CN107132468A - 主板测试装置及测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种主板测试装置及测试方法，该装置包括一处理单元、一存储单元、一故障诊断卡及一功能测试装置，该处理单元包括连接模块，控制该故障诊断卡与该待测主板电性连接；第一测试模块，控制该待测主板运行该故障诊断卡所存储的启动程序开机，并对该待测主板进行开机测试；关机模块，当该待测主板的开机测试完成后，控制该待测主板关机；开机模块，当该待测主板的开机测试通过时，控制该待测主板重新开机；及第二测试模块，控制该待测主板运行存储于该存储单元中的测试程序，并通过该功能测试装置对该待测主板进行功能测试。本发明将主板测试集中在一个测试装置中进行，提高了测试效率。
Description
技术领域
本发明涉及电子装置的主板测试，尤其涉及一种主板测试装置及测试方法。
背景技术
在电子产品的工厂生产过程中，通常需要对电子产品如主板进行测试。然而，在现有技术中，主板测试往往要分成多个测试工作站，每个工作站设有不同的测试治具以对主板的各个部件或功能进行测试。这样不仅使得主板测试过程过于复杂，不利于测试效率的提高，而且造成生产成本的提高。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种主板测试装置及测试方法，以解决上述技术问题。
本发明提供一种主板测试装置，用于与一待测主板电性连接，测试该待测主板，该主板测试装置包括一处理单元、一存储单元、一故障诊断卡及一功能测试装置，该故障诊断卡存储有启动程序，该存储单元存储有测试程序，该处理单元包括：
连接模块，用于控制该故障诊断卡与该待测主板电性连接；
第一测试模块，用于控制该待测主板运行该故障诊断卡所存储的启动程序开机，并对该待测主板进行开机测试；
关机模块，用于当该待测主板的开机测试完成后，控制该待测主板关机；
开机模块，用于当该待测主板的开机测试通过时，控制该待测主板重新开机；及
第二测试模块，用于控制该待测主板运行存储于该存储单元中的测试程序，并通过该功能测试装置对该待测主板进行功能测试。
本发明还提供一种主板测试方法，应用于一主板测试装置中，用于测试一待测主板，该主板测试装置包括一存储单元、一故障诊断卡及一功能测试装置，该故障诊断卡存储有启动程序，该存储单元存储有测试程序，该方法包括以下步骤：
控制该故障诊断卡与该待测主板电性连接；
控制该待测主板运行该故障诊断卡所存储的启动程序开机，并对该待测主板进行开机测试；
当该待测主板的开机测试完成后，控制该待测主板关机；
当该待测主板的开机测试通过时，控制该待测主板重新开机；及
控制该待测主板运行存储于该存储单元中的测试程序，并通过该功能测试装置对该待测主板进行功能测试。
本发明提供的主板测试装置及测试方法将主板测试过程中所需的项目集中在一个测试装置中进行，从而有效提高了测试效率，且降低了生产成本。
附图说明
图1为本发明一实施方式中的主板测试装置的整体示意图。
图2为本发明一实施方式中的主板测试装置的功能模块示意图。
图3为本发明一实施方式中的主板测试方法的流程图。
主要元件符号说明
| 主板测试装置 | 1 |
| 处理单元 | 10 |
| 连接模块 | 101 |
| 第一测试模块 | 102 |
| 关机模块 | 103 |
| 存储模块 | 104 |
| 上传模块 | 105 |
| 开机模块 | 106 |
| 第二测试模块 | 107 |
| 存储单元 | 20 |
| 底壳 | 30 |
| 盖体 | 40 |
| 把手 | 400 |
| 故障诊断卡 | 50 |
| 功能测试装置 | 60 |
| 探针 | 70 |
| 接口切换器 | 80 |
| 转接板 | 90 |
| 待测主板 | 2 |
| 测试服务器 | 3 |
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参考图1及图2，为本发明所提供的主板测试装置1。该主板测试装置1用于对一待测主板2进行测试。该主板测试装置1包括一处理单元10、一存储单元20、一底壳30、一盖体40、一故障诊断卡50及一功能测试装置60。该待测主板2固定于该底壳30的底面上。该盖体40与该底壳30枢轴连接，该盖体40上设置有一把手400。用户可通过操作该把手400将该盖体40覆盖于该底壳30上，以及将该盖体40打开。
该存储单元20存储有测试程序。在本实施方式中，该存储单元20为非易失性随机访问存储器（NVRAM）或只读存储器（ROM）。该故障诊断卡50存储有启动程序。在本实施方式中，该启动程序包括系统验证测试程序及BIOS（Basic Input Output System）程序。该功能测试装置60固定于该底壳30的底面上，用于对该待测主板2进行功能测试。
如图1所示，该主板测试装置1还包括多个探针70、一接口切换器80及一转接板90。在本实施方式中，该待测主板2上设置有多个测试点（图未示）。每一探针70的一端与该待测主板2上一测试点连接，另一端连接于该接口切换器80，从而使该主板测试装置1与该待测主板2电性连接。该转接板90与该接口切换器80连接。该功能测试装置60与该转接板90连接。该接口切换器80及该转接板90固定于该底壳30的底面上。
如图2所示，该处理单元10包括一连接模块101、一第一测试模块102、一关机模块103、一存储模块104、一上传模块105、一开机模块106及一第二测试模块107。在本实施方式中，该些模块为可被该处理单元10调用执行的可程序化软件指令，在其他实施方式中，该些模块也可为固化于该处理单元10中的程序指令或固件（firmware）。在本实施方式中，该处理单元10为一微处理器。
该连接模块101控制该故障诊断卡50与该待测主板2电性连接。在本实施方式中，该故障诊断卡50上设置有一开关（图未示）。该连接模块101通过控制该开关开启而使该故障诊断卡50与该转接板90电性连接，从而使该故障诊断卡50与该待测主板2电性连接。
该第一测试模块102控制该待测主板2运行该故障诊断卡50所存储的启动程序开机，并对该待测主板2进行开机测试。在本实施方式中，该待测主板2的开机测试包括系统验证测试及开机自检。其中，系统验证测试包括CPU基本功能的测试及CPU高速总线的测试，例如PCIE（Peripheral Component Interface Express）总线及SATA（Serial Advanced
Technology Attachment）总线。开机自检包括该待测主板2上各个器件的初始化测试，例如内存、显卡等器件的初始化测试。
当该待测主板2的开机测试完成后，该存储模块104将该待测主板2的开机测试的测试日志存储于该存储单元20中。在本实施方式中，在开机测试完成后，该待测主板2可自动将开机测试日志上传至该存储模块104，该存储模块104将接收到的开机测试日志存储于该存储单元20中。
当该待测主板2的开机测试完成后，该关机模块103控制该待测主板2关机。
进一步地，该主板测试装置1还与一测试服务器3通信连接。该上传模块105将该待测主板2的开机测试日志上传至该测试服务器3。在本实施方式中，该主板测试装置1可通过局域网、WIFI（Wireless
Fidelity）或蓝牙等方式与该测试服务器3通信连接。用户可通过该测试服务器3查询该待测主板2的开机测试日志，并基于该开机测试日志判断该待测主板2是否通过开机测试。当该待测主板2的开机测试失败时，用户可中止测试并对该待测主板2进行维修。
当该待测主板2的开机测试通过时，该开机模块106控制该待测主板2重新开机。在本实施方式中，该开机模块106控制该该待测主板2运行自身存储的启动程序开机。
在该待测主板2重新开机后，第二测试模块107控制该待测主板2运行存储于该存储单元20中的测试程序，并通过该功能测试装置60对该待测主板2进行功能测试。在本实施方式中，该待测主板2的功能测试包括网络功能测试、存储功能测试、USB功能测试、显示功能测试等。
当该待测主板2的功能测试完成后，该存储模块104还将该待测主板2的功能测试的测试日志存储于该存储单元20中。在本实施方式中，在功能测试完成后，该待测主板2可自动将功能测试日志上传至该存储模块104，该存储模块104将接收到的功能测试日志存储于该存储单元20中。
该上传模块105还将该待测主板2的功能测试日志上传至该测试服务器3。用户可通过该测试服务器3查询该待测主板2的功能测试日志，并基于该功能测试日志判断该待测主板2是否通过功能测试。当该待测主板2的功能测试失败时，用户需对该待测主板2进行维修。
请参考图3，为本发明主板测试方法的流程图。
步骤S101，控制该故障诊断卡50与该待测主板2电性连接。其中，该故障诊断卡50存储有启动程序。
步骤S102，控制该待测主板2运行该故障诊断卡50所存储的启动程序开机，并对该待测主板2进行开机测试。
步骤S103，当该待测主板2的开机测试完成后，控制该待测主板2关机。
步骤S104，当该待测主板2的开机测试通过时，控制该待测主板2重新开机。
步骤S105，控制该待测主板2运行存储于该存储单元20中的测试程序，并通过该功能测试装置60对该待测主板2进行功能测试。
进一步地，该方法还包括步骤：当该待测主板2的开机测试完成后，将该待测主板2的开机测试的测试日志存储于该存储单元20中；当该待测主板2的功能测试完成后，将该待测主板2的功能测试的测试日志存储于该存储单元20中。
进一步地，该方法还包括步骤：将该待测主板2的开机测试日志及功能测试日志上传至该测试服务器3。
最后应说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的实施方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围。
Claims (10)
1.一种主板测试装置，用于与一待测主板电性连接，测试该待测主板，其特征在于，该主板测试装置包括一处理单元、一存储单元、一故障诊断卡及一功能测试装置，该故障诊断卡存储有启动程序，该存储单元存储有测试程序，该处理单元包括：
连接模块，用于控制该故障诊断卡与该待测主板电性连接；
第一测试模块，用于控制该待测主板运行该故障诊断卡所存储的启动程序开机，并对该待测主板进行开机测试；
关机模块，用于当该待测主板的开机测试完成后，控制该待测主板关机；
开机模块，用于当该待测主板的开机测试通过时，控制该待测主板重新开机；及
第二测试模块，用于控制该待测主板运行存储于该存储单元中的测试程序，并通过该功能测试装置对该待测主板进行功能测试。
2.如权利要求1所述的主板测试装置，其特征在于：该主板测试装置还包括多个探针、一接口切换器及一转接板，每一探针的一端与该待测主板连接，另一端连接于该接口切换器，该转接板与该接口切换器连接，该功能测试装置与该转接板连接。
3.如权利要求1所述的主板测试装置，其特征在于：该故障诊断卡上设置有一开关，该连接模块通过控制该开关开启而使该故障诊断卡与该转接板电性连接。
4.如权利要求1所述的主板测试装置，其特征在于：该待测主板的开机测试包括系统验证测试及开机自检。
5.如权利要求1所述的主板测试装置，其特征在于，该处理单元还包括：
存储模块，用于当该待测主板的开机测试完成后，将该待测主板的开机测试的测试日志存储于该存储单元中；及当该待测主板的功能测试完成后，将该待测主板的功能测试的测试日志存储于该存储单元中。
6.如权利要求4所述的主板测试装置，其特征在于，主板测试装置还与一测试服务器通信连接，该处理单元还包括：
上传模块，用于将该待测主板的开机测试日志及功能测试日志上传至该测试服务器。
7.一种主板测试方法，应用于一主板测试装置中，用于测试一待测主板，该主板测试装置包括一存储单元、一故障诊断卡及一功能测试装置，该故障诊断卡存储有启动程序，该存储单元存储有测试程序，其特征在于，该方法包括以下步骤：
控制该故障诊断卡与该待测主板电性连接；
控制该待测主板运行该故障诊断卡所存储的启动程序开机，并对该待测主板进行开机测试；
当该待测主板的开机测试完成后，控制该待测主板关机；
当该待测主板的开机测试通过时，控制该待测主板重新开机；及
控制该待测主板运行存储于该存储单元中的测试程序，并通过该功能测试装置对该待测主板进行功能测试。
8.如权利要求7所述的主板测试方法，其特征在于：该待测主板的开机测试包括系统验证测试及开机自检。
9.如权利要求7所述的主板测试方法，其特征在于，该方法还包括步骤：
当该待测主板的开机测试完成后，将该待测主板的开机测试的测试日志存储于该存储单元中；及
当该待测主板的功能测试完成后，将该待测主板的功能测试的测试日志存储于该存储单元中。
10.如权利要求9所述的主板测试方法，其特征在于，该方法还包括步骤：
将该待测主板的开机测试日志及功能测试日志上传至该测试服务器。
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2016
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| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20170905 |
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| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |