CN106827522B - 基于光固化3d打印机的斜面成型质量优化方法 - Google Patents

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
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Abstract

本发明涉及一种基于光固化3D打印机的斜面成型质量优化方法，本发明通过算法将计算机切片后得到的切片图形作对比，只要判断到下一层切片图形的面积比上一层的面积大，可以认为模型在此处存在斜面结构，将有斜面结构的切片图作灰度处理，降低第一层图片边缘的灰度值，通过第二层图片的成型来补偿第一层边缘成型时间的不足，再通过第三层图片的成型来补偿第二层图片边缘成型时间的不足，以此类推，直到斜面成型的结束，可以有效解决光固化3D打印由于斜面导致的边缘成型质量差，表面不光滑等问题。

Description

基于光固化3D打印机的斜面成型质量优化方法
技术领域
本发明涉及3D打印领域，具体是一种基于光固化3D打印机的斜面成型质量优化方法。
背景技术
光固化3D打印机是快速成型技术的一种，其原理是将计算机设计出的三维模型分解成若干平面切片，然后利用光敏性材料将切片图形逐层固化，逐层叠加，最终叠积成完整的物体。目前的光固化3D打印为了能与上一层堆叠在一起，一般光源强度会穿过当前层，照射到上一层中，如果模型存在斜面，面积大的切片图就会将上一层的边缘一起固化，导致斜面不光滑，模型细节表现不佳。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种基于光固化3D打印机的斜面成型质量优化方法，以解决现有技术缺陷。
本发明解决上述技术问题的技术方案如下：
该基于光固化3D打印机的斜面成型质量优化方法包括如下步骤：
1)利用三维模型切割片层得到各层切片图形；
2)判断斜面结构所在位置；
3)将有斜面结构的切片图边缘作灰度处理；
4)将处理后的切片图作光固化3D打印成型。
进一步的，所述步骤2中判断斜面结构方法为：将计算机切片后得到的切片图形作对比，只要判断到下一层切片图形的面积比上一层的面积大，可以认为模型在此处是存在斜面结构的；
进一步的，所述步骤3)中，作灰度处理时，判断到有斜面结构时，第二层的切片图边缘作灰度处理，降低其边缘的灰度值，可以防止光源穿透第二层照射到第一层上；第三层的切片图边缘作灰度处理，降低其灰度值，同时可以将第二层作灰度处理的边缘作二次固化，补偿作灰度处理后光强的不足，增加第二层边缘的牢固性；以此类推，后面斜面的每一层都作灰度处理。
本发明的有益效果是：本发明通过算法将计算机切片后得到的切片图形作对比，只要判断到下一层切片图形的面积比上一层的面积大，可以认为模型在此处存在斜面结构，将有斜面结构的切片图作灰度处理，降低第一层图片边缘的灰度值，通过第二层图片的成型来补偿第一层边缘成型时间的不足，再通过第三层图片的成型来补偿第二层图片边缘成型时间的不足，以此类推，直到斜面成型的结束，可以有效解决光固化3D打印由于斜面导致的边缘成型质量差，表面不光滑等问题。
附图说明
图1为有斜面结构的模型切片示意图；
具体实施方式
以下结合附图对本发明的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本发明，并非用于限定本发明的范围。
该基于光固化3D打印机的斜面成型质量优化方法包括如下步骤：
步骤1、利用三维模型切割片层得到各层切片图形；
步骤2、通过算法判断斜面结构所在位置；
步骤3、将有斜面结构的切片图边缘作灰度处理；
步骤4、将处理后的切片图作光固化3D打印成型。
其中，步骤3作灰度处理时，如图1所示，判断到有斜面结构时，第二层的切片图边缘作灰度处理，降低其边缘的灰度值，可以防止光源穿透第二层照射到第一层上；第三层的切片图边缘作灰度处理，降低其灰度值，同时可以将第二层作灰度处理的边缘作二次固化，补偿作灰度处理后光强的不足，增加第二层边缘的牢固性；以此类推，后面斜面的每一层都作灰度处理。
这样就可以有效解决光固化3D打印由于斜面导致的边缘成型质量差，表面不光滑等问题。
最后，以上仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (2)

1.一种基于光固化3D打印机的斜面成型质量优化方法，其特征在于：包含如下步骤：
1)利用三维模型切割片层得到各层切片图形；
2)判断斜面结构所在位置；
3)将有斜面结构的切片图边缘作灰度处理；
4)将处理后的切片图作光固化3D打印成型；
所述步骤3)中，作灰度处理时，判断到有斜面结构时，第二层的切片图边缘作灰度处理，降低其边缘的灰度值，可以防止光源穿透第二层照射到第一层上；第三层的切片图边缘作灰度处理，降低其灰度值，同时可以将第二层作灰度处理的边缘作二次固化，补偿作灰度处理后光强的不足，增加第二层边缘的牢固性；以此类推，后面斜面的每一层都作灰度处理。
2.根据权利要求1所述的基于光固化3D打印机的斜面成型质量优化方法，其特征在于：所述步骤2) 中判断斜面结构方法为：将计算机切片后得到的切片图形作对比，只要判断到下一层切片图形的面积比上一层的面积大，可以认为模型在此处是存在斜面结构的。
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