的检测区域覆盖整个所述微波屏蔽层12。从而，当微波屏蔽层12任何位置发生泄漏时，都可以通过相应的检测探头7检测出泄漏情况。
其中，检测探头7优选但是不必须是天线。并且，优选采用全线天线作为检测探头7。天线由导电性能良好的材料制成，例如天线可以采用金属制成。其中，为了保证炉门2的可视性，优选但是不必须天线采用透明导电材料。采用透明导电材料制成天线时，还可以保证炉门2的美观性。此外，天线不和炉门2的其它导电部分电连接。
在此基础上，检测组件还包括阻抗9和电气性能检测器，所述天线、阻抗9和所述电气性能检测器连接形成导电回路。
其中，阻抗9和电气性能检测器的安装位置不受局限，既可以安装在炉门2上对应微波屏蔽层12的位置，也可以安装在炉门2上的其它位置，甚至还可以安装在炉体1上。
假设阻抗9为Z。通过电气性能检测器检测阻抗9上的电压V。从而通过阻抗9Z和电压V求得电磁场能量密度S，并通过判断电磁场能量密度S的大小判断炉门2是否泄漏。
请参见图5，假设相邻天线之间的距离为D，工作频率中信号的-3dB衰减半径为R，天线在微波烹饪装置工作频率的电压增益为G，则与天线同极化方向的电磁场功率为P＝(GV)2/Z。
进一步的，根据电磁场传播公式，在距离天线距离为r处的电磁场能量密度S为：
将电磁场能量密度S在R内积分，可得平均电场密度：
当大于所设定的值时，则认为微波烹饪装置炉门2的泄漏达到报警值，此时可以判断微波屏蔽层12损坏；反之说明微波烹饪装置炉门2的泄漏尚在允许范围之内，则此时可以判断微波屏蔽层12正常工作。
其中，优选相邻所述天线之间的距离D小于两倍其工作频率中信号的-3dB衰减半径R，从而保证足够的驻波比且减小误差。并且，通过图5中还发现，以每个天线为中心R为半径画圆时，所有的圆可以完全覆盖微波屏蔽层12，从而保证微波屏蔽层12没有暴露区域。
本实施例一中，使用单极子天线8和偶极子天线10等线型天线作为检测探头7。
其中，当天线为单极子天线8时，电磁辐射检测组件的结构请参见图6(图6中未示出电气性能检测器)。
当天线为偶极子天线10时，电磁辐射检测组件的结构请参见图7(图7中未示出电气性能检测器)。
使用单极子天线8和偶极子天线10等线型天线作为检测探头7时，由于其体积比其它形式的天线要小，从而几乎不影响微波烹饪装置的外观。
本实施例一中，所述电磁辐射检测组件还包括：
处理单元，与所述电气性能检测器连接，并根据所述电气性能检测器的数据计算出所述检测探头7所在区域的平均电场密度
判断单元，与所述处理单元连接以接收所述平均电场密度且存储有平均电场密度幅值Smax，当平均电场密度不小于所述平均电场密度幅值Smax时，发出报警信号。
此外，优选所述电磁辐射检测组件还包括滤波去噪单元6，请参见图4。滤波去噪单元6通过导线15连接检测探头7，用于对所述检测探头7的信号进行滤波去噪处理。其中，滤波去噪单元6可以安装在炉门2上，也可以安装在微波烹饪装置的其它位置。
进一步参见图3，炉门2还包括保护盖板13，位于所述微波屏蔽层12外侧，并使得所述检测探头7设置在所述微波屏蔽层12和所述保护盖板13之间。从而，保护盖板13可以保护其内侧的检测探头7和微波屏蔽层12。炉门2还包括有安装支撑板11，位于微波屏蔽层12靠近所述炉体1的一侧。
此外，炉门2还包括门框4，一般选择金属门框4。上述保护盖板13和微波屏蔽层12安装在所述门框4中，且所述保护盖板13和所述微波屏蔽层12上形成有可视观察窗3。
从图2中还可以发现，炉门2的边缘设置有扼流圈4，所述扼流圈4设置在炉门2的门框4上。在扼流圈4和上述安装支撑板11之间形成有夹缝，其可以限制微波泄漏。
实施例二
请参见图8，和实施例一不同之处在于，本实施例二的微波烹饪装置，其探头为环形天线14。假设一个环形天线14包围的区域面积为A，那么环形天线14可以有效接收当前面积为A的区域内的微波强度。
其中，一个炉门2上至少设置有一个环形天线14。当一个环形天线14无法有效覆盖整个炉门2的表面积时，可以阵列设置多个环形天线14。具体环形天线14的数量可以根据探测精度等进行设置，且应当尽可能使得环形天线14的微波接收范围覆盖住炉门2表面，以保证检测的有效性。当环形天线14的数量为多个时，相邻所述检测探头7中的环形天线14紧邻分布，以保证检测的有效性。
请参见图9，环形天线14呈矩形，当然环形天线14还可以呈圆环形或者其它任意环形。
本实施例二中，假设阻抗9为R，阻抗9上生成的电压为V，环形天线14在微波烹饪装置工作频率的电压增益为G，则环形天线14所包围的面积内的平均功率密度S＝(GV)2/RA.
当S大于所设定的值时，则认为微波烹饪装置炉门2的泄漏达到报警的值。此时，可以通过触发断电控制单元，使得微波烹饪装置断电，并告知用户微波烹饪装置炉门2泄漏超标，以及超标所在的环形天线14位置。
本实施例二中，检测探头7采用环形天线14，其便于设计和制造。
需要说明的是，上述实施例的电磁辐射检测组件，除了可以应用在炉门2上，还可以应用在微波烹饪装置的其它结构上。
以上实施方式仅用于说明本发明，而非对本发明的限制。本领域的普通技术人员能够在上述的两种实施例的基础上得到，除了上述两种实施例所描述的连杆结构的连接关系外，对其连杆结构进行连接关系的修改进而实现通过按压或提升端帽达到拉钩向外扩张或向内收拢的目的都属于本发明技术方案的精神和范围，均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。

Claims (13)

1.一种微波烹饪装置，包括炉体和炉门，其特征在于，所述炉门包括微波屏蔽层和电磁辐射检测组件，所述电磁辐射检测组件包括用于感应微波泄露的检测探头，且所述检测探头位于所述微波屏蔽层远离所述炉体的一侧。
2.根据权利要求1所述的微波烹饪装置，其特征在于，所述检测探头的数量为多个且呈平面阵列排布，使得所有所述检测探头的检测区域覆盖整个所述微波屏蔽层。
3.根据权利要求2所述的微波烹饪装置，其特征在于，各个所述检测探头为天线，所述检测组件还包括阻抗和电气性能检测器，所述天线、阻抗和所述电气性能检测器连接形成导电回路。
4.根据权利要求3所述的微波烹饪装置，其特征在于，所述天线为单极子天线和/或偶极子天线。
5.根据权利要求4所述的微波烹饪装置，其特征在于，相邻所述单极子天线和/或偶极子天线之间的距离D小于两倍其工作频率中信号的-3dB衰减半径R。
6.根据权利要求3所述的微波烹饪装置，其特征在于，所述天线为环形天线。
7.根据权利要求6所述的微波烹饪装置，其特征在于，相邻所述检测探头中的环形天线紧邻分布。
8.根据权利要求3至7中任意一项所述的微波烹饪装置，其特征在于，所述电磁辐射检测组件还包括：
处理单元，与所述电气性能检测器连接，并根据所述电气性能检测器的数据计算出所述检测探头所在区域的平均电场密度
判断单元，与所述处理单元连接以接收所述平均电场密度且存储有平均电场密度幅值Smax，当平均电场密度不小于所述平均电场密度幅值Smax时，发出报警信号。
9.根据权利要求3至7中任意一项所述的微波烹饪装置，其特征在于，其特征在于，所述电磁辐射检测组件还包括滤波去噪单元，其连接所述检测探头，用于对所述检测探头的信号进行滤波去噪处理。
10.根据权利要求1所述的微波烹饪装置，其特征在于，所述微波屏蔽层和/或所述检测探头采用可视材料。
11.根据权利要求1所述的微波烹饪装置，其特征在于，所述炉门还包括保护盖板，位于所述微波屏蔽层远离所述炉体的一侧，且所述检测探头设置在所述微波屏蔽层和所述保护盖板之间。
12.根据权利要求11所述的微波烹饪装置，其特征在于，所述炉门还包括门框，所述保护盖板和所述微波屏蔽层安装在所述门框中，且所述保护盖板和所述微波屏蔽层上形成有可视观察窗。
13.根据权利要求1所述的微波烹饪装置，其特征在于，所述炉门的边缘设置有扼流圈，所述扼流圈设置在炉门的门框上。
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