CN106896310B - 测量系统 - Google Patents

Abstract

一种测量系统，包含第一测量治具与第二测量治具。第一测量治具适于插设于第一插槽，第二测量治具适于插设于第二插槽。当第一测量治具的第一连接端或第二连接端插设于第一插槽时，第一测量治具的第一处理单元用以经第一插槽传送控制信号至主机板的控制单元。当第二测量治具插设于第二插槽时，第二测量治具的第二处理单元分别从第二测量治具的至少一第一电压针脚读取至少一第一电压值、从第二测量治具的至少一第二电压针脚读取至少一第二电压值并从第二测量治具的至少一第一信号针脚读取至少一第三电压值。本发明提供的测量系统可以对具有不同设定组态的主机板进行测量。

Description

测量系统

技术领域

本发明涉及一种测量系统，特别是一种电子元件的测量系统。

背景技术

作为电子产品中的各种电子元件的沟通媒介，主机板上搭载有所述的多种电子元件，以提供使用者多样化的功能。而为了因应不同的需求，对应电子产品因而需要不同等级或不同类型的运算效能。即使是同一类型的电子产品，厂商也会因客群的不同而推出不同系列的产品系列。

在以往，由于电子产品的种类不多，主机板都被设定好对应于某一规格的电子零件。例如对电脑的主机板来说，其零组件可能都被设定于某一组态，以配合某一规格的中央处理器进行运算。而如今随着技术的演进以及市场的需求，同一块主机板也可视实际所需而配置不同规格的中央处理器。换句话说，主机板零组件的设定组态不再仅限于同一种设定组态，进而使得以往的测试治具已经不敷使用，因而必须开发新的测试治具以符合主机板的设计趋势。

此外，在以往的测量方式上，除了提供电源给主机板之外，还需要启动主机板，例如启动主机板的基本输入输出系统(basic input output system,BIOS)，才能令主机板对测量治具输出电流电压以进行测量。但是启动主机板需要不少的启动时间，因此这样的做法相当耗时，降低了测试过程的效率。

发明内容

本发明在于提供一种测量系统，以克服现今主机板具有多种设定组态而使得一般的测试治具不敷使用的问题。

本发明提供了一种测量系统，适于插设于主机板的第一插槽与第二插槽。测量系统包含第一测量治具与第二测量治具。第一测量治具适于插设于第一插槽，第二测量治具适于插设于第二插槽。第一测量治具包含第一连接端、第二连接端与第一处理单元。第一连接端用以可插拔的插设于第一插槽。第二连接端用以可插拔的插设于第一插槽。第一处理单元电性连接第一连接端与第二连接端。当第一连接端或第二连接端插设于第一插槽时，第一处理单元用以经第一插槽传送控制信号至主机板的控制单元。第二测量治具包含基板、至少一第一电压针脚、至少一第一电压针脚、至少一第一信号针脚与第二处理单元。基板具有第一面与第二面。至少一第一电压针脚位于第二面。至少一第二电压针脚位于第二面。至少一第一信号针脚位于第二面。第二处理单元位于第一面。第二处理单元电性连接于至少一第一电压针脚、至少一第二电压针脚与至少一第一信号针脚。当第二测量治具插设于第二插槽时，第二处理单元分别从至少一第一电压针脚读取至少一第一电压值、从至少一第二电压针脚读取至少一第二电压值并从至少一第一信号针脚读取至少一第三电压值。

综上所述，本发明提供了一种测量系统。测量系统具有第一测量治具与第二测量治具。当第一测量治具的第一连接端或第二连接端插设于主机板的第一插槽时，处理单元用以通过第一插槽传送控制信号至主机板的控制单元。藉此，在测量时可通过本发明所提供的测量系统控制主机板的控制单元，从而控制主机板上的各元件作动以提供对应的电压、电流或信号。进而能在不用启动主机板的情况下，对主机板进行测量。当第二测量治具插设于主机板的第二插槽时，第二测量治具的处理单元分别从不同的针脚读取对应的电压值。藉此，本发明提供的测量系统得以对具有不同设定组态的主机板进行测量。此外，本发明提供的测量系统还能用以测量不同针脚间是否有短路或断路的情况发生，而较以往的测量系统提供更多样化的测量功能。

以上的关于本公开内容的说明及以下的实施方式的说明用以示范与解释本发明的精神与原理，并且提供本发明的权利要求更进一步的解释。

附图说明

图1A为根据本发明一实施例所绘示的测量系统的功能方块图。

图1B为根据本发明图1A所绘示的第一测量治具的立体示意图。

图2A为根据本发明另一实施例所绘示的测量系统的功能方块图。

图2B为根据本发明图2A所绘示的第一测量治具的立体示意图。

图3为根据本发明一实施例所绘示的第二测量治具的仰视示意图。

图4为根据本发明另一实施例所绘示的测量系统的功能方块图。

图5为根据本发明另一实施例所绘示的测量系统的功能方块图。

图6为根据本发明又一实施例所绘示的测量系统的功能方块图。

图7为根据本发明又另一实施例所绘示的测量系统的功能方块图。

其中，附图标记说明如下：

1 测量系统

1000 第一测量治具

1200 第一连接端

1300 存储媒介

1400 第二连接端

1600 第一处理单元

1800 控制连接端

1900 电源连接端

2000 主机板

2200、2200’ 第一插槽

2400 电源供应模块

2600 第二插槽

2800 控制单元

3000 电脑

4000、4000’ 电源供应器

5000 第二测量治具

5200 基板

5221、5222 第一电压针脚

5231、5232 通信针脚

5241、5242 第二电压针脚

5250 存储单元

5261、5262 第一信号针脚

5270 电源连接端

5280 第二处理单元

5290 提示模块

P1 第一面

P2 第二面

具体实施方式

以下在实施方式中详细叙述本发明的详细特征以及优点，其内容足以使本领域技术人员了解本发明的技术内容并据以实施，且根据本说明书所公开的内容、权利要求及附图，任何熟习相关技艺者可轻易地理解本发明相关的目的及优点。以下的实施例是进一步详细说明本发明的观点，但非以任何观点限制本发明的范畴。

请先参照图1A、图1B、图2A与图2B，图1A为根据本发明一实施例所绘示的测量治具的功能方块图，图1B为根据本发明图1A所绘示的测量治具的立体示意图，图2A为根据本发明另一实施例所绘示的测量治具的功能方块图，图2B为根据本发明图2A所绘示的测量治具的立体示意图。测量系统1电性连接主机板2000。测量系统1具有第一测量治具1000与第二测量治具5000。主机板2000具有第一插槽2200、第二插槽2600、电源供应模块2400与控制单元2800。第一插槽2200电性连接第二插槽2600与控制单元2800，电源供应模块2400电性连接第二插槽2600与控制单元2800。第一测量治具1000适于插设于第一插槽2200，第二测量治具5000适于插设于第二插槽2600。

第一测量治具1000包含第一连接端1200、第二连接端1400与第一处理单元1600。第一连接端1200用以可插拔的插设于如图1A、1B所示的第一插槽2200。第二连接端1400用以可插拔的插设于如图2A、2B所示的第一插槽2200’。第一处理单元1600电性连接第一连接端1200与第二连接端1400。其中，第一插槽2200或第一插槽2200’例如为外部连结标准(Peripheral Component Interconnect,PCI)的相关接口或快捷外部连结标准X1版本的相关接口(Peripheral Component Interconnect Express X1,PCI-E X1)。

在一实施例中，第一连接端1200与第二连接端1400不相同。第一连接端1200与第二连接端1400例如分别为外部连结标准的相关接口或快捷外部连结标准X1版本的相关接口。第二插槽2600例如为中央处理器(central processing unit,CPU)的插槽。第一处理单元1600例如为微控制器(micro control unit,MCU)、专用集成电路(Application-specific integrated circuit,ASIC)或现场可程式化栅阵列(Field-programmable gatearray,FPGA)。控制单元2800例如为主机板2000的南桥芯片或北桥芯片。电源供应模块2400例如为脉冲宽度调变集成电路(pulse width modulation integrated circuit,PWM IC)或用以产生时钟脉冲信号或控制信号的相关电路。上述仅为举例示范，然实际上并不以此为限。

后续将以第一插槽2200与第一连接端1200为外部连结标准的相关接口，以及第一插槽2200’、第二连接端1400为快捷外部连结标准X1版本的相关接口的实施例进行说明。换句话说，在图1所对应的实施例中，第一插槽2200与第一连接端1200为外部连结标准的相关接口，第一测量治具1000以第一插槽2200电性连接主机板2000。而在图2所对应的实施例中，第一插槽2200’与第二连接端1400为外部连结标准的相关接口，第一测量治具1000以第二连接端1400电性连接主机板2000。

同样如图1A与图2A所示，第二测量治具5000包含基板5200、第一电压针脚5221、5222、第二电压针脚5241、5242、第一信号针脚5261、5262与第二处理单元5280。基板5200具有第一面P1与第二面P2。第一电压针脚5221、5222位于第二面P2。第二电压针脚5241、5242位于第二面P2。第一信号针脚5261、5262位于第二面P2。通信针脚5231、5232为于第二面P2。第二处理单元5280位于第一面P1。第二处理单元5280电性连接于第一电压针脚5221、5222、第二电压针脚5241、5242、第一信号针脚5261、5262与通信针脚5231、5232。第二处理单元5280例如为微处理器(micro control unit,MCU)，但并不以此为限。

在一实施例中，第一电压针脚5221、5222、第二电压针脚5241、5242、第一信号针脚5261、5262与通信针脚5231、5232自第二处理单元5280延伸而出，并穿过基板5200而露出于第二面P2。在另一实施例中，第二处理单元5280具有引脚，第二处理单元5280的引脚穿过基板5200以电性连接第一电压针脚5221、5222、第二电压针脚5241、5242、第一信号针脚5261、5262与通信针脚5231、5232。在另一实施例中，第一电压针脚5221、5222、第二电压针脚5241、5242、第一信号针脚5261、5262与通信针脚5231、5232穿过基板5200以电性连接处理第二单元5280。上述仅为举例示范，实际上并不以此为限。

第一电压针脚5221、5222与第二电压针脚5241、5242例如用以传输主机板2000供应的电能。第一信号针脚5261、5262例如用以传输主机板2000传输的时钟脉冲信号、状态指示信号或控制信号。第二测量治具5000经由第一电压针脚5221、5222、第二电压针脚5241、5242、第一信号针脚5261、5262与通信针脚5231、5232插设于第二插槽2600。当第二测量治具5000插设于第二插槽2600时，第二处理单元5280分别从第一电压针脚5221、5222读取至少一第一电压值、从第二电压针脚5241、5242读取至少一第二电压值并从第一信号针脚5261、5262读取至少一第三电压值。

在一实施例中，第一电压针脚5221、5222与第二电压针脚5241、5242经由第二插槽2600分别电性连接主机板2000上的多个供电模块，供电模块例如为电压脉冲宽度调变集成电路(pulse width modulation integrated circuit,PWM IC)。而第一信号针脚5261、5262则例如电性连接至直接媒体接口总线(direct media interface bus,DMI bus)、供电状态线路、时钟脉冲信号线路或其他处理器需要的信号线路，以自所述的线路中接收对应的信号。上述仅为举例示范，实际上并不以此为限。

于实务上，第二插槽2600用以提供多种不同的电压，换句话说，第二测量治具5000所具有的针脚的类型及数量并不以第一电压针脚5221、5222、第二电压针脚5241、5242与第一信号针脚5261、5262为限，第二处理单元5280所能读到的电压值也并不以第一电压值、第二电压值与第三电压值为限。在一实施例中，第二处理单元5280例如能经由第二插槽2600读到主机板2000上各个电压脉冲宽度调变集成电路输出给第二插槽2600的供电电压，所述的供电电压、第一电压值与第二电压值例如为习知的VCORE、VCCGT、VDDQ、VCCIO或VCCSA，此些电压参数为本领域技术人员所知悉，在此并不予赘述。第二处理单元5280例如经由串行电压识别(Serial Voltage Identification,SVID)电性连接主机板2000，而第三电压值则例如为上述各种信号线路可能的电压准位，在此同样不予以限制。

在上述的架构下，当第一测量治具1000的第一连接端1200插设于第一插槽2200时或第二连接端1400插设于第一插槽2200’时，第一处理单元1600用以经由第一插槽2200或第一插槽2200’传送控制信号至主机板2000的控制单元2800，以指示控制单元2800控制主机板2000的其他元件。后续以图1A、图1B对应的实施例，也就是以第一测量治具1000经第一连接端1200插设于第一插槽2200的实施例进行说明。在此实施例中电源供应模块2400为脉冲宽度调变集成电路，用以提供所欲的电能。第一测量治具1000的第一处理单元1600经由第一插槽2200指示控制单元2800控制主机板2000上的电源供应模块2400供电给第二插槽2600。

第二测量治具5000用以测量第二插槽2600中的各接点上的电压准位是否符合要求。而当第二测量治具5000测量得相关结果时，第二测量治具5000可依据测量得的相关结果产生对应的回馈信号，并经由通信针脚5231、5232将回馈信号传输至第一插槽2200，以让第一测量治具1000或第一测量治具1000后端的装置对测量得的相关结果进行分析判断。或者，第二测量治具5000可通过第二处理单元5280对测量得的相关结果进行分析判断。其中，第一插槽2200以主机板2000上的通道或者是以其他元件另外桥接的传输通道电性连接第二插槽2600。前述的通道例如为系统管理总线(system management bus,SM bus)，但并不以此为限。

于一实施例中，第一测量治具1000的第一处理单元1600还判读相关针脚上的电压准位的变化是否在可以忍受的范围或标准，以判断相关线路是否有异常。更详细地来说，第一处理单元1600可判读相关针脚上的电压准位是否大于一预设上限、小于一预设下限或是等于一个预设值。或者，第一处理单元1600可判读相关针脚上的电压准位是否在一预设时间拉回所欲的电压准位。甚或，第一处理单元1600可判读相关针脚上在一预设时间内的平均电压是否符合要求。事实上，对应于第二插槽2600所收到的信号的类型，例如脉冲宽度调变信号或或直流电压信号，处理单元1600可进行对应的分析判断。上述仅为举例示范，在此并不限定第一处理单元1600如何依据相关针脚上的电压准位进行判断。如前述，第二测量治具5000的第二处理单元5280同样可进行如前述第一测量治具1000的第一处理单元1600的判断分析作业，相关细节如前，于此则不再赘述。

请接着参照图3，图3为根据本发明一实施例所绘示的测量治具的仰视示意图。图3的主要目的为揭示本发明的第二测量治具5000对应其各针脚的相对关系而有不同的测量方案，因此图3所示的第二测量治具5000的针脚配置仅为举例示范而不以此为限。此外，经调整针脚数量及各元件的配置方式，本发明所提供的第二测量治具5000还可适用于其他类型的主机板2000，而不仅以附图所绘者为限制。

在此实施例中，第二测量治具5000经由如图中所示的针脚组合插设于主机板2000的第二插槽2600中。所述的针脚组合具有如前述的第一电压针脚5221、5222、第二电压针脚5241、5242、第一信号针脚5261、5262与通信针脚5231、5232。需注意的是，为求叙述简明，在附图中以较易阅读的方式绘示各针脚，并且仅标示说明所需的针脚，以避免图面混乱。换句话说，图2与图3及其对应的相关叙述仅为举例示范说明，第一测量治具1000实际上所具有的针脚类型，针脚尺寸、针脚形状、针脚数量及其相对位置并不以附图上所绘者为限。

而如图3所示，第一电压针脚5221相邻于第二电压针脚5241，第一电压针脚5222相邻于第一信号针脚5261。在一实施例中，对应于主机板2000上线路的电压准位的异同，第一电压针脚5221与第一电压针脚5222上的电压准位应彼此大致上相同，第二电压针脚5241与第二电压针脚5242上的电压准位应彼此大致上相同。且，第一电压针脚5221与第一电压针脚5222上的电压准位与第二电压针脚5241与第二电压针脚5242上的电压准位彼此相异。

在一实施例中，第二处理单元5280通过判读各针脚上是否具有预期的电压准位以判断主机板2000是否正常。在另一实施例中，第二处理单元5280还通过判读相邻的第一电压针脚5221与第二电压针脚5241上的电压准位是否相同，从而判断主机板2000上的对应线路是否有短路的现象。在另一实施例中，于一种测试程序里，主机板2000仅经由第一电压针脚5221、5222与第二电压针脚5241、5242供电给第二测量治具5000，并不经由第一信号针脚5261、5262提供相关信号给第一测量治具1000第二测量治具5000。此时，第二处理单元5280通过判读第一信号针脚5261、5262是否具有预期之外的电压准位来判断主机板2000的相关线路是否有异常。或者，第二处理单元5280通过判读脚第一信号针脚5261与相邻的第一电压针脚5222是否具有相同的电压来判断相关线路是否有短路的现象。

对应于上述，于一实施例中，第二处理单元5280还依据一控制信号产生一组判断参数，所述的判断参数例如具有对应于第一电压值、第二电压值与第三电压值的多个标准电压值。第二处理单元5280依据此组判断参数与测量得的第一电压值、第二电压值及第三电压值，产生一组判断结果。更详细地来说，第二处理单元5280例如判断测量得的第一电压值、第二电压值及第三电压值与判断参数中的标准电压值的相对关系，例如是否大于、小于或相等，来判断相关线路是否有异常。第二处理单元5280如何依据判断参数及各测量电压进行判断乃为本领域技术人员得依实际所需而自行设计，在此并不限定判断参数的内容以及数量。

此外，在另一实施例中，第二处理单元5280还可模拟处理器负载的变化以检测相关线路是否能够忍受处理器的负载异动。更详细地来说，第二处理单元5280还依据控制信号，从第一电压针脚5221、5222或第二电压针脚5241、5242中的至少一个针脚抽取第一电流。此时，处理单元5280还判读相关针脚上的电压准位的变化是否在可以忍受的范围或标准，以判断相关线路是否有异常。例如，第二处理单元5280可判读相关针脚上的电压准位是否大于一预设上限或小于一预设下限。或者，第二处理单元5280可判读相关针脚上的电压准位是否在一预设时间拉回所欲的电压准位。甚或，第二处理单元5280可判读相关针脚上在一预设时间内的平均电压是否符合要求。上述仅为举例示范，在此并不限定第二处理单元5280如何依据相关针脚上的电压准位进行判断。

于实务上，测量系统1还具有其他的实施方式，请接着参照图4以进行说明，图4为根据本发明另一实施例所绘示的测量系统的功能方块图。在图4所对应的实施例中，第二测量治具5000还具有存储单元5250、电源连接端5270与提示模块5290。主机板2000还具有电源供应模块2400。存储单元5250、电源连接端5270与提示模块5290电性连接第二处理单元5280。电源供应模块2400电性连接第二插槽2600。其中，存储单元5250例如为易失性存储器或非易失性存储器，提示模块5290例如为发光二极体(light emitting diode,LED)或蜂鸣器，电源供应模块2400例如为电压脉冲宽度调变集成电路。上述仅为举例示范，实际上并不以此限制各元件的数量以及类型。

存储单元5250用以存储所述的测量得的第一电压值、第二电压值与第三电压值。当存储单元5250为非易失性存储器时，即使不供电给第二测量治具5000，相关测量资料依然可以保存在存储单元5250，使用者可在测量之后将存储单元5250自第二测量治具5000取下，并以其他电子设备自存储单元5250中读出相关测量资料以进行分析。电源连接端5270用以可插拔地插设于电源供应器4000，以使第二测量治具5000自电源供应器4000取得电源。在此实施例，当第二处理单元5280在前述的过程中判断主机板2000的相关线路有瑕疵时，第二处理单元5280还驱动提示模块5290选择性地发出声音或亮光，以示警于使用者。

请再参照图5～图7以说明测量系统1的其他实施方式，图5为根据本发明再一实施例所绘示的测量系统的功能方块图，图6为根据本发明又一实施例所绘示的测量系统的功能方块图，图7为根据本发明又另一实施例所绘示的测量系统的功能方块图。

而如图5所示，相较于图1A、图2A，于图3所对应的实施例中，第一测量治具1000还具有存储媒介1300。存储媒介1300用以存储如前述的回馈信号或者是测量结果。而存储媒介1300例如是易失性存储器或非易失性存储器。当存储媒介1300为非易失性存储器时，即使不提供电能给第一测量治具1000或不提供电能给存储媒介1300，存储媒介1300还是可以存储有所述的回馈信号或测量结果。因此，在此实施例中，使用者可以将存储媒介1300自第一测量治具1000上卸下，并以其他的测试设备对存储媒介1300中所存储的资料进行分析判断。

而如图6所示，相较于图1A、图1B，于图6所对应的实施例中，第一测量治具1000还具有控制连接端1800。控制连接端1800用以可插拔地电性连接电脑3000。第一测量治具1000可通过控制连接端1800而自电脑3000接收控制信号。或者，第一测量治具1000亦可通过控制连接端1800将接收得的回馈信号或所产生的测量结果传输给电脑3000。使用者因而得以使用电脑指示第一测量治具1000以传输指令给主机板2000，或者使用者亦可使用电脑对自第一测量治具1000取得的回馈信号或测量结果进行处理。控制连接端1800例如为各个版本的通用串列总线(universal serial bus,USB)、RJ45网路传输接口，甚或是蓝牙(bluetooth,BT)、无线保真(wireless fidelity,WIFI)或第二代以至于第四代(2^nd,3^rd,4^thgeneration,2G,3G,4G)的无线传输技术等的相关无线传输接口。电脑3000亦可以是任何具有运算功能的计算机设备。上述仅为举例示范，实际上并不以此为限。

而如图7所示，较于图1A、图1B，于图4所对应的实施例中，第一测量治具1000还具有电源连接端1900。电源连接端1900用以可插拔地电性连接电源供应器4000’。在此并不限制电源供应器4000与电源供应器4000’的异同。在一实施例中，第一测量治具1000通过电源连接端1900而自电源供应器4000’取得交流电能。而于另一实施例中，第一测量治具1000通过电源连接端1900而自电源供应器4000’取得直流电能。第一测量治具1000的相关供电规格为本领域技术人员经详阅本说明书后能依实际所需而自由规划，在此并不加以限制。而于另一实施例中，当第一测量治具1000并不具有电源连接端1900时，第一测量治具1000亦可经由第一插槽2200而自主机板2000取得所需的电能。

综合以上所述，本发明提供了一种测量系统。测量系统具有第一测量治具与第二测量治具。第一测量治具通过第一连接端或第二连接端插设于主机板的第一插槽，测量治具的处理单元用以通过第一插槽传送控制信号至主机板的控制单元。藉此，在测量时可通过本发明所提供的测量系统控制主机板的控制单元，从而控制主机板上的各元件作动以提供对应的电压、电流或信号。进而能在不用启动主机板的情况下，对主机板进行测量。当第二测量治具插设于处理器插槽时，测量治具的处理单元分别从至少一第一电压针脚读取至少一第一电压值、从至少一第二电压针脚读取至少一第二电压值并从至少一第一信号针脚读取至少一第三电压值。借着于不同的针脚读取对应的电压准位，本发明提供的测量系统得以对具有不同设定组态的主机板进行测量。通过上述的作法，本发明提供的测量系统还能用以测量不同针脚间是否有短路或断路的情况发生，而较以往的测量系统提供更多样化的测量功能。此外，还可缩短人工检测的时间并减少人为误判所造成的损失，另一方面还提高检测精准度而提升产品品质，避免检测失准而造成成本的上升。

虽然本发明以前述的实施例公开如上，然其并非用以限定本发明。在不脱离本发明的精神和范围内，所为的更动与润饰，均属本发明的专利保护范围。关于本发明所界定的保护范围请参考所附的权利要求。

Claims (14)

1.一种测量系统，包含：

一第一测量治具，适于插设于一主机板上的一第一插槽，所述第一测量治具包含：

一第一连接端，用以可插拔的插设于所述第一插槽；

一第二连接端，用以可插拔的插设于所述第一插槽；以及

一第一处理单元，电性连接所述第一连接端与所述第二连接端，当所述第一连接端或所述第二连接端插设于所述第一插槽时，所述第一处理单元用以经所述第一插槽传送一控制信号至所述主机板的一控制单元，以令所述控制单元控制所述主机板上的一电源供应模块选择性地提供电能给所述主机板的一第二插槽；以及

一第二测量治具，适于插设于所述第二插槽，所述第二测量治具包含：

一基板，具有第一面与第二面；

至少一第一电压针脚，位于所述第二面；

至少一第二电压针脚，位于所述第二面；

至少一第一信号针脚，位于所述第二面；

一通信针脚，位于所述第二面；以及

一第二处理单元，位于所述第一面，电性连接于所述至少一第一电压针脚、所述至少一第二电压针脚与所述至少一第一信号针脚，当所述第二测量治具插设于所述第二插槽时，所述第二处理单元分别从所述至少一第一电压针脚读取至少一第一电压值、从所述至少一第二电压针脚读取至少一第二电压值并从所述至少一第一信号针脚读取至少一第三电压值，所述第二处理单元并经由所述通信针脚将读取得的结果传输至所述第一插槽。

2.如权利要求1所述的测量系统，其中所述第一处理单元进一步通过所述第一插槽接收来自所述第二插槽的一回馈信号。

3.如权利要求2所述的测量系统，其中所述第一处理单元进一步依据所述控制信号与所述回馈信号，产生关于所述第二插槽的一测量结果。

4.如权利要求3所述的测量系统，进一步包含一存储媒介，电性连接所述第一处理单元，用以存储所述回馈信号或所述测量结果。

5.如权利要求1所述的测量系统，其中所述第一连接端的格式与所述第二连接端的格式不同。

6.如权利要求1所述的测量系统，进一步包含一控制连接端，电性连接所述第一处理单元，用以可插拔的连接于一电脑。

7.如权利要求1所述的测量系统，其中所述第一测量治具进一步包含一第一电源连接端，用以可插拔的连接于一电源供应器。

8.如权利要求1所述的测量系统，其中所述至少一第一电压针脚为多根第一电压针脚，所述至少一第一电压为多个第一电压值，所述第二处理单元分别从所述多个第一电压针脚读取所述多个第一电压值。

9.如权利要求1所述的测量系统，其中所述至少一第一电压针脚其中之一相邻于所述至少一第二电压针脚其中之一。

10.如权利要求1所述的测量系统，其中所述至少一第一电压针脚其中之一相邻于所述至少一第一信号针脚其中之一。

11.如权利要求1所述的测量系统，其中所述第二测量治具进一步包含一第二电源连接端，电性连接所述第二处理单元，所述第二电源连接端用以可插拔的插设于一电源供应器。

12.如权利要求1所述的测量系统，其中所述第二处理单元进一步依据所述控制信号产生一组判断参数，并依据所述判断参数、所述至少一第一电压值、所述至少一第二电压值与所述至少一第三电压值，产生一组判断结果。

13.如权利要求12所述的测量系统，其中所述第二处理单元进一步依据所述控制信号，从所述至少一第一电压针脚抽取一第一电流。

14.如权利要求1所述的测量系统，进一步包含一存储单元，电性连接所述第二处理单元，用以存储所述至少一第一电压值、所述至少一第二电压值与所述至少一第三电压值。