CN107121398A - 激光清洗能量的确定方法及装置、激光清洗方法及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种激光清洗能量的确定方法及装置、激光清洗方法及系统。其中,该激光清洗能量的确定方法包括:以初始清洗能量和预设清洗时间进行清洗,选择清洗过程中待清洗层元素的特征谱线;根据特征谱线的强度和失真度信息选取特征谱线波长;并在初始清洗能量的基础上增加预定能量进行打点清洗,获取基体元素与各个待清洗元素的特征谱线的强度比值;判断基体元素与各个待清洗层中元素的第一比值、第二比值以及第三比值中至少两个比值是否大于或等于预设值;若是,则基于当前清洗能量确定目标激光清洗能量。本发明提供的激光清洗能量的确定方法及装置、激光清洗方法及系统,能够高效地自动选择合适的激光清洗能量可靠地进行清洗。
Description
技术领域
本发明涉及激光清洗领域,特别涉及一种激光清洗能量的确定方法及装置、激光清洗方法及系统。
背景技术
激光清洗技术是一种绿色、高效、操作简便的清洗技术。随着国家越来越倡导绿色制造,该技术得到了广泛的关注。在进行激光清洗,首先需要确定待清洗材料的清洗能量的大小。如果清洗能量超过基体的消融阈值将会对基材造成损伤,而能量过低则不能高效的对表面附着物进行清理,因此激光清洗能量的准确确定是关系到清洗效能的关键因素。其中激光清洗能量一般用激光器的功率表示,单元为瓦(W)。
目前激光清洗能量的获取基本是离线的方法,主要包括:声波检测法和光谱检测法。其中,声波检测法是利用麦克风等声学仪器,收集并处理激光清洗过程中脉冲与材料表面作用过程中所产生的声波。由于激光脉冲与不同材料作用所产生的声波信号存在着差异,所以通过分析声波信号的强度和频率可以判断清洗能量阈值。另外,光谱检测是基于激光与材料作用时会产生等离子体,而等离子体在激发态会在短时间内跃迁至基态并辐射出特征光谱的原理。利用光谱仪可以检测辐射谱线的强度和元素的种类,从而可以粗略的判断激光清洗能量阈值。但是这些方法只能依靠大量的实验数据来寻找能量阈值,当清洗不同材料时需要做大量的重复实验,非常地费事费力。
中国公告号为CN 103090969B的专利说明书公开了“一种激光清洗阈值的测试方法”,具体的,该专利公开了通过多组实验把检测到的等离子体特征谱线的强度转换为电压信号,并带入BiDoseResp函数,从而计算激光清洗能量阈值的方法。由于待清除的附着物种类很多,如锈迹、油漆、污渍等,表面情况比较复杂,这种测试阈值能量的方法,无法适应复杂的清洗环境,并且不便与自动化控制相结合。
中国公布号CN 105127150A专利公开了“一种基于机器人控制的激光清洗系统及其清洗方法”,具体的,其原理是通过识别是否出现基体元素特征峰来进行判断。由于被清洗样品表面的组成相对比较多样和复杂,基于上述原理的识别方法,无法保证判断结果的准确性,因而可信度不高。
综上所述,有必要提出一种理想的激光清洗能量的确定方法、激光清洗方法,以克服现有技术中的缺陷。
发明内容
本发明的目的是提供一种激光清洗能量的确定方法及装置、激光清洗方法及系统,其针对表面组成成分多样的待清除物、能准确高效地自动选择合适的激光清洗能量,并且保证后续清洗过程中在激光能量因外界干扰发生突变时,能自动调整激光清洗能量,最终保证在不损失基体材料的前提下,高效清洗。
本发明的上述目的可采用下列技术方案来实现:
一种激光清洗能量的确定方法,包括:
以初始清洗能量和预设清洗时间对待清洗材料进行打点清洗,选择清洗过程中待清洗层元素的特征谱线,其中,所述特征谱线所包括的元素种类包括:碳元素、氢元素及氧元素;
根据获取的待清洗层元素的特征谱线的强度和失真度信息,选取所述待清洗层元素的特征谱线波长;
根据所述待清洗层元素的特征波长,并在所述初始清洗能量的基础上增加预定能量获得当前清洗能量后进行打点清洗,其中,当前清洗位置不同于初始清洗位置;在当前清洗过程中,分别获取基体元素与各个待清洗元素的特征谱线的强度比值;
判断基体元素与碳元素的特征谱线强度对应的第一比值、基体元素与氢元素的特征谱线强度对应的第二比值,以及基体元素与氧元素的特征谱线强度对应的第三比值中至少两个比值是否大于或等于预设值;
若判断结果为是,则基于当前清洗能量确定目标激光清洗能量。
在一个优选的实施方式中,所述方法还包括:
若判断结果为否,则重复所述:根据所述待清洗层元素的特征波长,并在所述初始清洗能量的基础上增加预定能量获得当前清洗能量后进行打点清洗,其中,当前清洗位置不同于初始清洗位置;在当前清洗过程中,分别获取基体元素与各个待清洗元素的特征谱线的强度比值;判断基体元素与碳元素的特征谱线强度对应的第一比值、基体元素与氢元素的特征谱线强度对应的第二比值,以及基体元素与氧元素的特征谱线强度对应的第三比值中至少两个比值是否大于或等于预设值的步骤,直至所述第一比值、第二比值和第三比值中至少两个比值大于或等于预设值为止。
在一个优选的实施方式中,所述碳元素的特征谱线的波长为247.9纳米,所述氢元素的特征谱线的波长为656.3纳米,所述氧元素的特征谱线的波长为844.6纳米;所述初始清洗能量为10瓦,所述预定能量为1瓦;所述预设清洗时间为0.5秒。
一种激光清洗方法,包括:
以初始清洗能量和预设清洗时间对待清洗材料进行打点清洗,选择清洗过程中待清洗层元素的特征谱线,其中,所述特征谱线所包括的元素种类包括:碳元素、氢元素及氧元素;
根据获取的待清洗层元素的特征谱线的强度和失真度信息,选取所述待清洗层元素的特征谱线波长;
根据所述待清洗层元素的特征波长,在所述初始清洗能量的基础上增加预定能量获得当前清洗能量进行打点清洗,其中,当前清洗位置不同于初始清洗位置;
在当前清洗过程中,分别获取基体元素与各个待清洗元素的特征谱线的强度比值;
判断基体元素与碳元素的特征谱线强度对应的第一比值、基体元素与氢元素的特征谱线强度对应的第二比值,以及基体元素与氧元素的特征谱线强度对应的第三比值中至少两个比值是否大于或等于预设值;
若判断结果为是,则基于当前清洗能量确定目标激光清洗能量;
以所述目标激光清洗能量对待清洗材料进行清洗,以预设时间间隔获取基体元素与各个待清洗层元素的特征谱线的强度比值;
判断是否存在至少一个基体元素与待清洗层元素的特征谱线的强度比值大于或等于预设值;若不存在,则以当前的清洗能量继续进行清洗。
在一个优选的实施方式中,所述方法还包括:
当存在至少一个基体元素与待清洗层元素的特征谱线的强度比值大于或等于预设值,则扩大聚焦镜至待清洗样品的距离,继续清洗。
在一个优选的实施方式中,所述方法还包括:
在清洗过程中,重复上述以预设时间间隔获取基体元素与各个待清洗层元素的特征谱线的强度比值;判断是否存在至少一个基体元素与待清洗层元素的特征谱线的强度比值大于或等于预设值的步骤,维持所述基体元素与待清洗层元素的特征谱线的强度比值小于预设值。
一种激光清洗能量的确定装置,包括:
特征谱线获取模块,用于以初始清洗能量和预设清洗时间对待清洗材料进行打点清洗,选择清洗过程中待清洗层元素的特征谱线,其中,所述特征谱线所包括的元素种类包括:碳元素、氢元素及氧元素;
特征谱线波长选取模块,用于根据所述获取的待清洗层元素的特征谱线的强度和失真度信息,选取所述待清洗层元素的特征谱线波长;
特征谱线强度比值获取模块,用于根据所述待清洗层元素的特征波长,并在所述初始清洗能量的基础上增加预定能量获得当前清洗能量后进行打点清洗,其中,当前清洗位置不同于初始清洗位置;在当前清洗过程中,分别获取基体元素与各个待清洗元素的特征谱线的强度比值;
第一判断模块,用于判断基体元素与碳元素的特征谱线强度对应的第一比值、基体元素与氢元素的特征谱线强度对应的第二比值,以及基体元素与氧元素的特征谱线强度对应的第三比值中至少两个比值是否大于或等于预设值;
目标激光清洗能量确定模块,用于在判断结果为是时,则基于当前清洗能量确定目标激光清洗能量。
在一个优选的实施方式中,所述第一判断模块还用于:
若判断结果为否,则重复所述:根据所述待清洗层元素的特征波长,并在所述初始清洗能量的基础上增加预定能量获得当前清洗能量后进行打点清洗,其中,当前清洗位置不同于初始清洗位置;在当前清洗过程中,分别获取基体元素与各个待清洗元素的特征谱线的强度比值;判断基体元素与碳元素的特征谱线强度对应的第一比值、基体元素与氢元素的特征谱线强度对应的第二比值,以及基体元素与氧元素的特征谱线强度对应的第三比值中至少两个比值是否大于或等于预设值的步骤,直至所述第一比值、第二比值和第三比值中至少两个比值大于或等于预设值为止。
一种激光清洗系统,包括:清洗能量监测装置和如权利要求7或权利要求8所述的激光清洗能量的确定装置,
其中,所述清洗能量监测装置包括:
特征谱线的强度比值获取模块,用于以所述目标激光清洗能量对待清洗材料进行清洗,以预设时间间隔获取基体元素与各个待清洗层元素的特征谱线的强度比值;
第二判断模块,用于判断是否存在至少一个基体元素与待清洗层元素的特征谱线的强度比值大于或等于预设值;若不存在,则以当前的清洗能量继续进行清洗。
在一个优选的实施方式中,所述清洗能量监测装置还包括调节模块,所述调节模块用于当存在至少一个基体元素与待清洗层元素的特征谱线的强度比值大于或等于预设值,扩大聚焦镜至待清洗样品的距离。
本发明的特点和优点是:本申请提供了一种能够在线自动调控激光清洗能量的激光清洗能量的确定方法,利用待清洗材料的待清洗层与基体材料的组成元素存在较大差异的原理,以初始清洗能量和预设清洗时间对待清洗材料进行打点清洗,通过打点清洗,选择清洗过程中待清洗层元素的特征谱线,根据所述获取的待清洗层元素的特征谱线的强度和失真度信息,选取所述待清洗层元素的特征谱线波长;根据所述待清洗层元素的特征波长,在所述初始清洗能量的基础上增加预定能量获得当前清洗能量进行打点清洗,其中,当前清洗位置不同于初始清洗位置;在当前清洗过程中,分别获取基体元素与各个待清洗元素的特征谱线的强度比值;判断基体元素与碳元素的特征谱线强度对应的第一比值、基体元素与氢元素的特征谱线强度对应的第二比值,以及基体元素与氧元素的特征谱线强度对应的第三比值中至少两个比值是否大于或等于预设值;若判断结果为是,则基于当前清洗能量确定目标激光清洗能量。上述利用基体元素与待清洗层中各个组成元素的强度比值的变化情况,合理可靠地判断出以当前清洗能量进行清洗时是否已经达到了基体材料,实现了快速地选择出合适的激光清洗能量,即确保了该方法可以有效的选择清除质量好及效率高的激光清洗能量。
本申请所提供的激光清洗方法,通过把元素的特征谱线强度进行比较可以实现自动调节激光清洗能量,以及在清洗过程中实时监控清洗是否损伤到基体。其中,本申请所述的方法通过至少两种不同待清洗层元素与基体元素的强度比值的变化,相对于现有技术中采用单一检测是否出现基体元素的特征谱线而言,能够排除外界环境和基体材料本身的干扰因素,可靠性更高,通过该方法能够较佳地确保激光能量不会损伤到基体材料,同时能保证加工的效率。此外,该方法可以适用于任意形状的待清洗工件,并且易于工程化,具有广泛的应用前景。
参照后文的说明和附图,详细公开了本申请的特定实施方式,指明了本申请的原理可以被采用的方式。应该理解,本申请的实施方式在范围上并不因而受到限制。在所附权利要求的精神和条款的范围内,本申请的实施方式包括许多改变、修改和等同。
针对一种实施方式描述和/或示出的特征可以以相同或类似的方式在一个或更多个其它实施方式中使用,与其它实施方式中的特征相组合,或替代其它实施方式中的特征。
应该强调,术语“包括/包含”在本文使用时指特征、整件、步骤或组件的存在,但并不排除一个或更多个其它特征、整件、步骤或组件的存在或附加。
附图说明
图1是本申请实施方式中一种激光清洗能量的确定方法的步骤流程图;
图2是本申请实施方式中一种激光清洗能量的确定方法的逻辑流程图;
图3是本申请实施方式中一种激光清洗能量的确定装置的模块示意图;
图4是本申请实施方式中一种激光清洗方法的步骤流程图;
图5是本申请实施方式中一种激光清洗方法的逻辑流程图;
图6是本申请实施方式中一种激光清洗装置的模块示意图;
图7在线调控激光清洗能量的装置示意图。
附图标记说明:
激光器1、光学系统2、聚焦镜3、待清洗样品4、位移调节器5、滤波镜6、光谱仪7、微型处理器8。
具体实施方式
下面将结合附图和具体实施方式,对本发明的技术方案作详细说明,应理解这些实施方式仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围,在阅读了本发明之后,本领域技术人员对本发明的各种等价形式的修改均落入本申请所附权利要求所限定的范围内。
下面结合附图对本申请所述的激光清洗能量的确定方法及装置、激光清洗方法及系统进行详细的说明。虽然本申请提供了如下述实施方式或附图所示的方法操作步骤或装置结构,但基于常规或者无需创造性的劳动在所述方法或装置中可以包括更多或者更少的操作步骤或模块结构。在逻辑性上不存在必要因果关系的步骤或结构中,这些步骤的执行顺序或装置的模块结构不限于本申请实施方式提供的执行顺序或模块结构。所述的方法或模块结构的在实际中的装置或终端产品执行时,可以按照实施方式或者附图所示的方法或模块结构连接进行顺序执行或者并行执行(例如并行处理器或者多线程处理的环境)。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的,不是旨在于限制本申请。
需要说明的是,当元件被称为“设置于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的,并不表示是唯一的实施方式。
一般的,待清洗材料的待清洗层与基体材料的组成元素不会完全相同。一般的基体材料通常为金属材料,其富含该金属元素本身;而待清洗层通常为锈迹、油漆、以及有机性附着物都富含碳(C)、氢(H)、氧(O)等元素。以金属铁(Fe)为例,基体元素中主要以Fe元素为主,而基体里C、H、O元素的含量极低。
利用上述特性,本发明提供一种激光清洗能量的确定方法及装置、激光清洗方法及系统,其针对表面组成成分多样的待清除物、能准确高效地自动选择合适的激光清洗能量,并且保证后续清洗过程中在激光能量因外界干扰发生突变时,能自动调整激光清洗能量,最终保证在不损失基体材料的前提下,高效清洗。
请参阅图1和图2,本申请实施方式中提供一种激光清洗能量的确定方法,该方法具体可以包括如下步骤:
步骤S10:以初始清洗能量和预设清洗时间对待清洗材料进行打点清洗,选择清洗过程中待清洗层元素的特征谱线,其中,所述特征谱线所包括的元素种类包括:碳元素、氢元素及氧元素;
步骤S11:根据获取的待清洗层元素的特征谱线的强度和失真度信息,选取所述待清洗层元素的特征谱线波长;
步骤S12:根据所述待清洗层元素的特征波长,在所述初始清洗能量的基础上增加预定能量获得当前清洗能量后进行打点清洗,其中,当前清洗位置不同于初始清洗位置;在当前清洗过程中,分别获取基体元素与各个待清洗元素的特征谱线的强度比值;
步骤S13:判断基体元素与碳元素的特征谱线强度对应的第一比值、基体元素与氢元素的特征谱线强度对应的第二比值,以及基体元素与氧元素的特征谱线强度对应的第三比值中至少两个比值是否大于或等于预设值;
步骤S14:若判断结果为是,则基于当前清洗能量确定目标激光清洗能量。
若判断结果为否,则重复所述步骤S12至步骤S13:即执行根据所述待清洗层元素的特征波长,在所述初始清洗能量的基础上增加预定能量获得当前清洗能量进行打点清洗,其中,当前清洗位置不同于初始清洗位置;在当前清洗过程中,分别获取基体元素与各个待清洗元素的特征谱线的强度比值;判断基体元素与碳元素的特征谱线强度对应的第一比值、基体元素与氢元素的特征谱线强度对应的第二比值,以及基体元素与氧元素的特征谱线强度对应的第三比值中至少两个比值是否大于或等于预设值的步骤,直至所述第一比值、第二比值和第三比值中至少两个比值大于或等于预设值为止。
在本实施方式中,所述初始清洗能量可以根据材料的不同而相应的调节,本申请在此并不作具体的限定。例如,当清理基体材料的主元素为铁表面的有机物时,该初始清洗能量可以为10瓦。
在本实施方式中,对于待清洗层而言,其包含的元素种类一般可以有碳元素、氢元素及氧元素,此外,还可能包含其他元素,例如硫元素、磷元素以及卤素元素等。
当用激光器照射待清洗层之后,可以采集等离子体跃迁时所辐射出的元素特征光谱,相应的,可以通过人工分析仪等方式获取每个元素的特征谱线波长。一般的,每个元素对应有多个特征谱线波长,此时可以根据特征谱线的强度和失真度信息合理选取。原则上选取强度较高且失真度较小的特征谱线。
在一个具体的实施方式中,所述碳元素的特征谱线的波长为247.9纳米,所述氢元素的特征谱线的波长为656.3纳米,所述氧元素的特征谱线的波长为844.6纳米。当然,待清洗层的元素的特征谱线波长并不限于上述举例,其可以根据实际情况作适应性改变,本申请在此并不作具体的限定。
在本实施方式中,试验过程中各个参数的选择根据不同的材料而定,例如当待清洗层中包含基体元素本身时,可以适当提高预设值。例如,一般预设值在2左右,但是当基体为铁,待清洗的表面附着物为锈迹时,则设置的a,b,c将会较高,需要达到10以上。
本申请实施方式中提供的一种能够在线自动调控激光清洗能量的激光清洗能量的确定方法,利用待清洗材料的待清洗层与基体材料的组成元素存在较大差异的原理,以初始清洗能量和预设清洗时间对待清洗材料进行打点清洗,通过打点清洗,选择清洗过程中待清洗层元素的特征谱线,根据所述获取的待清洗层元素的特征谱线的强度和失真度信息,选取所述待清洗层元素的特征谱线波长;根据所述待清洗层元素的特征波长,在所述初始清洗能量的基础上增加预定能量获得当前清洗能量进行打点清洗,其中,当前清洗位置不同于初始清洗位置;在当前清洗过程中,分别获取基体元素与各个待清洗元素的特征谱线的强度比值;判断基体元素与碳元素的特征谱线强度对应的第一比值、基体元素与氢元素的特征谱线强度对应的第二比值,以及基体元素与氧元素的特征谱线强度对应的第三比值中至少两个比值是否大于或等于预设值;若判断结果为是,则基于当前清洗能量确定目标激光清洗能量。上述利用基体元素与待清洗层中各个组成元素的强度比值的变化情况,合理可靠地判断出以当前清洗能量进行清洗时是否已经达到了基体材料,实现了快速地选择出合适的激光清洗能量,即确保了该方法可以有效的选择清除质量好及效率高的激光清洗能量。
请参阅图3,本申请实施方式中针对所述激光清洗能量的确定方法还提供一种激光清洗能量的确定装置A,该激光清洗能量的确定装置A可以包括:
特征谱线获取模块10,用于以初始清洗能量和预设清洗时间对待清洗材料进行打点清洗,选择清洗过程中待清洗层元素的特征谱线,其中,所述特征谱线所包括的元素种类包括:碳元素、氢元素及氧元素;
特征谱线波长选取模块11,用于根据所述获取的待清洗层元素的特征谱线的强度和失真度信息,选取所述待清洗层元素的特征谱线波长;
特征谱线强度比值获取模块12,用于根据所述待清洗层元素的特征波长,并在所述初始清洗能量的基础上增加预定能量获得当前清洗能量后进行打点清洗,其中,当前清洗位置不同于初始清洗位置;在当前清洗过程中,分别获取基体元素与各个待清洗元素的特征谱线的强度比值;
第一判断模块13,用于判断基体元素与碳元素的特征谱线强度对应的第一比值、基体元素与氢元素的特征谱线强度对应的第二比值,以及基体元素与氧元素的特征谱线强度对应的第三比值中至少两个比值是否大于或等于预设值;
目标激光清洗能量确定模块14,用于在判断结果为是时,则基于当前清洗能量确定目标激光清洗能量。
在本实施方式中,所述第一判断模块13还用于:在判断结果为否时,则重复所述:根据所述待清洗层元素的特征波长,并在所述初始清洗能量的基础上增加预定能量获得当前清洗能量后进行打点清洗,其中,当前清洗位置不同于初始清洗位置;在当前清洗过程中,分别获取基体元素与各个待清洗元素的特征谱线的强度比值;判断基体元素与碳元素的特征谱线强度对应的第一比值、基体元素与氢元素的特征谱线强度对应的第二比值,以及基体元素与氧元素的特征谱线强度对应的第三比值中至少两个比值是否大于或等于预设值的步骤,直至所述第一比值、第二比值和第三比值中至少两个比值大于或等于预设值为止。
上述实施方式公开的激光清洗能量的确定装置A与本申请激光清洗能量的确定方法实施方式相对应,可以实现本申请的激光清洗能量的确定方法实施方式并达到方法实施方式的技术效果,具体的本申请在此不再赘述。
请结合参阅图4和图5,本申请实施方式中提供一种激光清洗方法,该方法具体可以包括如下步骤:
步骤S10:以初始清洗能量和预设清洗时间对待清洗材料进行打点清洗,选择清洗过程中待清洗层元素的特征谱线,其中,所述特征谱线所包括的元素种类包括:碳元素、氢元素及氧元素;
步骤S11:根据获取的待清洗层元素的特征谱线的强度和失真度信息,选取所述待清洗层元素的特征谱线波长;
步骤S12:根据所述待清洗层元素的特征波长,在所述初始清洗能量的基础上增加预定能量获得当前清洗能量进行打点清洗,其中,当前清洗位置不同于初始清洗位置;在当前清洗过程中,分别获取基体元素与各个待清洗元素的特征谱线的强度比值;
步骤S13:判断基体元素与碳元素的特征谱线强度对应的第一比值、基体元素与氢元素的特征谱线强度对应的第二比值,以及基体元素与氧元素的特征谱线强度对应的第三比值中至少两个比值是否大于或等于预设值;
步骤S14:若判断结果为是,则基于当前清洗能量确定目标激光清洗能量;
步骤S15:以所述目标激光清洗能量对待清洗材料进行清洗,以预设时间间隔获取基体元素与各个待清洗层元素的特征谱线的强度比值;
步骤S16:判断是否存在至少一个基体元素与待清洗层元素的特征谱线的强度比值大于或等于预设值;若不存在,则以当前的清洗能量继续进行清洗。
在本实施方式中,所述方法还可以包括:当存在至少一个基体元素与待清洗层元素的特征谱线的强度比值大于或等于预设值,则扩大聚焦镜至待清洗样品的距离,继续清洗。
当存在至少一个基体元素与待清洗层元素的特征谱线的强度比值大于或等于预设值时,表示此时可能已经清洗到基体材料本身了,相应的,可以调节聚焦镜至待清洗样品的距离,例如可以保持待清洗样品不动,抬高聚焦镜,使其远离所述待清洗样品,从而保护基体材料。
在本实施方式中,后续在清洗过程中,可以重复上述以预设时间间隔获取基体元素与各个待清洗层元素的特征谱线的强度比值;判断是否存在至少一个基体元素与待清洗层元素的特征谱线的强度比值大于或等于预设值的步骤,维持所述基体元素与待清洗层元素的特征谱线的强度比值小于预设值。
整体上,本申请所提供的激光清洗方法,通过把元素的特征谱线强度进行比较可以实现自动调节激光清洗能量,以及在清洗过程中实时监控清洗是否损伤到基体。其中,本申请所述的方法通过至少两种不同待清洗层元素与基体元素的强度比值的变化,相对于现有技术中采用单一检测是否出现基体元素的特征谱线而言,能够排除外界环境和基体材料本身的干扰因素,可靠性更高,通过该方法能够较佳地确保激光能量不会损伤到基体材料,同时能保证加工的效率。此外,该方法可以适用于任意形状的待清洗工件,并且易于工程化,具有广泛的应用前景。
请参阅图6,本申请实施方式中针对所述激光清洗方法还提供了一种激光清洗系统,该系统可以包括:清洗能量监测装置B和上述实施方式中所述的激光清洗能量的确定装置A。其中,所述激光清洗能量的确定装置A请参照上述实施方式的具体描述,本申请在此不再赘述。所述清洗能量监测装置B可以包括:
特征谱线的强度比值获取模块15,用于以所述目标激光清洗能量对待清洗材料进行清洗,以预设时间间隔获取基体元素与各个待清洗层元素的特征谱线的强度比值;
第二判断模块16,用于判断是否存在至少一个基体元素与待清洗层元素的特征谱线的强度比值大于或等于预设值;若不存在,则以当前的清洗能量继续进行清洗。
在本实施方式中,所述清洗能量监测装置B还可以包括调节模块17,所述调节模块17用于当存在至少一个基体元素与待清洗层元素的特征谱线的强度比值大于或等于预设值,扩大聚焦镜至待清洗样品的距离,从而保证基体材料不被损伤。
上述实施方式公开的激光清洗系统与本申请激光清洗方法实施方式相对应,可以实现本申请的激光清洗方法实施方式并达到方法实施方式的技术效果,具体的本申请在此不再赘述。
在一个具体的实施方式中,采用1064nm的50W光纤激光器,脉冲重复频率为100KHz,来清洗金属基底表面的油漆。
初始清洗能量E0为10W,预定能量值ΔE为1W,预设清洗时间为t1=0.5s,预设值可以包括:a=2,b=2,c=2。
进行激光清洗时,可以利用如图7所示的在线调控激光清洗能量的装置进行清洗。具体的,该装置可以包括:激光器1、光学系统2、聚焦镜3、待清洗样品4、位移调节器5、滤波镜6、光谱仪7以及微型处理器8。所述激光器1、光学系统2、位移调节器5以及光谱仪7均由微型处理器8控制。其中,光学系统2中包含了扩束镜、光束整形装置、光纤耦合器以及振镜。
激光器1输出的脉冲激光通过光学系统2控制输出路径,并通过聚焦镜3聚集到待清洗样品4上进行表面附着物的去除。经过t1时间内的清洗过程中,微型处理器8发指令给光谱仪7,经过滤波镜6把激光的强干扰过滤后采集等离子体跃迁时所辐射出的元素特征光谱,采集时间为积分时间通常为5-10(微秒)μs。随后通过微型处理器8发指令给激光器1停止出光,并控制光学系统2把加工位置移至新区域。人工分析光谱仪7获取的特征谱线,选取其中强度较高且失真度较小的特征谱线并把其波长信息输入到判别式中,在选择四种元素的特征谱线时,一般选择Fe的特征谱线的波长为438.3nm,C的特征谱线的波长为247.9nm,H的特征谱线的波长为656.3nm,O的特征谱线的波长为844.6nm;同时设置试验参数值a,b,c的具体数值,例如可以均为2;在原有能量基础上增加单位能量ΔE,进行打点试验。通过光谱仪7获取特征谱线,并由微型处理器8自动处理设置的特征谱线,并得到三组元素特征谱线的强度比值,分别为其中,IFe表示基体元素铁的强度;IC表示待清洗层碳元素的强度;IH表示待清洗层氢元素的强度;IO表示氧元素的强度。
把上述得到的比值代入判别式中进行判断,若没有两个以上的判别式成立,则增加一个单位的能量ΔE,并通过微型处理器7控制光学系统2在新的位置进行打点清洗,并重复上述验证过程,直至有两个以上的判别式成立,迭代过程结束,同时输出此时的激光清洗能量,基于该输出的激光清洗能量,可以快速准确的获得激光清洗的能量阈值。在该场景下,可以得到最后输出的激光能量E=20W。一般的,激光清洗能量的阈值即目标清洗能量为在当前激光清洗能量的基础上减去一个单位的能量ΔE。也就是说,正式清洗的激光能量为20-1=19瓦。
后续正式进入激光清洗时,输入清洗能量值为E-ΔE,即19瓦,输入聚焦镜3距待清洗样品4表面的单位高度值为Δh,例如Δh=2mm,设置光谱仪7检测特征谱线信号的时间间隔t2,例如t2=3s。
激光器1发出脉冲束通过光学系统2调制后以线性的形式由焦距镜3聚集到待清洗样品4表面进行清洗。每隔t2时间,由微型处理器8控制光谱仪7采集一组元素的特征光谱,并提取每个元素的某一特征谱线的强度,带入判别式中进行判断,若没有判别式成立,则说明加工过程中没有对基体材料造成损伤,则继续清洗,且每隔t2时间再判断一次。若其中有一个判别式成立,则通过位移调节器5升高聚焦镜3Δh,并继续清洗,且每隔t2时间再判断一次。如此往复,直至清洗结束。在整个清洗过程中,由于待清洗样品4处于实时被监控的状态,可以确保清洗过程中不会因外部扰动而使得辐射到待清洗样品4表面的能量产生突变时,对基体材料造成损伤,同时也保证了清洗过程的在线检测,提高了激光清洗技术的效率。
本文引用的任何数字值都包括从下限值到上限值之间以一个单位递增的下值和上值的所有值,在任何下值和任何更高值之间存在至少两个单位的间隔即可。举例来说,如果阐述了一个部件的数量或过程变量(例如温度、压力、时间等)的值是从1到90,优选从20到80,更优选从30到70,则目的是为了说明该说明书中也明确地列举了诸如15到85、22到68、43到51、30到32等值。对于小于1的值,适当地认为一个单位是0.0001、0.001、0.01、0.1。这些仅仅是想要明确表达的示例,可以认为在最低值和最高值之间列举的数值的所有可能组合都是以类似方式在该说明书明确地阐述了的。
除非另有说明,所有范围都包括端点以及端点之间的所有数字。与范围一起使用的“大约”或“近似”适合于该范围的两个端点。因而,“大约20到30”旨在覆盖“大约20到大约30”,至少包括指明的端点。
披露的所有文章和参考资料,包括专利申请和出版物,出于各种目的通过援引结合于此。描述组合的术语“基本由…构成”应该包括所确定的元件、成分、部件或步骤以及实质上没有影响该组合的基本新颖特征的其他元件、成分、部件或步骤。使用术语“包含”或“包括”来描述这里的元件、成分、部件或步骤的组合也想到了基本由这些元件、成分、部件或步骤构成的实施方式。这里通过使用术语“可以”,旨在说明“可以”包括的所描述的任何属性都是可选的。
本说明书中的上述各个实施方式均采用递进的方式描述,各个实施方式之间相同相似部分相互参照即可,每个实施方式重点说明的都是与其他实施方式不同之处。
以上所述仅为本发明的几个实施方式,虽然本发明所揭露的实施方式如上,但所述内容只是为了便于理解本发明而采用的实施方式,并非用于限定本发明。任何本发明所属技术领域的技术人员,在不脱离本发明所揭露的精神和范围的前提下,可以在实施方式的形式上及细节上作任何的修改与变化,但本发明的专利保护范围,仍须以所附权利要求书所界定的范围为准。
Claims (10)
1.一种激光清洗能量的确定方法,其特征在于,包括:
以初始清洗能量和预设清洗时间对待清洗材料进行打点清洗,选择清洗过程中待清洗层元素的特征谱线,其中,所述特征谱线所包括的元素种类包括:碳元素、氢元素及氧元素;
根据获取的待清洗层元素的特征谱线的强度和失真度信息,选取所述待清洗层元素的特征谱线波长;
根据所述待清洗层元素的特征波长,并在所述初始清洗能量的基础上增加预定能量获得当前清洗能量后进行打点清洗,其中,当前清洗位置不同于初始清洗位置;在当前清洗过程中,分别获取基体元素与各个待清洗元素的特征谱线的强度比值;
判断基体元素与碳元素的特征谱线强度对应的第一比值、基体元素与氢元素的特征谱线强度对应的第二比值,以及基体元素与氧元素的特征谱线强度对应的第三比值中至少两个比值是否大于或等于预设值;
若判断结果为是,则基于当前清洗能量确定目标激光清洗能量。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
若判断结果为否,则重复所述:根据所述待清洗层元素的特征波长,并在所述初始清洗能量的基础上增加预定能量获得当前清洗能量后进行打点清洗,其中,当前清洗位置不同于初始清洗位置;在当前清洗过程中,分别获取基体元素与各个待清洗元素的特征谱线的强度比值;判断基体元素与碳元素的特征谱线强度对应的第一比值、基体元素与氢元素的特征谱线强度对应的第二比值,以及基体元素与氧元素的特征谱线强度对应的第三比值中至少两个比值是否大于或等于预设值的步骤,直至所述第一比值、第二比值和第三比值中至少两个比值大于或等于预设值为止。
3.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述碳元素的特征谱线的波长为247.9纳米,所述氢元素的特征谱线的波长为656.3纳米,所述氧元素的特征谱线的波长为844.6纳米;所述初始清洗能量为10瓦,所述预定能量为1瓦;所述预设清洗时间为0.5秒。
4.一种激光清洗方法,其特征在于,包括:
以初始清洗能量和预设清洗时间对待清洗材料进行打点清洗,选择清洗过程中待清洗层元素的特征谱线,其中,所述特征谱线所包括的元素种类包括:碳元素、氢元素及氧元素;
根据获取的待清洗层元素的特征谱线的强度和失真度信息,选取所述待清洗层元素的特征谱线波长;
根据所述待清洗层元素的特征波长,在所述初始清洗能量的基础上增加预定能量获得当前清洗能量进行打点清洗,其中,当前清洗位置不同于初始清洗位置;
在当前清洗过程中,分别获取基体元素与各个待清洗元素的特征谱线的强度比值;
判断基体元素与碳元素的特征谱线强度对应的第一比值、基体元素与氢元素的特征谱线强度对应的第二比值,以及基体元素与氧元素的特征谱线强度对应的第三比值中至少两个比值是否大于或等于预设值;
若判断结果为是,则基于当前清洗能量确定目标激光清洗能量;
以所述目标激光清洗能量对待清洗材料进行清洗,以预设时间间隔获取基体元素与各个待清洗层元素的特征谱线的强度比值;
判断是否存在至少一个基体元素与待清洗层元素的特征谱线的强度比值大于或等于预设值;若不存在,则以当前的清洗能量继续进行清洗。
5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
当存在至少一个基体元素与待清洗层元素的特征谱线的强度比值大于或等于预设值,则扩大聚焦镜至待清洗样品的距离,继续清洗。
6.如权利要求5所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
在清洗过程中,重复上述以预设时间间隔获取基体元素与各个待清洗层元素的特征谱线的强度比值;判断是否存在至少一个基体元素与待清洗层元素的特征谱线的强度比值大于或等于预设值的步骤,维持所述基体元素与待清洗层元素的特征谱线的强度比值小于预设值。
7.一种激光清洗能量的确定装置,其特征在于,包括:
特征谱线获取模块,用于以初始清洗能量和预设清洗时间对待清洗材料进行打点清洗,选择清洗过程中待清洗层元素的特征谱线,其中,所述特征谱线所包括的元素种类包括:碳元素、氢元素及氧元素;
特征谱线波长选取模块,用于根据所述获取的待清洗层元素的特征谱线的强度和失真度信息,选取所述待清洗层元素的特征谱线波长;
特征谱线强度比值获取模块,用于根据所述待清洗层元素的特征波长,并在所述初始清洗能量的基础上增加预定能量获得当前清洗能量后进行打点清洗,其中,当前清洗位置不同于初始清洗位置;在当前清洗过程中,分别获取基体元素与各个待清洗元素的特征谱线的强度比值;
第一判断模块,用于判断基体元素与碳元素的特征谱线强度对应的第一比值、基体元素与氢元素的特征谱线强度对应的第二比值,以及基体元素与氧元素的特征谱线强度对应的第三比值中至少两个比值是否大于或等于预设值;
目标激光清洗能量确定模块,用于在判断结果为是时,则基于当前清洗能量确定目标激光清洗能量。
8.如权利要求7所述的装置,其特征在于,所述第一判断模块还用于:
若判断结果为否,则重复所述:根据所述待清洗层元素的特征波长,并在所述初始清洗能量的基础上增加预定能量获得当前清洗能量后进行打点清洗,其中,当前清洗位置不同于初始清洗位置;在当前清洗过程中,分别获取基体元素与各个待清洗元素的特征谱线的强度比值;判断基体元素与碳元素的特征谱线强度对应的第一比值、基体元素与氢元素的特征谱线强度对应的第二比值,以及基体元素与氧元素的特征谱线强度对应的第三比值中至少两个比值是否大于或等于预设值的步骤,直至所述第一比值、第二比值和第三比值中至少两个比值大于或等于预设值为止。
9.一种激光清洗系统,其特征在于,包括:清洗能量监测装置和如权利要求7或权利要求8所述的激光清洗能量的确定装置,
其中,所述清洗能量监测装置包括:
特征谱线的强度比值获取模块,用于以所述目标激光清洗能量对待清洗材料进行清洗,以预设时间间隔获取基体元素与各个待清洗层元素的特征谱线的强度比值;
第二判断模块,用于判断是否存在至少一个基体元素与待清洗层元素的特征谱线的强度比值大于或等于预设值;若不存在,则以当前的清洗能量继续进行清洗。
10.如权利要求9所述的系统,其特征在于,所述清洗能量监测装置还包括调节模块,所述调节模块用于当存在至少一个基体元素与待清洗层元素的特征谱线的强度比值大于或等于预设值,扩大聚焦镜至待清洗样品的距离。
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