CN106769859A - 液晶屏保护膜的检查机构 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及液晶屏保护膜的检查机构，包括底座、转动轴、固定架、活动手臂和检查台面，其特征在于，液晶屏保护膜的检查机构，包括底座、转动轴、固定架、活动手臂和检查台面，其特征在于，所述底座上设有固定架，所述固定架内设有转动轴，所述转动轴与固定架转动连接，所述活动手臂的一端通过转动轴与固定架转动连接，另一端与检查台面固定；本发明的检查机构结构简单、使用方便，主要用于检查液晶屏的保护膜贴服是否完好，采用该检查结构大大节约了人力成本，提高了生产效率。
Description
技术领域
本发明涉及一种检查机构，尤其是一种液晶屏保护膜的检查机构，属于电子生产加工技术领域。
背景技术
目前市场上的销售的手机、相机、笔记本、液晶电视均会增加贴膜这项工艺，贴膜后的液晶屏具有以下优点：1、防止光线反射伤害眼睛；2、防止指纹脏污屏幕防止细菌存留在屏幕上；3、防止电磁辐射；4、保护屏幕，液晶屏不但可以免受划痕、油污的侵扰，而且可以减轻机主看屏幕时的眼睛疲劳。
贴膜后的液晶屏可能存在气泡或是贴歪等问题，目前是通过人工肉眼检查，挑出其中的贴的不合格的产品，可是人工检查效率低下，且肉眼无法检查到很细小的问题，造成不良品的存在。
发明内容
本发明的目的是克服现有技术中存在的不足，提供一种液晶屏保护膜的检查机构，用于检查液晶屏的保护膜贴服是否完好，大大节约了人力成本，提高了生产效率。
为实现以上技术目的，本发明采用的技术方案是：液晶屏保护膜的检查机构，包括底座、转动轴、固定架、活动手臂和检查台面，其特征在于，所述底座上设有固定架，所述固定架内设有转动轴，所述转动轴与固定架转动连接，所述活动手臂的一端通过转动轴与固定架转动连接，另一端与检查台面固定。
进一步地，所述检查台面的形状大小根据液晶屏的尺寸而定。
进一步地，所述活动手臂以转动轴为中心带动检查台面运动。
进一步地，所述检查台面在同一平面上以活动手臂为中心轴360度旋转。
从以上描述可以看出，本发明的技术效果在于：
（1）本发明结构简单，安装使用方便；
（2）通过使用本发明的检查机构，能够快速有效的检查保护膜贴合是否均匀，有无划伤和沾污，节约了大量的人力成本，同时提高了生产效率。
附图说明
图1是本发明的结构示意图。
图2是图1的侧面结构示意图。
附图标记说明：1-滚珠轴承、2-翻转连接板、3-轴承架、4-铰链销、5-固定平台。
具体实施方式
下面结合具体附图和实施例对本发明作进一步说明。
根据附图1和图2所示，液晶屏保护膜的检查机构，包括底座1、转动轴2、固定架3、活动手臂4和检查台面5，其特征在于，所述底座1上设有固定架3，所述固定架3内设有转动轴2，所述转动轴2与固定架3转动连接，所述活动手臂4的一端通过转动轴2与固定架3转动连接，另一端与检查台面5固定；所述活动手臂4以转动轴2为中心带动检查台面5运动；所述检查台面5在同一平面上以活动手臂4为中心轴360度旋转；所述检查台面5的形状大小根据液晶屏的尺寸而定。
本发明工作过程是：活动手臂4以转动轴2为中心带动检查台面5运动，将贴有保护膜的液晶屏接至检查台面5上并固定，检查台面5在同一平面上以活动手臂4为中心轴360度旋转，旋转过程中360度检查保护膜，检查保护膜贴合是否均匀，有无划伤和沾污，检查过程方便快捷，检查后通过活动手臂4带动检查台面5将液晶屏送到下一道工序，该检查机构节约了大量的人力成本，同时提高了生产效率。
以上对本发明及其实施方式进行了描述，该描述没有限制性，附图中所示的也只是本发明的实施方式之一，实际的结构并不局限于此。如果本领域的普通技术人员受其启示，在不脱离本发明创造宗旨的情况下，不经创造性的设计出与该技术方案相似的结构方式及实施例，均应属于本发明的保护范围。
Claims (3)
1.液晶屏保护膜的检查机构，包括底座（1）、转动轴（2）、固定架（3）、活动手臂（4）和检查台面（5），其特征在于，所述底座（1）上设有固定架（3），所述固定架（3）内设有转动轴（2），所述转动轴（2）与固定架（3）转动连接，所述活动手臂（4）的一端通过转动轴（2）与固定架（3）转动连接，另一端与检查台面（5）固定。
2.根据权利要求1所述的液晶屏保护膜的检查机构，其特征在于：所述活动手臂（4）以转动轴（2）为中心带动检查台面（5）运动。
3.根据权利要求1所述的液晶屏保护膜的检查机构，其特征在于：所述检查台面（5）在同一平面上以活动手臂（4）为中心轴360度旋转。
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|---|---|---|---|---|
| CN116754566A (zh) * | 2023-08-17 | 2023-09-15 | 绍兴旭源新材料科技有限公司 | 一种柔性折叠屏幕保护膜检测方法 |
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| JP2000156391A (ja) * | 1998-11-19 | 2000-06-06 | Sony Corp | 半導体ウェーハ検査装置 |
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