CN106791824B - 挑选测试用屏方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种挑选测试用屏方法,所述方法包括:获取所有类型待测试屏的性能参数,将各个类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数子集合,将所有类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数总集合;获取所有与参数子集合对应待测试屏的测试成本参数;获取各个参数子集合与参数总集合的交集中性能参数的交集参数数量,并获取各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值;根据所述比值,从所有类型待测试屏中挑选出目标测试用屏,其中所述比值越大,挑选优先级越高。本发明的方案根据各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值大小,确定目标测试屏,避免对屏一一测试的费时费力和主观选取屏测试的不彻底性。
Description
技术领域
本发明主要涉及挑选测试样品技术领域,具体地说,尤其涉及一种挑选测试用屏方法及其装置。
背景技术
随着智能电视的发展,为了实现智能电视的不同功能,其软件版本的升级越来越频繁,软件版本的升级可能会带来硬件的兼容性问题,导致原来软件版本所支持的硬件在升级后的软件版本上不能使用,需要重新对原来所支持的硬件进行测试。
显示屏作为智能电视必不可少的一部分,为了满足客户的不同需求,通常一款电视所匹配的屏非常多,在软件升级后对所有匹配的屏一一测试的工作量非常大,为了节省时间,会随机选择几款屏进行测试,但是不能覆盖所有屏,导致某些没有经过测试的屏不能兼容。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种挑选测试用屏方法及装置,旨在解决现有技术主观挑选测试用屏,导致测试不彻底的问题。
为实现上述目的,本发明提供一种挑选测试用屏方法,所述挑选测试用屏方法包括以下步骤:
获取所有类型待测试屏的性能参数,将各个类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数子集合,将所有类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数总集合;
获取所有与参数子集合对应待测试屏的测试成本参数;
获取各个参数子集合与参数总集合的交集中性能参数的交集参数数量,并获取各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值;
根据所述比值,从所有类型待测试屏中挑选出目标测试用屏,其中所述比值越大,挑选优先级越高。
优选地,所述根据所述比值,从所有类型待测试屏中挑选出目标测试用屏,其中所述比值越大,挑选优先级越高的步骤包括:
比较所述各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值的大小关系,确定最大比值;
根据所述最大比值,确定与所述最大比值对应的参数子集合;
根据所述参数子集合,挑选出与所述参数子集合对应的目标测试用屏。
优选地,所述根据所述比值,从所有类型待测试屏中挑选出目标测试用屏,其中所述比值越大,挑选优先级越高的步骤之后包括:
控制去除参数总集合中所包含的目标测试用屏的性能参数;
判断参数总集合中是否至少包含一个性能参数;
若是,则执行获取各个参数子集合与参数总集合的交集中性能参数的交集参数数量,并获取各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值的步骤。
优选地,所述获取所有与参数子集合对应待测试屏的测试成本参数的步骤包括:
获取与参数子集合对应待测试屏的市场使用量、库存量以及性能参数数量;
获取与所述市场使用量、库存量以及性能参数数量对应待测试屏的测试成本参数。
优选地,所述获取所有类型待测试屏的性能参数,将各个类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数子集合,将所有类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数总集合的步骤包括:
确定所有类型待测试屏的型号;
获取所有类型待测试屏型号中每种类型待测试屏的性能参数;
将每种类型待测试屏的性能参数组成集合,并将此集合作为参数子集合;
控制去除所有类型待测试屏型号中每种类型待测试屏的性能参数的重复项参数,组成包含所有类型待测试屏的性能参数集合,并将此集合作为参数总集合。
此外,为实现上述目的,本发明还提出一种挑选测试用屏装置,所述挑选测试用屏装置包括:
第一获取模块,用于获取所有类型待测试屏的性能参数,将各个类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数子集合,将所有类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数总集合;
第二获取模块,用于获取所有与参数子集合对应待测试屏的测试成本参数;
第三获取模块,用于获取各个参数子集合与参数总集合的交集中性能参数的交集参数数量,并获取各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值;
挑选模块,用于根据所述比值,从所有类型待测试屏中挑选出目标测试用屏,其中所述比值越大,挑选优先级越高。
优选地,所述挑选模块包括:
比较单元,用于比较所述各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值的大小关系,确定最大比值;
第一确定单元,用于根据所述最大比值,确定与所述最大比值对应的参数子集合;
挑选单元,用于根据所述参数子集合,挑选出与所述参数子集合对应的目标测试用屏。
优选地,所述挑选测试用屏装置还包括:
剔除模块,用于控制去除参数总集合中所包含的目标测试用屏的性能参数;
判断模块,用于判断参数总集合中是否至少包含一个性能参数;
在判断模块判断出参数总集合中至少包含一个性能参数时,所述第三获取模块获取各个参数子集合与参数总集合的交集中性能参数的交集参数数量,并获取各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值。
优选地,所述第二获取模块还用于:
获取与参数子集合对应待测试屏的市场使用量、库存量以及性能参数数量;
获取与所述市场使用量、库存量以及性能参数数量对应待测试屏的测试成本参数。
优选地,所述第一获取模块包括:
第二确定单元,用于确定所有类型待测试屏的型号;
获取单元,用于获取所有类型待测试屏型号中每种类型待测试屏的性能参数;
组合单元,用于将每种类型待测试屏的性能参数组成集合,并将此集合作为参数子集合;
控制单元,用于控制去除所有类型待测试屏型号中每种类型待测试屏的性能参数的重复项参数,组成包含所有类型待测试屏的性能参数集合,并将此集合作为参数总集合。
本发明提出的挑选测试用屏方法,通过将每个待测试屏的性能参数组合成参数子集合,所有待测试屏的性能参数组合成参数总集合,获取每个待测试屏的测试成本参数,将各个参数子集合与参数总集合相交得到交集中性能参数的交集参数数量,用交集中性能参数的交集参数数量除以相应待测试屏的测试成本参数得到比值,按照比值挑选目标测试用屏,得到比值结果越大,则一方面说明交集中性能参数的交集参数数量所包含的性能参数多,即参数子集合所对应的待测试屏所含有的性能参数多,选取其作为目标测试屏可覆盖的屏数量多;另一方面说明测试成本参数低,用户选取此款屏的可能性较大,选取其作为目标测试屏可适用市场需求。所以按照比值越大,挑选优先级越高的规则,可选取兼容性和市场使用率都较高的屏进行测试,避免对屏一一测试的费时费力和主观选取屏测试的不彻底性。
附图说明
图1是本发明的挑选测试用屏方法第一实施例的流程示意图;
图2是本发明的挑选测试用屏方法第二实施例的流程示意图;
图3是本发明的挑选测试用屏装置第一实施例的功能模块示意图;
图4是本发明的挑选测试用屏装置第二实施例的挑选模块的细化功能模块示意图;
图5是本发明的挑选测试用屏装置第三实施例的功能模块示意图;
图6是本发明的挑选测试用屏装置第四实施例的第一获取模块的细化功能模块示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
本发明提出一种挑选测试用屏方法,请参照图1,在第一实施例中,该挑选测试用屏方法包括以下步骤:
步骤S10,获取所有类型待测试屏的性能参数,将各个类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数子集合,将所有类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数总集合;
本实施例提供一种挑选测试用屏方法,目前市面上的智能电视主要有LCD和LED显示屏两种显示屏,其中LCD和LED显示屏又有众多类型,为了满足不同用户的需求通常同一款智能电视能兼容不同类型的LCD和LED显示屏。当智能电视的软件升级后,为了确保软件升级前智能电视所兼容的不同类型的LCD和LED显示屏能够继续使用,需要在升级后的软件基础上对兼容的不同类型的LCD和LED显示屏进行测试,此需要测试的LCD和LED显示屏即为待测试屏。获取所有类型待测试屏的性能参数,所述性能参数包括屏的上电时序,分辨率,是否支持3D等,将各个类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数子集合,将所有类型待测试屏的性能参数组合的集合作为参数总集合,参其中参数子集合的数量和所有类型待测试屏的数量相一致。
步骤S20,获取所有与参数子集合对应待测试屏的测试成本参数;
本实施方案中,单个待测试屏的测试成本是在测试某一屏的过程中所需要付出的成本,测试成本与屏的市场使用量,屏性能广泛性以及屏的获取成本等因素相关。可理解的是,不同类型的屏在市场的使用量肯定不一样,性能参数也不一致,测试时也不可能方便获得所有型号的屏,从而导致不同测试屏所对应的测试成本参数不一样,综合各项影响测试成本的因素,用测试成本参数表述测试成本。获取参数子集合所对应测试屏的测试成本参数,以便根据测试成本参数挑选出测试成本较低的测试用屏。
步骤S30,获取各个参数子集合与参数总集合的交集中性能参数的交集参数数量,并获取各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值;
可理解地,不同类型的的屏所包含的性能参数不一致,导致各个类型待测试屏的性能参数的参数子集合不一致。通过计算各个参数子集合与参数总集合的交集,获取交集中性能参数的交集参数数量,从而确定各个待测试屏的性能参数数量在所有待测试屏的性能参数数量中的分布情况,便于挑选性能参数覆盖最广的屏进行测试。在一具体实施例中,A款屏是B款屏的升级款,A款屏基本支持3D,而B款不支持3D,其他参数一致,则在A款屏的参数子集合中包含支持3D的性能参数,而B款屏则不包含支持3D的性能参数,对于包含所有待测试屏的性能参数的参数总集合来说,肯定包含支持3D的性能参数,所以A款屏的参数子集合和参数总集合相交得到的性能参数数量比B款屏的参数子集合和参数总集合相交得到的性能参数数量多一个,在其他参数相同的情况下选择A款屏作为测试用屏可以覆盖B款屏的测试,减少了工作量。但是综合考虑测试成本参数,在A款屏的市场使用量很低,且获得A款屏不方便,需要重新采购调货,采购物流成本高。而B款屏的市场使用量很高,且有现有库存,此时选择A款屏作为测试用屏并不一定比选择B款屏作为测试用屏更合理。需要合理的平衡各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数之间的关系才能确定选取哪一款屏作为待测试用屏。具体地,通过计算各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值来确定,不同类型的屏所获得的比值大小不一致,与待测试屏性能参数及测试成本参数相关。
步骤S40,根据所述比值,从所有类型待测试屏中挑选出目标测试用屏,其中所述比值越大,挑选优先级越高。
在本发明的技术方案中,比值由各个参数子集合的交集参数数量除以对应测试成本参数而来,根据比值,即可确定相应的参数子集合,再确定与参数子集合所对应的待测试屏,此测视屏即为目标测试用屏。比值越大,说明各个参数子集合的交集参数数量越多即待测试屏的性能参数数量在所有待测试屏的性能参数数量中占得比例多,或者测试成本参数越小。优先选取与比值大相应的待测试屏作为目标测试用屏进行测试,从而使测试覆盖率与测试成本达到最优比。
本实施例的挑选测试用屏方法包括以下步骤:获取所有类型待测试屏的性能参数,将各个类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数子集合,将所有类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数总集合;获取所有与参数子集合对应待测试屏的测试成本参数;获取各个参数子集合与参数总集合的交集中性能参数的交集参数数量,并获取各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值;根据所述比值,从所有类型待测试屏中挑选出目标测试用屏,其中所述比值越大,挑选优先级越高。本方案通过将所有类型待测试屏中的每个待测试屏的性能参数组合成参数子集合,所有类型待测试屏的性能参数组合成参数总集合,用各个参数子集合与参数总集合相交得到的交集中性能参数的交集参数数量除以参数子集合相应待测试屏的测试成本参数得到比值,优先选取与比值大相应的待测试屏作为目标测试用屏,比值越大,一方面说明交集中性能参数的交集参数数量所包含的性能参数多,即参数子集合所对应的待测试屏所含有的性能参数多,选取其作为目标测试屏可覆盖的屏数量多;另一方面说明测试成本参数低,用户选取此款屏的可能性较大,选取其作为目标测试屏可适用市场需求。所以按照比值越大,挑选优先级越高的规则,可选取兼容性和市场使用率都较高的屏进行测试,避免对屏一一测试的费时费力和主观选取屏测试的不彻底性。
在一具体实施例中,在待测试屏有n款时,获取此n款待测试屏的性能参数,组成单个待测试屏的参数子集合S1、S2...Si...(i为小于n的数值)以及包含所有待测试屏的参数总集合E;根据市场使用量,屏性能参数的广泛性以及获得此屏方便与否等因素,确定第i款屏的测试成本参数Wi;对于第i款屏,根据包含其性能参数的参数子集合Si以及测试成本参数Wi,通过|Si∩E|/Wi可获得第i款屏的参数子集合和参数总集合的交集中性能参数数量与其测试成本参数的比值,挑选此比值最大的第i款屏作为目标测试屏。为辅助理解,以具体实施例加以说明,共有120款待测试屏,第一款待测试屏的性能参数为a、b、c,第二款待测试屏的性能参数为g、f,第九款待测试屏的性能参数为q、w、e、r;则S1={a、b、c}、S2={g、f}...S9={q、w、e、r}、E={a、b、c、g、f...q、w、e、r...};第一款待测试屏的测试成本参数W1=1.2,第二款待测试屏的测试成本参数W2=1,第九款待测试屏的测试成本参数W9=1.8;则|S1∩E|/W1=3/1.2=2.5,|S2∩E|/W2=2/1=2,|S9∩E|/W9=4/1.8=2.2;由此计算结果可知第一款待测试屏的比值最大,第九款待测试屏的比值其次,而第二款待测试屏的比值最小。因此优先选取第一款待测试屏为目标测试屏,其次考虑选取第九款待测试屏以及第二款待测试屏作为目标测试屏。通过优先选取与比值大所对应的待测试屏作为目标测试屏,可实现对选取的部分目标测试屏进行测试即可覆盖到所有类型待测试屏的测试,减轻了测试工作量。
进一步地,在本发明挑选测试用屏方法另一实施例中,步骤S40包括:
步骤S41,比较所述各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值的大小关系,确定最大比值;
步骤S42,根据所述最大比值,确定与所述最大比值对应的参数子集合;
步骤S43,根据所述参数子集合,挑选出与所述参数子集合对应的目标测试用屏。
具体地,不同类型的的屏所包含的性能参数不一致,导致各个类型待测试屏的性能参数的参数子集合不一致,从而使各个参数子集合与参数总集合的交集中性能参数的交集参数数量除以对应测试成本参数所得的比值也不一致。将各个比值进行比较,确定最大比值。根据确定的最大比值,即可确定与最大比值相应的参数子集合,再确定与参数子集合所对应的待测试屏,此测视屏即为目标测试用屏。在一具体实施例中,待测试屏的类型有A、B、C三款,其中A款屏的性能参数为p、o、i,B款屏的性能参数为k、j,C款屏的性能参数为j、i、n、m,则其参数子集合分别Sa={p、o、i},Sb={k、j},Sc={j、i、n、m},参数总集合为E={p、o、i、k、j、n、m}。而A、B、C三款屏的测试成本参数分别为1、0.8、1.2,则其比值分别为|Sa∩E|/Wa=3/1=3,|Sb∩E|/Wb=2/0.8=2.5,|Sc∩E|/Wc=4/1.2=3.3。比较A、B、C三款屏的比值大小关系,可知|Sc∩E|/Wc所获得的比值最大,根据此最大比值可确定与其对应的参数子集合Sc,根据参数子集合Sc中的性能参数可确定与此性能参数所对应的为C款屏,从而确定C款屏为目标测试用屏。所以根据最大比值,挑选与其对应的待测试屏为目标测试屏,使测试覆盖率与测试成本达到最优比。
进一步地,请参照图2,在本发明挑选测试用屏方法第一实施例的基础上,提出挑选测试用屏的第二实施例,在在第二实施例中,所述步骤S40之后还包括步骤:
步骤S50,控制去除参数总集合中所包含的目标测试用屏的性能参数;
步骤S60,判断参数总集合中是否至少包含一个性能参数;
步骤S70,若是,则执行获取各个参数子集合与参数总集合的交集中性能参数的交集参数数量,并获取各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值的步骤。
在本实施例方案中,将参数总集合和目标测试屏的参数子集合所共有的性能参数去除掉,判断去除掉共有的性能参数之后的参数总集合是否还包含有性能参数,如果还包含有性能参数,说明选取的目标测试屏还不能覆盖所有需要测试的屏,需要继续挑选测试用屏。循环执行行获取各个参数子集合与参数总集合的交集中性能参数的交集参数数量,并获取各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值;控制去除参数总集合中所包含的目标测试用屏的性能参数的步骤。直到参数总集合不包含任何性能参数,为空集合,并将循环过程中获取的所有最大比值对应的参数子集合组成目标集合,目标集合中的所有参数子集合所对应的待测试屏即为所有的目标测试屏。具体地,在n款待测试屏中,挑选出第i(i≤n)款屏为目标测试屏,将其对应的参数子集合并入初始为空集的目标集合为C中,即C=(C∪Si),同时E=E-Si,判断E是否包含性能参数,若是,则继续执行|Si∩E|/Wi以挑选目标测试屏,直到E中不包含性能参数,此时目标集合C中所有参数子集合所对应的待测试屏即为所有的目标测试屏,通过测试所有的目标测试屏即可覆盖所有待测试屏,降低了测试成本及工作量。
更进一步地,步骤S20获取所有与参数子集合对应待测试屏的测试成本参数的步骤包括:
步骤S21,获取与参数子集合对应待测试屏的市场使用量、库存量以及性能参数数量;
步骤S22,获取与所述市场使用量、库存量以及性能参数数量对应待测试屏的测试成本参数。
具体地,单个待测试屏的测试成本是在测试某款屏的过程中所需要付出的成本,因而某款屏的测试成本越低,越优先测试。具体的测试成本与屏的市场使用量、屏性能广泛性以及屏的获取成本等因素相关。当某款屏的市场使用量越大,挑选其进行测试可实现测试最多使用的屏,即测试成本越低;当某款屏包含了几款屏的功能,测试这一款屏即可覆盖其包含的几款屏的测试,测试成本低;当某款屏有库存,测试只需要从仓库中提取,不需要重新采购运输等操作,即屏获取成本低也被定义为测试成本低。综合各项影响测试成本的因素,用测试成本参数表述测试成本。可理解地,测试成本参数与各项影响因素对测试成本影响的大小相关,即某一项影响因素对测试成本影响很大,而其他项对测试成本影响较小,则说明这一项影响因素对测试成本影响较大,对测试成本参数的确定起关键性作用,占的权重大。在具体实施例中,存在A、B两款待测试屏,其性能参数数量一致,其中A款待测试屏的市场使用量大,占市场份额的80%,但是仓库没有库存,B款待测试屏的市场使用量小,占市场份额的8%,但是有库存。此时,对于A款屏来说,影响测试成本参数的测试成本因素是市场使用量,而对于B款屏来说,影响测试成本参数的测试成本因素是库存量。根据获取的单个待测试屏的市场使用量、库存量以及性能参数数量,即可确定单个待测试屏的测试成本参数,以根据测试成本参数挑选出测试成本较低的测试用屏。
优选地,步骤S10获取所有类型待测试屏的性能参数,将各个类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数子集合,将所有类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数总集合的步骤包括:
步骤S11,确定所有类型待测试屏的型号;
步骤S12,获取所有类型待测试屏型号中每种类型待测试屏的性能参数;
步骤S13,将每种类型待测试屏的性能参数组成集合,并将此集合作为参数子集合;
步骤S14,控制去除所有类型待测试屏型号中每种类型待测试屏的性能参数的重复项参数,组成包含所有类型待测试屏的性能参数集合,并将此集合作为参数总集合。
可理解地,智能电视支持多种类型的屏,屏的类型不同,其性能参数必然不同,根据智能电视支持的屏的所有类型,确定所有类型待测试屏的型号,获取每种类型待测试屏相应的性能参数,一方面将每种类型待测试屏相应的性能参数组合成各个待测试屏相应的参数子集合,另一方面控制去除掉每种类型待测试屏相应的性能参数中的重复项,组合成包含所有类型待测试屏的性能参数的参数总集合。在一具体实施例中,当E款待测试屏的性能参数为p、o、h,F款待测试屏的性能参数为p、k、v,则其参数子集合分别为Se={p、o、h},Sf={p、k、v},参数总集合则为去除掉一个重复项p之后的集合{p、o、h、k、v},其中参数子集合的数量和待测试屏的数量一致。
本发明还提供一种挑选测试用屏装置,参照图3,在第一实施例中,本发明提供的挑选测试用屏装置包括:
第一获取模块10,用于获取所有类型待测试屏的性能参数,将各个类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数子集合,将所有类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数总集合;
本实施例提供一种挑选测试用屏装置,目前市面上的智能电视主要有LCD和LED显示屏两种显示屏,其中LCD和LED显示屏又有众多类型,为了满足不同用户的需求通常同一款智能电视能兼容不同类型的LCD和LED显示屏。当智能电视的软件升级后,为了确保软件升级前智能电视所兼容的不同类型的LCD和LED显示屏能够继续使用,需要在升级后的软件基础上对兼容的不同类型的LCD和LED显示屏进行测试,此需要测试的LCD和LED显示屏即为待测试屏。第一获取模块10获取所有类型待测试屏的性能参数,所述性能参数包括屏的上电时序,分辨率,是否支持3D等,将各个类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数子集合,将所有类型待测试屏的性能参数组合的集合作为参数总集合,参其中参数子集合的数量和所有类型待测试屏的数量相一致。
第二获取模块20,用于获取所有与参数子集合对应待测试屏的测试成本参数;
本实施方案中,单个待测试屏的测试成本是在测试某一屏的过程中所需要付出的成本,测试成本与屏的市场使用量,屏性能广泛性以及屏的获取成本等因素相关。可理解的是,不同类型的屏在市场的使用量肯定不一样,性能参数也不一致,测试时也不可能方便获得所有型号的屏,从而导致不同测试屏所对应的测试成本参数不一样,综合各项影响测试成本的因素,用测试成本参数表述测试成本。第二获取模块20获取参数子集合所对应测试屏的测试成本参数,以便根据测试成本参数挑选出测试成本较低的测试用屏。
第三获取模块30,用于获取各个参数子集合与参数总集合的交集中性能参数的交集参数数量,并获取各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值;
可理解地,不同类型的的屏所包含的性能参数不一致,导致各个类型待测试屏的性能参数的参数子集合不一致。通过第三获取模块30计算各个参数子集合与参数总集合的交集,获取交集中性能参数的交集参数数量,从而确定各个待测试屏的性能参数数量在所有待测试屏的性能参数数量中的分布情况,便于挑选性能参数覆盖最广的屏进行测试。在一具体实施例中,A款屏是B款屏的升级款,A款屏基本支持3D,而B款不支持3D,其他参数一致,则在A款屏的参数子集合中包含支持3D的性能参数,而B款屏则不包含支持3D的性能参数,对于包含所有待测试屏的性能参数的参数总集合来说,肯定包含支持3D的性能参数,所以A款屏的参数子集合和参数总集合相交得到的性能参数数量比B款屏的参数子集合和参数总集合相交得到的性能参数数量多一个,在其他参数相同的情况下选择A款屏作为测试用屏可以覆盖B款屏的测试,减少了工作量。但是综合考虑测试成本参数,在A款屏的市场使用量很低,且获得A款屏不方便,需要重新采购调货,采购物流成本高。而B款屏的市场使用量很高,且有现有库存,此时选择A款屏作为测试用屏并不一定比选择B款屏作为测试用屏更合理。需要合理的平衡各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数之间的关系才能确定选取哪一款屏作为待测试用屏。具体地,通过第三获取模块30计算各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值来确定,不同类型的屏所获得的比值大小不一致,与待测试屏性能参数及测试成本参数相关。
挑选模块40,用于根据所述比值,从所有类型待测试屏中挑选出目标测试用屏,其中所述比值越大,挑选优先级越高。
在本发明的技术方案中,比值由各个参数子集合的交集参数数量除以对应测试成本参数而来,根据比值,即可确定相应的参数子集合,再确定与参数子集合所对应的待测试屏,此测视屏即为目标测试用屏。比值越大,说明各个参数子集合的交集参数数量越多即待测试屏的性能参数数量在所有待测试屏的性能参数数量中占得比例多,或者测试成本参数越小。挑选模块40优先选取与比值大相应的待测试屏作为目标测试用屏进行测试,从而使测试覆盖率与测试成本达到最优比。
本实施例的挑选测试用屏装置包括:第一获取模块10,用于获取所有类型待测试屏的性能参数,将各个类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数子集合,将所有类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数总集合;第二获取模块20,用于获取所有与参数子集合对应待测试屏的测试成本参数;第三获取模块30,用于获取各个参数子集合与参数总集合的交集中性能参数的交集参数数量,并获取各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值;挑选模块40,用于根据所述比值,从所有类型待测试屏中挑选出目标测试用屏,其中所述比值越大,挑选优先级越高。本方案通过将所有类型待测试屏中的每个待测试屏的性能参数组合成参数子集合,所有类型待测试屏的性能参数组合成参数总集合,用各个参数子集合与参数总集合相交得到的交集中性能参数的交集参数数量除以参数子集合相应待测试屏的测试成本参数得到比值,优先选取与比值大相应的待测试屏作为目标测试用屏,比值越大,一方面说明交集中性能参数的交集参数数量所包含的性能参数多,即参数子集合所对应的待测试屏所含有的性能参数多,选取其作为目标测试屏可覆盖的屏数量多;另一方面说明测试成本参数低,用户选取此款屏的可能性较大,选取其作为目标测试屏可适用市场需求。所以按照比值越大,挑选优先级越高的规则,可选取兼容性和市场使用率都较高的屏进行测试,避免对屏一一测试的费时费力和主观选取屏测试的不彻底性。
在一具体实施例中,在待测试屏有n款时,获取此n款待测试屏的性能参数,组成单个待测试屏的参数子集合S1、S2...Si...(i为小于n的数值)以及包含所有待测试屏的参数总集合E;根据市场使用量,屏性能参数的广泛性以及获得此屏方便与否等因素,确定第i款屏的测试成本参数Wi;对于第i款屏,根据包含其性能参数的参数子集合Si以及测试成本参数Wi,通过|Si∩E|/Wi可获得第i款屏的参数子集合和参数总集合的交集中性能参数数量与其测试成本参数的比值,挑选此比值最大的第i款屏作为目标测试屏。为辅助理解,以具体实施例加以说明,共有120款待测试屏,第一款待测试屏的性能参数为a、b、c,第二款待测试屏的性能参数为g、f,第九款待测试屏的性能参数为q、w、e、r;则S1={a、b、c}、S2={g、f}...S9={q、w、e、r}、E={a、b、c、g、f...q、w、e、r...};第一款待测试屏的测试成本参数W1=1.2,第二款待测试屏的测试成本参数W2=1,第九款待测试屏的测试成本参数W9=1.8;则|S1∩E|/W1=3/1.2=2.5,|S2∩E|/W2=2/1=2,|S9∩E|/W9=4/1.8=2.2;由此计算结果可知第一款待测试屏的比值最大,第九款待测试屏的比值其次,而第二款待测试屏的比值最小。因此优先选取第一款待测试屏为目标测试屏,其次考虑选取第九款待测试屏以及第二款待测试屏作为目标测试屏。通过优先选取与比值大所对应的待测试屏作为目标测试屏,可实现对选取的部分目标测试屏进行测试即可覆盖到所有类型待测试屏的测试,减轻了测试工作量。
进一步地,参照图4,基于本发明挑选测试用屏装置第一实施例,在本发明挑选测试用屏装置第二实施例中,所述挑选模块40包括:
比较单元41,用于比较所述各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值的大小关系,确定最大比值;
第一确定单元42,用于根据所述最大比值,确定与所述最大比值对应的参数子集合;
挑选单元43,用于根据所述参数子集合,挑选出与所述参数子集合对应的目标测试用屏。
具体地,不同类型的的屏所包含的性能参数不一致,导致各个类型待测试屏的性能参数的参数子集合不一致,从而使各个参数子集合与参数总集合的交集中性能参数的交集参数数量除以对应测试成本参数所得的比值也不一致。比较单元41将各个比值进行比较,确定最大比值。第一确定单元42根据确定的最大比值,即可确定与最大比值相应的参数子集合,再确定与参数子集合所对应的待测试屏,此测视屏即为目标测试用屏。在一具体实施例中,待测试屏的类型有A、B、C三款,其中A款屏的性能参数为p、o、i,B款屏的性能参数为k、j,C款屏的性能参数为j、i、n、m,则其参数子集合分别Sa={p、o、i},Sb={k、j},Sc={j、i、n、m},参数总集合为E={p、o、i、k、j、n、m}。而A、B、C三款屏的测试成本参数分别为1、0.8、1.2,则其比值分别为|Sa∩E|/Wa=3/1=3,|Sb∩E|/Wb=2/0.8=2.5,|Sc∩E|/Wc=4/1.2=3.3。比较A、B、C三款屏的比值大小关系,可知|Sc∩E|/Wc所获得的比值最大,根据此最大比值可确定与其对应的参数子集合Sc,根据参数子集合Sc中的性能参数可确定与此性能参数所对应的为C款屏,从而确定C款屏为目标测试用屏。所以挑选单元43根据最大比值,挑选与其对应的待测试屏为目标测试屏,使测试覆盖率与测试成本达到最优比。
更进一步地,参照图5,基于本发明挑选测试用屏装置第二实施例,在本发明挑选测试用屏装置第三实施例中,所述挑选测试用屏装置还包括:
剔除模块50,用于控制去除参数总集合中所包含的目标测试用屏的性能参数;
判断模块60,用于判断参数总集合中是否至少包含一个性能参数;
在判断模块60判断出参数总集合中至少包含一个性能参数时,所述第三获取模块30获取各个参数子集合与参数总集合的交集中性能参数的交集参数数量,并获取各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值。
在本实施例方案中,剔除模块50将参数总集合和目标测试屏的参数子集合所共有的性能参数去除掉,判断模块60判断去除掉共有的性能参数之后的参数总集合是否还包含有性能参数,如果还包含有性能参数,说明选取的目标测试屏还不能覆盖所有需要测试的屏,需要继续挑选测试用屏。循环执行行获取各个参数子集合与参数总集合的交集中性能参数的交集参数数量,并获取各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值;控制去除参数总集合中所包含的目标测试用屏的性能参数的步骤。直到参数总集合不包含任何性能参数,为空集合,并将循环过程中获取的所有最大比值对应的参数子集合组成目标集合,目标集合中的所有参数子集合所对应的待测试屏即为所有的目标测试屏。具体地,在n款待测试屏中,挑选出第i(i≤n)款屏为目标测试屏,将其对应的参数子集合并入初始为空集的目标集合为C中,即C=(C∪Si),同时E=E-Si,判断E是否包含性能参数,若是,则继续执行|Si∩E|/Wi以挑选目标测试屏,直到E中不包含性能参数,此时目标集合C中所有参数子集合所对应的待测试屏即为所有的目标测试屏,通过测试所有的目标测试屏即可覆盖所有待测试屏,降低了测试成本及工作量。
优选地,在本发明挑选测试用屏装置另一实施例中,所述第二获取模块20还用于:
获取与参数子集合对应待测试屏的市场使用量、库存量以及性能参数数量;
获取与所述市场使用量、库存量以及性能参数数量对应待测试屏的测试成本参数。
具体地,单个待测试屏的测试成本是在测试某款屏的过程中所需要付出的成本,因而某款屏的测试成本越低,越优先测试。具体的测试成本与屏的市场使用量、屏性能广泛性以及屏的获取成本等因数相关。当某款屏的市场使用量越大,挑选其进行测试可实现测试最多使用的屏,即测试成本越低;当某款屏包含了几款屏的功能,测试这一款屏即可覆盖其包含的几款屏的测试,测试成本低;当某款屏有库存,测试只需要从仓库中提取,不需要重新采购运输等操作,即屏获取成本低也被定义为测试成本低。综合各项影响测试成本的因素,用测试成本参数表述测试成本。可理解地,测试成本参数与各项影响因素对测试成本影响的大小相关,即某一项影响因素对测试成本影响很大,而其他项对测试成本影响较小,则说明这一项影响因素对测试成本影响较大,对测试成本参数的确定起关键性作用,占的权重大。在具体实施例中,存在A、B两款待测试屏,其性能参数数量一致,其中A款待测试屏的市场使用量大,占市场份额的80%,但是仓库没有库存,B款待测试屏的市场使用量小,占市场份额的8%,但是有库存。此时,对于A款屏来说,影响测试成本参数的测试成本因素是市场使用量,而对于B款屏来说,影响测试成本参数的测试成本因素是库存量。第二获取模块20根据获取的单个待测试屏的市场使用量、库存量以及性能参数数量,即可确定单个待测试屏的测试成本参数,以根据测试成本参数挑选出测试成本较低的测试用屏。
更进一步地,参照图6,基于本发明挑选测试用屏装置第三实施例,在本发明挑选测试用屏装置第四实施例中,所述第一获取模块10包括:
第二确定单元11,用于确定所有类型待测试屏的型号;
获取单元12,用于获取所有类型待测试屏型号中每种类型待测试屏的性能参数;
组合单元13,用于将每种类型待测试屏的性能参数组成集合,并将此集合作为参数子集合;
控制单元14,用于控制去除所有类型待测试屏型号中每种类型待测试屏的性能参数的重复项参数,组成包含所有类型待测试屏的性能参数集合,并将此集合作为参数总集合。
可理解地,智能电视支持多种类型的屏,屏的类型不同,其性能参数必然不同,根据智能电视支持的屏的所有类型,第二确定单元11确定所有类型待测试屏的型号,获取单元12获取每种类型待测试屏相应的性能参数,一方面组合单元13将每种类型待测试屏相应的性能参数组合成各个待测试屏相应的参数子集合,另一方面控制单元14控制去除掉每种类型待测试屏相应的性能参数中的重复项,组合成包含所有类型待测试屏的性能参数的参数总集合。在一具体实施例中,当E款待测试屏的性能参数为p、o、h,F款待测试屏的性能参数为p、k、v,则其参数子集合分别为Se={p、o、h},Sf={p、k、v},参数总集合则为去除掉一个重复项p之后的集合{p、o、h、k、v},其中参数子集合的数量和待测试屏的数量一致。
以上所述仅为本发明的优选实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是在本发明的构思下,利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换,或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (8)
1.一种挑选测试用屏方法,其特征在于,所述挑选测试用屏方法包括以下步骤:
获取所有类型待测试屏的性能参数,将各个类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数子集合,将所有类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数总集合;
获取所有与参数子集合对应待测试屏的测试成本参数;
获取各个参数子集合与参数总集合的交集中性能参数的交集参数数量,并获取各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值;
根据所述比值,从所有类型待测试屏中挑选出目标测试用屏,其中所述比值越大,挑选优先级越高;
其中,所述根据所述比值,从所有类型待测试屏中挑选出目标测试用屏的步骤之后包括:
控制去除参数总集合中所包含的目标测试用屏的性能参数;
判断去除目标测试用屏的性能参数后的参数总集合中是否至少包含一个性能参数;
若是,则执行获取各个参数子集合与参数总集合的交集中性能参数的交集参数数量,并获取各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值的步骤,直到参数总集合不包括任何性能参数。
2.如权利要求1所述的挑选测试用屏方法,其特征在于,所述根据所述比值,从所有类型待测试屏中挑选出目标测试用屏,其中所述比值越大,挑选优先级越高的步骤包括:
比较所述各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值的大小关系,确定最大比值;
根据所述最大比值,确定与所述最大比值对应的参数子集合;
根据所述参数子集合,挑选出与所述参数子集合对应的目标测试用屏。
3.如权利要求1-2任一项所述的挑选测试用屏方法,其特征在于,所述获取所有与参数子集合对应待测试屏的测试成本参数的步骤包括:
获取与参数子集合对应待测试屏的市场使用量、库存量以及性能参数数量;
获取与所述市场使用量、库存量以及性能参数数量对应待测试屏的测试成本参数。
4.如权利要求1-2任一项所述的挑选测试用屏方法,其特征在于,所述获取所有类型待测试屏的性能参数,将各个类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数子集合,将所有类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数总集合的步骤包括:
确定所有类型待测试屏的型号;
获取所有类型待测试屏型号中每种类型待测试屏的性能参数;
将每种类型待测试屏的性能参数组成集合,并将此集合作为参数子集合;
控制去除所有类型待测试屏型号中每种类型待测试屏的性能参数的重复项参数,组成包含所有类型待测试屏的性能参数集合,并将此集合作为参数总集合。
5.一种挑选测试用屏装置,其特征在于,所述挑选测试用屏装置包括:
第一获取模块,用于获取所有类型待测试屏的性能参数,将各个类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数子集合,将所有类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数总集合;
第二获取模块,用于获取所有与参数子集合对应待测试屏的测试成本参数;
第三获取模块,用于获取各个参数子集合与参数总集合的交集中性能参数的交集参数数量,并获取各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值;
挑选模块,用于根据所述比值,从所有类型待测试屏中挑选出目标测试用屏,其中所述比值越大,挑选优先级越高;
其中,所述挑选测试用屏装置还包括:
剔除模块,用于控制去除参数总集合中所包含的目标测试用屏的性能参数;
判断模块,用于判断去除目标测试用屏的性能参数后的参数总集合中是否至少包含一个性能参数;
在判断模块判断出去除目标测试用屏的性能参数后的参数总集合中至少包含一个性能参数时,所述第三获取模块获取各个参数子集合与参数总集合的交集中性能参数的交集参数数量,并获取各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值,直到参数总集合不包括任何性能参数。
6.如权利要求5所述的挑选测试用屏装置,其特征在于,所述挑选模块包括:
比较单元,用于比较所述各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值的大小关系,确定最大比值;
第一确定单元,用于根据所述最大比值,确定与所述最大比值对应的参数子集合;
挑选单元,用于根据所述参数子集合,挑选出与所述参数子集合对应的目标测试用屏。
7.如权利要求5-6任一项所述的挑选测试用屏装置,其特征在于,所述第二获取模块还用于:
获取与参数子集合对应待测试屏的市场使用量、库存量以及性能参数数量;
获取与所述市场使用量、库存量以及性能参数数量对应待测试屏的测试成本参数。
8.如权利要求5-6任一项所述的挑选测试用屏装置,其特征在于,所述第一获取模块包括:
第二确定单元,用于确定所有类型待测试屏的型号;
获取单元,用于获取所有类型待测试屏型号中每种类型待测试屏的性能参数;
组合单元,用于将每种类型待测试屏的性能参数组成集合,并将此集合作为参数子集合;
控制单元,用于控制去除所有类型待测试屏型号中每种类型待测试屏的性能参数的重复项参数,组成包含所有类型待测试屏的性能参数集合,并将此集合作为参数总集合。
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