CN106885809A - 一种ito导电玻璃缺陷检测成像方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种ITO导电玻璃缺陷检测成像方法，包括以下步骤：步骤1：打开光源；步骤2：调整分光镜的角度；步骤3：在下显示屏表面和上显示屏表面均匀的喷涂溴化银；步骤4：调整反光镜一的角度；步骤5：调整反光镜二的角度；步骤6：移动光源。本发明在一个光源的情况下，通过喷涂有溴化银的显示屏来进行待测玻璃表面反射光线的成像，若玻璃表面有缺陷，缺陷对应部位的就无法很好的将光线反射到显示屏上，也就无法照射到显示屏上的溴化银，没有反射光照照射的溴化银不会发生变色，从而使得在显示屏上成像的图案会更加便于观察，不需要使用电子设备，而且观察检测结果更加精确，非常方便，值得推广。
Description
技术领域
本发明涉及玻璃检测技术领域，具体涉及一种ITO导电玻璃缺陷检测成像方法。
背景技术
ITO导电玻璃是在钠钙基或硅硼基基片玻璃的基础上，利用磁控溅射的方法镀上一层氧化铟锡膜加工制作成的，大部分液晶显示器专用ITO导电玻璃，所以随着液晶显示器使用的普及，ITO导电玻璃的生产量也在稳步上升，但是在玻璃的生产过程中很容易出现因生产工艺落后或者操作不当而造成玻璃的缺陷，所以我们需要对刚生产出的玻璃进行缺陷检测。
现有技术中，对玻璃的检测大多采用对玻璃进行光照，然后对反射或者折射后的光线进行成像收集，从收集的图像中来判断玻璃表面的缺陷程度，但是目前技术中对玻璃缺陷检测的成像方法存在以下几点明显的缺陷：1、使用光学照相机等电子设备进行成像，由于设备较贵，增加了玻璃生产成本；2、使用普通显示屏进行光照后的成像，但是很难进行成像后的观察，非常不方便对缺陷检测的结构进行判定，十分麻烦。
发明内容
本发明的目的在于提供一种ITO导电玻璃缺陷检测成像方法，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
一种ITO导电玻璃缺陷检测成像方法，包括以下步骤：
步骤1：打开光源，使光源沿着主光轴照射在分光镜上；
步骤2：调整分光镜的角度，使主光轴的光线经分光镜引射后，一部分光线照射在反光镜一上，另一部分光线照射在反光镜二上；
步骤3：在下显示屏表面和上显示屏表面均匀的喷涂溴化银；
步骤4：调整反光镜一的角度，使照射在反光镜一上的光线经反射后照射在玻璃的下表面边缘，玻璃的下表面再将这部分光线引射到下显示屏涂有溴化银的一面上；
步骤5：调整反光镜二的角度，使照射在反光镜二上的光线经反射后照射在玻璃的上表面边缘，玻璃的上表面再将这部分光线引射到上显示屏涂有溴化银的一面上；
步骤6：移动光源，使照射在玻璃上、下表面边缘的光线同时向玻璃的另一侧边缘移动，在上显示屏和下显示屏上成像。
优选的，所述分光镜和反光镜二安装于固定杆一上，所述反光镜一安装于固定杆二上，所述固定杆一和固定杆二均固定于光源上。
优选的，所述光源设置于传送带上。
优选的，所述光源的光照强度大于5000cd。
优选的，所述玻璃侧壁通过连接杆固定于安装块上，所述下显示屏和上显示屏分别对称的安装于安装块的上下两侧。
优选的，上述步骤1至步骤6全部在暗盒内进行。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：
本发明通过光源产生光照，然后经过分光镜的分光作用，将光源的一束光照分为两束光照，两束光照分别通过反光镜一和反光镜二的反射，分别照射在待检测玻璃的上表面边缘和下表面边缘处，玻璃的上、下表面将光照反射在上、下显示屏上，最后光照在显示屏上进行成像。
本发明在光源的移动过程中，经反光镜一和反光镜二反射过照射在玻璃上、下表面的光照从玻璃的一侧边缘缓慢照射至另一侧边缘，从而在显示屏上显示出待检测玻璃上下表面的光反射成像图，在显示屏上喷涂溴化银，溴化银遇强光照射，发生化学分解，产生变色，从而使得显示屏上的成像图更加便于观察。
本发明在一个光源的情况下，对待测玻璃的上、下两个表面进行缺陷检测，然后通过喷涂有溴化银的显示屏来进行待测玻璃表面反射光线的成像，若玻璃表面有缺陷，缺陷对应部位的就无法很好的将光线反射到显示屏上，也就无法照射到显示屏上的溴化银，没有反射光照照射的溴化银不会发生变色，从而使得在显示屏上成像的图案会更加便于观察，不需要使用电子设备，而且观察检测结果更加精确，非常方便，值得推广。
附图说明
图1为实现本发明方法的结构示意图。
图中：1传送带、2光源、21主光轴、3固定杆一、31固定杆二、4分光镜、5反光镜二、6反光镜一、7玻璃、8连接杆、9安装块、10下显示屏、11上显示屏、12暗盒。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1，本发明提供一种技术方案：
一种ITO导电玻璃缺陷检测成像方法，包括以下步骤：
步骤1，打开光源2，光源2的光照强度大于5000cd，光源2的光照强度使得光线在经过反射、折射后还能够很好的实现检测功能，使光源2沿着主光轴21照射在分光镜4上，光源2射出的光线垂直向上射出，射向分光镜4，分光镜4将一束光分成两束，用来对待检测玻璃7的上下表面同时进行检测，完成照射成像功能。
步骤2，调整分光镜4的角度，当光源2发射出光线，光线沿着主光轴21经分光镜4引射后，一束光线分为两束，其中一束光线照射在反光镜一6上，其中另一束光线照射在反光镜二5上。
步骤3，在下显示屏10表面和上显示屏11表面均匀的喷涂溴化银，使得下显示屏10和上显示屏11上分别有一个表面均匀涂抹有一层溴化银明胶，溴化银遇强光照射，可以分解为银和单质溴，即得溴化银在受到大于5000cd的强光照射时，颜色变深，方便工作人员使用人眼直接对下显示屏10和上显示屏11上面的溴化银变色情况进行观测。
步骤4，调整反光镜一6的角度，使照射在反光镜一6上的光线经反射后照射在玻璃7的下表面边缘，玻璃7的下表面再将这部分光线引射到下显示屏10涂有溴化银的一面上，开始检测时，从分光镜4分出的一束光线照射在反光镜一6上，通过反光镜一6的角度调节，使得此束光线可以直接反射照到玻璃7的下表面一侧边缘。
步骤5，调整反光镜二5的角度，使照射在反光镜二5上的光线经反射后照射在玻璃7的上表面边缘，玻璃7的上表面再将这部分光线引射到上显示屏11涂有溴化银的一面上，开始检测时，从分光镜4分出的一束光线照射在反光镜二5上，通过反光镜二5的角度调节，使得此束光线可以直接反射照到玻璃7的上表面的一侧边缘，使此时反光镜二5和反光镜一6反射照射在玻璃7上的位置呈上下对称设置。
步骤6，移动光源2，经反光镜二5和反光镜一6反射的光线从玻璃7的一侧边缘慢慢照射到玻璃7的另一侧边缘，移动光源2使得光线可以将玻璃7上下表面的全部面积全部照射一遍，然后反射到上显示屏11和下显示屏10上，进行观测。
也就是说，如果玻璃7的上表面无缺陷，那么上显示屏11接收到玻璃7上表面反射光线的照射，上显示屏11喷涂的溴化银照射部分全部变色，直接观测到；如果玻璃7的下表面有缺陷，那么下显示屏10接收到玻璃7下表面反射光线的照射，下显示屏10喷涂的溴化银照射部分并不会全部变色，其中玻璃7下表面的缺陷部位不会反射光至下显示屏10上，所以下显示屏10喷涂有溴化银的部分会出现没有变色的间隙，也可以直接进行观测，通过此成像方法直接得到玻璃7表面的缺陷检测结果。
分光镜4和反光镜二5安装于固定杆一3上，反光镜一6安装于固定杆二31上，经过步骤2、步骤4和步骤5的调节，当分光镜4、反光镜二5和反光镜一6能够很好的实现反射效果时，将其角度固定并分别对应安装于固定杆一3和固定杆二31上，固定杆一3和固定杆二31均固定于光源2上，也就实现了当移动光源2对玻璃7上下表面所有面积进行缺陷检测时，不需要一边移动光源2，一边对分光镜4、反光镜二5和反光镜一6进行角度调节，非常方便，只需要在移动光源2的用时，分光镜4、反光镜二5和反光镜一6会同时随着光源2一起移动，实现对玻璃7上下表面很好的照射检测，光源2设置于传送带1上，调整好传送带1的速度，使其带动光源2进行移动，不需要工作人员用手进行移动控制，避免了因为工作人员通过手对光源2进行移动带来的误差，非常有效。
玻璃7侧壁通过连接杆8固定于安装块9上，使得玻璃7在检测时固定住，不会因为发生位移而产生检测的误差，下显示屏10和上显示屏11分别对称的安装于安装块9的上下两侧，下显示屏10和上显示屏11垂直的插设在安装块9上，使其接收玻璃7上下表面反射来的光的效果更好，成像效果更完美。
上述步骤1至步骤6全部在暗盒12内进行，避免因为外界的光照强度对该成像方法造成影响，从而影响缺陷检测结果。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (6)
1.一种ITO导电玻璃缺陷检测成像方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤1：打开光源(2)，使光源(2)沿着主光轴(21)照射在分光镜(4)上；
步骤2：调整分光镜(4)的角度，使主光轴(21)的光线经分光镜(4)引射后，一部分光线照射在反光镜一(6)上，另一部分光线照射在反光镜二(5)上；
步骤3：在下显示屏(10)表面和上显示屏(11)表面均匀的喷涂溴化银；
步骤4：调整反光镜一(6)的角度，使照射在反光镜一(6)上的光线经反射后照射在玻璃(7)的下表面边缘，玻璃(7)的下表面再将这部分光线引射到下显示屏(10)涂有溴化银的一面上；
步骤5：调整反光镜二(5)的角度，使照射在反光镜二(5)上的光线经反射后照射在玻璃(7)的上表面边缘，玻璃(7)的上表面再将这部分光线引射到上显示屏(11)涂有溴化银的一面上；
步骤6：移动光源(2)，使照射在玻璃(7)上、下表面边缘的光线同时向玻璃(7)的另一侧边缘移动，在上显示屏(11)和下显示屏(10)上成像。
2.根据权利要求1所述的一种ITO导电玻璃缺陷检测成像方法，其特征在于：所述分光镜(4)和反光镜二(5)安装于固定杆一(3)上，所述反光镜一(6)安装于固定杆二(31)上，所述固定杆一(3)和固定杆二(31)均固定于光源(2)上。
3.根据权利要求1所述的一种ITO导电玻璃缺陷检测成像方法，其特征在于：所述光源(2)设置于传送带(1)上。
4.根据权利要求1所述的一种ITO导电玻璃缺陷检测成像方法，其特征在于：所述光源(2)的光照强度大于5000cd。
5.根据权利要求1所述的一种ITO导电玻璃缺陷检测成像方法，其特征在于：所述玻璃(7)侧壁通过连接杆(8)固定于安装块(9)上，所述下显示屏(10)和上显示屏(11)分别对称的安装于安装块(9)的上下两侧。
6.根据权利要求1所述的一种ITO导电玻璃缺陷检测成像方法，其特征在于：上述步骤1至步骤6全部在暗盒(12)内进行。
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