CN106933730A - 基于测试框架系统的测试方法、装置和测试框架系统 - Google Patents
基于测试框架系统的测试方法、装置和测试框架系统 Download PDFInfo
- Publication number
- CN106933730A CN106933730A CN201511018589.9A CN201511018589A CN106933730A CN 106933730 A CN106933730 A CN 106933730A CN 201511018589 A CN201511018589 A CN 201511018589A CN 106933730 A CN106933730 A CN 106933730A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- test
- environment
- user
- target detection
- frame system
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/36—Preventing errors by testing or debugging software
- G06F11/3668—Software testing
- G06F11/3672—Test management
- G06F11/3688—Test management for test execution, e.g. scheduling of test suites
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/36—Preventing errors by testing or debugging software
- G06F11/362—Software debugging
- G06F11/3624—Software debugging by performing operations on the source code, e.g. via a compiler
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
Abstract
本发明公开了一种基于测试框架系统的测试方法、装置和测试框架系统，其中，该方法包括以下步骤：为用户提供多种测试环境，根据用户的操作确定目标测试环境；接收用户编写的测试代码；基于目标测试环境对测试代码进行编译，并生成与目标测试环境相关的测试文件；在目标测试环境中运行测试文件，并生成测试结果；以及为用户提供测试结果。因此，本发明实施例提供的基于测试框架系统的测试方法、装置和测试框架系统，为用户提供了多种测试环境，使得用户可根据需求自由选择测试环境，方便了用户在同一个测试框架下完成在多种测试环境下的测试，方便了测试人员进行测试，提高了测试效率。
Description
技术领域
本发明涉及软件测试领域，特别涉及一种基于测试框架系统的测试方法、装置和测试框架系统。
背景技术
目前，在芯片测试领域，相关的板级测试都是针对单一测试环境编写的，即测试框架是针对单一目标测试环境的，如果用户需要对芯片进行多种测试环境的测试，在测试完该测试环境后，为了对芯片进行其他测试环境的测试，用户需要重新编写对应的测试环境的代码或者使用基于对应的测试环境的测试框架进行测试，以完成芯片的各种测试环境的测试。由此可以看出，在对芯片进行多种测试环境下的测试时，测试过程复杂，用户需要执行的操作较多，测试多种测试环境极为不便，用户的测试体验不理想。
发明内容
本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。
为此，本发明的一个目的在于提出一种基于测试框架系统的测试方法，该方法为用户提供了多种测试环境，使得用户可根据需求自由选择测试环境，方便了用户在同一个测试框架下完成在多种测试环境下的测试，方便了测试人员进行测试，提高了测试效率。
本发明的第二目的在于提出一种基于测试框架系统的测试装置。
本发明的第三目的在于提出一种测试框架系统。
为实现上述目的，本发明第一方面实施例提出了一种测试框架系统的测试方法，包括以下步骤：为用户提供多种测试环境，根据所述用户的操作确定目标测试环境；接收所述用户编写的测试代码；基于所述目标测试环境对所述测试代码进行编译，并生成与所述目标测试环境相关的测试文件；在所述目标测试环境中运行所述测试文件，并生成测试结果；以及为所述用户提供测试结果。
根据本发明实施例的基于测试框架系统的测试方法，首先为用户提供多种测试环境，根据用户的操作确定目标测试环境，然后接收用户编写的测试代码，并基于目标测试环境对测试代码进行编译，以及生成与目标测试环境相关的测试文件，而后在目标测试环境中运行测试文件，并生成测试结果，最后为用户提供测试结果。由此，为用户提供了多种测试环境，使得用户可根据需求自由选择测试环境，方便了用户在同一个测试框架下完成在多种测试环境下的测试，方便了测试人员进行测试，提高了测试效率。
另外，根据本发明上述基于测试框架系统的测试方法还可以具有如下附加的技术特征：
在本发明的一个实施例中，所述为用户提供多种测试环境，根据所述用户的操作确定目标测试环境，包括：提供第一图形化配置界面，其中，所述第一图形化配置界面中包含多种测试环境；接收所述用户在所述第一图形化配置界面中输入的选择指令；将所述用户选择的测试环境作为所述目标测试环境。
在本发明的一个实施例中，所述为用户提供多种测试环境，根据所述用户的操作确定目标测试环境，包括：提供第二图形化配置界面，其中，所述第二图形化配置界面包括初始测试环境；当监控到用户未选择所述第二图形化配置界面中的所述初始测试环境时，提供第三图形化配置界面；接收所述用户在第三图形化配置界面中配置的测试环境参数信息；根据所述测试环境参数信息确定所述目标测试环境。
在本发明的一个实施例中，所述基于所述目标测试环境对所述测试代码进行编译，并生成与所述目标测试环境相关的测试文件，包括：接收所述用户输入的编译指令；根据所述编译指令对所述测试代码进行编译；判断所述测试代码是否通过编译；如果所述测试代码通过编译，则生成与所述目标测试环境相匹配的测试文件。
在本发明的一个实施例中，所述在所述目标测试环境中运行所述测试文件，并生成测试结果，包括：接收所述用户执行所述测试文件的指令，并在所述目标测试环境下运行所述测试文件，以及生成测试结果。
在本发明的一个实施例中，上述基于测试框架系统的测试方法还包括：如果所述测试代码未通过编译，则为所述用户提供提示信息，以使所述用户根据所述提示信息修改所述测试代码。
在本发明的一个实施例中，所述目标测试环境包括编译型模拟器VCS仿真测试环境、硬件加速器环境、现场可编程门阵列FPGA环境、模拟器环境和真实系统晶片SOC环境。
为实现上述目的，本发明第二方面实施例提出了一种基于测试框架系统的测试装置，包括：确定模块，用于为用户提供多种测试环境，根据所述用户的操作确定目标测试环境；接收模块，用于接收所述用户编写的测试代码；生成模块，用于基于所述目标测试环境对所述测试代码进行编译，并生成与所述目标测试环境相关的测试文件；测试模块，用于在所述目标测试环境中运行所述测试文件，并生成测试结果；以及提供模块，用于为所述用户提供测试结果。
根据本发明实施例的基于测试框架系统的测试装置，首先确定模块为用户提供多种测试环境，根据用户的操作确定目标测试环境，然后接收模块接收用户编写的测试代码，然后生成模块基于目标测试环境对测试代码进行编译，并生成与目标测试环境相关的测试文件，而后测试模块在目标测试环境中运行测试文件，并生成测试结果，，最后提供模块为用户提供测试结果。由此，为用户提供了多种测试环境，使得用户可根据需求自由选择测试环境，方便了用户在同一个测试框架下完成在多种测试环境下的测试，方便了测试人员进行测试，提高了测试效率。
上述基于测试框架系统的测试装置还可以具有如下附加的技术特征：
在本发明的一个实施例中，所述确定模块，具体用于：提供第一图形化配置界面，其中，所述第一图形化配置界面中包含多种测试环境；接收所述用户在所述第一图形化配置界面中输入的选择指令；将所述用户选择的测试环境作为所述目标测试环境。
在本发明的一个实施例中，所述确定模块，还用于：提供第二图形化配置界面，其中，所述第二图形化配置界面包括初始测试环境；当监控到用户未选择所述第二图形化配置界面中的所述初始测试环境时，提供第三图形化配置界面；接收所述用户在第三图形化配置界面中配置的测试环境参数信息；根据所述测试环境参数信息确定所述目标测试环境。
在本发明的一个实施例中，所述生成模块，具体用于：接收所述用户输入的编译指令；根据所述编译指令对所述测试代码进行编译；判断所述测试代码是否通过编译；如果所述测试代码通过编译，则生成与所述目标测试环境相匹配的测试文件。
在本发明的一个实施例中，所述测试模块，具体用于：接收所述用户执行所述测试文件的指令，并在所述目标测试环境下运行所述测试文件，以及生成测试结果。
在本发明的一个实施例中，所述生成模块，还用于：如果所述测试代码未通过编译，则为所述用户提供提示信息，以使所述用户根据所述提示信息修改所述测试代码。
在本发明的一个实施例中，所述目标测试环境包括编译型模拟器VCS仿真测试环境、硬件加速器环境、现场可编程门阵列FPGA环境、模拟器环境和真实系统晶片SOC环境。
为了实现上述目的，本发明第三方面实施例提出了一种测试框架系统包括：本发明第二方面实施例的基于测试框架系统的测试装置。
根据本发明实施例的测试框架系统，首先为用户提供多种测试环境，根据用户的操作确定目标测试环境，然后接收用户编写的测试代码，并基于目标测试环境对测试代码进行编译，以及生成与目标测试环境相关的测试文件，而后在目标测试环境中运行测试文件，并生成测试结果，最后为用户提供测试结果。由此，为用户提供了多种测试环境，使得用户可根据需求自由选择测试环境，方便了用户在同一个测试框架下完成在多种测试环境下的测试，方便了测试人员进行测试，提高了测试效率。
本发明附加的方面的优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
附图说明
图1是根据本发明一个实施例的基于测试框架系统的测试方法的流程图。
图2是根据本发明另一个实施例的基于测试框架系统的测试方法的流程图。
图3是根据本发明又一个实施例的基于测试框架系统的测试方法的流程图。
图4是根据本发明再一个实施例的基于测试框架系统的测试方法的流程图。
图5是根据本发明一个实施例的基于测试框架系统的测试装置的方框示意图。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
下面参照附图来描述根据本发明实施例提出的基于测试框架系统的测试方法、装置和测试框架系统。
图1是根据本发明一个实施例的基于测试框架系统的测试方法的流程图。
如图1所示，该基于测试框架系统的测试方法包括以下步骤：
S1，为用户提供多种测试环境，根据用户的操作确定目标测试环境。
其中，上述目标测试环境可以包括但不限于编译型模拟器VCS仿真测试环境、硬件加速器环境、现场可编程门阵列FPGA(Field－Programmable Gate Array)环境、模拟器环境和真实系统晶片SOC(System-on-a-chip)环境。
其中，需要理解的是，用户可以在Linux或Windows操作系统中操作测试框架系统确定目标测试环境。
例如，在Linux操作系统中，为用户提供多种测试环境，如果接收到用户选择的测试环境为模拟器环境，则将用户选择的模拟器环境作为目标测试环境，并在需要运行测试时，初始化该测试环境，并运行目标测试环境。
其中，需要理解的是，上述目标测试环境可以是测试框架系统预先提供的测试环境。
在本发明的一个实施例中，如图2所示，为用户提供多种测试环境，根据用户的操作确定目标测试环境的具体过程可包括：
S11，提供第一图形化配置界面，其中，第一图形化配置界面中包含多种测试环境。
具体地，测试框架系统可提供第一图形化配置界面，用户可以通过鼠标和键盘进行简单操作输入测试环境的选择指令。
其中，需要理解的是，上述第一图形化配置界面，即是一种可视化操作界面。
S12，接收用户在第一图形化配置界面中输入的选择指令。
S13，将用户选择的测试环境作为目标测试环境。
例如，在Linux操作系统中，用户可通过鼠标点击或键盘敲击打开测试框架系统中的第一图形化配置界面，并可通过鼠标或键盘进行简单操作输入测试环境的选择指令，而后，测试框架系统根据该测试环境的选择指令确定目标测试环境。
在本发明的另一个实施例中，如图3所示，为用户提供多种测试环境，根据用户的操作确定目标测试环境的具体过程还可包括：
S101，提供第二图形化配置界面，其中，第二图形化配置界面包括初始测试环境。
其中，需要理解的是，上述第二图形化配置界面，即是可视化操作界面。
S102，当监控到用户未选择第二图形化配置界面中的初始测试环境时，提供第三图形化配置界面。
另外，如果监控到用户选择第二图形化配置界面中的初始测试环境，则在需要运行测试时，运行该测试环境。
其中，需要理解的，上述第三图形化配置界面是用户根据需求自主配置测试环境参数信息的可视化操作界面。
在本发明的实施例中，用户可以通过鼠标和键盘将上述测试环境参数信息输入上述第三图形化配置界面，以便确定目标测试环境。
S103，接收用户在第三图形化配置界面中配置的测试环境参数信息。
S104，根据测试环境参数信息确定目标测试环境。
具体地，在用户使用测试框架系统对芯片进行测试的过程中，在接收到用户的启动测试框架系统时，可为用户提供一个包含初始测试环境的第二图形化配置界面，如果监控到用户选择初始测试环境的指令，则确定该初始测试环境为目标测试环境；如果监控到用户未选择初始测试环境，则可为用户提供第三图形化配置界面，此时，用户可在该第三图形化配置界面中手动配置目标测试环境的测试环境参数，在用户完成配置后，测试框架系统将根据用户配置的测试环境参数确定目标测试环境。
例如，在Linux操作系统中，用户可通过鼠标点击或键盘敲击打开测试框架系统中的第二图形化配置界面，并可通过鼠标或键盘进行简单操作选择第二图形化配置界面中的初始测试环境，或者打开测试框架系统中第三图形化配置界面根据需求自主配置测试环境参数信息，而后，测试框架系统根据选择的第二图形化配置界面中的初始测试环境或者根据需求自主配置测试环境参数信息的第三图形化配置界面，确定目标测试环境。
S2，接收用户编写的测试代码。
具体地，在根据测试环境参数信息确定目标测试环境后，测试框架系统可自动加载与目标测试环境对应的测试目录，以使得用户在测试目录中的相应的测试子目录中编写测试代码。
其中，需要理解的是，用户在同一个测试子目录中的测试可以一次进行编译，也就是说，测试目录中所有的测试均可以进行编译。
其中，上述测试代码的编程语言可以根据实际情况进行标定，例如，汇编编程语言、C编程语言、C++编程语言和C#编程语言等。
S3，基于目标测试环境对测试代码进行编译，并生成与目标测试环境相关的测试文件。
S4，在目标测试环境中运行测试文件，并生成测试结果。
其中，需要理解的是，上述编译测试代码的过程可为先编译测试框架部分，后编译测试代码部分。
基于目标测试环境对测试代码进行编译，并生成与目标测试环境相关的测试文件，以及在目标测试环境中运行测试文件，并生成测试结果的具体过程，如图4所示，可以包括：
S31，接收用户输入的编译指令。
S32，根据编译指令对测试代码进行编译。
S33，判断测试代码是否通过编译，如果是，则执行步骤S34，如果否，则执行步骤S36。
S34，生成与目标测试环境相匹配的测试文件。
S35，接收用户执行测试文件的指令，并在目标测试环境下运行测试文件，以及生成测试结果。
S36，为用户提供提示信息，以使用户根据提示信息修改测试代码。
具体地，当测试框架系统接收到用户输入的编译指令时，首先编译测试框架部分，而后编译测试代码部分。
如果两部分都编译完成(通过编译)，则根据测试环境的需求，链接成相应的可执行文件，然后转换成测试环境相关的测试文件，在目标环境中进行测试，并生成测试结果。
如果两部分在编译的过程中出现问题(未通过编译)例如，测试代码中存在语法错误，则为用户提供提示信息，以使用户根据提示信息修改测试代码。
其中，需要理解的是，根据目标测试环境的不同上述测试文件的类型可能也会有所不同。例如，当目标测试环境为现场可编程门阵列FPGA环境时，上述测试文件可为二进制文件。
S5，为用户提供测试结果。
具体地，当测试框架系统完成本轮的测试后，可将本轮测试的结果以测试结果文件的形式提供给用户，以便用户根据测试结果审查被测芯片、设备或集成环境的逻辑是否满足预估的结果。
需要理解的是，在该目标测试环境下完成测试后，测试框架系统还可以接收用户切换测试环境的指令，并根据用户的指令重新为用户提供多种测试环境，以使用户完成其他测试环境下的测试。也就是说，该测试框架系统是一种支持多种测试环境的测试框架系统，用户通过简单地操作即可完成各种不同测试环境的快速切换。
根据本发明实施例的基于测试框架系统的测试方法，首先为用户提供多种测试环境，根据用户的操作确定目标测试环境，然后接收用户编写的测试代码，并基于目标测试环境对测试代码进行编译，以及生成与目标测试环境相关的测试文件，而后在目标测试环境中运行测试文件，并生成测试结果，最后为用户提供测试结果。由此，为用户提供了多种测试环境，使得用户可根据需求自由选择测试环境，方便了用户在同一个测试框架下完成在多种测试环境下的测试，方便了测试人员进行测试，提高了测试效率。
为了实现上述实施例，本发明还提出一种基于测试框架系统的测试装置。
图5是根据本发明一个实施例的基于测试框架系统的测试装置的方框示意图。
如图5所示，该基于测试框架系统的测试装置包括确定模块100、接收模块200、生成模块300、测试模块400和提供模块500。
具体地，确定模块100用于为用户提供多种测试环境，根据用户的操作确定目标测试环境。
其中，上述目标测试环境可以包括但不限于编译型模拟器VCS仿真测试环境、硬件加速器环境、现场可编程门阵列FPGA(Field－Programmable Gate Array)环境、模拟器环境和真实系统晶片SOC(System-on-a-chip)环境。
其中，需要理解的是，用户通过确定模块100可以在Linux或Windows操作系统中操作测试框架系统确定目标测试环境。
例如，在Linux操作系统中，确定模块100为用户提供多种测试环境，如果接收到用户选择的测试环境为模拟器环境，则将用户选择的模拟器环境作为目标测试环境，并在需要运行测试时，初始化该测试环境，并运行目标测试环境。
其中，需要理解的是，上述目标测试环境可以是测试框架系统预先提供的测试环境。
在本发明的一个实施例中，确定模块100具体用于：
提供第一图形化配置界面，其中，第一图形化配置界面中包含多种测试环境。
具体地，确定模块100可提供第一图形化配置界面，用户可以通过鼠标和键盘进行简单操作输入测试环境的选择指令。
其中，需要理解的是，上述第一图形化配置界面，即是一种可视化操作界面。
以及，接收用户在第一图形化配置界面中输入的选择指令，并将用户选择的测试环境作为目标测试环境。
例如，在Linux操作系统中，用户可通过鼠标点击或键盘敲击打开确定模块100中的第一图形化配置界面，并可通过鼠标或键盘进行简单操作输入测试环境的选择指令，而后，确定模块100根据该测试环境的选择指令确定目标测试环境。
在本发明的另一个实施例中，确定模块100还用于：
提供第二图形化配置界面，其中，第二图形化配置界面包括初始测试环境。
其中，需要理解的是，上述第二图形化配置界面，即是一种可视化操作界面。
并且，当监控到用户未选择第二图形化配置界面中的初始测试环境时，提供第三图形化配置界面。
另外，如果监控到用户选择第二图形化配置界面中的初始测试环境，则在需要运行测试时，运行该测试环境。
其中，需要理解的，上述第三图形化配置界面是用户根据需求自主配置测试环境参数信息的可视化操作界面。
在本发明的实施例中，用户可以通过鼠标和键盘将上述测试环境参数信息输入上述第三图形化配置界面，以便确定目标测试环境。
以及，接收用户在第三图形化配置界面中配置的测试环境参数信息，并根据测试环境参数信息确定目标测试环境。
具体地，在用户使用测试框架系统对芯片进行测试的过程中，确定模块100在接收到用户的启动测试框架系统时，可为用户提供一个包含初始测试环境的第二图形化配置界面，如果监控到用户选择初始测试环境的指令，则确定该初始测试环境为目标测试环境；如果监控到用户未选择初始测试环境，则可为用户提供第三图形化配置界面，此时，用户可在该第三图形化配置界面中手动配置目标测试环境的测试环境参数，在用户完成配置后，测试框架系统将根据用户配置的测试环境参数确定目标测试环境。
例如，在Linux操作系统中，用户可通过鼠标点击或键盘敲击打开确定模块100中的第二图形化配置界面，并可通过鼠标或键盘进行简单操作选择第二图形化配置界面中的初始测试环境，或者打开确定模块100中第三图形化配置界面根据需求自主配置测试环境参数信息，而后，确定模块100根据选择的第二图形化配置界面中的初始测试环境或者根据需求自主配置测试环境参数信息的第三图形化配置界面，确定目标测试环境。
接收模块200用于接收用户编写的测试代码。
具体地，确定模块100在根据测试环境参数信息确定目标测试环境后，接收模块200可自动加载与目标测试环境对应的测试目录，以使得用户在测试目录中的相应的测试子目录中编写测试代码。
其中，需要理解的是，用户在同一个测试子目录中的测试可以一次进行编译，也就是说，测试目录中所有的测试均可以进行编译。
其中，上述测试代码的编程语言可以根据实际情况进行标定，例如，汇编编程语言、C编程语言、C++编程语言和C#编程语言等。
生成模块300用于基于目标测试环境对测试代码进行编译，并生成与目标测试环境相关的测试文件。
测试模块400用于在目标测试环境中运行测试文件，并生成测试结果。
其中，需要理解的是，上述编译测试代码的过程可为先编译测试框架部分，后编译测试代码部分。
在本发明的一个实施例中，生成模块300具体用于接收用户输入的编译指令，并根据编译指令对测试代码进行编译，而后判断测试代码是否通过编译。如果测试代码通过编译，则生成与目标测试环境相匹配的测试文件。
如果测试代码未通过编译，则为用户提供提示信息，以使用户根据提示信息修改测试代码。
具体地，当生成模块300接收到用户输入的编译指令时，首先编译测试框架部分，而后编译测试代码部分。
如果两部分都编译完成(通过编译)，则根据测试环境的需求，链接成相应的可执行文件，然后转换成测试环境相关的测试文件，而后，当测试模块400接收到用户执行测试文件的指令时，则在目标测试环境下运行测试文件，以及生成测试结果。
如果两部分在编译的过程中出现问题(未通过编译)，例如，测试代码中存在语法错误，则为用户提供提示信息，以使用户根据提示信息修改测试代码。
其中，需要理解的是，根据目标测试环境的不同上述测试文件的类型可能也会有所不同。例如，当目标测试环境为现场可编程门阵列FPGA环境时，上述测试文件可为二进制文件。
在本发明的另一个实施例中，测试模块400具体用于接收用户执行测试文件的指令，并在目标测试环境下运行测试文件，以及生成测试结果。
具体地，当测试模块400接收到用户执行测试文件的指令时，则在目标测试环境下运行测试文件，并生成测试结果，以便用户获取本轮测试的测试结果。
提供模块500用于为用户提供测试结果。
具体地，当完成本轮的测试后，提供模块500可将本轮测试的结果以测试结果文件的形式提供给用户，以便用户根据测试结果审查被测芯片、设备或集成环境的逻辑是否满足预估的结果。
需要理解的是，在该目标测试环境下完成测试后，测试框架系统还可以接收用户切换测试环境的指令，并根据用户的指令重新为用户提供多种测试环境，以使用户完成其他测试环境下的测试。也就是说，该测试框架系统是一种支持多种测试环境的测试框架系统，用户通过简单地操作即可完成各种不同测试环境的快速切换。
根据本发明实施例的基于测试框架系统的测试装置，首先确定模块为用户提供多种测试环境，根据用户的操作确定目标测试环境，然后接收模块接收用户编写的测试代码，然后生成模块基于目标测试环境对测试代码进行编译，并生成与目标测试环境相关的测试文件，而后测试模块在目标测试环境中运行测试文件，并生成测试结果，最后提供模块为用户提供测试结果。由此，为用户提供了多种测试环境，使得用户可根据需求自由选择测试环境，方便了用户在同一个测试框架下完成在多种测试环境下的测试，方便了测试人员进行测试，提高了测试效率。
为了实现上述实施例，本发明还提出一种测试框架系统。
本发明实施例的测试框架系统包括本发明上述任一实施例的基于测试框架系统的测试装置。
根据本发明实施例的测试框架系统，首先为用户提供多种测试环境，根据用户的操作确定目标测试环境，然后接收用户编写的测试代码，并基于目标测试环境对测试代码进行编译，以及生成与目标测试环境相关的测试文件，而后在目标测试环境中运行测试文件，并生成测试结果，最后为用户提供测试结果。由此，为用户提供了多种测试环境，使得用户可根据需求自由选择测试环境，方便了用户在同一个测试框架下完成在多种测试环境下的测试，方便了测试人员进行测试，提高了测试效率。
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
Claims (15)
1.一种基于测试框架系统的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
为用户提供多种测试环境，根据所述用户的操作确定目标测试环境；
接收所述用户编写的测试代码；
基于所述目标测试环境对所述测试代码进行编译，并生成与所述目标测试环境相关的测试文件；
在所述目标测试环境中运行所述测试文件，并生成测试结果；以及
为所述用户提供测试结果。
2.如权利要求1所述的基于测试框架系统的测试方法，其特征在于，所述为用户提供多种测试环境，根据所述用户的操作确定目标测试环境，包括：
提供第一图形化配置界面，其中，所述第一图形化配置界面中包含多种测试环境；
接收所述用户在所述第一图形化配置界面中输入的选择指令；
将所述用户选择的测试环境作为所述目标测试环境。
3.如权利要求1所述的基于测试框架系统的测试方法，其特征在于，所述为用户提供多种测试环境，根据所述用户的操作确定目标测试环境，包括：
提供第二图形化配置界面，其中，所述第二图形化配置界面包括初始测试环境；
当监控到用户未选择所述第二图形化配置界面中的所述初始测试环境时，提供第三图形化配置界面；
接收所述用户在第三图形化配置界面中配置的测试环境参数信息；
根据所述测试环境参数信息确定所述目标测试环境。
4.如权利要求1所述的基于测试框架系统的测试方法，其特征在于，所述基于所述目标测试环境对所述测试代码进行编译，并生成与所述目标测试环境相关的测试文件，包括：
接收所述用户输入的编译指令；
根据所述编译指令对所述测试代码进行编译；
判断所述测试代码是否通过编译；
如果所述测试代码通过编译，则生成与所述目标测试环境相匹配的测试文件。
5.如权利要求1所述的基于测试框架系统的测试方法，其特征在于，所述在所述目标测试环境中运行所述测试文件，并生成测试结果，包括：
接收所述用户执行所述测试文件的指令，并在所述目标测试环境下运行所述测试文件，以及生成测试结果。
6.如权利要求4所述的基于测试框架系统的测试方法，其特征在于，还包括：
如果所述测试代码未通过编译，则为所述用户提供提示信息，以使所述用户根据所述提示信息修改所述测试代码。
7.如权利要求1-6任一项所述的基于测试框架系统的测试方法，其特征在于，所述目标测试环境包括编译型模拟器VCS仿真测试环境、硬件加速器环境、现场可编程门阵列FPGA环境、模拟器环境和真实系统晶片SOC环境。
8.一种基于测试框架系统的测试装置，其特征在于，包括：
确定模块，用于为用户提供多种测试环境，根据所述用户的操作确定目标测试环境；
接收模块，用于接收所述用户编写的测试代码；
生成模块，用于基于所述目标测试环境对所述测试代码进行编译，并生成与所述目标测试环境相关的测试文件；
测试模块，用于在所述目标测试环境中运行所述测试文件，并生成测试结果；以及
提供模块，用于为所述用户提供测试结果。
9.如权利要求8所述的基于测试框架系统的测试装置，其特征在于，所述确定模块，具体用于：
提供第一图形化配置界面，其中，所述第一图形化配置界面中包含多种测试环境；
接收所述用户在所述第一图形化配置界面中输入的选择指令；
将所述用户选择的测试环境作为所述目标测试环境。
10.如权利要求8所述的基于测试框架系统的测试装置，其特征在于，所述确定模块，还用于：
提供第二图形化配置界面，其中，所述第二图形化配置界面包括初始测试环境；
当监控到用户未选择所述第二图形化配置界面中的所述初始测试环境时，提供第三图形化配置界面；
接收所述用户在第三图形化配置界面中配置的测试环境参数信息；
根据所述测试环境参数信息确定所述目标测试环境。
11.如权利要求8所述的基于测试框架系统的测试装置，其特征在于，所述生成模块，具体用于：
接收所述用户输入的编译指令；
根据所述编译指令对所述测试代码进行编译；
判断所述测试代码是否通过编译；
如果所述测试代码通过编译，则生成与所述目标测试环境相匹配的测试文件。
12.如权利要求8所述的基于测试框架系统的测试装置，其特征在于，所述测试模块，具体用于：
接收所述用户执行所述测试文件的指令，并在所述目标测试环境下运行所述测试文件，以及生成测试结果。
13.如权利要求11所述的基于测试框架系统的测试装置，其特征在于，所述生成模块，还用于：
如果所述测试代码未通过编译，则为所述用户提供提示信息，以使所述用户根据所述提示信息修改所述测试代码。
14.如权利要求7-13任一项所述的基于测试框架系统的测试装置，其特征在于，所述目标测试环境包括编译型模拟器VCS仿真测试环境、硬件加速器环境、现场可编程门阵列FPGA环境、模拟器环境和真实系统晶片SOC环境。
15.一种测试框架系统，其特征在于，包括：如权利要求7至12中任一项所述的基于测试框架系统的测试装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201511018589.9A CN106933730A (zh) | 2015-12-29 | 2015-12-29 | 基于测试框架系统的测试方法、装置和测试框架系统 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201511018589.9A CN106933730A (zh) | 2015-12-29 | 2015-12-29 | 基于测试框架系统的测试方法、装置和测试框架系统 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN106933730A true CN106933730A (zh) | 2017-07-07 |
Family
ID=59442440
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201511018589.9A Pending CN106933730A (zh) | 2015-12-29 | 2015-12-29 | 基于测试框架系统的测试方法、装置和测试框架系统 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN106933730A (zh) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107885658A (zh) * | 2017-10-31 | 2018-04-06 | 平安科技（深圳）有限公司 | 测试前置实现方法、装置、终端设备及存储介质 |
| CN108228407A (zh) * | 2018-01-31 | 2018-06-29 | 深圳市证通电子股份有限公司 | 设备功能测试方法、装置及可读存储介质 |
| CN108809951A (zh) * | 2018-05-16 | 2018-11-13 | 南京大学 | 一种适用于工业控制系统的渗透测试框架 |
| CN109726097A (zh) * | 2018-01-23 | 2019-05-07 | 平安普惠企业管理有限公司 | 环境切换方法、装置及电子设备 |
| WO2019205146A1 (en) * | 2018-04-28 | 2019-10-31 | Entit Software Llc | Recommending programmatic descriptions for test objects |
| CN112019404A (zh) * | 2020-08-27 | 2020-12-01 | 北京国科天迅科技有限公司 | 一种fc-ae-1553通信协议芯片自动化测试的方法及装置 |
| CN112306866A (zh) * | 2020-10-26 | 2021-02-02 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种测试方法、系统、设备以及介质 |
| CN113238953A (zh) * | 2021-05-26 | 2021-08-10 | 杭州安恒信息技术股份有限公司 | Ui自动化测试方法、装置、电子设备和存储介质 |
| CN113377679A (zh) * | 2021-07-13 | 2021-09-10 | 北京乐学帮网络技术有限公司 | 代码确定方法、装置、电子设备和存储介质 |
| CN113656236A (zh) * | 2020-05-12 | 2021-11-16 | 大唐移动通信设备有限公司 | 一种数据处理方法和装置 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1983209A (zh) * | 2005-12-14 | 2007-06-20 | 中兴通讯股份有限公司 | 一种软件单元测试自动化系统及其方法 |
| CN102567162A (zh) * | 2010-12-31 | 2012-07-11 | 重庆重邮信科通信技术有限公司 | 一种基于dsp核的物理层系统验证装置及方法 |
| CN102915242A (zh) * | 2012-09-26 | 2013-02-06 | 北京广利核系统工程有限公司 | 一种利用图形化操作实现代码编程的方法 |
| US20140019929A1 (en) * | 2012-05-15 | 2014-01-16 | International Business Machines Corporation | Partial Instruction-by-instruction checking on acceleration platforms |
| CN104268310A (zh) * | 2014-09-05 | 2015-01-07 | 浪潮集团有限公司 | 使用专用图形界面调用uvm验证环境的方法 |
-
2015
- 2015-12-29 CN CN201511018589.9A patent/CN106933730A/zh active Pending
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1983209A (zh) * | 2005-12-14 | 2007-06-20 | 中兴通讯股份有限公司 | 一种软件单元测试自动化系统及其方法 |
| CN102567162A (zh) * | 2010-12-31 | 2012-07-11 | 重庆重邮信科通信技术有限公司 | 一种基于dsp核的物理层系统验证装置及方法 |
| US20140019929A1 (en) * | 2012-05-15 | 2014-01-16 | International Business Machines Corporation | Partial Instruction-by-instruction checking on acceleration platforms |
| CN102915242A (zh) * | 2012-09-26 | 2013-02-06 | 北京广利核系统工程有限公司 | 一种利用图形化操作实现代码编程的方法 |
| CN104268310A (zh) * | 2014-09-05 | 2015-01-07 | 浪潮集团有限公司 | 使用专用图形界面调用uvm验证环境的方法 |
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107885658B (zh) * | 2017-10-31 | 2019-06-21 | 平安科技（深圳）有限公司 | 测试前置实现方法、装置、终端设备及存储介质 |
| CN107885658A (zh) * | 2017-10-31 | 2018-04-06 | 平安科技（深圳）有限公司 | 测试前置实现方法、装置、终端设备及存储介质 |
| CN109726097A (zh) * | 2018-01-23 | 2019-05-07 | 平安普惠企业管理有限公司 | 环境切换方法、装置及电子设备 |
| CN108228407A (zh) * | 2018-01-31 | 2018-06-29 | 深圳市证通电子股份有限公司 | 设备功能测试方法、装置及可读存储介质 |
| WO2019205146A1 (en) * | 2018-04-28 | 2019-10-31 | Entit Software Llc | Recommending programmatic descriptions for test objects |
| US11698851B2 (en) | 2018-04-28 | 2023-07-11 | Micro Focus Llc | Recommending programmatic descriptions for test objects |
| CN108809951A (zh) * | 2018-05-16 | 2018-11-13 | 南京大学 | 一种适用于工业控制系统的渗透测试框架 |
| CN113656236A (zh) * | 2020-05-12 | 2021-11-16 | 大唐移动通信设备有限公司 | 一种数据处理方法和装置 |
| CN113656236B (zh) * | 2020-05-12 | 2024-05-28 | 大唐移动通信设备有限公司 | 一种数据处理方法和装置 |
| CN112019404A (zh) * | 2020-08-27 | 2020-12-01 | 北京国科天迅科技有限公司 | 一种fc-ae-1553通信协议芯片自动化测试的方法及装置 |
| CN112306866A (zh) * | 2020-10-26 | 2021-02-02 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种测试方法、系统、设备以及介质 |
| CN113238953A (zh) * | 2021-05-26 | 2021-08-10 | 杭州安恒信息技术股份有限公司 | Ui自动化测试方法、装置、电子设备和存储介质 |
| CN113377679A (zh) * | 2021-07-13 | 2021-09-10 | 北京乐学帮网络技术有限公司 | 代码确定方法、装置、电子设备和存储介质 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN106933730A (zh) | 基于测试框架系统的测试方法、装置和测试框架系统 | |
| CN112270149B (zh) | 验证平台自动化集成方法、系统及电子设备和存储介质 | |
| US9754059B2 (en) | Graphical design verification environment generator | |
| US6732296B1 (en) | Object oriented scaleable test executive | |
| Martinie et al. | A generic tool-supported framework for coupling task models and interactive applications | |
| US7895575B2 (en) | Apparatus and method for generating test driver | |
| US8131529B2 (en) | Method and system for simulating test instruments and instrument functions | |
| JP2002505000A (ja) | 低コストで使用が容易な自動テスト・システム用ソフトウェア | |
| US11327874B1 (en) | System, method, and computer program for orchestrating automatic software testing | |
| US11144434B2 (en) | Refining coverage analyses using context information | |
| CN104199767B (zh) | 测试方法和装置 | |
| CN106021101B (zh) | 对移动终端进行测试的方法及装置 | |
| US9342441B2 (en) | Methodology and tool support for test organization and migration for embedded software | |
| CN103885341B (zh) | 基于汽车性能模拟器的性能分析系统和方法 | |
| CN102292704B (zh) | 具有用于实施离线仪器用户设置的内嵌固件的配置器 | |
| CN105868104A (zh) | 一种跨平台的图形用户界面自动测试方法 | |
| Gomes et al. | Cloud based development framework using IOPT Petri nets for embedded systems teaching | |
| JP2005301568A (ja) | 表示情報記憶制御装置および表示情報記憶制御プログラム | |
| CN108509197B (zh) | 一种测试需求视图生成方法及ate测试方法 | |
| EP3091453A1 (en) | Designing a longevity test for a smart tv | |
| Malinao et al. | A metric for user requirements traceability in sequence, class diagrams, and lines-of-code via robustness diagrams | |
| Lukose et al. | Design Study for Creating Pathfinder: A Visualization Tool for Generating Software Test Plans using Model based Testing. | |
| Lipovský et al. | A new user-friendly ATPG platform for digital circuits | |
| US8887075B2 (en) | System and method for device skinning | |
| KR20090065878A (ko) | 센서 네트워크를 구성하기 위한 타겟 센서 노드를 시험하는장치 및 그 방법 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| TA01 | Transfer of patent application right | ||
| TA01 | Transfer of patent application right |
Effective date of registration: 20180921 Address after: 100085 west 4 Street 5, five street, Haidian District, Beijing. Applicant after: Beijing Guorui Zhongshu Technology Co.,Ltd. Applicant after: No. 14 Inst., China Electronic Science & Technology Group Corp. Address before: 100085 Beijing Haidian District Haidian District road information Road 5 Street high Li two thousand science and Technology Building 4 floor West Applicant before: Beijing Guorui Zhongshu Technology Co.,Ltd. |
|
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20170707 |