CN106791465A - 一种基于图像特征的cmos传感器底电平自适应调节方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基于图像特征的CMOS传感器底电平自适应调节方法,步骤如下:划分图像灰度分布区间;计算各区间的像素个数占像素总数的比值;将上述比值与阈值进行比较,判断是否需要调整底电平;采用查找表法获得底电平调整系数。本发明能够根据场景的亮度分布特征,自适应的调节传感器的底电平,在曝光时间范围有限的情况下,对光照变化剧烈的场景能取得较好的曝光效果。
Description
技术领域
本发明涉及一种应用于CMOS图像传感器的底电平自适应调节方法,该方法能够有效弥补曝光时间范围有限带来的不足,除常规光照环境外,还可应用于光照强度变化范围较大的太空环境,属于航天光学遥感器技术领域。
背景技术
CMOS图像传感器具有高集成度、低成本和低功耗等优点,有利于实现轻小型高帧频低功耗的相机系统。目前,采用CMOS图像传感器的相机正广泛应用于航空航天、国防军事等领域。
在CMOS图像传感器成像过程中,曝光对图像质量的影响很大。CMOS传感器的像素输出电压由光照强度和曝光时间决定,在曝光时间固定的情况下,若光强较低,曝光时间结束时输出信号仍然小于噪声,造成曝光不足,会导致图像过暗;若光强较高时,曝光时间尚未结束信号已经饱和,造成曝光过度,则会导致图像过亮。这两种情况都会失去图像细节,即使在后续图像处理过程中都难以在色彩上恢复,降低了图像的视觉质量。自动曝光技术能够自动调节曝光时间,使其适应入射光强的变化,以达到合适的成像效果。然而,航天遥感图像场景具有其特殊性,图像或者具有大面积的深空背景,或者处于强光直射情况下,场景明暗变化大,未知性强。为了获得尽可能多的信息,高帧频CMOS相机的应用日趋广泛,而高帧频则意味着传感器曝光时间的最大值受到了相应的限制。同时,传感器的曝光时间最小值是由控制时钟决定的。由于曝光时间受到帧频和时钟的制约,即使采用了自动曝光技术,仍然会出现曝光时间范围不能满足环境光强变化的情况。
因此,研究一种在光照条件较为极端(过强或过弱)的场景下也能够获得较好成像效果的方法对于航天遥感CMOS相机具有重要的意义。
发明内容
本发明的技术解决问题是:弥补曝光时间范围有限的不足,从传感器自身特性出发,提供了一种自适应底电平调节方法,本发明根据场景的不同,自动调节CMOS传感器的底电平以适应入射光强的变化,对环境光照条件较为极端的场景也具有良好的成像效果,对硬件要求较低,易于移植。
本发明的技术解决方案是:
一种基于图像特征的CMOS传感器底电平自适应调节方法,步骤如下:
(1)划分图像灰度分布区间:灰度值小于等于P1的像素属于暗区域Z0,灰度值大于等于P2的像素属于亮区域Z1,灰度值在[P3,P4]区间的像素属于感兴趣区域Z2;
(2)分别计算Z0~Z2区域的像素个数占像素总数的比值K0~K2;
(3)根据步骤(2)得到的各区域像素个数比值,获得底电平调整系数;
(4)由当前底电平数值乘以调整系数得出下次底电平数值;
(5)结束。
所述步骤(3)中获得底电平调整系数的具体方法如下:
(3a)若K2大于KM,则不调整底电平,将底电平调整系数设置为C1,直接进入步骤(4),否则进入步骤(3b);
(3b)若K0大于K1,则进入步骤(3c),否则进入步骤(3d);
(3c)根据K0的值查表得到底电平调整系数,并进入步骤(4);
(3d)根据K1的值查表得到底电平调整系数,并进入步骤(4)。
所述步骤(3c)和(3d)中所述查找表的形式均为折线,不同的像素比值对应不同的底电平调整系数,折线的横轴表示像素比值K0或K1,纵轴表示底电平调整系数,根据不同的需求,折线的具体形式不一样。
当所述像素比值K0大于等于A1时,对应的调整系数为2;当像素比值K1大于等于A2时,对应的调整系数为0.6;A1、A2分别用于判断落在暗区域和亮区域的像素数目是否满足调整要求,是根据不同需求的统计分析得到的,根据实际应用进行调整,其中0.40≤A1≤0.48,0.45≤A2≤0.52
所述阈值P1,P2,P3,P4用于界定不同灰度值的像素分别属于不同区域,KM用于判断落在感兴趣区域的像素数目是否满足要求,这些数值是根据不同需求的统计分析得到的,可根据实际应用进行调整,其中10≤P1≤15,228≤P2≤235,90≤P3≤98,130≤P4≤138;0.70≤KM≤0.78。
所述步骤(3a)中所述底电平调整系数C1=1。
本发明与现有技术相比的有益效果是:
(1)本发明能够根据场景的亮度分布特征,自适应的调节传感器的底电平,在曝光时间范围有限的情况下,对光照变化剧烈的场景能取得较好的曝光效果。
(2)本发明易于实现,对硬件设备要求不高,易于移植,通用性较强。
(3)本发明中的阈值、调整系数等参数均为可调参数,可根据对类似场景的统计分析得到,对不同的目标场景可采用不同的参数,提高了系统的灵活性。
附图说明
图1为本发明CMOS传感器底电平自适应调节方法的流程示意图;
图2为本发明查找表中底电平调整系数与像素比值关系示意图,其中a为底电平调整系数与K0关系示意图,b为底电平调整系数与K1关系示意图;
图3为单一底电平设置拍摄效果图和应用本发明的拍摄效果图对比,其中a为单一底电平设置拍摄效果图,b为应用本发明的拍摄效果图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的具体实施方式进行进一步的详细描述:
如图1所示,一种基于图像特征的CMOS传感器底电平自适应调节方法,包括步骤如下:
(1)划分图像灰度分布区间:灰度值小于等于P1的像素属于暗区域Z0,灰度值大于等于P2的像素属于亮区域Z1,灰度值在[P3,P4]区间的像素属于感兴趣区域Z2;
(2)分别计算Z0~Z2区域的像素个数占像素总数的比值K0~K2;
(3)根据步骤(2)得到的各区域像素个数比值,获得底电平调整系数;
获得底电平调整系数的具体方法如下:
(3a)若K2大于KM,则不调整底电平,将底电平调整系数设置为C1,直接进入步骤(4),否则进入步骤(3b);
(3b)若K0大于K1,则进入步骤(3c),否则进入步骤(3d);
(3c)根据K0的值查表得到底电平调整系数,并进入步骤(4);
(3d)根据K1的值查表得到底电平调整系数,并进入步骤(4)。
通过设定一系列的阈值范围(如P1,P2,P3,P4;KM等),将图像划分为相应的区域,再统计各个区域的像素分布,合理判断图像的灰度层次分布,从而获得合适的底电平调整系数,提高图像的可辨识性。
本实施例中P1=15,P2=235,P3=98,P4=138;KM=0.75;C1=1。
步骤(3c)和(3d)中所述查找表的形式均为折线,不同的像素比值对应不同的底电平调整系数,折线的横轴表示像素比值K0或K1,纵轴表示底电平调整系数,根据不同的需求,折线的具体形式不一样,取决于想要获得的调整效果。如图2所示,其中,a为步骤(3c)中所述的查找表形式,折线的横轴表示像素比值K0,纵轴表示底电平调整系数,当像素比值K0小于A1时,每个像素比值对应不同的调整系数,像素比值越大,调整系数越大,当K0大于等于A1时,对应的调整系数恒为2;图2中的b为步骤(3d)中所述的查找表形式,折线的横轴表示像素比值K1,纵轴表示底电平调整系数,当像素比值K1小于A2时,每个像素比值对应不同的调整系数,像素比值越大,调整系数越小,当像素比值K1大于等于A2时,对应的调整系数恒为0.6。
本实施例中A1=0.4,A2=0.45。
(4)由当前底电平数值乘以调整系数得出下次底电平数值。
(5)结束。
拍摄结果对比如图3所示,对同一场景进行拍摄成像,其中图3中的a为单一底电平设置的相机所拍摄的图像,由于室外光照强烈,出现过曝现象,窗口部分完全饱和,图像过于明亮,窗外的细节丢失;而图3中的b为应用本发明算法拍摄的图像,即使室外光照强烈也不会导致曝光过度,窗外的建筑物可见,可辨识性提高。
本发明说明书中未作详细描述的内容属本领域技术人员的公知技术。
Claims (6)
1.一种基于图像特征的CMOS传感器底电平自适应调节方法,其特征在于步骤如下:
(1)划分图像灰度分布区间:灰度值小于等于P1的像素属于暗区域Z0,灰度值大于等于P2的像素属于亮区域Z1,灰度值在[P3,P4]区间的像素属于感兴趣区域Z2;
(2)分别计算Z0~Z2区域的像素个数占像素总数的比值K0~K2;
(3)根据步骤(2)得到的各区域像素个数比值,获得底电平调整系数;
(4)由当前底电平数值乘以调整系数得出下次底电平数值;
(5)结束。
2.根据权利要求1所述的一种基于图像特征的CMOS传感器底电平自适应调节方法,其特征在于:所述步骤(3)中获得底电平调整系数的具体方法如下:
(3a)若K2大于KM,则不调整底电平,将底电平调整系数设置为C1,直接进入步骤(4),否则进入步骤(3b);
(3b)若K0大于K1,则进入步骤(3c),否则进入步骤(3d);
(3c)根据K0的值查表得到底电平调整系数,并进入步骤(4);
(3d)根据K1的值查表得到底电平调整系数,并进入步骤(4)。
3.根据权利要求2所述的一种基于图像特征的CMOS传感器底电平自适应调节方法,其特征在于:所述步骤(3c)和(3d)中,查找表的形式均为折线,不同的像素比值对应不同的底电平调整系数,折线的横轴表示像素比值K0或K1,纵轴表示底电平调整系数,根据不同的需求,折线的具体形式不一样。
4.根据权利要求3所述的一种基于图像特征的CMOS传感器底电平自适应调节方法,其特征在于:当所述像素比值K0大于等于A1时,对应的调整系数为2;当像素比值K1大于等于A2时,对应的调整系数为0.6;A1、A2分别用于判断落在暗区域和亮区域的像素数目是否满足调整要求,是根据不同需求的统计分析得到的,根据实际应用进行调整,其中0.40≤A1≤0.48,0.45≤A2≤0.52。
5.根据权利要求1所述的一种基于图像特征的CMOS传感器底电平自适应调节方法,其特征在于:阈值P1,P2,P3,P4用于界定不同灰度值的像素分别属于不同区域,KM用于判断落在感兴趣区域的像素数目是否满足要求,这些数值是根据不同需求的统计分析得到的,可根据实际应用进行调整,其中10≤P1≤15,228≤P2≤235,90≤P3≤98,130≤P4≤138;0.70≤KM≤0.78。
6.根据权利要求3所述的一种基于图像特征的CMOS传感器底电平自适应调节方法,其特征在于:步骤(3a)中所述底电平调整系数C1=1。
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