CN107045849A - 时序控制装置、方法及显示装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种时序控制装置、方法及显示装置，所述时序控制装置包括：时钟模块，用于生成时钟信号；接口模块，用于生成热插拔检测信号；计数模块，用于计算所述时钟信号的周期数，在所述周期数达到预设周期数时，持续输出低电平信号；延时整形模块，用于在接收到所述低电平信号的情况下，根据所述时钟信号对所述热插拔检测信号进行采样，并输出经过采样的所述热插拔检测信号。该时序控制装置可以对热插拔检测信号进行延时整形，以提高热插拔检测信号的抗干扰能力，使其处于正常的时序，防止显示器出现异常的黑屏现象。

Description

时序控制装置、方法及显示装置

技术领域

本发明实施例涉及信号控制技术，更具体地，涉及时序控制装置、方法及显示装置。

背景技术

热插拔检测(Hot Plug Detect，HPD)信号是从显示器输出送往计算机主机的一个检测信号。主机根据热插拔检测信号，对与显示器之间的连接状态做出响应。

现有技术中，当主机侧接受到高电平的热插拔检测信号时，默认与显示器相连接，主机向显示器传输图像数据。而目前显示系统中时序控制器TCON对于热插拔检测信号不做任何特殊处理，由于时序控制器 TCON的制程或者时序控制器TCON时序的原因，可能导致热插拔检测信号受到干扰，在时序控制器TCON还没有从电可擦除只读存储器 EEPROM中读取到完整的扫描模式数据时，已经变为高电平，主机侧在接收到高电平的热插拔检测信号后，默认与显示器已经连接，开始传送图像数据，然而此时时序控制器TCON还没读取到完整的扫描模式数据，无法正确控制显示器显示图像，从而导致黑屏现象。此外，热插拔检测信号的电压突然增大容易导致部分电器元件被击穿。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的至少一个目的在于对热插拔检测信号进行延时整形，以提高热插拔检测信号的抗干扰能力，使其处于正常的时序，防止显示器出现异常的黑屏现象。

根据本发明的第一方面，提供一种时序控制装置，包括：时钟模块，用于生成时钟信号；接口模块，用于生成热插拔检测信号；计数模块，用于计算所述时钟信号的周期数，在所述周期数达到预设周期数时，持续输出低电平信号；延时整形模块，用于在接收到所述低电平信号的情况下，根据所述时钟信号对所述热插拔检测信号进行采样，并输出经过采样的所述热插拔检测信号。

优选地，所述时序控制装置还包括：还包括：电路保护模块，用于在热插拔检测信号的电压大于预定值时使所述延时整形模块停止工作；所述电路保护模块包括比较器，所述比较器用于在所述热插拔检测信号的电压值大于参考信号的电压值的情况下，向所述时钟模块输出高电平信号；所述时钟模块在接收到来自所述比较器的高电平信号的情况下，停止输出所述时钟信号，进而所述延时整形模块停止工作。

优选地，所述计数模块包括：计数器，用于计算所述时钟信号的周期数，在所述周期数达到预设周期数时，输出高电平信号，所述计数器在接收到自身输出的所述高电平信号的情况下，进入自锁状态；反相器，用于将所述高电平信号的相位反转，生成所述低电平信号。

优选地，所述计数模块根据电可擦除只读存储器中存储的扫描模式数据确定所述预设周期数。

优选地，所述延时整形模块包括：边沿D触发器，设有第一输入端、第二输入端、第三输入端、第四输入端和输出端，所述第四输入端接地，与所述第四输入端对应的异步复位端置1，此时在所述第一输入端接收到所述低电平信号的情况下，所述边沿D触发器的异步置位端置1，所述边沿D触发器根据所述第二输入端接收的所述时钟信号对所述第三输入端接收的所述热插拔检测信号进行采样，并在所述输出端输出经过采样的所述热插拔检测信号。

根据本发明的第二方面，提供一种时序控制方法，包括：生成时钟信号；生成热插拔检测信号；计算所述时钟信号的周期数，在所述周期数达到预设周期数时，持续输出低电平信号；在接收到所述低电平信号的情况下，根据所述时钟信号对所述热插拔检测信号进行采样，并输出经过采样的所述热插拔检测信号。

优选地，在所述生成热插拔检测信号之后还包括：在所述热插拔检测信号的电压值大于参考信号的电压值的情况下，停止生成所述时钟信号。

优选地，所述计算所述时钟信号的周期数，在所述周期数达到预设周期数时，持续输出低电平信号包括：计算所述时钟信号的周期数，在所述周期数达到预设周期数时，停止计算所述时钟信号的周期数，并持续输出高电平信号；将所述高电平信号的相位反转，生成所述低电平信号。

优选地，在所述计算所述时钟信号的周期数，在所述周期数达到预设周期数时，持续输出低电平信号之前还包括：根据电可擦除只读存储器中存储的扫描模式数据确定所述预设周期数。

根据本发明的第三方面，提供一种显示装置，其特征在于，包括：根据本发明的第一方面提供的所述时序控制装置。

在本发明实施例中，延时整形模块对热插拔检测信号进行延时整形处理，保证其在时序控制器从电可擦除只读存储器中读取到完整的扫描模式数据之前不会变为高电平。延时整形模块根据时钟信号对热插拔检测信号进行采样并输出，可以提高热插拔检测信号的抗干扰能力。本发明实施例避免了现有技术中高热插拔检测信号异常导致的显示器黑屏现象，提高了时序控制器的信赖性和热插拔检测信号的抗干扰能力，同时通过设置电路保护模块防止热插拔检测信号的电压过大而导致电器元件被击穿。

此外，可以通过周期控制单元调整由振荡器产生的时钟信号的周期，便于测试时对热插拔检测信号进行调节，增加了时序控制器的灵活性。

附图说明

通过以下参照附图对本发明实施例的描述，本发明的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚。

图1示出根据本发明实施例的时序控制装置的示意性框图。

图2示出根据本发明实施例的计数模块的示意性框图。

图3示出根据本发明实施例的延时整形模块的示意性框图。

图4示出根据本发明实施例的时序控制装置的又一示意性框图。

图5示出根据本发明实施例的时序控制方法的流程图。

图6示出根据本发明实施例的显示装置的示意性框图。

具体实施方式

下面将结合附图，对本公开实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本公开一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本公开中的实施例，本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。

附图中的流程图、框图图示了本发明实施例的方法、系统、装置的可能的体系框架、功能和操作，流程图和框图上的方框可以代表一个模块、程序段或仅仅是一段代码，所述模块、程序段和代码都是用来实现规定逻辑功能的可执行指令。也应当注意，所述实现规定逻辑功能的可执行指令可以重新组合，从而生成新的模块和程序段。因此附图的方框以及方框顺序只是用来更好的图示实施例的过程和步骤，而不应以此作为对发明本身的限制。

本发明可以各种形式呈现，以下将描述其中一些示例。

图1示出根据本发明实施例的时序控制装置的示意性框图，时序控制装置100包括：时钟模块101、计数模块102、接口模块103和延时整形模块104。

时钟模块101用于生成时钟信号。

时钟模块101可以包括振荡器。时钟模块101可以具有两个输出端，其中一个输出端用于向计数模块102输出时钟信号，另一个输出端用于向延时整形模块104输出时钟信号。

计数模块102用于计算所述时钟信号的周期数，在所述周期数达到预设周期数时，持续输出低电平信号。

计数模块102可以根据电可擦除只读存储器中存储的扫描模式数据确定所述预设周期数。计数模块102可以包括计数器和反相器。例如，图2示出根据本发明实施例的计数模块的示意性框图，计数模块102包括计数器1021和反相器1022。计数器1021用于计算所述时钟信号的周期数，在所述周期数达到预设周期数时，输出作为进位输出的高电平信号，计数器1021可以设置有两个输入端，一个输入端接收时钟模块101 输出的时钟信号并按时钟信号周期进行计数，当所述周期数未达到预设周期数时，计数器1021维持低电平信号输出，反相器1022将计数器1021 输出的低电平信号的相位反转，输出高电平信号。当所述周期数达到预设周期数时，计数器1021输出高电平，另一个输入端接收自身输出的高电平信号，计数器1021在接收到自身输出的高电平信号的情况下，进入自锁状态，一旦计数器1021锁定，将不能继续工作，除非重新启动。计数器1021进入自锁状态后，可减小自身的功耗。反相器1022将计数器 1021输出的高电平信号的相位反转，输出低电平信号。

接口模块103用于生成热插拔检测信号。

延时整形模块104用于在接收到计数模块102输出的低电平信号的情况下，根据时钟模块101输出的时钟信号对热插拔检测信号进行采样，并输出经过采样的所述热插拔检测信号。

延时整形模块104可以是一个带异步置位端的边沿D触发器。例如，图3示出根据本发明实施例的延时整形模块的示意性框图，延时整形模块104是一个边沿D触发器，设有第一输入端1041、第二输入端1042、第三输入端1043、第四输入端1044和输出端1045，第四输入端1044 接地，与第四输入端1044对应的异步复位端R′_D置1，在所述第一输入端接收到计数模块102输出的低电平信号的情况下，所述边沿D触发器的异步置位端S′_D置1，延时整形模块104通过第二输入端1042接收时钟模块101输出的时钟信号，根据所述时钟信号对通过第三输入端1043 接收的热插拔检测信号进行采样，例如可以在时钟信号的上升沿或者下降沿对热插拔检测信号进行采样，并在输出端1045输出经过采样的热插拔检测信号。在时钟信号的上升沿或者下降沿对热插拔检测信号进行采样，可以保证输出端1045输出的采样后得到的热插拔检测信号的稳定性，提高热插拔检测信号的抗干扰性。在时钟模块101输出的时钟信号的周期数未达到预设周期的情况下，所述第一输入端会接收到计数模块102 输出的高电平信号，所述边沿D触发器的异步置位端S′_D置0。延时整形模块104在输出端1045输出低电平信号，此时即使延时整形模块104 通过第三输入端1043接收的热插拔检测信号有异常，输出端1045也不会输出有异常的热插拔检测信号。

图4示出根据本发明实施例的时序控制装置的又一示意性框图，时序控制装置100还可以包括电路保护模块，所述电路保护模块包括比较器105。以上结合图1至图3已对时钟模块101、计数器1021、反相器 1022、接口模块103和延时整形模块104进行了详细说明，在此不再赘述。

比较器105的第一输入端与接口模块103连接，接收接口模块103 输出的热插拔检测信号，比较器105的第二输入端接收参考信号。比较器105比较热插拔检测信号的电压值与参考信号的电压值，在热插拔检测信号的电压大于参考信号的电压的情况下，通过输出端向时钟模块101输出高电平的电路保护信号。时钟模块101接收到高电平的电路保护信号后不再输出脉冲信号，延时整形模块104在没有接收到时钟信号的情况下不再工作，从而防止热插拔检测信号的电压过大对延时整形模块104中的元器件造成损坏。

图5示出根据本发明实施例的时序控制方法的流程图。

在步骤S01中，生成时钟信号。

可以根据指令调整所述时钟信号的周期。

在步骤S02中，生成热插拔检测信号。

在步骤S03中，计算所述时钟信号的周期数，在所述周期数达到预设周期数时，持续输出低电平信号。

在一些实施例中，在步骤S03之前还可以根据电可擦除只读存储器中存储的扫描模式数据确定所述预设周期数。可以先计算所述时钟信号的周期数，在所述周期数达到预设周期数时，停止计算所述时钟信号的周期数，并持续输出高电平信号，然后再将所述高电平信号的相位反转，生成低电平信号持续输出。在所述周期数未达到预设周期的情况下，继续计算所述时钟信号的周期数，并持续输出低电平信号，然后再将所述低电平信号的相位反转，生成高电平信号持续输出。

在步骤S04中，在接收到所述低电平信号的情况下，根据所述时钟信号对所述热插拔检测信号进行采样，并输出经过采样的所述热插拔检测信号。

可以在时钟信号的上升沿或者下降沿对热插拔检测信号进行采样。本步骤可以利用一个带异步置位端的边沿D触发器来实现。如果在本步骤中接收到异常的高电平热插拔检测信号，不会输出有异常的高电平热插播信号，而输出低电平信号。

图6示出根据本发明实施例的显示装置的示意性框图，显示装置200 包括时序控制装置100、栅极驱动器201、源极驱动器202和薄膜晶体管阵列基板203。

以上结合图1已经对时序控制装置100进行了详细的描述，在此不再赘述，仅针对时序控制装置100与栅极驱动器201、源极驱动器202 和薄膜晶体管阵列基板203之间的交互进行说明。

时序控制装置100对热插拔检测信号进行延时整形，输出经过延时整形的热插拔检测信号给主机侧，主机侧向时序控制装置100发送图像数据，时序控制装置100根据所述图像数据向源极驱动器201和栅极驱动器202分别发送源极驱动数据和栅极驱动数据。

栅极驱动器201通过多个栅极线与薄膜晶体管阵列基板203连接，源极驱动器202通过多个源极线与薄膜晶体管阵列基板203连接，薄膜晶体管阵列基板203上设有多个连接至所述栅极线和源极线并具有漏电极的薄膜晶体管，薄膜晶体管的漏电极连接有像素电极，源极驱动器202 根据所述源极驱动数据对所述像素电极进行充电，使液晶分子改变排列，从而改变液晶的透光率，再经过滤光单元的滤光作用，使像素呈现不同的颜色。栅极驱动器201根据所述栅极驱动数据将栅极信号顺序地提供给多个栅极线，从而依次选通每条栅极线上连接于源极线的像素电极，以使源极驱动器202依次通过源极线向对应的像素电极充电。

在本发明实施例中，延时整形模块对热插拔检测信号进行延时整形处理，保证其在时序控制器从电可擦除只读存储器中读取到完整的扫描模式数据之前不会变为高电平。延时整形模块根据时钟信号对热插拔检测信号进行采样并输出，可以提高采样后得到的热插拔检测信号的稳定性和抗干扰能力。本发明实施例避免了现有技术中热插拔检测信号异常导致的显示器黑屏现象，提高了时序控制器的信赖性和热插拔检测信号的抗干扰能力。通过周期控制单元调整由振荡器产生的时钟信号的周期，便于测试时对热插拔检测信号进行调节，增加了时序控制器的灵活性。

此外，通过设置电路保护模块防止热插拔检测信号的电压过大而导致电器元件被击穿。

应当说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

专业人员应该还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本公开的范围。

结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。

依照本发明的实施例如上文所述，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。本发明的保护范围应当以本发明权利要求所界定的范围为准。

Claims (10)

1.一种时序控制装置，其特征在于，包括：

时钟模块，用于生成时钟信号；

接口模块，用于生成热插拔检测信号；

计数模块，用于计算所述时钟信号的周期数，在所述周期数达到预设周期数时，持续输出低电平信号；

延时整形模块，用于在接收到所述低电平信号的情况下，根据所述时钟信号对所述热插拔检测信号进行采样，并输出经过采样的所述热插拔检测信号。

2.根据权利要求1所述的时序控制装置，其特征在于，还包括：

电路保护模块，用于在热插拔检查信号的电压大于预定值时使所述延时整形模块停止工作；

包括比较器，所述比较器用于在所述热插拔检测信号的电压值大于参考信号的电压值的情况下，向所述时钟模块输出高电平信号；所述时钟模块在接收到来自所述比较器的高电平信号的情况下，停止输出所述时钟信号，而使所述延时整形模块停止工作。

3.根据权利要求1所述的时序控制装置，其特征在于，所述计数模块包括：

计数器，用于计算所述时钟信号的周期数，在所述周期数达到预设周期数时，输出高电平信号，所述计数器在接收到自身输出的所述高电平信号的情况下，进入自锁状态；

反相器，用于将所述高电平信号的相位反转，生成所述低电平信号。

4.根据权利要求1所述的时序控制装置，其特征在于，所述计数模块根据电可擦除只读存储器中存储的扫描模式数据确定所述预设周期数。

5.根据权利要求1所述的时序控制装置，其特征在于，所述延时整形模块包括：

边沿D触发器，设有第一输入端、第二输入端、第三输入端、第四输入端和输出端，所述第四输入端接地，与所述第四输入端对应的异步复位端置1，在所述第一输入端接收到所述低电平信号的情况下，所述边沿D触发器的异步置位端置1，此时所述边沿D触发器根据所述第二输入端接收的所述时钟信号对所述第三输入端接收的所述热插拔检测信号进行采样，并在所述输出端输出经过采样的所述热插拔检测信号。

6.一种时序控制方法，其特征在于，包括：

生成时钟信号；

生成热插拔检测信号；

计算所述时钟信号的周期数，在所述周期数达到预设周期数时，持续输出低电平信号；

在接收到所述低电平信号的情况下，根据所述时钟信号对所述热插拔检测信号进行采样，并输出经过采样的所述热插拔检测信号。

7.根据权利要求6所述的时序控制方法，其特征在于，在所述生成热插拔检测信号之后还包括：

在所述热插拔检测信号的电压值大于参考信号的电压值的情况下，停止生成所述时钟信号。

8.根据权利要求6所述的时序控制方法，其特征在于，所述计算所述时钟信号的周期数，在所述周期数达到预设周期数时，持续输出低电平信号包括：

计算所述时钟信号的周期数，在所述周期数达到预设周期数时，停止计算所述时钟信号的周期数，并持续输出高电平信号；

将所述高电平信号的相位反转，生成所述低电平信号。

9.根据权利要求6所述的时序控制方法，其特征在于，在所述计算所述时钟信号的周期数，在所述周期数达到预设周期数时，持续输出低电平信号之前还包括：

根据电可擦除只读存储器中存储的扫描模式数据确定所述预设周期数。

10.一种显示装置，其特征在于，包括：

权利要求1至权利要求5中任一权利要求所述的时序控制装置。