CN106843575A - 混合内嵌式触摸面板驱动电路及检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种用于混合内嵌式触控面板的触控驱动电极Tx驱动电路及检测方法。该驱动电路包括移位选择单元、输出单元、奇数行驱动信号控制模块和偶数行驱动信号控制模块。奇数行驱动信号控制模块根据第一控制信号使输出单元在第一输出模式和第二输出模式之间切换,偶数行驱动信号控制模块根据第一控制信号使输出单元在第一输出模式和第三输出模式之间切换。由此可使触控面板的奇数行触控驱动电极Tx处与偶数行触控驱动电极Tx处所显示画面将产生不同灰阶的图案,而相邻的奇偶行产生相同相同灰阶时,该处即为触控驱动电极Tx短路缺陷处。
Description
技术领域
本发明涉及液晶显示技术领域,尤其涉及一种内嵌式触摸面板的驱动电路,以及利用该驱动电路对内嵌式触摸面板进行盒测试的检测方法。
背景技术
随着智能电子产品的普及,电容式触摸屏被广泛应用于智能手机、平板电脑等各种电子产品中。现有的电容式触摸屏结构包括以G+G、G+F、GFF、OGS等为代表的外挂式电容屏以及以On-cell、In-cell为代表的嵌入式电容屏。
近年来,人们追求越来越轻薄化的用户式体验,导致出现OGS、On-cell、In-cell三种技术并争的局面。其中,由于In-cell技术在制程上的独特优势,其可以做到比OGS、On-cell更轻薄、透光性更好,更能满足客户的需求,势必成为未来电容式触摸屏的主流。
混合内嵌式触控(Hybrid Incell Touch)技术是指在薄膜晶体管阵列侧利用透明公共电极形成触控驱动电极Tx图形,在彩色滤光层利用背镀ITO膜形成触控感应电极Rx图形。
目前使用的混合内嵌式触控结构在薄膜晶体管阵列侧使用类似于栅极集成驱动(Gate on array)的驱动电路驱动触控驱动电极逐行扫描,能够有效降低集成电路输出针脚的数量。薄膜晶体管阵列侧原本一整面的透明公共电极被分割为一个个的触控驱动电极图形,若工艺出现不良,相邻的触控驱动电极图形可能产生短路,进而造成触控不良。若能在成盒制程时就将此相邻的触控驱动电极短路信号检测出来,就可以方式缺陷触控面板进入后段的工序,以避免模组物料的浪费。
但是混合内嵌式触控面板在盒测试时,需要通过触控驱动电路为测试区的触控驱动电极图形输入相同的公共电平,所以无法检测出相邻触控驱动电极图形间的短路情况。
发明内容
针对上述现有技术中,在混合内嵌式触控面板盒测试时,无法对触控驱动电极进行短路情况测试的缺陷。本发明所要解决的技术问题之一即为提供一种用于混合内嵌式触摸面板的触控驱动电极驱动电路,同时提供一种在盒测试阶段基于该触控驱动电极驱动电路进行的针对触控驱动电极缺陷检测方法。
图1所示为现有技术中混合内嵌式触控面板构架,其与常规的互电容内嵌式触摸面板的结构相似,每根触控驱动电极Tx和触控感应电极Rx的交叠位置形成一个触控单元,触控驱动电极Tx和触控感应电极Rx相互对应来确定触控点的X、Y坐标。其中包括:触控驱动电极Tx驱动电路100,其工作模式与栅极集成驱动电路工作原理相类似,通过触控驱动电极Tx驱动电路100,对触控驱动电极(Tx)进行逐行扫描;触控驱动电极Tx图案200,其为在薄膜晶体管阵列侧,将透明公共电极进行切割形成的相互独立的触控驱动电极Tx;触控感应电极Rx图形300,其为在彩色滤光层背镀ITO膜所形成触控感应电极Rx。触控单元400,其表示一个由触控驱动电极Tx和触控感应电极Rx的交叠位置构成的触控单元。当触控驱动电极Tx被驱动电路进行逐行扫描时,通过侦测触控感应电极Rx上的变化来确认触控电位。
图2所示为现有技术中触控驱动电极Tx驱动电路的电路结构,该触控驱动电极Tx驱动电路由移位选择单元101和输出单元102构成。移位选择单元101负责级传信号的传递使触控驱动电极Tx驱动电路在时钟信号的控制下逐级触发,输出单元120根据移位选择单元101生成的选择信号控制电路为触控驱动电极Tx图形输入触控驱动电极扫描信号或公共电平信号。目前的混合内嵌式触控面板在进行盒测试时通过时序控制,使所有的触控驱动电极Tx电路都输入一个相同的公共电平信号,所以无法检测出相邻触控驱动电极(Tx)图形间的短路情况,只有最终组成模组后通过检测触控性能才能发现不良。
本发明的触控驱动电极Tx驱动电路的电路结构如图3所示,该触控驱动电极Tx驱动电路包括移位选择单元、输出单元、奇数行驱动信号控制模块和偶数行驱动信号控制模块。其中移位选择单元、输出单元结构与现有技术中的相应模块结构保持一致。所述奇数行驱动信号控制模块和所述偶数行驱动信号控制模块分别接收用于改变其所连接的驱动电路的输出模式的第一控制信号。奇数行驱动信号控制模块连接于奇数行触控驱动电极Tx的相应驱动电路,奇数行驱动信号控制模块根据第一控制信号使奇数行触控驱动电极Tx的相对应驱动电路内的输出单元在第一输出模式和第二输出模式之间切换,所述第一输出模式为输出单元根据移位选择单元所输入的选择信号输出公共电平信号或触控驱动电极Tx扫描信号,所述第二输出模式为输出单元被强制输出触控驱动电极Tx扫描信号。
偶数行驱动信号控制模块连接于偶数行触控驱动电极Tx的相应驱动电路,偶数行驱动信号控制模块根据第一控制信号使偶数行触控驱动电极Tx的相对应驱动电路内的输出单元在第一输出模式和第三输出模式之间切换,所述第三输出模式为输出单元被强制输出公共电平信号。
在一个实施例中,所述奇数行驱动信号控制模块包括第一晶体管和第二晶体管;所述第一晶体管的源极连接移位选择单元输出的选择信号输出端,漏极连接输出单元的选择信号输入端,栅极连接第一控制信号;所述第二晶体管的源极连接输出单元,漏极连接高电平信号VGH,栅极连接第一控制信号。
在一个实施例中,所述偶数行驱动信号控制模块包括第三晶体管、第四晶体管和反相器;所述第三晶体管的源极连接移位选择单元输出的选择信号输出端,漏极连接输出单元的选择信号输入端,栅极连接第一控制信号;所述反相器一端连接第一控制信号,另一端连接第四晶体管的栅极,第四晶体管的源极连接输出单元,漏极连接低电平信号VGL。
根据上述触控驱动电极Tx驱动电路的电路结构,当第一控制信号为高电平时,奇数行驱动信号控制模块中的第一晶体管导通,选择信号通过第一晶体管传递至输出单元,同时第二晶体管处于截止状态,因此高电平信号VGH不会对输出单元造成影响。偶数行驱动信号控制模块中的第三晶体管导通,选择信号通过第一晶体管传递至输出单元,同时第四晶体管处于截止状态,因此低电平信号VGL不会对输出单元造成影响。
当第一控制信号跳变为低电平时,奇数行驱动信号控制模块中的第一晶体管截止,选择信号无法通过第一晶体管传递至输出单元,同时第二晶体管处于导通状态,高电平信号VGH被输入至输出单元,此时输出单元被强制输出触控驱动电极Tx扫描信号。偶数行驱动信号控制模块中的第三晶体管截止,选择信号无法通过第一晶体管传递至输出单元,同时第四晶体管处于导通状态,低电平信号VGL被输入至输出单元,此时输出单元被强制输出公共电平信号。
本发明中,也可以使奇数行触控驱动电极Tx输出为公共电平信号,而偶数行触控驱动电极Tx输出为触控驱动电极Tx扫描信号。
即在一个实施例中触控驱动电极Tx驱动电路包括移位选择单元、输出单元、奇数行驱动信号控制模块和偶数行驱动信号控制模块。其中移位选择单元、输出单元结构与现有技术中的相应模块结构保持一致。所述奇数行驱动信号控制模块和所述偶数行驱动信号控制模块分别接收用于改变其所连接的驱动电路的输出模式的第一控制信号。奇数行驱动信号控制模块连接于奇数行触控驱动电极Tx的相应驱动电路,奇数行驱动信号控制模块根据第一控制信号使奇数行触控驱动电极Tx的相对应驱动电路内的输出单元在第一输出模式和第三输出模式之间切换,所述第一输出模式为输出单元根据移位选择单元所输入的选择信号输出公共电平信号或触控驱动电极Tx扫描信号,所述第三输出模式为输出单元被强制输出触控驱动电极公共电平信号。
偶数行驱动信号控制模块连接于偶数行触控驱动电极Tx的相应驱动电路,偶数行驱动信号控制模块根据第一控制信号使偶数行触控驱动电极Tx的相对应驱动电路内的输出单元在第一输出模式和第二输出模式之间切换,所述第二输出模式为输出单元被强制输出触控驱动电极Tx扫描信号。
在该实施例中,所述奇数行驱动信号控制模块包括第一晶体管和第二晶体管;所述第一晶体管的源极连接移位选择单元输出的选择信号输出端,漏极连接输出单元的选择信号输入端,栅极连接第一控制信号;所述第二晶体管的源极连接输出单元,漏极连接低电平信号VGL,栅极连接第一控制信号。
在一个实施例中,所述偶数行驱动信号控制模块包括第三晶体管、第四晶体管和反相器;所述第三晶体管的源极连接移位选择单元输出的选择信号输出端,漏极连接输出单元的选择信号输入端,栅极连接第一控制信号;所述反相器一端连接第一控制信号,另一端连接第四晶体管的栅极,第四晶体管的源极连接输出单元,漏极连接高电平信号VGH。
根据上述触控驱动电极Tx驱动电路的电路结构,当第一控制信号为高电平时,奇数行驱动信号控制模块中的第一晶体管导通,选择信号通过第一晶体管传递至输出单元,同时第二晶体管处于截止状态,因此低电平信号VGL不会对输出单元造成影响。偶数行驱动信号控制模块中的第三晶体管导通,选择信号通过第一晶体管传递至输出单元,同时第四晶体管处于截止状态,因此高电平信号VGH不会对输出单元造成影响。
当第一控制信号跳变为低电平时,奇数行驱动信号控制模块中的第一晶体管截止,选择信号无法通过第一晶体管传递至输出单元,同时第二晶体管处于导通状态,低电平信号VGL被输入至输出单元,此时输出单元被强制输出公共电平信号。偶数行驱动信号控制模块中的第三晶体管截止,选择信号无法通过第一晶体管传递至输出单元,同时第四晶体管处于导通状态,高电平信号VGH被输入至输出单元,此时输出单元被强制输出触控驱动电极Tx扫描信号。
根据本发明的触控驱动电极Tx驱动电路,本发明的另一方面还在于提供了一种能够在盒测试阶段即对触控驱动电极Tx驱动电路进行检测的检测方法,该检测方法包括如下步骤:
步骤1,将第一控制信号由高电平跳变为低电平,使奇数行触控驱动电极Tx输出触控驱动电极Tx扫描信号,使偶数行触控驱动电极Tx输出公共电平信号;
步骤2,调整触控驱动电极Tx扫描信号与公共电平信号之间的电压差及像素电极电压,使触控面板形成不同灰阶条纹相间的图案,即奇数行触控驱动电极Tx处形成第一灰阶条纹,偶数行触控驱动电极Tx处形成第二灰阶条纹,第一灰阶条纹与第二灰阶条纹灰度不同;
步骤3,相邻行触控驱动电极Tx处灰阶相同则为产生缺陷点位置。
本发明中,也可以使奇数行触控驱动电极Tx输出为公共电平信号,而偶数行触控驱动电极Tx输出为触控驱动电极Tx扫描信号。因此本发明的检测方法也可以为:
步骤1,将第一控制信号由高电平跳变为低电平,使奇数行触控驱动电极Tx输出公共电平信号,使偶数行触控驱动电极Tx输出触控驱动电极Tx扫描信号;
步骤2,调整触控驱动电极Tx扫描信号与公共电平信号之间的电压差及像素电极电压,使触控面板形成不同灰阶条纹相间的图案,即奇数行触控驱动电极Tx处形成第一灰阶条纹,偶数行触控驱动电极Tx处形成第二灰阶条纹,第一灰阶条纹与第二灰阶条纹灰度不同;
步骤3,相邻行触控驱动电极Tx处灰阶相同则为产生缺陷点位置。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本发明的实施例共同用于解释本发明,并不构成对本发明的限制。在附图中:
图1是现有技术中混合内嵌式触控面板结构示意图;
图2是现有技术中混合内嵌式触控面板触控驱动电极驱动电路结构图;
图3是根据本发明第一实施例的触控驱动电极驱动电路结构图;
图4是根据本发明第一实施例的触控驱动电极电压变化示意图;
图5是根据本发明第二实施例的触控驱动电极驱动电路结构图。
附图标记为:
1.移位选择单元; 2.输出单元;
3.奇数行驱动信号控制模块; 4.偶数行驱动信号控制模块;
5.第一控制信号; 6.高电平信号VGH;
7.低电平信号VGL; 31.第一晶体管;
32.第二晶体管; 41.第三晶体管;
42.第四晶体管; 43.反相器;
100.触控驱动电极Tx驱动电路; 200.触控驱动电极Tx图案;
300.触控感应电极Rx图形; 400.触控单元;
101.移位选择单; 102.输出单元。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,以下结合附图对本发明作进一步地详细说明。
第一实施例
图3是根据本发明第一实施例的触控驱动电极Tx驱动电路。该触控驱动电极Tx驱动电路包括移位选择单元1、输出单元2、奇数行驱动信号控制模块3和偶数行驱动信号控制模块4。其中移位选择单元1、输出单元2结构与现有技术中的相应模块结构保持一致。奇数行驱动信号控制模块3和偶数行驱动信号控制模块4分别接收用于改变其所连接的驱动电路的输出模式的第一控制信号。奇数行驱动信号控制模块3连接于奇数行触控驱动电极Tx的相应驱动电路,奇数行驱动信号控制模块3根据第一控制信号5使奇数行触控驱动电极Tx的相对应驱动电路内的输出单元2在第一输出模式和第二输出模式之间切换,所述第一输出模式为输出单元2根据移位选择单元1所输入的选择信号输出公共电平信号或触控驱动电极Tx扫描信号,所述第二输出模式为输出单元2被强制输出触控驱动电极Tx扫描信号。
偶数行驱动信号控制模块4连接于偶数行触控驱动电极Tx的相应驱动电路,偶数行驱动信号控制模块4根据第一控制信号使偶数行触控驱动电极Tx的相对应驱动电路内的输出单元2在第一输出模式和第三输出模式之间切换,所述第三输出模式为输出单元2被强制输出公共电平信号。
所述奇数行驱动信号控制模块3包括第一晶体管31和第二晶体管32;所述第一晶体管31的源极连接移位选择单元1输出的选择信号输出端,漏极连接输出单元2的选择信号输入端,栅极连接第一控制信号5;所述第二晶体管32的源极连接输出单元2,漏极连接高电平信号VGH6,栅极连接第一控制信号5。其中第一晶体管31为N型薄膜晶体管,第二晶体管32为P型薄膜晶体管。
所述偶数行驱动信号控制模块4包括第三晶体管41、第四晶体管42和反相器43;所述第三晶体管41的源极连接移位选择单元1输出的选择信号输出端,漏极连接输出单元2的选择信号输入端,栅极连接第一控制信号5;所述反相器43一端连接第一控制信号5,另一端连接第四晶体管42的栅极,第四晶体管42的源极连接输出单元2,漏极连接低电平信号VGL7,所述第三、四晶体管均为N型薄膜晶体管。
根据上述触控驱动电极Tx驱动电路的电路结构,结合图4,当第一控制信号5为高电平时,奇数行驱动信号控制模块3中的第一晶体管31导通,选择信号通过第一晶体管31传递至输出单元2,同时第二晶体管32处于截止状态,因此高电平信号VGH6不会对输出单元2造成影响。偶数行驱动信号控制模块4中的第三晶体管41导通,选择信号通过第一晶体管41传递至输出单元2,同时第四晶体管42处于截止状态,因此低电平信号VGL6不会对输出单元2造成影响。
当第一控制信号5跳变为低电平时,奇数行驱动信号控制模块3中的第一晶体管31截止,选择信号无法通过第一晶体管31传递至输出单元2,同时第二晶体管32处于导通状态,高电平信号VGH6被输入至输出单元2,此时输出单元2被强制输出触控驱动电极Tx扫描信号。偶数行驱动信号控制模块4中的第三晶体管41截止,选择信号无法通过第一晶体管41传递至输出单元2,同时第四晶体管42处于导通状态,低电平信号VGL7被输入至输出单元2,此时输出单元2被强制输出公共电平信号。
最终,奇数行触控驱动电极Tx输出为触控驱动电极Tx扫描信号,而偶数行触控驱动电极Tx输出为公共电平信号,当像素电极输入为触控驱动电极Tx扫描信号或公共电平信号时,奇数行触控驱动电极Tx处所显示画面与偶数行触控驱动电极Tx处所显示画面将产生不同灰阶的图案,而相邻的奇偶行产生相同相同灰阶时,该处即为触控驱动电极Tx短路缺陷处。
本实施例的有益效果在于,在盒测试阶段就可以针对触控驱动电极驱动电路进行的缺陷检测,可以提前将具有缺陷的面板检测出来,避免其流转进入下一工序,从而造成物料的浪费。
第二实施例
如图5所示的本发明第二实施例的触控驱动电极Tx驱动电路,该触控驱动电极Tx驱动电路包括移位选择单元1、输出单元2、奇数行驱动信号控制模块3和偶数行驱动信号控制模块4。其中移位选择单元1、输出单元2结构与现有技术中的相应模块结构保持一致。奇数行驱动信号控制模块3和偶数行驱动信号控制模块4分别接收用于改变其所连接的驱动电路的输出模式的第一控制信号。奇数行驱动信号控制模块3连接于奇数行触控驱动电极Tx的相应驱动电路,奇数行驱动信号控制模块3根据第一控制信号5使奇数行触控驱动电极Tx的相对应驱动电路内的输出单元2在第一输出模式和第三输出模式之间切换,所述第一输出模式为输出单元2根据移位选择单元1所输入的选择信号输出公共电平信号或触控驱动电极Tx扫描信号,所述第三输出模式为输出单元2被强制输出触控驱动电极公共电平信号。
偶数行驱动信号控制模块4连接于偶数行触控驱动电极Tx的相应驱动电路,偶数行驱动信号控制模块4根据第一控制信号5使偶数行触控驱动电极Tx的相对应驱动电路内的输出单元2在第一输出模式和第二输出模式之间切换,所述第二输出模式为输出单元2被强制输出触控驱动电极Tx扫描信号。
在该实施例中,所述奇数行驱动信号控制模块3包括第一晶体管31和第二晶体管32;所述第一晶体管31的源极连接移位选择单元1输出的选择信号输出端,漏极连接输出单元2的选择信号输入端,栅极连接第一控制信号5;所述第二晶体管32的源极连接输出单元2,漏极连接低电平信号VGL7,栅极连接第一控制信号5。
所述偶数行驱动信号控制模块4包括第三晶体管41、第四晶体管42和反相器43;所述第三晶体管41的源极连接移位选择单元1输出的选择信号输出端,漏极连接输出单元2的选择信号输入端,栅极连接第一控制信号5;所述反相器43一端连接第一控制信号5,另一端连接第四晶体管42的栅极,第四晶体管42的源极连接输出单元2,漏极连接高电平信号VGH6。
根据上述触控驱动电极Tx驱动电路的电路结构,当第一控制信号5为高电平时,奇数行驱动信号控制模块3中的第一晶体管31导通,选择信号通过第一晶体管31传递至输出单元2,同时第二晶体管32处于截止状态,因此低电平信号VGL7不会对输出单元2造成影响。偶数行驱动信号控制模块4中的第三晶体管41导通,选择信号通过第一晶体管41传递至输出单元2,同时第四晶体管42处于截止状态,因此高电平信号VGH6不会对输出单元2造成影响。
当第一控制信号5跳变为低电平时,奇数行驱动信号控制模块3中的第一晶体管31截止,选择信号无法通过第一晶体管31传递至输出单元2,同时第二晶体管32处于导通状态,低电平信号VGL7被输入至输出单元2,此时输出单元2被强制输出公共电平信号。偶数行驱动信号控制模块4中的第三晶体管41截止,选择信号无法通过第一晶体管41传递至输出单元2,同时第四晶体管42处于导通状态,高电平信号VGH6被输入至输出单元2,此时输出单元2被强制输出触控驱动电极Tx扫描信号。
最终,奇数行触控驱动电极Tx输出为公共电平信号,而偶数行触控驱动电极Tx输出为触控驱动电极Tx扫描信号,当像素电极输入为触控驱动电极Tx扫描信号或公共电平信号时,奇数行触控驱动电极Tx处所显示画面与偶数行触控驱动电极Tx处所显示画面将产生不同灰阶的图案,而相邻的奇偶行产生相同相同灰阶时,该处即为触控驱动电极Tx短路缺陷处。
本实施例的有益效果在于,在盒测试阶段就可以针对触控驱动电极驱动电路进行的缺陷检测,可以提前将具有缺陷的面板检测出来,避免其流转进入下一工序,从而造成物料的浪费。
第三实施例
根据前述第一实施例和第二实施例,本实施例提供一种触控显示装置,该触控显示装置包括显示面板和触控驱动电路,所述显示面板可以是液晶显示面板、等离子显示面板、发光二极管显示面板或有机发光二极管显示面板等。所述触控驱动电路采用如前述第一实施例和第二实施例中所述的触控驱动电极Tx驱动电路。
本实施例的有益效果在于,在盒测试阶段就可以针对触控驱动电极驱动电路进行的缺陷检测,可以提前将具有缺陷的面板检测出来,避免其流转进入下一工序,从而造成物料的浪费。
以上所述,仅为本发明的具体实施案例,本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术的技术人员在本发明所述的技术规范内,对本发明的修改或替换,都应在本发明的保护范围之内。
Claims (12)
1.一种用于混合内嵌式触控面板的触控驱动电极驱动电路,其特征在于,包括移位选择单元、输出单元、奇数行驱动信号控制模块和偶数行驱动信号控制模块,所述奇数行驱动信号控制模块连接于奇数行触控驱动电极相对应的驱动电路,所述偶数行驱动信号控制模块连接于偶数行触控驱动电极相对应的驱动电路;并且所述奇数行驱动信号控制模块和所述偶数行驱动信号控制模块分别接收用于改变其所连接的驱动电路的输出模式的第一控制信号;
根据所述第一控制信号,所述奇数行驱动信号控制模块使奇数行触控驱动电极相对应的驱动电路内的输出单元在第一输出模式和第二输出模式之间切换,所述偶数行驱动信号控制模块使偶数行触控驱动电极的相对应驱动电路内的输出单元在第一输出模式和第三输出模式之间切换;
其中,所述第一输出模式为所述输出单元根据所述移位选择单元所输入的选择信号输出公共电平信号或触控驱动电极扫描信号,所述第二输出模式为所述输出单元被强制输出触控驱动电极扫描信号;所述第三输出模式为所述输出单元被强制输出公共电平信号。
2.如权利要求1所述的触控驱动电极驱动电路,其特征在于,所述奇数行驱动信号控制模块包括第一晶体管和第二晶体管;所述第一晶体管的源极连接移位选择单元输出的选择信号输出端,漏极连接输出单元的选择信号输入端,栅极连接第一控制信号;所述第二晶体管的源极连接奇数行输出单元,漏极连接高电平信号,栅极连接第一控制信号。
3.如权利要求2所述的触控驱动电极驱动电路,其特征在于,所述偶数行驱动信号控制模块包括第三晶体管、第四晶体管和反相器;所述第三晶体管的源极连接移位选择单元输出的选择信号输出端,漏极连接输出单元的选择信号输入端,栅极连接第一控制信号;所述反相器一端连接第一控制信号,另一端连接第四晶体管的栅极,第四晶体管的源极连接偶数行输出单元,漏极连接低电平信号。
4.如权利要求3所述的触控驱动电极驱动电路,其特征在于,所述第一晶体管为N型薄膜晶体管,所述第二晶体管为P型薄膜晶体管。
5.如权利要求4所述的触控驱动电极驱动电路,其特征在于,所述第三、四晶体管均为N型薄膜晶体管。
6.一种用于混合内嵌式触控面板的触控驱动电极驱动电路,其特征在于,包括移位选择单元、输出单元、奇数行驱动信号控制模块和偶数行驱动信号控制模块;所述奇数行驱动信号控制模块连接于奇数行触控驱动电极的相应驱动电路,所述偶数行驱动信号控制模块连接于偶数行触控驱动电极的相应驱动电路;并且所述奇数行驱动信号控制模块和所述偶数行驱动信号控制模块分别接收用于改变其所连接的驱动电路的输出模式的第一控制信号;
根据所述第一控制信号,所述奇数行驱动信号控制模块使奇数行触控驱动电极的相对应驱动电路内的输出单元在第一输出模式和第三输出模式之间切换,所述偶数行驱动信号控制模块使偶数行触控驱动电极的相对应驱动电路内的输出单元在第一输出模式和第二输出模式之间切换;
其中,所述第一输出模式为所述输出单元根据移位选择单元所输入的选择信号输出公共电平信号或触控驱动电极扫描信号,所述第二输出模式为所述输出单元被强制输出触控驱动电极扫描信号,所述第三输出模式为所述输出单元被强制输出公共电平信号。
7.如权利要求6所述的触控驱动电极驱动电路,其特征在于,所述奇数行驱动信号控制模块包括第一晶体管和第二晶体管;所述第一晶体管的源极连接移位选择单元输出的选择信号输出端,第一晶体管的漏极连接输出单元的选择信号输入端,第一晶体管的栅极连接第一控制信号;所述第二晶体管的源极连接奇数行输出单元,第二晶体管的漏极连接低电平信号,第二晶体管的栅极连接第一控制信号。
8.如权利要求7所述的触控驱动电极驱动电路,其特征在于,所述偶数行驱动信号控制模块包括第三晶体管、第四晶体管和反相器;所述第三晶体管的源极连接移位选择单元输出的选择信号输出端,第三晶体管的漏极连接输出单元的选择信号输入端,第三晶体管的栅极连接第一控制信号;所述反相器一端连接第一控制信号,另一端连接第四晶体管的栅极,第四晶体管的源极连接偶数行输出单元,第四晶体管的漏极连接高电平信号。
9.如权利要求8所述的触控驱动电极驱动电路,其特征在于,所述第一晶体管为N型薄膜晶体管,所述第二晶体管为P型薄膜晶体管。
10.如权利要求9所述的触控驱动电极驱动电路,其特征在于,所述第三、四晶体管均为N型薄膜晶体管。
11.一种基于权利要求1-5中任一项所述的触控驱动电极驱动电路的触控驱动电极检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
将第一控制信号由高电平跳变为低电平,使奇数行触控驱动电极输出触控驱动电极扫描信号,使偶数行触控驱动电极输出公共电平信号;
调整触控驱动电极扫描信号与公共电平信号之间的电压差及像素电极电压,使触控显示面板形成不同灰阶条纹相间的图案,其奇数行触控驱动电极处形成第一灰阶条纹,偶数行触控驱动电极处形成第二灰阶条纹,第一灰阶条纹与第二灰阶条纹灰度不同;
将相邻行触控驱动电极灰阶相同处确定为产生缺陷点位置。
12.一种基于权利要求6-10中任一项所述的触控驱动电极驱动电路的触控驱动电极检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
将第一控制信号由高电平跳变为低电平,使奇数行触控驱动电极输出公共电平信号,使偶数行触控驱动电极输出触控驱动电极扫描信号;
调整触控驱动电极扫描信号与公共电平信号之间的电压差及像素电极电压,使触控显示面板形成不同灰阶条纹相间的图案,其奇数行触控驱动电极Tx处形成第一灰阶条纹,偶数行触控驱动电极处形成第二灰阶条纹,第一灰阶条纹与第二灰阶条纹灰度不同;
将相邻行触控驱动电极灰阶相同处确定为产生缺陷点位置。
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