CN107102216A - 辐射抗扰度多信号源测量系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种辐射抗扰度多信号源测量系统及方法。其中，该系统包括：信号发生器，用于提供输入信号，其中，信号发生器包括：至少两个信号源；信号处理装置，与信号发生器连接，用于对输入信号进行处理；天线，与信号处理装置连接，用于发射处理后的输入信号；信号检测仪器，分别与待测设备、信号发生器和信号处理装置连接，用于校准输入信号和待测设备的辐射抗扰度与场均匀性；外接设备，分别与信号检测仪器和信号发生器连接，用于获取信号检测仪器的检测参数，以及设置信号发生器的输入信号的信号参数。本发明解决了由于现有技术中在对待测设备需花费长时间的测试，导致的测试效率低的技术问题。

Description

辐射抗扰度多信号源测量系统及方法

技术领域

本发明涉及信号检测技术应用领域，具体而言，涉及一种辐射抗扰度多信号源测量系统及方法。

背景技术

随着科学技术的日益发展，越来越多的带有电磁辐射的设备进入了人们的生活和科技生产的各个领域，可以说人们所处环境的任何地方都存在着人为的电磁辐射。在满足人们重要需求的同时，也使人们担心“电磁污染”对人体健康的损害以及不同电磁波之间的互相干扰。因此辐射抗扰度测试越来越受到重视。

其中，传统抗扰度测试方法具体如下：

1.测试场地：

电波暗室，具有合适尺寸，能维持对待测设备(Equipment Under Test，简称EUT)来说具有足够空间的均匀场域，一般为全电波暗室或地面上铺吸波材料的半电波暗室。

2.测试仪器：

信号发生器——能够覆盖标准要求频带，并以1kHz的正弦波进行调幅，调幅深度为80％。

功率放大器——放大信号(调制和未调制的)及提供天线输出所需的场强点评、放大器产生的谐波和失真点评应比载波电平低至少15dB。

发射天线——能够满足频率特性要求的双锥形、对数周期或其他线性极化天线系统。

场强仪——记录场强值的辅助设备，用于场均匀性校准。

功率计——记录功率电平的辅助设备。

3.测试要求：

⑴场均匀性校准

场均匀性校准目的是为确保待测设备周围的场充分均匀，以保证实验结果的有效性。过程参照GB17626.3文件中6.2部分——场的校准规定。

就是对EUT所处的一个1.5m×1.5m的一个正方形区域内的16个点的场强进行校准，即所谓的均匀域校准。如图1所示，均匀域底部与接地平板之间的距离为0.8m，这个距离正好是试验桌的高度，所以均匀域实际上就是试验桌桌面靠发射天线一侧的边沿上方1.5m×1.5m的区域。

在进行均匀域校准时，发射天线测量点到均匀域之间的距离与RS测试时的距离相同，即3m。另外，天线的顶点应该正对着均匀域的中心点，该中心点与均匀域上下边线及左右边线的距离均为0.75m。由此可推知，天线的高度为1.55m(0.75m+0.8m)。

将场强探头(有专门的支架支撑)依次放置在第1个至第16个校准点上，分别进行校准。在每个校准点，从低频点至高频点，按照标准中规定的频率步长完成所有频点的校准。均匀域校准有两种方法：恒定场强法和恒定功率法。

⑵测试

应用场均匀性校准的数据来产生试验场，将EUT置于使其某个面与校准的平面相重合的位置。用1kHz的正弦波对信号进行80％的幅度调制后，在预定的频率范围内进行扫描实验。每一个频率点上，幅度调制载波的扫描频率驻留时间应不短于EUT动作及相应所需的时间，且不得短于0.5s。对敏感频点则应个别考虑。

执行步骤如下：

a.将信号发生器输出的频率调至试验频率范围的下限(例如80MHz)。

b.通过校准数据计算出该频率对应达到标准场强的信号幅度，再经1kHz调制频率，80％的调制深度进行调幅设置，输出信号。等待响应时间，人工判断EUT是否合格，如不合格，记录当前频点至不合格点列表。

c.以当前频率的1％为最大增量来增加频率。

d.重复b和c，至下一频率超过实验频率范围的上限，最后在上限频率重复步骤b。

但是按照传统的测试方法，在不考虑人工干预和设备切换的前提下，完成辐射抗扰度的测试时间将超过7个小时。如何在遵照标准的前提下，快速完成越来越繁重的任务和减少冗长的测试时间，已成为测试人员最关心的问题。

按照现有技术中在测试频段80MHz-2GHz范围内，以1％的对数步进来进行测试，每个EUT要完成4个测试面测试，且每个面要针对发射天线的水平、垂直两个极化方式分别进行测试，几乎需要耗费几个小时甚至几天的时间。那么如何提高测试效率，就是现有技术中急需解决的关键问题。

针对上述由于现有技术中在对待测设备需花费长时间的测试，导致的测试效率低的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种辐射抗扰度多信号源测量系统及方法，以至少解决由于现有技术中在对待测设备需花费长时间的测试，导致的测试效率低的技术问题。

根据本发明实施例的一方面，还提供了一种辐射抗扰度多信号源测量系统，包括：天线、待测设备、信号发生器、信号处理装置、信号检测仪器和外接设备，其中，信号发生器，用于提供输入信号，其中，信号发生器包括：至少两个信号源；至少两个信号源，用于产生调频、调幅、调相或脉冲调制的调制信号；信号处理装置，与信号发生器连接，用于对输入信号进行处理；天线，与信号处理装置连接，用于发射处理后的输入信号；信号检测仪器，分别与待测设备、信号发生器和信号处理装置连接，用于校准输入信号和待测设备的辐射抗扰度与场均匀性；外接设备，分别与信号检测仪器和信号发生器连接，用于获取信号检测仪器的检测参数，以及设置信号发生器的输入信号的信号参数。

可选的，至少两个信号源，分别与信号处理装置、信号检测仪器和外接设备连接，用于依据外接设备的设置同时输出输入信号，或，依据外接设备的设置依据控制指令输出一个信号源的输入信号。

可选的，信号处理装置包括：合路器、功率放大器和耦合器，其中，合路器，与信号发生器连接，用于将输入的多频段的信号组合到在一起输出路到同一套系统；功率放大器，与合路器连接，用于放大输入信号；耦合器，与功率放大器连接，用于将输入信号进行隔离、分离和混合。

可选的，信号检测仪器包括：场强仪和功率计，其中，功率计，用于记录功率电平；场强仪，用于校准与测试中的场均匀性。

根据本发明实施例的另一个方面，提供了一种辐射抗扰度多信号源测量方法，包括：开启至少两个信号源；在预设时间内检测待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准；在检测结果为待测设备的辐射抗扰度处于异常的情况下，关闭至少一个信号源，保留一个信号源，并依据保留的信号源检测待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准，并记录待测设备的运行状态。

可选的，在预设时间内检测待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准包括：在预设时间内，判断至少两个信号源的输出信号为升序测量信号时的频率是否大于终止频率；在判断结果为频率小于终止频率的情况下，调制至少两个信号源的输出信号，判断待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准；在判断结果为频率大于终止频率的情况下，测量完成。

可选的，在预设时间内检测待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准包括：在预设时间内，判断至少两个信号源的输出信号为降序测量信号时的频率是否小于起始频率；在判断结果为频率大于起始频率的情况下，调制至少两个信号源的输出信号，判断待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准；在判断结果为频率小于起始频率的情况下，测量完成。

可选的，关闭至少一个信号源，保留一个信号源，并依据保留的信号源检测待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准包括：关闭至少一个信号源，保留一个信号源，并通过保留的信号源依据预设信号频率检测待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准。

进一步地，可选的，记录待测设备的运行状态包括：在待测设备异常的情况下，将待测设备的运行状态录入预设记录表；调整预设信号频率，并通过开启至少两个信号源，在预设时间内检测待测设备是否正常。

可选的，在预设时间内检测待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准之后，该方法还包括：在检测结果为待测设备正常的情况下，调整预设信号频率，并通过开启至少两个信号源，在预设时间内检测待测设备是否正常。

可选的，该方法还包括：在对待测设备进行检测的过程中，更改测量方案，其中，更改测量方案包括：更改频率点，更改升序、降序测量、更改单频点测量、更改双频点测量和驻留时间中的至少一种。

在本发明实施例中，通过开启至少两个信号源；在预设时间内检测待测设备是否正常；在检测结果为待测设备异常的情况下，关闭至少一个信号源，保留一个信号源，并依据保留的信号源检测待测设备是否正常，并记录待测设备的运行状态，达到了缩减待测设备的检测时间的目的，从而实现了提升测试效率的技术效果，进而解决了由于现有技术中在对待测设备需花费长时间的测试，导致的测试效率低的技术问题。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是根据本发明实施例的辐射抗扰度多信号源测量系统的结构示意图；

图2是根据本发明实施例的一种辐射抗扰度多信号源测量系统的结构示意图；

图3是根据本发明实施例的一种辐射抗扰度多信号源测量系统中对信号源1进行校准的示意图；

图4是根据本发明实施例的一种辐射抗扰度多信号源测量系统中对信号源2进行校准的示意图；

图5是根据本发明实施例的辐射抗扰度多信号源测量方法的流程示意图；

图6是根据本发明实施例的一种辐射抗扰度多信号源测量方法的流程示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

实施例1

图1是根据本发明实施例的辐射抗扰度多信号源测量系统的结构示意图，如图1所示，该系统包括：天线11、待测设备12、信号发生器13、信号处理装置14、信号检测仪器15和外接设备16，其中，

信号发生器13，用于提供输入信号；信号处理装置14，与信号发生器13连接，用于对输入信号进行调制，其中，信号发生器包括：至少两个信号源；至少两个信号源，用于产生调频、调幅、调相或脉冲调制的调制信号；信号处理装置14，与信号发生器13连接，用于对输入信号进行处理；天线11，与信号处理装置14连接，用于发射处理后的输入信号；信号检测仪器15，分别与待测设备12、信号发生器13和信号处理装置14连接，用于校准输入信号和待测设备12的辐射抗扰度与场均匀性；外接设备16，分别与信号检测仪器15和信号发生器13连接，用于获取信号检测仪器15的检测参数，以及设置信号发生器13的输入信号的信号参数。

在本发明实施例中，通过天线、待测设备、信号发生器、信号处理装置、信号检测仪器和外接设备，其中，信号发生器，用于提供输入信号，其中，信号发生器包括：至少两个信号源；至少两个信号源，用于产生调频、调幅、调相或脉冲调制的调制信号；信号处理装置，与信号发生器连接，用于对输入信号进行处理；天线，与信号处理装置连接，用于发射处理后的输入信号；信号检测仪器，分别与待测设备、信号发生器和信号处理装置连接，用于校准输入信号和待测设备的辐射抗扰度与场均匀性；外接设备，分别与信号检测仪器和信号发生器连接，用于获取信号检测仪器的检测参数，以及设置信号发生器的输入信号的信号参数，达到了缩减待测设备的检测时间的目的，从而实现了提升测试效率的技术效果，进而解决了由于现有技术中在对待测设备需花费长时间的测试，导致的测试效率低的技术问题。

具体的，图2是根据本发明实施例的一种辐射抗扰度多信号源测量系统的结构示意图，如图2所示，本实施例提供的辐射抗扰度多信号源测量系统具体如下：

可选的，至少两个信号源131，分别与信号处理装置14、信号检测仪器15和外接设备连接16，用于依据外接设备16的设置同时输出输入信号，或，依据外接设备16的设置依据控制指令输出一个信号源的输入信号。

可选的，信号处理装置14包括：合路器141、功率放大器142和耦合器143，其中，合路器141，与信号发生器13连接，用于将输入的多频段的信号组合到在一起输出路到同一套系统；功率放大器142，与合路器141连接，用于放大输入信号；耦合器143，与功率放大器142连接，用于将输入信号进行隔离、分离和混合。

可选的，信号检测仪器15包括：场强仪151和功率计152，其中，功率计151，用于记录功率电平；场强仪152，用于校准与测试中的场均匀性。

具体的，如图2所示，信号发生器13：能够覆盖标准要求频带，并以1kHz的正弦波进行调幅，调幅深度为80％。提供信号输入；

合路器141：将将输入的多频段的信号组合到在一起输出路到同一套系统中；

耦合器143：通用的微波/毫米波部件，可用于信号的隔离、分离和混合，如功率的监测、源输出功率稳幅、信号源隔离、传输和反射的扫频测试等。在本系统中主要进行功率正向和反向的分离与监测；

功率放大器142：放大信号(调制和未调制的)及提供天线输出所需的场强点评、放大器产生的谐波和失真点评应比载波电平低至少15dB；

天线11：能够满足频率特性要求的双锥形、对数周期或其他线性极化天线系统；

功率计151：记录功率电平的辅助设备；

场强仪152：用于校准与测试中的场强测量。

其中，测试方法如下：

校准：分别对信号源1和信号源2两个链路进行校准(如图3，图4所示，其中，图3是根据本发明实施例的一种辐射抗扰度多信号源测量系统中对信号源1进行校准的示意图；图4是根据本发明实施例的一种辐射抗扰度多信号源测量系统中对信号源2进行校准的示意图)。

实施例2

根据本发明实施例，提供了一种辐射抗扰度多信号源测量方法实施例，需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

图5是根据本发明实施例的辐射抗扰度多信号源测量方法的流程示意图，如图5所示，该方法包括如下步骤：

步骤S502，开启至少两个信号源；

步骤S504，在预设时间内检测待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准；

步骤S506，在检测结果为待测设备的辐射抗扰度处于异常的情况下，关闭至少一个信号源，保留一个信号源，并依据保留的信号源检测待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准，并记录待测设备的运行状态。

在本发明实施例中，通过开启至少两个信号源；在预设时间内检测待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准；在检测结果为待测设备的辐射抗扰度处于异常的情况下，关闭至少一个信号源，保留一个信号源，并依据保留的信号源检测待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准，并记录待测设备的运行状态，达到了缩减待测设备的检测时间的目的，从而实现了提升测试效率的技术效果，进而解决了由于现有技术中在对待测设备需花费长时间的测试，导致的测试效率低的技术问题。

可选的，步骤S504中在预设时间内检测待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准包括：

Step1，在预设时间内，判断至少两个信号源的输出信号为升序测量信号时的频率是否大于终止频率；

Step2，在判断结果为频率小于终止频率的情况下，调制至少两个信号源的输出信号，判断待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准；

Step3，在判断结果为频率大于终止频率的情况下，测量完成。

可选的，步骤S504中在预设时间内检测待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准包括：

Step1，在预设时间内，判断至少两个信号源的输出信号为降序测量信号时的频率是否小于起始频率；

Step2，在判断结果为频率大于起始频率的情况下，调制至少两个信号源的输出信号，判断待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准；

Step3，在判断结果为频率小于起始频率的情况下，测量完成。

可选的，步骤S506中关闭至少一个信号源，保留一个信号源，并依据保留的信号源检测待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准包括：

Step1，关闭至少一个信号源，保留一个信号源，并通过保留的信号源依据预设信号频率检测待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准。

进一步地，可选的，步骤S506中记录待测设备的运行状态包括：

Step1，在待测设备异常的情况下，将待测设备的运行状态录入预设记录表；

Step2，调整预设信号频率，并通过开启至少两个信号源，在预设时间内检测待测设备是否正常。

可选的，在步骤S504中在预设时间内检测待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准之后，本实施例提供的辐射抗扰度多信号源测量方法还包括：

步骤S505，在检测结果为待测设备正常的情况下，调整预设信号频率，并通过开启至少两个信号源，在预设时间内检测待测设备是否正常。

可选的，本申请实施例提供的辐射抗扰度多信号源测量方法还包括：

步骤S507，在对待测设备进行检测的过程中，更改测量方案，其中，更改测量方案包括：更改频率点，更改升序、降序测量、更改单频点测量、更改双频点测量和驻留时间中的至少一种。

综上，如图6所示，图6是根据本发明实施例的一种辐射抗扰度多信号源测量方法的流程示意图。本申请实施例提供的辐射抗扰度多信号源测量方法具体如下：

从起始频率开始，每个设定的待测设备EUT响应时间内，同时施加两个不同频率的信号，信号源1和信号源2(信号源1记为F1，信号源2记为F2)进行测试，观察EUT的反应。如反应正常，则继续进行测试；如果反应异常、不符合规定，则软件自动调整到单频点模式，关闭信号源2的信号输出，对F1频点进行测试，判断和记录EUT是否合格，同样对F2进行单频点测试。

即，信号源1和信号源2可以为本实施例中的至少两个信号源，当两个信号源同时开启时，观察待测设备是否正常，如果该待测设备异常，则关闭任意一个信号源，记录该待测设备的运行状态。同样，在关闭信号源2，开启信号源1时操作方式相同。

以关闭信号源1为例，在关闭信号源1之后，开启信号源2，检测此时待测设备是否异常，若该设备仍旧异常，将该待测设备的运行状态记录至预设记录表。

具体的，如图2所示，在检测过程中：

Step1,设定信号起始频率；

Step2,判定是否升序测量信号起始频率大于终止频率；或，降序测量信号起始频率是否小于起始频率；

Step3，在判断结果为是的情况下，测量完成；

Step4，在判断结果为否的情况下，调制信号源1和信号源2的信号；

Step5，判断待测设备是否正常；

Step6，在判断结果为是的情况下，调节信号的升序或降序，重新执行Step1；

Step7，在判断结果为否的情况下，关闭信号源2，信号源1输出信号，并重新检测待测设备的运行状态；

Step8，如果待测设备依旧不正常，将该待测设备的运行状态计入表格，并执行Step6。

其中，需要说明的是，在检测过程中，可以更改测量方案，其中，更改测量方案可以包括：更改频率点，更改升序、降序测量、更改单频点测量、更改双频点测量和驻留时间中的至少一种。

这里本实施例提供的辐射抗扰度多信号源测量方法可以适用于辐射抗扰度测试(以下简称RS测试)，该RS测试是电磁兼容领域的一个测试项目，是指按照国际、国家的标准规定，来评估电子、电气设备或系统的抗射频辐射电磁场干扰的能力。本实施例提供的辐射抗扰度多信号源测量方法可以提高传统辐射抗扰度测试的测试效率。

随着科学技术的日益发展，越来越多的带有电磁辐射的设备进入了人们的生活和科技生产的各个领域，可以说我们所处环境的任何地方都存在着人为的电磁辐射。在满足人们重要需求的同时，也使人们担心“电磁污染”对人体健康的损害以及不同电磁波之间的互相干扰。因此辐射抗扰度测试越来越受到重视。

而在传统RS抗扰度测试系统中，根据ISO16000-4-3,在测试频段范围内，人们控制信号源逐个频点以1％的对数步进来进行测试，需要耗费几个小时甚至几天的时间进行抗扰度测试。那么如何提高测试效率，就是当今辐射抗扰度测试面临的主要问题。

本实施例提供的辐射抗扰度多信号源测量方法目的是为了提高测试效率。采用多信号源同时发射多个频率信号的测试方法达到节约测试时间的目的。关键点和需要保护的地方是整体的测试系统，包括测试流程和为测试系统配置的系统结构。

多信号源多频测试的方法为抗扰度测试效率的提高提供了一个合理的解决方案，通过在系统中增加信号源，让多个信号源同时发射信号，根据合成信号的强度判断试验设备的抗干扰能力。系统的整体流程清晰，在传统测试方案中增加的配置操作也比较简单。可以让测试人员在不增加工作量的基础上，高效地完成测试任务。

多频抗扰度测试技术是一项提高辐射抗扰度测试效率的有效测试方案，能够解决因测试完整性提高而带来的测试时间过长的问题。主要优点：多频点抗扰度测试技术在保证测试的严谨性同时，可大大提高测试效率。

实施例3

本发明实施例提供一种辐射抗扰度多信号源测量装置，该辐射抗扰度多信号源测量装置，包括：信号开启模块、检测模块和调节模块。

其中，信号开启模块，用于开启至少两个信号源；检测模块，用于在预设时间内检测待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准；调节模块，用于在检测结果为所述待测设备的辐射抗扰度处于异常的情况下，关闭至少一个信号源，保留一个信号源，并依据保留的所述信号源检测所述待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准，并记录所述待测设备的运行状态。

在本发明实施例中，通过开启至少两个信号源；在预设时间内检测待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准；在检测结果为待测设备的辐射抗扰度处于异常的情况下，关闭至少一个信号源，保留一个信号源，并依据保留的信号源检测待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准，并记录待测设备的运行状态，达到了缩减待测设备的检测时间的目的，从而实现了提升测试效率的技术效果，进而解决了由于现有技术中在对待测设备需花费长时间的测试，导致的测试效率低的技术问题。

实施例4

根据本发明实施例的再一方面，还提供了一种存储介质，存储介质包括存储的程序，其中，在程序运行时控制存储介质所在设备执行上述实施例2中的辐射抗扰度多信号源测量方法。

实施例5

根据本发明实施例的再一方面，还提供了一种处理器，处理器用于运行程序，其中，程序运行时执行上述实施例2中的辐射抗扰度多信号源测量方法。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

在本发明的上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的技术内容，可通过其它的方式实现。其中，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如所述单元的划分，可以为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，单元或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (11)

1.一种辐射抗扰度多信号源测量系统，其特征在于，包括：天线、待测设备、信号发生器、信号处理装置、信号检测仪器和外接设备，其中，

所述信号发生器，用于提供输入信号，其中，所述信号发生器包括：至少两个信号源；所述至少两个信号源，用于产生调频、调幅、调相或脉冲调制的调制信号；

所述信号处理装置，与所述信号发生器连接，用于对所述输入信号进行处理；

所述天线，与所述信号处理装置连接，用于发射处理后的所述输入信号；

所述信号检测仪器，分别与所述待测设备、所述信号发生器和所述信号处理装置连接，用于校准所述输入信号和所述待测设备的辐射抗扰度与场均匀性；

所述外接设备，分别与所述信号检测仪器和所述信号发生器连接，用于获取所述信号检测仪器的检测参数，以及设置所述信号发生器的所述输入信号的信号参数。

2.根据权利要求1所述的辐射抗扰度多信号源测量系统，其特征在于，

所述至少两个信号源，分别与所述信号处理装置、所述信号检测仪器和所述外接设备连接，用于依据所述外接设备的设置同时输出所述输入信号，或，依据所述外接设备的设置依据控制指令输出一个信号源的输入信号。

3.根据权利要求1所述的辐射抗扰度多信号源测量系统，其特征在于，所述信号处理装置包括：合路器、功率放大器和耦合器，其中，

所述合路器，与所述信号发生器连接，用于将输入的多频段的信号组合到在一起输出路到同一套系统；

所述功率放大器，与所述合路器连接，用于放大所述输入信号；

所述耦合器，与所述功率放大器连接，用于将所述输入信号进行隔离、分离和混合。

4.根据权利要求1所述的辐射抗扰度多信号源测量系统，其特征在于，所述信号检测仪器包括：场强仪和功率计，其中，

所述功率计，用于记录功率电平；

所述场强仪，用于校准与测试中的场均匀性。

5.一种辐射抗扰度多信号源测量方法，其特征在于，包括：

开启至少两个信号源；

在预设时间内检测待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准；

在检测结果为所述待测设备的辐射抗扰度处于异常的情况下，关闭至少一个信号源，保留一个信号源，并依据保留的所述信号源检测所述待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准，并记录所述待测设备的运行状态。

6.根据权利要求5所述的辐射抗扰度多信号源测量方法，其特征在于，所述在预设时间内检测待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准包括：

在所述预设时间内，判断所述至少两个信号源的输出信号为升序测量信号时的频率是否大于终止频率；

在判断结果为所述频率小于终止频率的情况下，调制所述至少两个信号源的所述输出信号，判断所述待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准；

在判断结果为所述频率大于终止频率的情况下，测量完成。

7.根据权利要求5所述的辐射抗扰度多信号源测量方法，其特征在于，所述在预设时间内检测待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准包括：

在所述预设时间内，判断所述至少两个信号源的输出信号为降序测量信号时的频率是否小于起始频率；

在判断结果为所述频率大于所述起始频率的情况下，调制所述至少两个信号源的所述输出信号，判断所述待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准；

在判断结果为所述频率小于所述起始频率的情况下，测量完成。

8.根据权利要求5所述的辐射抗扰度多信号源测量方法，其特征在于，所述关闭至少一个信号源，保留一个信号源，并依据保留的所述信号源检测所述待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准包括：

关闭所述至少一个信号源，保留一个信号源，并通过保留的所述信号源依据预设信号频率检测所述待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准。

9.根据权利要求8所述的辐射抗扰度多信号源测量方法，其特征在于，所述记录所述待测设备的运行状态包括：

在所述待测设备异常的情况下，将所述待测设备的运行状态录入预设记录表；

调整所述预设信号频率，并通过开启所述至少两个信号源，在预设时间内检测待测设备是否正常。

10.根据权利要求5所述的辐射抗扰度多信号源测量方法，其特征在于，在预设时间内检测待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准之后，所述方法还包括：

在检测结果为所述待测设备正常的情况下，调整预设信号频率，并通过开启所述至少两个信号源，在预设时间内检测待测设备是否正常。

11.根据权利要求5所述的辐射抗扰度多信号源测量方法，其特征在于，所述方法还包括：

在对所述待测设备进行检测的过程中，更改测量方案，其中，更改所述测量方案包括：更改频率点，更改升序、降序测量、更改单频点测量、更改双频点测量和驻留时间中的至少一种。