CN106886058B - 致密油藏有效储层物性下限值的确定方法和装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种致密油藏有效储层物性下限值的确定方法和装置,其中,该方法包括:根据待测工区待测深度处的烃源岩排烃率、烃源岩厚度和有机质丰度,确定单位面积排烃强度;获取原油的粘度以及原油的密度;根据烃源岩厚度分布,确定排烃中心到边缘的距离;根据所述单位面积排烃强度、所述原油粘度、所述原油密度以及所述排烃中心到边缘的距离,计算得到所述待测工区待测深度处的临界孔喉半径;根据所述临界孔喉半径,确定所述待测深度处的物性下限值。在本发明实施例中,提出了一种定量确定所述临界孔喉半径的计算方式,从而可量得到所述待测深度处的物性下限值。利用所得到的更加精确的物性下限值指导石油勘探时,勘探结果更加精确。

Description

致密油藏有效储层物性下限值的确定方法和装置
技术领域
本发明涉及地质勘探技术领域,特别涉及一种致密油藏有效储层物性下限值的确定方法和装置。
背景技术
致密油藏有效储层的物性下限主要受控于储层的裂缝、岩性、孔隙结构类型以及孔喉均质程度等多种因素。同时,随着油气田的开发,储层的各项参数,如压力、含油气饱和度以及润湿性等都会发生变化,从而导致储层的物性下限值也会发生变化。
目前,可以采用试油法、分布函数曲线法、束缚水饱和度法以及经验统计法等方式计算待测油藏中的有效储层物性下限值。然而,采用上述方式只能根据岩心或者测井等数据的经验值,定性的确定出整个工区的物性下限值,因而利用上述方式得到的物性下限值进行石油勘探时,勘探效率较低。
发明内容
本发明提供了一种致密油藏有效储层物性下限值的确定方法和装置,以达到提高石油勘探开采效率的目的。
本发明实施例提供了一种致密油藏有效储层物性下限值的确定方法,可以包括:根据待测工区待测深度处的烃源岩排烃率、烃源岩厚度和有机质丰度,确定所述待测深度处的单位面积排烃强度;获取所述待测深度处原油的粘度以及原油的密度;根据所述待测深度处的烃源岩厚度分布数据,确定所述待测深度处烃源岩的排烃中心到边缘的距离;根据所述单位面积排烃强度、所述原油粘度、所述原油密度以及所述排烃中心到边缘的距离,计算得到所述待测工区待测深度处的临界孔喉半径;根据所述临界孔喉半径,确定所述待测深度处的物性下限值。
在一个实施例中,可以按照以下公式计算确定所述待测工区待测深度处的临界孔喉半径:
上式中,r表示所述临界孔喉半径,σ表示所述待测工区的界面张力,θ表示所述待测工区的润湿角,qe表示所述单位面积排烃强度,K表示所述待测工区的烃源岩渗透率,μ表示所述原油的粘度,Δt表示所述待测工区中烃源岩生排烃期经历的时间,L表示所述排烃中心到边缘的距离,ρ表示所述原油的密度。
在一个实施例中,确定所述待测深度处的单位面积排烃强度,可以包括:计算所述烃源岩排烃率、所述烃源岩厚度、所述待测工区中烃源岩的平均密度和所述有机质丰度之间的乘积;在预设的镜体反射率范围内,计算所述乘积的积分,并将所述积分作为所述待测深度处的单位面积排烃强度。
在一个实施例中,可以按照以下公式确定所述待测深度处的单位面积排烃强度:
上式中,qe表示所述单位面积排烃强度,Ro表示所述待测深度处烃源岩达到排烃门限值时各个待测深度处的镜质体反射率,Roe≤Ro≤Rof,qo(Ro)表示所述烃源岩排烃率,H表示所述烃源岩厚度,ρo表示所述待测工区中烃源岩的平均密度,TOC表示所述有机质丰度。
在一个实施例中,可以采用以下方式计算得到所述待测深度处的单位面积排烃强度:获取所述待测工区各个待测深度处烃源岩的生烃潜力指数,并对所述生烃潜力指数进行轻烃校正,所述生烃潜力指数包括:可溶烃与裂解烃相加的和;根据所述各个待测深度处烃源岩的生烃潜力指数与所述各个待测深度的关系,拟合得到所述待测工区各个待测深度处的残余生烃潜力指数;计算达到排烃门限值时各个深度处的恢复后生烃潜力指数;计算相同深度处所述恢复后生烃潜力指数和所述残余生烃潜力指数之间的差值,将所述差值作为所述待测工区各个待测深度处的烃源岩排烃率。
在一个实施例中,可以按照以下公式对所述生烃潜力指数进行轻烃校正:
上式中,
上式中,S1+表示进行轻烃校正后的可溶烃,S1表示所述可溶烃,Ro表示所述待测深度处烃源岩达到排烃门限值时各个待测深度处的镜质体反射率。
在一个实施例中,根据所述临界孔喉半径,确定所述待测深度处的物性下限值,可以包括:利用所述待测工区内的压汞数据和孔渗数据,得到待测储层的孔喉半径、孔隙度和渗透率;将孔喉半径与孔隙度进行拟合,得到所述孔喉半径与所述孔隙度之间的第一拟合关系;将孔喉半径与渗透率进行拟合,得到所述孔喉半径与所述渗透率之间的第二拟合关系;根据所述临界孔喉半径和所述第一拟合关系、所述临界孔喉半径和所述第二拟合关系分别计算确定与所述临界孔喉半径相对应的物性下限值。
本发明实施例还提供了一种致密油藏有效储层物性下限值的确定装置,可以包括:排烃强度确定模块,可以用于根据待测工区待测深度处的烃源岩排烃率、烃源岩厚度和有机质丰度,确定所述待测深度处的单位面积排烃强度;原油参数获取模块,可以用于获取所述待测深度处原油的粘度以及原油的密度;距离确定模块,可以用于根据所述待测深度处的烃源岩厚度分布数据,确定所述待测深度处烃源岩的排烃中心到边缘的距离;孔喉半径确定模块,可以用于根据所述单位面积排烃强度、所述原油粘度、所述原油密度以及所述排烃中心到边缘的距离,计算得到所述待测工区待测深度处的孔喉半径;物性值确定模块,可以用于根据所述孔喉半径,计算确定所述待测深度处的物性下限值。
在一个实施例中,所述孔喉半径确定模块具体可以用于按照以下公式计算确定所述待测工区待测深度处的孔喉半径:
上式中,r表示所述孔喉半径,σ表示所述待测工区的界面张力,θ表示所述待测工区的润湿角,qe表示所述单位面积排烃强度,K表示所述待测工区的烃源岩渗透率,μ表示所述原油的粘度,Δt表示所述待测工区中烃源岩生排烃期经历的时间,L表示所述排烃中心到边缘的距离,ρ表示所述原油的密度。
在一个实施例中,所述排烃强度确定模块可以包括:乘积计算单元,可以用于计算所述烃源岩排烃率、所述烃源岩厚度、所述待测工区中烃源岩的平均密度和所述有机质丰度之间的乘积;强度计算单元,可以用于在预设的镜体反射率范围内,计算所述乘积的积分,并将所述积分作为所述待测深度处的单位面积排烃强度。
在本发明实施例中,根据所述单位面积排烃强度、所述原油的粘度、所述原油的密度以及所述排烃中心到边缘的距离,计算得到所述待测工区待测深度处的临界孔喉半径;再根据所述临界孔喉半径,计算得到所述待测深度处的物性下限值。通过利用所述待测工区中地层受力平衡关系,定量的建立了所述临界孔喉半径的计算方式,在得到确定的临界孔喉半径之后,再定量得到所述待测深度处的物性下限值。采用上述方式解决了现有技术中只能根据岩心或者测井等数据的经验值,定性的确定出整个工区的物性下限值的缺陷,利用所得到的更加精确的物性下限值指导石油勘探时,勘探结果更加精确。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请提供的一种致密油藏有效储层物性下限值的确定方法流程图;
图2是本申请提供的致密油藏充注模式的示意图;
图3是本申请提供的一种致密油藏有效储层物性下限值的确定装置的结构框图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本申请中的技术方案,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本申请保护的范围。
考虑到现有技术中只能根据岩心或者测井等数据的经验值,定性的确定出整个工区的物性下限值的缺陷,发明人提出了通过利用地层中的受力平衡关系,即,地层烃源岩中生油增压时所产生的动力、阻止所产生的油藏进入储层毛细管的阻力在临界情况下的平衡关系,从而定量的确定所述待测工区待测深度处的临界孔喉半径,并最终得到所述待测工区待测深度处的物性下限值。基于此,提出了一种致密油藏有效储层物性下限值的确定方法,如图1所示,可以包括以下步骤:
S101:根据待测工区待测深度处的烃源岩排烃率、烃源岩厚度和有机质丰度,确定所述待测深度处的单位面积排烃强度。
致密油藏可以指的是指夹在或者紧邻优质生油层系的致密储层中,未经过大规模长距离运移而形成的石油聚集。进一步地,致密油藏有效储层可以指的是在现有工艺条件下能获得工业油流的致密油藏储层。有效储层的物性参数包括:孔隙度、渗透率和饱和度。在本申请中,所述有效储层物性下限值可以是孔隙度和渗透率的下限值。
在本申请的一个实施例中,在确定所述待测深度处的单位面积排烃强度之前,可以采用以下方式计算得到所述待测深度处的单位面积排烃强度:获取所述待测工区各个待测深度处烃源岩的生烃潜力指数,并对所述生烃潜力指数进行轻烃校正,所述生烃潜力指数包括:可溶烃与裂解烃相加的和;根据所述各个待测深度处烃源岩的生烃潜力指数与所述各个待测深度的关系,拟合得到所述待测工区各个待测深度处的残余生烃潜力指数;计算所述待测工区各个待测深度处的残余生烃潜力指数以及达到排烃门限值时各个深度处的恢复后生烃潜力指数之间的差值,将所述差值作为所述待测工区各个待测深度处的烃源岩排烃率。
在烃源岩热解定量评价中,一般可以利用可溶烃(S1)和裂解烃(S2)之和(S1+S2)来表示所述烃源岩的生烃潜力指数。在没有油气排出时所对应的烃源岩的生烃潜力可以称为最大生烃潜力;在有油气排出后,生烃潜力将逐渐减少,次数的生烃潜力可以成为剩余生烃潜力。S1可以是岩样加热不超过300℃时挥发出的烃,它可以表示岩石中可抽提游离烃的含量,即烃源岩中已生成但未运移走的烃;S2表示干酪根(300℃-600℃)热解生成烃的数量。在本申请中,可以采用生烃潜力指数((S1+S2)/TOC)来综合表示所述待测地层中烃源岩的生烃潜力。在获取生烃潜力指数之前,可以按照以下公式对S1进行轻烃校正:
上式中,
上式中,S1+表示进行轻烃校正后的可溶烃,S1表示所述可溶烃,Ro表示所述待测深度处烃源岩达到排烃门限值时各个待测深度处的镜质体反射率。
当所述待测工区中烃源岩的生烃潜力指数在地史演化过程中开始减小时,则表明有烃类开始排出,此时烃源岩的埋深表示烃源岩的排烃门限。通过研究所述生烃潜力指数在地质剖面上的变化可以计算源岩的排烃率;根据生烃潜力指数(S1+S2)/TOC随地层深度的变化关系,拟合得到残余生烃潜力曲线,当所述残余生烃潜力达到所述排烃门限后,将不同深度的生烃潜力值乘以恢复系数rr,得到恢复后生烃潜力曲线,两者相减得到排烃率曲线,用以计算不同深度处的烃源岩排烃率。
具体的,可以按照以下公式计算确定所述恢复系数:
上式中,GPIr表示所述恢复后生烃潜力指数,GPI0残余生烃潜力指数。
在本申请的一个实施例中,在得到所述烃源岩排烃率之后,可以按照以下公式确定所述待测深度处的单位面积排烃强度:
上式中,qe表示所述单位面积排烃强度,Ro表示所述待测深度处烃源岩达到排烃门限值时各个待测深度处的镜质体反射率,Roe≤Ro≤Rof,qo(Ro)表示所述烃源岩排烃率,H表示所述烃源岩厚度,ρo表示所述待测工区中烃源岩的平均密度,TOC表示所述有机质丰度。
S102:获取所述待测深度处原油的粘度以及原油的密度。
可以采集不同深度原油粘度、密度实测数据,从而可以得到不同待测深度处原油的粘度以及原油的密度。在本申请中,以玛湖坳陷为例进行原油的粘度和原油的密度的采集。玛湖坳陷位于准噶尔盆地中央凹陷区,西北接乌夏断裂带和克百断裂带,东南接达巴松凸起和夏盐凸起,采集后原油的粘度如表1所示,原油的密度如表2所示。
表1玛湖坳陷在不同待测深度处原油的粘度
其中,井号表示玛湖坳陷中进行原油粘度值采集的不同井,深度范围对应各个待测深度,分别采集玛湖坳陷中不同深度范围不同井号原油的粘度。
表2玛湖坳陷在不同待测深度处原油的密度
其中,井号表示玛湖坳陷中进行原油粘度值采集的不同井,深度范围对应各个待测深度,分别采集玛湖坳陷中不同深度范围不同井号原油的密度。
S103:根据所述待测深度处的烃源岩厚度分布数据,确定所述待测深度处烃源岩的排烃中心到边缘的距离。
S104:根据所述单位面积排烃强度、所述原油粘度、所述原油密度以及所述排烃中心到边缘的距离,计算得到所述待测工区待测深度处的临界孔喉半径。
只采用岩心或者测井等数据的经验值,定性的确定出整个工区的物性下限值时,所述物性下限值与待测工区储层的实际情况不符。因此,可以利用地层中的受力平衡关系,选取待测工区油田受力平衡的一个临界点,即,当地层烃源岩中生油增压时所产生的动力、阻止所产生的油藏进入储层毛细管的阻力在临界情况下相等时的临界点,定量的确定所述待测工区待测深度处的临界孔喉半径,并最终得到所述待测工区待测深度处的物性下限值。
在本申请的一个实施例中,可以按照以下公式计算确定所述待测工区待测深度处的临界孔喉半径:
上式中,r表示所述临界孔喉半径,σ表示所述待测工区的界面张力,θ表示所述待测工区的润湿角,qe表示所述单位面积排烃强度,K表示所述待测工区的烃源岩渗透率,μ表示所述原油的粘度,Δt表示所述待测工区中烃源岩生排烃期经历的时间,L表示所述排烃中心到边缘的距离,ρ表示所述原油的密度。
上式中,qe、μ、L以及ρ是随着所述待测工区的待测深度变化的,而σ、θ、K、Δt在一个待测工区中仅存在一个值。可以通过所述待测工区中的岩石物理特性,得出亲水性储层岩石的界面张力σ以及润湿角θ;可以根据所述待测工区中的测井数据,得到所述待测工区的烃源岩渗透率K;可以所述待测工区中烃源岩的生排烃史,得到烃源岩生排烃期经历的时间Δt。
测取上述玛湖坳陷不同深度处的σ、θ、K、Δt、qe、μ、L以及ρ,并根据这些参数确定不同深度所对应的临界孔喉半径,如表3所示。
表3玛湖坳陷在不同待测深度处的临界孔喉半径
S105:根据所述临界孔喉半径,确定所述待测深度处的物性下限值。
如图2所示为致密油藏充注模式的示意图,当烃源岩中生油增压所产生的动力小于储层中毛细管所产生的阻力时,烃源岩中的油气不能进入致密储层,从而致密储层的孔喉中不能形成油气聚集,即,致密储层中只存在饱和水;当烃源岩中生油增压所产生的动力大于储层中毛细管所产生的阻力时,烃源岩中的油气可以进入致密储层,并在致密储层的孔喉中形成油气聚集。因此,可以根据烃源岩中生油增压所产生的动力等于储层中毛细管所产生的阻力时,所得到的油气平衡关系式来确定所述待测工区在待测深度处以孔喉半径为联系的物性临界值。
在得到所述临界孔喉半径之后,在本申请的一个实施例中,可以按照以下方式确定所述待测深度处的物性下限值。在本申请中,物性参数主要指的是孔隙度和渗透率:
S5-1:利用所述待测工区内的压汞数据和孔渗数据,得到待测储层的孔喉半径、孔隙度和渗透率。
S5-2:将孔喉半径与孔隙度进行拟合,得到所述孔喉半径与所述孔隙度之间的第一拟合关系。
S5-3:将孔喉半径与渗透率进行拟合,得到所述孔喉半径与所述渗透率之间的第二拟合关系。
S5-4:根据所述临界孔喉半径和所述第一拟合关系、所述临界孔喉半径和所述第二拟合关系分别计算确定与所述临界孔喉半径相对应的物性下限值。
具体的,可以采用最小二乘法的方式分别将所述孔喉半径和所述孔隙度以及所述孔喉半径和所述渗透率进行拟合。
通过分别将所述临界孔喉半径带入所述第一拟合关系和所述第二拟合关系,可以得到与所述孔喉半径相对应的孔隙度和渗透率。
基于同一发明构思,本发明实施例中还提供了一种致密油藏有效储层物性下限值的确定装置,如下面的实施例所述。由于致密油藏有效储层物性下限值的确定装置解决问题的原理与致密油藏有效储层物性下限值的确定方法相似,因此致密油藏有效储层物性下限值的确定装置的实施可以参见致密油藏有效储层物性下限值的确定方法的实施,重复之处不再赘述。以下所使用的,术语“单元”或者“模块”可以实现预定功能的软件和/或硬件的组合。尽管以下实施例所描述的装置较佳地以软件来实现,但是硬件,或者软件和硬件的组合的实现也是可能并被构想的。图3是本发明实施例的致密油藏有效储层物性下限值的确定装置的一种结构框图,如图3所示,可以包括:排烃强度确定模块301、原油参数获取模块302、距离确定模块303、孔喉半径确定模块304、物性值确定模块305,下面对该结构进行说明。
排烃强度确定模块301,可以用于根据待测工区待测深度处的烃源岩排烃率、烃源岩厚度和有机质丰度,确定所述待测深度处的单位面积排烃强度;
原油参数获取模块302,可以用于获取所述待测深度处原油的粘度以及原油的密度;
距离确定模块303,可以用于根据所述待测深度处的烃源岩厚度分布数据,确定所述待测深度处烃源岩的排烃中心到边缘的距离;
孔喉半径确定模块304,可以用于根据所述单位面积排烃强度、所述原油粘度、所述原油密度以及所述排烃中心到边缘的距离,计算得到所述待测工区待测深度处的孔喉半径;
物性值确定模块305,可以用于根据所述孔喉半径,计算确定所述待测深度处的物性下限值。
在一个实施例中,所述孔喉半径确定模块具体可以用于按照以下公式计算确定所述待测工区待测深度处的孔喉半径:
上式中,r表示所述孔喉半径,σ表示所述待测工区的界面张力,θ表示所述待测工区的润湿角,qe表示所述单位面积排烃强度,K表示所述待测工区的烃源岩渗透率,μ表示所述原油的粘度,Δt表示所述待测工区中烃源岩生排烃期经历的时间,L表示所述排烃中心到边缘的距离,ρ表示所述原油的密度。
在一个实施例中,所述排烃强度确定模块可以包括:乘积计算单元,可以用于计算所述烃源岩排烃率、所述烃源岩厚度、所述待测工区中烃源岩的平均密度和所述有机质丰度之间的乘积;强度计算单元,可以用于在预设的镜体反射率范围内,计算所述乘积的积分,并将所述积分作为所述待测深度处的单位面积排烃强度。
在一个实施例中,所述排烃强度确定模块具体可以用于按照以下公式确定所述待测深度处的单位面积排烃强度:
上式中,qe表示所述单位面积排烃强度,Ro表示所述待测深度处烃源岩达到排烃门限值时各个待测深度处的镜质体反射率,Roe≤Ro≤Rof,qo(Ro)表示所述烃源岩排烃率,H表示所述烃源岩厚度,ρo表示所述待测工区中烃源岩的平均密度,TOC表示所述有机质丰度。
在一个实施例中,所述排烃强度确定模块具体可以采用以下方式计算得到所述待测深度处的单位面积排烃强度:生烃潜力指数获取模块,可以用于在确定所述待测深度处的单位面积排烃强度之前获取所述待测工区各个待测深度处烃源岩的生烃潜力指数,并对所述生烃潜力指数进行轻烃校正,所述生烃潜力指数包括:可溶烃与裂解烃相加的和;残余生烃潜力指数获取模块,可以用于根据所述各个待测深度处烃源岩的生烃潜力指数与所述各个待测深度的关系,拟合得到所述待测工区各个待测深度处的残余生烃潜力指数;恢复后生烃潜力指数获取模块,可以用于计算达到排烃门限值时各个深度处的恢复后生烃潜力指数;烃源岩排烃率计算模块,可以用于计算相同深度处所述恢复后生烃潜力指数和所述残余生烃潜力指数之间的差值,将所述差值作为所述待测工区各个待测深度处的烃源岩排烃率。
在一个实施例中,所述生烃潜力指数获取模块具体可以用于按照以下公式对所述生烃潜力指数进行轻烃校正:
上式中,
上式中,S1+表示进行轻烃校正后的可溶烃,S1表示所述可溶烃,Ro表示所述待测深度处烃源岩达到排烃门限值时各个待测深度处的镜质体反射率。
在一个实施例中,所述物性值确定模块可以包括:参数获取单元,用于利用所述待测工区内的压汞数据和孔渗数据,得到待测储层的孔喉半径、孔隙度和渗透率;第一关系确定单元,用于将孔喉半径与孔隙度进行拟合,得到所述孔喉半径与所述孔隙度之间的第一拟合关系;第二关系确定单元,用于将孔喉半径与渗透率进行拟合,得到所述孔喉半径与所述渗透率之间的第二拟合关系;下限值确定单元,用于根据所述临界孔喉半径和所述第一拟合关系、所述临界孔喉半径和所述第二拟合关系分别计算确定与所述临界孔喉半径相对应的物性下限值。
利用上述各实施例所提供的致密油藏有效储层物性下限值的确定装置的实施方式,可以自动实施所述致密油藏有效储层物性下限值的确定方法,对待测工区的物性下限值进行预测,可以不需要实施人员的具体参与,可以直接输出储层预测结果,操作简单快捷,有效提高了用户体验。
所述致密油藏有效储层物性下限值的确定装置中,对所述生烃潜力指数进行轻烃校正、确定所述待测深度处的单位面积排烃强度、确定所述待测深度处的单位面积排烃强度、计算确定所述待测工区待测深度处的临界孔喉半径、根据所述临界孔喉半径,计算得到所述待测工区的物性下限值的实施方式的扩展可以参照前述方法的相关描述。
尽管本申请内容中提到物性下限值确定方法、临界孔喉半径确定方法、单位面积排烃强度确定方法等描述,但是,本申请并不局限于必须是符合上述方法所对应在本申请实施例所描述的情况。某些行业标准或者使用自定义方式或实施例描述的实施基础上略加修改后的实施方案也可以实现上述实施例相同、等同或相近、或变形后可预料的实施效果。应用这些修改或变形后的数据确定方法得到的实施例,仍然可以属于本申请的可选实施方案范围之内。
虽然本申请提供了如实施例或流程图所述的方法操作步骤,但基于常规或者无创造性的手段可以包括更多或者更少的操作步骤。实施例中列举的步骤顺序仅仅为众多步骤执行顺序中的一种方式,不代表唯一的执行顺序。在实际中的装置或终端产品执行时,可以按照实施例或者附图所示的方法顺序执行或者并行执行(例如并行处理器或者多线程处理的环境,甚至为分布式数据处理环境)。术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、产品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、产品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,并不排除在包括所述要素的过程、方法、产品或者设备中还存在另外的相同或等同要素。
上述实施例阐明的单元、装置或模块等,具体可以由计算机芯片或实体实现,或者由具有某种功能的产品来实现。为了描述的方便,描述以上装置时以功能分为各种模块分别描述。当然,在实施本申请时可以把各模块的功能在同一个或多个软件和/或硬件中实现,也可以将实现同一功能的模块由多个子模块或子单元的组合实现等。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,所述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
本领域技术人员也知道,除了以纯计算机可读程序代码方式实现控制器以外,完全可以通过将方法步骤进行逻辑编程来使得控制器以逻辑门、开关、专用集成电路、可编程逻辑控制器和嵌入微控制器等的形式来实现相同功能。因此这种控制器可以被认为是一种硬件部件,而对其内部包括的用于实现各种功能的装置也可以视为硬件部件内的结构。或者甚至,可以将用于实现各种功能的装置视为既可以是实现方法的软件模块又可以是硬件部件内的结构。
本申请可以在由计算机执行的计算机可执行指令的一般上下文中描述,例如程序模块。一般地,程序模块包括执行特定任务或实现特定抽象数据类型的例程、程序、对象、组件、数据结构、类等等。也可以在分布式计算环境中实践本申请,在这些分布式计算环境中,由通过通信网络而被连接的远程处理设备来执行任务。在分布式计算环境中,程序模块可以位于包括存储设备在内的本地和远程计算机存储介质中。
通过以上的实施方式的描述可知,本领域的技术人员可以清楚地了解到本申请可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解,本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品可以存储在存储介质中,如ROM/RAM、磁碟、光盘等,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,移动终端,服务器,或者网络设备等)执行本申请各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
本说明书中的各个实施例采用递进的方式描述,各个实施例之间相同或相似的部分互相参见即可,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。本申请可用于众多通用或专用的计算机系统环境或配置中。例如:个人计算机、服务器计算机、手持设备或便携式设备、平板型设备、多处理器系统、基于微处理器的系统、置顶盒、可编程的电子设备、网络PC、小型计算机、大型计算机、包括以上任何系统或设备的分布式计算环境等等。
虽然通过实施例描绘了本申请,本领域普通技术人员知道,本申请有许多变形和变化而不脱离本申请的精神,希望所附的权利要求包括这些变形和变化而不脱离本申请的精神。

Claims (9)

1.一种致密油藏有效储层物性下限值的确定方法,其特征在于,包括:
根据待测工区待测深度处的烃源岩排烃率、烃源岩厚度和有机质丰度,确定所述待测深度处的单位面积排烃强度;
获取所述待测深度处原油的粘度以及原油的密度;
根据所述待测深度处的烃源岩厚度分布数据,确定所述待测深度处烃源岩的排烃中心到边缘的距离;
根据所述单位面积排烃强度、所述原油的粘度、所述原油的密度以及所述排烃中心到边缘的距离,计算得到所述待测工区待测深度处的临界孔喉半径;
根据所述临界孔喉半径,确定所述待测深度处的物性下限值;
其中,所述待测深度处的单位面积排烃强度采用以下方式计算得到:
获取所述待测工区各个待测深度处烃源岩的生烃潜力指数,并对所述生烃潜力指数进行轻烃校正,所述生烃潜力指数包括:可溶烃与裂解烃相加的和;
根据所述各个待测深度处烃源岩的生烃潜力指数与所述各个待测深度的关系,拟合得到所述待测工区各个待测深度处的残余生烃潜力指数;
计算达到排烃门限值时各个深度处的恢复后生烃潜力指数;
计算相同深度处所述恢复后生烃潜力指数和所述残余生烃潜力指数之间的差值,将所述差值作为所述待测工区各个待测深度处的烃源岩排烃率。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,按照以下公式计算确定所述待测工区待测深度处的临界孔喉半径:
上式中,r表示所述临界孔喉半径,σ表示所述待测工区的界面张力,θ表示所述待测工区的润湿角,qe表示所述单位面积排烃强度,K表示所述待测工区的烃源岩渗透率,μ表示所述原油的粘度,Δt表示所述待测工区中烃源岩生排烃期经历的时间,L表示所述排烃中心到边缘的距离,ρ表示所述原油的密度。
3.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,确定所述待测深度处的单位面积排烃强度,包括:
计算所述烃源岩排烃率、所述烃源岩厚度、所述待测工区中烃源岩的平均密度和所述有机质丰度之间的乘积;
在预设的镜体反射率范围内,计算所述乘积的积分,并将所述积分作为所述待测深度处的单位面积排烃强度。
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,按照以下公式确定所述待测深度处的单位面积排烃强度:
上式中,qe表示所述单位面积排烃强度,Ro表示所述待测深度处烃源岩达到排烃门限值时各个待测深度处的镜质体反射率,Roe≤Ro≤Rof,qo(Ro)表示所述烃源岩排烃率,H表示所述烃源岩厚度,ρo表示所述待测工区中烃源岩的平均密度,TOC表示所述有机质丰度。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,按照以下公式对所述生烃潜力指数进行轻烃校正:
上式中,
上式中,S1+表示进行轻烃校正后的可溶烃,S1表示所述可溶烃,Ro表示所述待测深度处烃源岩达到排烃门限值时各个待测深度处的镜质体反射率。
6.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,根据所述临界孔喉半径,确定所述待测深度处的物性下限值,包括:
利用所述待测工区内的压汞数据和孔渗数据,得到待测储层的孔喉半径、孔隙度和渗透率;
将孔喉半径与孔隙度进行拟合,得到所述孔喉半径与所述孔隙度之间的第一拟合关系;
将孔喉半径与渗透率进行拟合,得到所述孔喉半径与所述渗透率之间的第二拟合关系;
根据所述临界孔喉半径和所述第一拟合关系、所述临界孔喉半径和所述第二拟合关系分别计算确定与所述临界孔喉半径相对应的物性下限值。
7.一种致密油藏有效储层物性下限值的确定装置,其特征在于,包括:
排烃强度确定模块,用于根据待测工区待测深度处的烃源岩排烃率、烃源岩厚度和有机质丰度,确定所述待测深度处的单位面积排烃强度;
原油参数获取模块,用于获取所述待测深度处原油的粘度以及原油的密度;
距离确定模块,用于根据所述待测深度处的烃源岩厚度分布数据,确定所述待测深度处烃源岩的排烃中心到边缘的距离;
孔喉半径确定模块,用于根据所述单位面积排烃强度、所述原油的粘度、所述原油的密度以及所述排烃中心到边缘的距离,计算得到所述待测工区待测深度处的孔喉半径;
物性值确定模块,用于根据所述孔喉半径,计算确定所述待测深度处的物性下限值;
所述排烃强度确定模块具体用于采用以下方式计算得到所述待测深度处的单位面积排烃强度:
获取所述待测工区各个待测深度处烃源岩的生烃潜力指数,并对所述生烃潜力指数进行轻烃校正,所述生烃潜力指数包括:可溶烃与裂解烃相加的和;
根据所述各个待测深度处烃源岩的生烃潜力指数与所述各个待测深度的关系,拟合得到所述待测工区各个待测深度处的残余生烃潜力指数;
计算达到排烃门限值时各个深度处的恢复后生烃潜力指数;
计算相同深度处所述恢复后生烃潜力指数和所述残余生烃潜力指数之间的差值,将所述差值作为所述待测工区各个待测深度处的烃源岩排烃率。
8.如权利要求7所述的装置,其特征在于,所述孔喉半径确定模块具体用于按照以下公式计算确定所述待测工区待测深度处的孔喉半径:
上式中,r表示所述孔喉半径,σ表示所述待测工区的界面张力,θ表示所述待测工区的润湿角,qe表示所述单位面积排烃强度,K表示所述待测工区的烃源岩渗透率,μ表示所述原油的粘度,Δt表示所述待测工区中烃源岩生排烃期经历的时间,L表示所述排烃中心到边缘的距离,ρ表示所述原油的密度。
9.如权利要求7或8所述的装置,其特征在于,所述排烃强度确定模块包括:
乘积计算单元,用于计算所述烃源岩排烃率、所述烃源岩厚度、所述待测工区中烃源岩的平均密度和所述有机质丰度之间的乘积;
强度计算单元,用于在预设的镜体反射率范围内,计算所述乘积的积分,并将所述积分作为所述待测深度处的单位面积排烃强度。
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