CN106767362A - 一种电容式微位移传感器检测电路 - Google Patents

一种电容式微位移传感器检测电路 Download PDF

Info

Publication number
CN106767362A
CN106767362A CN201510816519.1A CN201510816519A CN106767362A CN 106767362 A CN106767362 A CN 106767362A CN 201510816519 A CN201510816519 A CN 201510816519A CN 106767362 A CN106767362 A CN 106767362A
Authority
CN
China
Prior art keywords
circuit
capacitance sensor
displacement
wave
filter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201510816519.1A
Other languages
English (en)
Inventor
史树元
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to CN201510816519.1A priority Critical patent/CN106767362A/zh
Publication of CN106767362A publication Critical patent/CN106767362A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

一种电容式微位移传感器检测电路包括正弦激励源电路、电容检测电路、精密全波整流电路、增益滤波电路。正弦激励源信号施加于传感器,通过电容检测电路,将正比于极板间距变化的电压输出,通过精密全波整流电路、增益滤波电路,取出变化电压的直流分量,该直流分量正比于电容传感器极板间距。解决了变间隙式电容位移传感器输出特性的非线性问题。该电路输出电压与传感器测头间位移成正比,具有很强的抗杂散电容能力和抗干扰能力。

Description

一种电容式微位移传感器检测电路
技术领域
本发明涉及一种传感器检测电路,尤其是一种电容式微位移传感器检测电路。
背景技术
电容式位移传感器具有非接触测量、结构简单、精度高、动态特性好和频带宽等优点,在工业生产和科学研究中得到广泛应用。
目前,在微电容传感器处理电路的研究方面,国内与国外有较大的差距。国外在研究领域,以美国密歇根大学集成传感器与集成电路中心为代表,他们所开发的单片集成微电容传感系统可以检测温度、湿度、气压和加速度各项参数。其中各传感器都采用敏感电容结构。荷兰Delft科技大学的Gerard C.M.Meijer领导的小组开发的气象智能测量系统可以把传感器与处理电路集成,其通用传感接口可以测量0-2pF,0-12pF及0-300pF范围的敏感电容,并且可以测量热电阻和Pt电阻。
发明内容
本发明设计了一种电容式微位移传感器检测电路,解决了变间隙式电容位移传感器输出特性的非线性问题。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:
电容式微位移传感器检测电路包括正弦激励源电路、电容检测电路、精密全波整流电路、增益滤波电路。正弦激励源信号施加于传感器,通过电容检测电路,将正比于极板间距变化的电压输出,通过精密全波整流电路、增益滤波电路,取出变化电压的直流分量,该直流分量正比于电容传感器极板间距。
所述正弦激励源电路采用有源晶振提供频率稳定的激励信号,设计电压反馈稳幅环节保持激励信号的幅值稳定,100kHz正弦激励,以降低电极阻抗,提高检测电路频响和提高精度。晶振X1输出100kHz方波信号,通过R1,C1组成的低通滤波器,300kHz以上的高次谐波大大被削弱,再通过由运算放大器A1、双T型滤波器、R2和R3构成的选频放大电路选频,Q1选用N沟道结型场效应管BF245A,工作在可变电阻区。Q1相当于受栅源电压控制的可变电阻,调节电压反馈电路的反馈系数,稳定正弦激励源信号幅值。A2选取高速、低能耗的AD817。
所述电容检测电路由OPA627和AD817及相应的滤波器组成,Cx为电容传感器电容,Cref为参考电容,大阻值电阻R1与C1并联,控制运算放大器A1输入直流偏置。A1,C1,Cref和R1构成高通滤波器,滤除低频干扰。双T型滤波器的陷波频率选为100kHz,运算放大器A2对于100kHz的激励信号相当于开环。运算放大器A1,A2和高通滤波器的串联电路,对激励源信号,其放大倍数为A1的闭环放大倍数与A2的开环放大倍数之积,其输入阻抗为A1的输入阻抗。杂散电容相当于接在A1的反向输入端与地之间,通过A1的虚地作用,杂散电容对电路的影响可以忽略。电路传递函数为:
Uin为激励源电压,dx为电容传感器极板间的位移。为降低整个电路的噪声影响,A1选取高速、低噪音和低偏置电流的OPA627,A2选取高速、低能耗的AD817。
所述精密全波整流电路输入为电容检测电路输出的正弦信号。对于正极性信号,D2正向偏置,A1输出-(R2/R1)Uin ,A2迭加通过R3和R4的信号并输出:
选取R1=R2,R4=2R3,A2输出Uout=(R5/R4)Uin。对于负极性信号,D2截止,D1构成负反馈,A1的输出为零,无信号通过R3,A2的输出Uout=-(R5/R4)Uin;从而A2输出精密全波整流信号。A1,A2采用低噪音、高精度的AD797,而D1,D2采用快速开关二极管1N4148,以减小二极管带来的时间延迟影响。
所述增益滤波电路需滤除电路中各次高阶谐波以及带宽以外的干扰信号,保留直流分量。运算放大器A1,C1和R1构成低通滤波器,滤除各次高阶谐波。R1调整增益,以利于信号的后续处理;双T型滤波器滤除基波。运算放大器A2,电容C2和电阻R2构成缓冲器,最终信号缓冲输出,输出信号正比于电容传感器位移变化。
发明的有益效果是:电容式微位移传感器检测电路,解决了变间隙式电容位移传感器输出特性的非线性问题。该电路输出电压与传感器测头间位移成正比,具有很强的抗杂散电容能力和抗干扰能力。
附图说明
下面结合附图对本发明进一步说明。
图1是电容检测系统框图。
图2是正弦激励源电路。
图3是电容检测电路。
图4是精密全波整流电路。
图5是增益滤波电路。
具体实施方式
在图1中,电容式微位移传感器检测电路包括正弦激励源电路、电容检测电路、精密全波整流电路、增益滤波电路。正弦激励源信号施加于传感器,通过电容检测电路,将正比于极板间距变化的电压输出,通过精密全波整流电路、增益滤波电路,取出变化电压的直流分量,该直流分量正比于电容传感器极板间距。
在图2中,所述正弦激励源电路采用有源晶振提供频率稳定的激励信号,设计电压反馈稳幅环节保持激励信号的幅值稳定,100kHz正弦激励,以降低电极阻抗,提高检测电路频响和提高精度。晶振X1输出100kHz方波信号,通过R1,C1组成的低通滤波器,300kHz以上的高次谐波大大被削弱,再通过由运算放大器A1、双T型滤波器、R2和R3构成的选频放大电路选频,Q1选用N沟道结型场效应管BF245A,工作在可变电阻区。Q1相当于受栅源电压控制的可变电阻,调节电压反馈电路的反馈系数,稳定正弦激励源信号幅值。A2选取高速、低能耗的AD817。
在图3中,所述电容检测电路由OPA627和AD817及相应的滤波器组成,Cx为电容传感器电容,Cref为参考电容,大阻值电阻R1与C1并联,控制运算放大器A1输入直流偏置。A1,C1,Cref和R1构成高通滤波器,滤除低频干扰。双T型滤波器的陷波频率选为100kHz,运算放大器A2对于100kHz的激励信号相当于开环。运算放大器A1,A2和高通滤波器的串联电路,对激励源信号,其放大倍数为A1的闭环放大倍数与A2的开环放大倍数之积,其输入阻抗为A1的输入阻抗。杂散电容相当于接在A1的反向输入端与地之间,通过A1的虚地作用,杂散电容对电路的影响可以忽略。电路传递函数为:
Uin为激励源电压,dx为电容传感器极板间的位移。为降低整个电路的噪声影响,A1选取高速、低噪音和低偏置电流的OPA627,A2选取高速、低能耗的AD817。
在图4中,所述精密全波整流电路输入为电容检测电路输出的正弦信号。对于正极性信号,D2正向偏置,A1输出-(R2/R1)Uin ,A2迭加通过R3和R4的信号并输出:
选取R1=R2,R4=2R3,A2输出Uout=(R5/R4)Uin。对于负极性信号,D2截止,D1构成负反馈,A1的输出为零,无信号通过R3,A2的输出Uout=-(R5/R4)Uin;从而A2输出精密全波整流信号。A1,A2采用低噪音、高精度的AD797,而D1,D2采用快速开关二极管1N4148,以减小二极管带来的时间延迟影响。
在图5中,所述增益滤波电路需滤除电路中各次高阶谐波以及带宽以外的干扰信号,保留直流分量。运算放大器A1,C1和R1构成低通滤波器,滤除各次高阶谐波。R1调整增益,以利于信号的后续处理;双T型滤波器滤除基波。运算放大器A2,电容C2和电阻R2构成缓冲器,最终信号缓冲输出,输出信号正比于电容传感器位移变化。

Claims (5)

1.一种电容式微位移传感器检测电路包括正弦激励源电路、电容检测电路、精密全波整流电路、增益滤波电路。
2.根据权利要求1所述的电容式微位移传感器检测电路,其特征是所述正弦激励源电路采用有源晶振提供频率稳定的激励信号晶振X1输出100kHz方波信号,通过R1,C1组成的低通滤波器,再通过由运算放大器A1、双T型滤波器、R2和R3构成的选频放大电路选频,Q1选用N沟道结型场效应管BF245A,工作在可变电阻区,Q1相当于受栅源电压控制的可变电阻,调节电压反馈电路的反馈系数,稳定正弦激励源信号幅值,A2选取高速、低能耗的AD817。
3.根据权利要求1所述的电容式微位移传感器检测电路,其特征是所述电容检测电路由OPA627和AD817及相应的滤波器组成,A1,C1,Cref和R1构成高通滤波器,滤除低频干扰,双T型滤波器的陷波频率选为100kHz,运算放大器A1,A2和高通滤波器的串联电路,杂散电容相当于接在A1的反向输入端与地之间,通过A1的虚地作用,杂散电容对电路的影响可以忽略;电路传递函数为: ,Uin为激励源电压,dx为电容传感器极板间的位移,A1选取高速、低噪音和低偏置电流的OPA627,A2选取高速、低能耗的AD817。
4.根据权利要求1所述的电容式微位移传感器检测电路,其特征是所述精密全波整流电路输入为电容检测电路输出的正弦信号,A1,A2采用低噪音、高精度的AD797,而D1,D2采用快速开关二极管1N4148。
5.根据权利要求1所述的电容式微位移传感器检测电路,其特征是所述增益滤波电路需滤除电路中各次高阶谐波以及带宽以外的干扰信号,保留直流分量;运算放大器A1,C1和R1构成低通滤波器,滤除各次高阶谐波;R1调整增益,双T型滤波器滤除基波,运算放大器A2,电容C2和电阻R2构成缓冲器。
CN201510816519.1A 2015-11-23 2015-11-23 一种电容式微位移传感器检测电路 Pending CN106767362A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510816519.1A CN106767362A (zh) 2015-11-23 2015-11-23 一种电容式微位移传感器检测电路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510816519.1A CN106767362A (zh) 2015-11-23 2015-11-23 一种电容式微位移传感器检测电路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN106767362A true CN106767362A (zh) 2017-05-31

Family

ID=58885517

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201510816519.1A Pending CN106767362A (zh) 2015-11-23 2015-11-23 一种电容式微位移传感器检测电路

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106767362A (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108469218A (zh) * 2018-05-09 2018-08-31 广东工业大学 一种电容测距方法、系统、装置及可读存储介质
CN108489477A (zh) * 2017-12-28 2018-09-04 北京时代民芯科技有限公司 一种用于硅微机械陀螺仪的微小信号拾取电路
CN113225036A (zh) * 2021-05-12 2021-08-06 上海电气集团股份有限公司 一种前置放大器及医用压电薄膜传感器
CN115790888A (zh) * 2023-02-07 2023-03-14 国家电投集团阜城东方新能源发电有限公司 一种电缆接头温度检测系统

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108489477A (zh) * 2017-12-28 2018-09-04 北京时代民芯科技有限公司 一种用于硅微机械陀螺仪的微小信号拾取电路
CN108489477B (zh) * 2017-12-28 2020-10-16 北京时代民芯科技有限公司 一种用于硅微机械陀螺仪的微小信号拾取电路
CN108469218A (zh) * 2018-05-09 2018-08-31 广东工业大学 一种电容测距方法、系统、装置及可读存储介质
CN113225036A (zh) * 2021-05-12 2021-08-06 上海电气集团股份有限公司 一种前置放大器及医用压电薄膜传感器
CN115790888A (zh) * 2023-02-07 2023-03-14 国家电投集团阜城东方新能源发电有限公司 一种电缆接头温度检测系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106767362A (zh) 一种电容式微位移传感器检测电路
CN101551420B (zh) 一种mems器件微弱电容检测电路
CN106597015B (zh) 一种提高电容式硅微加速度传感器输出稳定性的闭环电路
CN101975893A (zh) 一种基于仪器放大器的差动电容检测电路及检测方法
CN106918628B (zh) 一种可变频率的非接触的水泥阻抗测试仪
CN103954821A (zh) 一种滤波电容等效串联电阻的纹波电压检测方法
CN104833823A (zh) 电容式微机械加速度计动态性能改善系统和方法
CN202502163U (zh) 电容式mems器件微弱电容的检测装置
CN204832352U (zh) 一种相位延迟积分的小电容测量仪
CN105652099B (zh) 一种基于开关电路的微电容差检测方法
CN103267891A (zh) 基于数字校正的无损电流检测电路
CN107449414A (zh) Mems陀螺仪的闭环锁相驱动电路
CN104539264B (zh) 应用于eps电源系统的滤波方法及滤波电路
CN102355263B (zh) 一种改进的信号采集调理电路
Liang et al. Statistical modeling and signal reconstruction processing method of EMF for slurry flow measurement
CN109633207A (zh) 一种数字闭环加速度计片上在线自检测系统及方法
CN106154053A (zh) 一种基于载波调制和相敏解调实现的微弱电容的检测芯片
CN208383294U (zh) 一种三轴式振动传感器
CN203376374U (zh) 基于光电耦合器的电压传感模块
CN204272046U (zh) 一种生物微弱信号检测与处理电路
CN106885948A (zh) 一种激光调高器电容测量装置
CN105388315A (zh) 角速度传感器的驱动控制电路
CN204944423U (zh) 一种电容式mems传感器检测电路
CN210833696U (zh) 一种智能电磁流量计
CN114124074A (zh) 一种霍尔元件失调电压的消除装置及消除方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20170531

WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication