CN106842534B - 基于双ccd的自动对焦显微镜及测量方法 - Google Patents

基于双ccd的自动对焦显微镜及测量方法 Download PDF

Info

Publication number
CN106842534B
CN106842534B CN201710174216.3A CN201710174216A CN106842534B CN 106842534 B CN106842534 B CN 106842534B CN 201710174216 A CN201710174216 A CN 201710174216A CN 106842534 B CN106842534 B CN 106842534B
Authority
CN
China
Prior art keywords
spectroscope
light
ccd2
ccd1
control box
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN201710174216.3A
Other languages
English (en)
Other versions
CN106842534A (zh
Inventor
江旻珊
汪泓
朱静远
张学典
常敏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
University of Shanghai for Science and Technology
Original Assignee
University of Shanghai for Science and Technology
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by University of Shanghai for Science and Technology filed Critical University of Shanghai for Science and Technology
Priority to CN201710174216.3A priority Critical patent/CN106842534B/zh
Publication of CN106842534A publication Critical patent/CN106842534A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN106842534B publication Critical patent/CN106842534B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/24Base structure
    • G02B21/241Devices for focusing
    • G02B21/244Devices for focusing using image analysis techniques

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Abstract

本发明涉及一种基于双CCD的自动对焦显微镜及测量方法,该显微镜的光路部分由激光光源、物镜、分光镜BS1、分光镜BS2组成,激光光束通过狭缝进入光筒中,由分光镜BS1反射向下经物镜到达样品平面,样品反射光束经原路返回到分光镜BS1透过向上到达分光镜BS2后分成二路,一路透过向上被CCD2接收,另一路反射后经反射镜折返向上被CCD1接收;电路部分由CCD1、CCD2、计算机、控制箱和步进电机构成,两个CCD前后错开放置,分别接收完整光束信号,且具有重叠接收区域,CCD接收光信号后由光电转换器转换成电信号,并传输到计算机,计算机将指令信号发送到控制箱,控制箱控制步进电机带动光路部分上下移动寻找最佳对焦位置。

Description

基于双CCD的自动对焦显微镜及测量方法
技术领域
本发明涉及一种自动对焦显微镜,特别涉及一种基于双CCD的自动对焦显微镜及测量方法。
背景技术
对于任何成像光学系统,成像质量都是人们关心的重要问题之一。由光学系统成像理论可知,只有当像位于对焦面时才最清晰,具有更多的细节,而偏离对焦面时图像将变模糊,图像质量下降。随着科学研究和实际生产领域的不断发展,显微视觉系统在制造和检测中发挥着举足轻重的作用,这都依赖于显微系统快速高效地实现自动对焦,获取目标物体的清晰图像。传统的自动对焦显微镜存在对焦速度慢,图像不清晰等问题。
发明内容
本发明是针对传统的自动对焦显微镜对焦速度慢,图像不清晰的技术问题,提出一种基于双CCD的自动对焦显微镜及测量方法,与目前已经存在的自动对焦显微镜有相似的原理和结构,但利用分光形成双光路结构,由两个CCD同时接收并形成重叠区域,采集到的重叠图像分别用作标定和补偿,对焦速度提高了一倍,图像经分割补偿后清晰度大大提高,可以达到快速高精度自动对焦的目标。
本发明的技术方案为:一种基于双CCD的自动对焦显微镜,包括光路部分、电路部分,样品平面,所述光路部分由激光光源、物镜、分光镜BS1、分光镜BS2组成,激光光束通过狭缝进入光筒中,由分光镜BS1反射向下经物镜到达样品平面,样品反射光束经原路返回到分光镜BS1透过向上到达分光镜BS2后分成二路,一路透过向上被CCD2接收,另一路反射后经反射镜折返向上被CCD1接收;所述电路部分由CCD1、CCD2、计算机、控制箱和步进电机构成,CCD1和CCD2前后错开放置,分别接收完整光束信号,并且 CCD1和CCD2具有重叠接收区域,CCD1和CCD2接收光信号后由光电转换器转换成电信号,并传输到计算机,计算机将指令信号发送到控制箱,控制箱控制步进电机带动光路部分上下移动寻找最佳对焦位置。
一种采用基于双CCD的自动对焦显微镜的测量方法,具体步骤如下:
1)打开电源,清空样品平面后,将基于双CCD的自动对焦显微镜调整到默认初始状态;
2)在样品平面上放置待测样品,激光光源发出的测试光通过光路部分将样品图片经CCD1和CCD2传输到计算机;
3)计算机经过波形对比得出对焦位置的评价,并将评价参数转化为信号指令发送到控制箱;
4)控制箱根据指令信号控制步进电机带动光路部分上下快速移动找到对焦最佳位置。
所述CCD1和CCD2在重复区域采集到的图像信息一幅用作标定,另一幅用作增补,使基于双CCD的自动对焦显微镜在寻焦时速度提高一倍,以及在对焦完成时通过算法将图像分割拼接得到清晰度更高的最终图像。
本发明的有益效果在于:本装置采用分光镜将样品反射光束分成两路,被两个CCD分别接收。双CCD同平面前后错位放置,保证可同时接收完整的光信号,并且接收的信号有重复的区域。重复区域采集到的图像信息一幅用作标定,另一幅用作增补,一方面在寻焦时速度可提高一倍,另一方面在对焦完成时通过算法将图像分割拼接可以得到清晰度更高的最终图像。
附图说明
图1为基于双CCD的自动对焦显微镜结构示意图;
图2为双CCD重叠接收区域放大示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明进行进一步详细说明。
一种基于双CCD的自动对焦显微镜,包括光路部分和电路部分,其构造(参见附图1)与工作方式如下:光路部分由激光光源1、物镜2、分光镜BS1、分光镜BS2组成。激光光束1通过狭缝进入光筒中,由分光镜BS1分成两路,一路透过向前忽略不计,一路反射向下经物镜2到达样品平面3。激光光束1经样品反射后原路返回到分光镜BS1,光束又被分成两路,一路反射忽略不计,一路透过向上到达分光镜BS2,再次分光,一路透过向上被CCD2接收,一路反射后再经反射镜4折返向上被CCD1接收。这样CCD1和CCD2能够接收经同一样品反射的光束,只是这两束光之间有一个光程差。电路部分由CCD1、CCD2、计算机、控制箱和步进电机构成。两个CCD前后错开放置,以便能够分别接收到完整光束信号,同时两CCD有重叠接收区域M(图2中虚线框区域)。两个CCD接收光信号后由光电转换器(与CCD封装在一起)转换成电信号,控制箱根据信号做出判断,控制步进电机带动光路部分(图1中黑色虚线框部分)上下移动寻找最佳对焦位置。
一种采用基于双CCD的自动对焦显微镜的测量方法,如下所述:
首先打开电源,在样品平面空置的情况下将系统调整到默认初始状态,然后在样品平面上放置待测样品,光源发出的测试光经上文所述光路将样品图片经CCD传输到计算机,计算机经过波形对比得出对焦位置的评价,并将评价参数转化为信号指令发送到控制箱,控制箱根据指令信号控制步进电机带动整个光路部分上下快速移动找到对焦最佳位置。
本发明采用分光镜将样品反射光束分成两路,被两个CCD分别接收。双CCD同平面前后错位放置,保证可同时接收完整的光信号,并且接收的信号有重复的区域。两个CCD重复区域采集到的图像信息一幅用作标定,另一幅用作增补,一方面在寻焦时速度可提高一倍,另一方面在对焦完成时通过算法将图像分割拼接可以得到清晰度更高的最终图像。

Claims (3)

1.一种基于双CCD的自动对焦显微镜,包括光路部分、电路部分,清空的样品平面,其特征在于:所述光路部分由激光光源、物镜、分光镜BS1、分光镜BS2组成,激光光束通过狭缝进入光筒中,由分光镜BS1反射向下经物镜到达样品平面,样品反射光束经原路返回到分光镜BS1透过向上到达分光镜BS2后分成二路,一路透过向上被CCD2接收,另一路反射后经反射镜折返向上被CCD1接收;所述电路部分由CCD1、CCD2、计算机、控制箱和步进电机构成,CCD1和CCD2沿垂直光轴方向前后错开放置,分别接收完整光束信号,并且CCD1和CCD2具有重叠接收区域,CCD1和CCD2接收光信号后由光电转换器转换成电信号,并传输到计算机,计算机将指令信号发送到控制箱,控制箱控制步进电机带动光路部分上下移动寻找最佳对焦位置。
2.一种采用权利要求1所述的基于双CCD的自动对焦显微镜的测量方法,其特征在于,具体步骤如下:
1)打开电源,清空样品平面后,将基于双CCD的自动对焦显微镜调整到默认的初始状态;
2)在样品平面上放置待测样品,激光光源发出的测试光通过光路部分将样品图片经CCD1和CCD2传输到计算机;
3)计算机经过波形对比得出对焦位置的评价,并将评价参数转化为信号指令发送到控制箱;
4)控制箱根据指令信号控制步进电机带动光路部分上下快速移动找到对焦最佳位置。
3.根据权利要求2所述的测量方法,其特征在于:所述CCD1和CCD2在重复区域采集到的图像信息一幅用作标定,另一幅用作增补,使基于双CCD的自动对焦显微镜在寻焦时速度提高一倍,以及在对焦完成时通过算法将图像分割拼接得到清晰度更高的最终图像。
CN201710174216.3A 2017-03-22 2017-03-22 基于双ccd的自动对焦显微镜及测量方法 Expired - Fee Related CN106842534B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710174216.3A CN106842534B (zh) 2017-03-22 2017-03-22 基于双ccd的自动对焦显微镜及测量方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710174216.3A CN106842534B (zh) 2017-03-22 2017-03-22 基于双ccd的自动对焦显微镜及测量方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN106842534A CN106842534A (zh) 2017-06-13
CN106842534B true CN106842534B (zh) 2019-12-24

Family

ID=59129277

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201710174216.3A Expired - Fee Related CN106842534B (zh) 2017-03-22 2017-03-22 基于双ccd的自动对焦显微镜及测量方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106842534B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI811758B (zh) * 2020-08-07 2023-08-11 美商奈米創尼克影像公司 用於自動對焦顯微鏡系統之深度學習模組、自動對焦一顯微鏡系統之方法及非暫時性電腦可讀媒體

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113362399B (zh) * 2021-07-02 2022-08-30 复旦大学 一种偏折测量系统中对焦镜和屏幕位姿的标定方法
CN117850017B (zh) * 2024-03-07 2024-06-07 苏州贝康医疗器械有限公司 显微镜自动对焦方法、装置、计算机设备及存储介质

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1229931A (zh) * 1998-03-25 1999-09-29 全友电脑股份有限公司 自动对焦方法
CN1967245A (zh) * 2005-09-30 2007-05-23 希森美康株式会社 显微镜及显微镜自动对焦方法
CN101562693A (zh) * 2009-06-01 2009-10-21 中国兵器工业第二〇五研究所 双ccd图像拼接探测器的光学成像拼接装置
CN102478700A (zh) * 2010-11-25 2012-05-30 财团法人工业技术研究院 自动聚焦装置及方法
CN104614558A (zh) * 2015-02-05 2015-05-13 华中科技大学 一种面、线ccd组合的原子力探针扫描测量系统及测量方法
CN105143952A (zh) * 2013-04-26 2015-12-09 浜松光子学株式会社 图像取得装置以及图像取得装置的聚焦方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1229931A (zh) * 1998-03-25 1999-09-29 全友电脑股份有限公司 自动对焦方法
CN1967245A (zh) * 2005-09-30 2007-05-23 希森美康株式会社 显微镜及显微镜自动对焦方法
CN101562693A (zh) * 2009-06-01 2009-10-21 中国兵器工业第二〇五研究所 双ccd图像拼接探测器的光学成像拼接装置
CN102478700A (zh) * 2010-11-25 2012-05-30 财团法人工业技术研究院 自动聚焦装置及方法
CN105143952A (zh) * 2013-04-26 2015-12-09 浜松光子学株式会社 图像取得装置以及图像取得装置的聚焦方法
CN104614558A (zh) * 2015-02-05 2015-05-13 华中科技大学 一种面、线ccd组合的原子力探针扫描测量系统及测量方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
光显微成像系统自动对焦技术的研究;商艳芝 等;《光学仪器》;20160430;第38卷(第2期);第145-148页 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI811758B (zh) * 2020-08-07 2023-08-11 美商奈米創尼克影像公司 用於自動對焦顯微鏡系統之深度學習模組、自動對焦一顯微鏡系統之方法及非暫時性電腦可讀媒體

Also Published As

Publication number Publication date
CN106842534A (zh) 2017-06-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN100410719C (zh) 采用虚拟共焦针孔的共焦显微成像系统
CN106842534B (zh) 基于双ccd的自动对焦显微镜及测量方法
US11754681B2 (en) LIDAR system with a multi-mode waveguide photodetector
US8373789B2 (en) Auto focus system and auto focus method
CN108459417B (zh) 一种单目窄带多光谱立体视觉系统及其使用方法
CN103487421A (zh) 时间门控宽场受激辐射超分辨显微方法及装置
JP7419394B2 (ja) モードフィールド拡大器を備えたlidarシステム
JP2007528028A (ja) 異なる焦点に合わせられた画像を生成する光学システム
CN102540439B (zh) 基于反射式液晶空间光调制器的共焦轴向扫描装置及共焦轴向扫描方法
CN105203159A (zh) 单通道可见光与红外图像采集融合监测系统
CN113589506B (zh) 一种基于光谱共焦原理的生物显微视觉预对焦装置及方法
CN202975465U (zh) 一种光学显微镜自动聚焦检测装置
CN104977779B (zh) 一种自动对焦的装置及方法
CN112098343A (zh) 基于etl新型自对焦一体化高光谱成像探测系统
WO2021180013A1 (zh) 一种光学设备及实现自动聚焦的方法
CN106131436B (zh) 一种航空相机的检焦装置以及检焦方法
CN109246340B (zh) 一种光场影像处理显示系统及方法
CN115229330B (zh) 一种激光加工的自动对焦装置及方法
CN115452784A (zh) 自动对焦系统、基因测序系统及自动对焦方法
CN107843969A (zh) 一种多焦点扫频oct调焦装置及其方法
KR101333161B1 (ko) 공초점을 이용한 영상 처리 장치 및 이를 이용한 영상 처리 방법
KR101333160B1 (ko) 공초점을 이용한 영상 처리 방법 및 이를 실행하는 장치
CN109828254B (zh) 基于多视场合束镜的激光雷达光学装置及激光雷达系统
CN206862890U (zh) 一种基于微透镜阵列和振镜扫描的高速高分辨率lbic设备
JP2004102032A (ja) 走査型共焦点顕微鏡装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20191224

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee