CN106707145B - 电弧故障检测装置的试验装置及试验方法 - Google Patents

电弧故障检测装置的试验装置及试验方法 Download PDF

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    • G01R31/3277—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers of low voltage devices, e.g. domestic or industrial devices, such as motor protections, relays, rotation switches

Abstract

本发明揭示了一种电弧故障检测装置的试验装置，包括：电源、第一试验开关组、电弧故障检测装置、第一负载接口、第二负载接口、第二试验开关组和电弧故障试验装置。电弧故障检测装置接入电源，其输出端连接到相线和中性线。第一负载接口跨接在相线和中性线之间，接入屏蔽负载和/或电阻性负载。第二负载接口串接在中性线上，接入电阻性负载以调节试验回路的试验电流等级，或者接入屏蔽负载和/或电阻性负载。第二试验开关组跨接在相线和中性线之间，或者串接在中性线中。电弧故障试验装置连接在相线和中性线之间。本发明还揭示了上述电弧故障检测装置的试验装置，使用同一个试验装置完成串联电弧故障试验、屏蔽试验和误脱扣试验。

Description

电弧故障检测装置的试验装置及试验方法
技术领域
本发明涉及低压电器领域，更具体地说，涉及电弧故障检测装置的试验领域。
背景技术
近年来随着我国经济建设的迅速发展，生产和生活用电大幅度增加，而且现代化的建筑千姿百态，造型各异，室内外装修、电气线路敷设更是复杂，所以电气火灾也随之剧增，给国家经济和人民生命财产造成了巨大损失。电弧故障断路器又称电弧故障检测装置(以下简称AFDD，北美简称AFCI)，是一种新颖的保护电器，它能检测电气线路中的电弧故障，并在引发电气火灾以前切断电路，有效地防止电弧故障引起的电气火灾。因此，在电气线路上安装AFDD及时发现电弧并切断线路是减小电弧故障引发电气火灾危害最有效的方法，它弥补了其他低压电器保护装置的不足，极大地提高了电气火灾的防护水平。随着国家对电气火灾防治的愈发重视，以及AFDD产品市场逐渐成熟，电弧故障检测技术的研究越来越重要。
在通常情况下，由于电弧故障受负载类型的影响，AFDD作为终端电器要实现不同负载条件下的电弧故障检测，正确识别正常电弧和故障电弧，区分故障电弧与电气设备正常运行的电流波形，离不开相关试验电路的试验测试与验证。为确保其电弧故障检测技术的稳定性和可靠性，试验电路应尽可能符合实际应用环境的需要，负载接入也应符合家用电器的接入方式。因此，AFDD试验方法和试验电路的研究同样是非常有必要的。依据AFDD的国家标准和IEC标准，试验要求对在额定电流及以下电流的电弧试验方法的分析和电弧试验电路的研究，将有助于AFDD电弧故障检测技术的提高。
发明内容
本发明旨在提出一种电弧故障检测装置的试验装置和试验方法，使用单一的试验装置完成数个电弧故障动作特性试验。
根据本发明的一实施例，提出一种电弧故障检测装置的试验装置，包括：电源、第一试验开关组、电弧故障检测装置、第一负载接口、第二负载接口、第二试验开关组和电弧故障试验装置；
电弧故障检测装置通过第一试验开关组中的一号试验开关接入电源，电弧故障检测装置的输出端连接到相线和中性线；
第一负载接口跨接在相线和中性线之间，所述第一负载接口接入屏蔽负载和/或电阻性负载；
第二负载接口串接在中性线上，所述第二负载接口接入电阻性负载以调节试验回路的试验电流等级，或者接入屏蔽负载和/或电阻性负载；
第二试验开关组跨接在相线和中性线之间，或者串接在中性线中；
电弧故障试验装置连接在相线和中性线之间。
在一个实施例中，电源是220V交流电源，电弧故障试验装置是具有碳化通道的电缆或电弧发生器。
在一个实施例中第一负载接口包括三个并联的第一负载插座：一号负载插座、二号负载插座和三号负载插座，三个第一负载插座均跨接在相线和中性线之间，通过第一负载接口的三个第一负载插座接入屏蔽负载和/或电阻性负载。
第二负载接口包括三个并联的第二负载插座：四号负载插座、五号负载插座和六号负载插座，三个第二负载插座并联后整体串接在中性线上，通过第二负载接口的三个第二负载插座接入电阻性负载以调节试验回路的试验电流等级，或者接入屏蔽负载和/或电阻性负载。
第二试验开关组包括三个试验开关：二号试验开关、三号试验开关和四号试验开关，其中二号试验开关和四号试验开关跨接在相线和中性线之间，三号试验开关串接在中性线上。
根据本发明的一实施例，提出一种电弧故障检测装置的试验方法，使用如上述的电弧故障检测装置的试验装置，使用同一个试验装置完成串联电弧故障试验、屏蔽试验和误脱扣试验。
在一个实施例中，进行串联电弧故障试验时，试验方法如下：
验证电路中突然出现串联电弧故障时的正确动作：
第一负载接口不接入负载；
第二负载接口中的四号负载插座接入可调电阻箱。
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关、二号试验开关、三号试验开关和四号试验开关以及电弧故障检测装置闭合位置且试验电流到达稳定，通过阻性负载将回路电流调到对应的试验电流等级；然后打开二号试验开关；试验时突然打开四号试验开关；
电弧故障试验装置T的选择为电缆试品。
极限温度下的试验：
第一负载接口不接入负载；
第二负载接口中的四号负载插座接入可调电阻箱；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关、二号试验开关、三号试验开关和四号试验开关以及电弧故障检测装置闭合位置且试验电流到达稳定，通过阻性负载将回路电流调到对应的试验电流等级；然后打开二号试验开关；试验时突然打开四号试验开关；
电弧故障试验装置T的选择为电缆试品；
验证接入带串联电弧故障负载的正确动作：
第一负载接口不接入负载；
第二负载接口中的四号负载插座接入可调电阻箱；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关、二号试验开关、三号试验开关和四号试验开关以及电弧故障检测装置闭合位置且试验电流到达稳定，通过阻性负载将回路电流调到对应的试验电流等级；然后打开二号试验开关；试验时突然打开三号试验开关；
电弧故障试验装置T的选择为电缆试品；
验证闭合串联电弧故障时的正确动作：
第一负载接口不接入负载；
第二负载接口中的四号负载插座接入可调电阻箱；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关、二号试验开关、三号试验开关和四号试验开关以及电弧故障检测装置闭合位置且试验电流到达稳定，通过阻性负载将回路电流调到对应的试验电流等级；然后打开一号试验开关、二号试验开关和四号试验开关；试验时突然闭合一号试验开关；
电弧故障试验装置T的选择为电缆试品。
在一个实施例中，进行屏蔽试验时，试验方法如下：
不带抑制性负载屏蔽试验，即第一组试验：
第一负载接口不接入负载；
第二负载接口中的四号负载插座接入可调电阻箱，电流为3A；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关、二号试验开关、三号试验开关和四号试验开关和电弧故障检测装置闭合位置且试验电流到达稳定；然后打开二号试验开关；试验时突然打开四号试验开关；
电弧故障试验装置T的选择为电缆试品；
带抑制性负载屏蔽试验，即第二组试验中的卤素灯配置A：
第一负载接口不接入负载；
第二负载接口中的四号负载插座接入总功率300W、12V电子变压器供电的卤素灯，五号负载插座接入5A的阻性负载；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关、二号试验开关、三号试验开关和四号试验开关和电弧故障检测装置闭合位置且试验电流到达稳定；然后打开二号试验开关；试验时突然打开四号试验开关；
电弧故障试验装置T的选择为电缆试品；
带抑制性负载屏蔽试验，即第二组试验中的卤素灯配置B：
第一负载接口中的一号负载插座接入总功率300W、12V电子变压器供电的卤素灯，二号负载插座接入5A的阻性负载；
第二负载接口中的四号负载插座接入可调电阻箱，电流为3A；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关、二号试验开关、三号试验开关和四号试验开关和电弧故障检测装置闭合位置且试验电流到达稳定；然后打开二号试验开关；试验时突然打开四号试验开关；
电弧故障试验装置T的选择为电缆试品；
带抑制性负载屏蔽试验，即第二组试验中的卤素灯配置C：
第一负载接口中的一号负载插座接入可调电阻箱，电流为3A；
第二负载接口中的四号负载插座接入总功率300W、12V电子变压器供电的卤素灯，五号负载插座接入5A的阻性负载；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关、二号试验开关、三号试验开关和四号试验开关和电弧故障检测装置闭合位置且试验电流到达稳定；然后打开二号试验开关；试验时突然打开四号试验开关；
电弧故障试验装置T的选择为电缆试品；
带抑制性负载屏蔽试验，即第二组试验中的卤素灯配置D：
第一负载接口不接入负载；
第二负载接口中的四号负载插座接入总功率300W、12V电子变压器供电的卤素灯，五号负载插座接入5A的阻性负载，六号负载插座接入可调电阻箱，电流为3A；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关、二号试验开关、三号试验开关和四号试验开关和电弧故障检测装置闭合位置且试验电流到达稳定；然后打开二号试验开关；试验时突然打开四号试验开关；
电弧故障试验装置T的选择为电缆试品；
EMI滤波器屏蔽测试(a)：
第一负载接口中，在一号负载插座与二号负载插座之间、以及二号负载插座与三号负载插座之间的连接导线换成各15m、2.5mm2的BVVB导线，在二号负载插座和三号负载插座上各接入SPT-2导线长2m、1.5mm2的EMI滤波器，该EMI滤波器由0.22μF的电容实现；
第二负载接口中的四号负载插座接入可调电阻箱，电流为3A；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关、二号试验开关、三号试验开关和四号试验开关和电弧故障检测装置闭合位置且试验电流到达稳定；然后打开二号试验开关；试验时突然打开四号试验开关；
电弧故障试验装置T的选择为电缆试品；
EMI滤波器屏蔽测试(b)：
第一负载接口中，一号负载插座与二号负载插座之间的连接导线换成15m、2.5mm2的BVVB导线；在二号负载插座上接入SPT-2导线长2m、1.5mm2的EMI滤波器，该EMI滤波器为现成的EMI滤波器；
第二负载接口中的四号负载插座接入可调电阻箱，电流为3A；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关、二号试验开关、三号试验开关和四号试验开关和电弧故障检测装置闭合位置且试验电流到达稳定；然后打开二号试验开关；试验时突然打开四号试验开关；
电弧故障试验装置T的选择为电缆试品；
带线路阻抗的屏蔽试验：
第一负载接口中，在一号负载插座与二号负载插座之间的连接导线换成30m、2.5mm2的铠装电缆；
第二负载接口中的四号负载插座接入可调电阻箱，电流为3A；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关、二号试验开关、三号试验开关和四号试验开关和电弧故障检测装置闭合位置且试验电流到达稳定；然后打开二号试验开关；试验时突然打开四号试验开关；
电弧故障试验装置T的选择为电缆试品。
在一个实施例中，进行误脱扣试验时，试验方法如下：
串扰试验：
样机选择为微型断路器时，将电弧故障检测装置换成微型断路器；
第一负载接口不接入负载；
第二负载接口中的四号负载插座接入可调电阻箱，电流为5A；
一号试验开关、二号试验开关、三号试验开关和四号试验开关不做操作；
电弧故障试验装置T的选择为电缆试品；
样机选择为电弧故障检测装置时，第一负载接口、第二负载接口不使用，一号试验开关、二号试验开关、三号试验开关和四号试验开关不做操作，不接入电弧故障试验装置，接线方式为在一号试验开关后接入电弧故障检测装置，后直接带电流为5A的阻性负载；
带各种干扰负载的试验中的卤素灯配置A：
样机选择为电弧故障检测装置；
第一负载接口不接入负载；
第二负载接口中的四号负载插座接入总功率300W、12V电子变压器供电的卤素灯，五号负载插座接入5A的阻性负载；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关、二号试验开关、三号试验开关和四号试验开关和电弧故障检测装置闭合位置且试验电流到达稳定；试验时突然打开试验开关或插拔负载；
电弧故障试验装置T不接入电缆试品；
带各种干扰负载的试验中的卤素灯配置B：
样机选择为电弧故障检测装置；
第一负载接口中的一号负载插座接入总功率300W、12V电子变压器供电的卤素灯，二号负载插座接入电流为5A的阻性负载；
第二负载接口中的四号负载插座接入可调电阻箱，电流为3A；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关、二号试验开关、三号试验开关和四号试验开关和电弧故障检测装置闭合位置且试验电流到达稳定；试验时突然打开试验开关或插拔负载；
电弧故障试验装置T不接入电缆试品；
带各种干扰负载的试验中的卤素灯配置C：
样机选择为电弧故障检测装置；
第一负载接口中的一号负载插座接入可调电阻箱，电流为3A；
第二负载接口中的四号负载插座接入总功率300W、12V电子变压器供电的卤素灯，五号负载插座接入电流为5A的阻性负载；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关、二号试验开关、三号试验开关和四号试验开关和电弧故障检测装置闭合位置且试验电流到达稳定；试验时突然打开试验开关或插拔负载；
电弧故障试验装置T不接入电缆试品；
带各种干扰负载的试验中的卤素灯配置D：
样机选择为电弧故障检测装置；
第一负载接口不接入负载；
第二负载接口中的四号负载插座接入总功率300W、12V电子变压器供电的卤素灯，五号负载插座接入电流为5A的阻性负载，六号负载插座接入可调电阻箱，电流为3A；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关、二号试验开关、三号试验开关和四号试验开关和电弧故障检测装置闭合位置且试验电流到达稳定；试验时突然打开试验开关或插拔负载；
电弧故障试验装置T不接入电缆试品。
本发明的电弧故障检测装置的试验装置及试验方法通用性强，可完成额定电流及以下电流AFDD所有的电弧试验，能提高试验测试的稳定性、试验结果的准确性，且试验时一般无需移动试品，有效避免分散、不同的试验电路对试验结果造成潜在离散性的影响。该试验装置操作简化，实用性强，加载电阻性负载和屏蔽负载方便灵活。
附图说明
本发明上述的以及其他的特征、性质和优势将通过下面结合附图和实施例的描述而变的更加明显，在附图中相同的附图标记始终表示相同的特征，其中：
图1揭示了AFDD进行串联电弧故障试验的电路示意图。
图2揭示了AFDD进行抑制性负载屏蔽试验的电路示意图，其中AFDD未接入抑制性负载。
图3a-3d揭示了AFDD进行抑制性负载屏蔽试验的电路示意图，其中AFDD接入了不同配置的抑制性负载。
图4a-4b揭示了AFDD进行EMI滤波器屏蔽试验的电路示意图。
图5揭示了AFDD进行线路故障的屏蔽试验的电路示意图。
图6揭示了AFDD进行串扰试验的电路示意图。
图7揭示了根据本发明的一实施例的AFDD试验装置的电路示意图。
具体实施方式
依据AFDD的国家标准和IEC标准，AFDD试验方法，即电弧故障动作特性试验主要有串联电弧故障试验、并联电弧故障试验、屏蔽试验、误脱扣试验。试验电流如果以产品的额定电流划分，除并联电弧故障试验外，串联电弧故障试验、屏蔽试验、误脱扣试验的试验电流基本都在产品的额定电流及以下。下面对串联电弧故障试验、屏蔽试验、误脱扣试验的试验电路进行分析研究。
1)串联电弧故障试验
图1揭示了AFDD进行串联电弧故障试验的电路示意图。AFDD应在其额定电流及以下各等级电流进行试验，试验的方式分4种：电路中突然出现串联电弧故障时的试验、接入带串联电弧故障负载的试验、闭合串联电弧故障时的试验、周围温度为-5℃和+40℃极限温度下的试验。图1所揭示的AFDD进行串联电弧故障试验的电路示意图与AFDD国家标准GB/T31143-2014中的图4相符。试验电路包括四个试验开关S1、S2、S3和S4，AFDD、负载L、电弧故障试验装置T。试验电路连接在相线和中性线之间，按照图1所示的方式连接。试验方式可以参照GB/T 31143-2014中的要求。其中试验开关S2是可以省略的。
2)屏蔽试验
屏蔽是指在回路中有电弧故障时，AFDD不能因负载电流波形的影响而不正确动作。在屏蔽试验时，AFDD应在不同的抑制配置电路中的正确动作。AFDD屏蔽试验的方式分3种：抑制性负载屏蔽试验、EMI滤波器屏蔽试验、线路阻抗的屏蔽试验。
2a)抑制性负载屏蔽试验
图2、图3a-3d揭示了AFDD进行抑制性负载屏蔽试验的电路示意图。
第一组试验AFDD未接入抑制性负载，即AFDD不带抑制性负载。试验电路的电路示意图如图2所示，该试验电路与AFDD国家标准GB/T 31143-2014中的图10相符。该试验电路包括电源V、两个试验开关S1和S2、AFDD、负载L、试验装置T。其中电源V是500A的电源，试验装置T是电缆试验装置或者电弧发生器。试验电路连接在相线和中性线之间，按照图2所示的方式连接。试验方式参照国标的要求。图2中所示的试验开关S1与S2等同于图1中所示的试验开关S4和S3。
第二组试验AFDD接入抑制性负载，即AFDD带抑制性负载。依据AFDD国家标准GB/T31143-2014，在GB/T 31143-2014的9.9.4.2中规定了7种抑制性负载，试验电流不小于3A。按照抑制性负载的不同配置，试验电路被配置成图3a-3d所示的方式，图3a-3d所示的电路示意图与GB/T 31143-2014中的图11所示的电路配置相符。图3a-3d所示的电路示意图中，均包括电源V、AFDD、电弧故障试验装置T。参考图3a所示，在电路配置A中，屏蔽负载L1接入到电弧故障试验装置T。参考图3b所示，在电路配置B中，屏蔽负载L1接入到电弧故障试验装置T和AFDD之间，电阻性负载L2接入到电弧故障试验装置T。参考图3c所示，在电路配置C中，电阻性负载L2接入到电弧故障试验装置T和AFDD之间，屏蔽负载L1接入到电弧故障试验装置T。参考图3d所示，在电路配置D中，屏蔽负载L1和电阻性负载L2均接入到电弧故障试验装置T。试验方式参照国标的要求。
2b)EMI滤波器屏蔽试验
图4a-4b揭示了AFDD进行EMI滤波器屏蔽试验的电路示意图。
EMI滤波器屏蔽试验的方式有两种。第一种方式采用两个0.22μF电容C作为EMI滤波器，试验电路如图4a所示，该试验电路与AFDD国家标准GB/T 31143-2014中的图12相符。如图4a所示，该试验电路包括电源V、AFDD、电弧故障试验装置T、电阻性负载L2和EMI滤波器。电阻性负载L2接入电弧故障试验装置T。在AFDD和电弧故障试验装置T之间接入两个BVVB导线，每一个BVVB导线长度为15m、截面积2.5mm2。每一个BVVB导线与一个0.22μF电容C连接，并且，BVVB导线与0.22μF电容C之间连接的连接导线为SPT-2，SPT-2导线的长度为2m、截面积1.5mm2。第一种方式中的试验电流为3A。试验方式参照国标的要求。
第二种方式采用现成的EMI滤波器，实验电路如图4b所示，该试验电路与AFDD国家标准GB/T 31143-2014中的图13相符。如图4b所示，该试验电路包括电源V、AFDD、电弧故障试验装置T、电阻性负载L2和EMI滤波器。电阻性负载L2接入电弧故障试验装置T。在AFDD和电弧故障试验装置T之间接入一个BVVB导线，BVVB导线长度为15m、截面积2.5mm2。该BVVB导线部件与一个EMI滤波器连接(EMI滤波器在图4b中被标记为EMI)。并且，该BVVB导线与EMI滤波器连接的连接导线为SPT-2，SPT-2导线的长度为2m、截面积1.5mm2。第二种方式中的试验电流也为3A。试验方式参照国标的要求。
2c)线路阻抗的屏蔽试验
图5揭示了AFDD进行线路故障的屏蔽试验的电路示意图。图5所示的试验电路与AFDD国家标准GB/T 31143-2014中的图15相符。如图5所示，该试验电路包括电源V、AFDD、测试线路TL、电弧故障试验装置T、电阻性负载L2。电阻性负载L2接入电弧故障试验装置T。在AFDD和电弧故障试验装置T之间接入测试线路TL，测试线路TL是30m长的钢铠装电缆。试验电流为3A。试验方式参照国标的要求。
3)误脱扣试验
误脱扣是指回路中没有电弧故障时，AFDD不能因负载电流波形类似于电弧故障而误脱扣。依据AFDD的国家标准和IEC标准，AFDD误脱扣试验的方式分两种：串扰试验、带各种干扰负载试验。
3a)串扰试验
图6揭示了AFDD进行串扰试验的电路示意图。图6所示的试验电路与AFDD国家标准GB/T 31143-2014中的图16相符。如图6所示，该试验电路包括连接在相线与中性线之间的两个并联的支路，其中一个支路中串接AFDD和负载L，另一个支路中串接断路器(CB)、电缆试验装置TL和负载L。串扰试验的试验电流是5A。试验方式参照国标的要求。
3b)带各种干扰负载试验
对于带各种干扰负载试验，试验电路采用前述进行屏蔽试验的电路进行，即图2所示的试验电路。在进行带各种干扰负载试验时，图2中的试验开关S1一直处于闭合状态，并且试验电流不小于3A。试验方式参照国标的要求。
结合图1-图6以及前述的分析可见，串联电弧故障试验、屏蔽试验和误脱扣试验都是在额定电流及以下电流的AFDD试验方法。或者说，屏蔽试验、误脱扣试验是串联电弧故障试验的扩充，它们的试验电路略有差异，但基本相同，而且试验方法也很相似。通过一定的电路配置，完全有可能将串联电弧故障试验、屏蔽试验和误脱扣试验的电路整合成一个单一的试验电路，以便于重复试验和一致性测试，将能更好地对AFDD产品进行质量评价。
本发明旨在提出一种AFDD试验装置，能够通过不同的配置来满足串联电弧故障试验、屏蔽试验(包括抑制性负载屏蔽试验、EMI滤波器屏蔽试验和线路阻抗的屏蔽试验)、误脱扣试验(包括串扰试验电路和带各种干扰负载试验)的试验电路配置和试验要求。实现以单一的实验电路通过接线配置来满足AFDD在额定电流及以下电流的各种试验测试的要求。
图7揭示了根据本发明的一实施例的AFDD试验装置的电路示意图。如图7所示，该AFDD试验装置包括：
电源V、第一试验开关组、AFDD、第一负载接口、第二负载接口、第二试验开关组、电弧故障试验装置T。在图7所示的实施例中，电源V是220V交流电源。第一试验开关组包括试验开关S1(试验开关S1在文中也称为一号试验开关)，试验开关S1连接在电源V和AFDD之间。第二试验开关组包括三个试验开关：试验开关S2、试验开关S3和试验开关S4(试验开关S2、S3和S4在文中也称为二号试验开关、三号试验开关和四号试验开关)，三个试验开关S2、S3和S4按照图7所示的方式进行连接，其中试验开关S2和S4跨接在相线和中性线之间，试验开关S3串接在中性线上。试验开关S1、S2、S3、S4的作用和操作方法都严格按国标和IEC标准的相关要求。电弧故障试验装置T连接在相线和中性线之间，电弧故障试验装置T采用具有碳化通道的电缆或电弧发生器。第一负载接口包括三个并联的第一负载插座XS1、XS2和XS3(第一负载插座XS1、XS2和XS3在文中也称为一号负载插座、二号负载插座和三号负载插座)，三个第一负载插座XS1、XS2和XS3均跨接在相线和中性线之间。通过第一负载接口的三个第一负载插座XS1、XS2和XS3可以接入屏蔽负载和/或电阻性负载。第二组负载接口包括三个并联的第二负载插座XS4、XS5和XS6(第二负载插座XS4、XS5和XS6在文中也称为四号负载插座、五号负载插座和六号负载插座)，第二负载接口整体是串接在中性线上，通过第二负载接口的三个第二负载插座XS4、XS5和XS6，可接入电阻性负载以调节试验回路的各种试验电流等级，也可接入屏蔽负载和/或电阻性负载。
由于电弧本身具有较大的随机性，AFDD在进行电弧故障动作特性测试时，试验电路经常会被要求固定后尽量不要随不同的试验方式而变动和拆装，减少不必要线路串扰的影响。因此，AFDD试验配置接线电路作为一种可在额定电流及以下电流对AFDD电弧故障动作特性进行测试的电路，试验操作时不仅要去繁为简，而且试验负载更换时要方便灵活。例如，AFDD试验配置接线电路对诺雅克Ex9B-AD16等样机进行试验测试，电弧故障试验装置采用具有碳化通道的电缆试品产生电弧，屏蔽负载和电阻性负载需用时都用插头接入。
采用图7所示的AFDD试验装置，能够通过不同的配置来满足串联电弧故障试验、屏蔽试验(包括抑制性负载屏蔽试验、EMI滤波器屏蔽试验和线路阻抗的屏蔽试验)、误脱扣试验(包括串扰试验电路和带各种干扰负载试验)的试验电路配置和试验要求。下面进行详细的介绍。
表1
表1揭示了串弧试验对试验配置接线电路验证的情况。经测试，这种试验配置接线电路能满足实际试验要求，而且S2可拆掉不用。
具体而言，表1中进行的测试验证的情况如下：
1.1)验证电路中突然出现串联电弧故障时的正确动作：
第一负载接口不接入负载。
第二负载接口中的负载插座XS4接入可调电阻箱。
试验开关S1、S2、S3、S4的操作顺序如下：试验前S1、S2、S3、S4和AFDD闭合位置且试验电流到达稳定，通过阻性负载将回路电流调到对应的试验电流等级；然后打开S2；试验时突然打开S4。
电弧故障试验装置T的选择为电缆试品。
1.2)极限温度下的试验：
第一负载接口不接入负载。
第二负载接口中的负载插座XS4接入可调电阻箱。
试验开关S1、S2、S3、S4的操作顺序如下：试验前S1、S2、S3、S4和AFDD闭合位置且试验电流到达稳定，通过阻性负载将回路电流调到对应的试验电流等级；然后打开S2；试验时突然打开S4。
电弧故障试验装置T的选择为电缆试品。
1.3)验证接入带串联电弧故障负载的正确动作：
第一负载接口不接入负载。
第二负载接口中的负载插座XS4接入可调电阻箱。
试验开关S1、S2、S3、S4的操作顺序如下：试验前S1、S2、S3、S4和AFDD闭合位置且试验电流到达稳定，通过阻性负载将回路电流调到对应的试验电流等级；然后打开S2；试验时突然闭合S3。
电弧故障试验装置T的选择为电缆试品。
1.4)验证闭合串联电弧故障时的正确动作：
第一负载接口不接入负载。
第二负载接口中的负载插座XS4接入可调电阻箱。
试验开关S1、S2、S3、S4的操作顺序如下：试验前S1、S2、S3、S4和AFDD闭合位置且试验电流到达稳定，通过阻性负载将回路电流调到对应的试验电流等级；然后打开S1、S2和S4；试验时突然闭合S1。
电弧故障试验装置T的选择为电缆试品。
表2
表2是屏蔽试验对试验配置接线电路验证情况。带抑制性负载屏蔽试验(第二组试验)列举了7种屏蔽负载之一的卤素灯测试情况。经测试，这种试验配置接线电路能满足实际试验要求，而且S2可拆掉不用。
具体而言，表2中进行的测试验证的情况如下：
2.1)不带抑制性负载屏蔽试验(第一组试验)
第一负载接口不接入负载。
第二负载接口中的负载插座XS4接入可调电阻箱(3A)。
试验开关S1、S2、S3、S4的操作顺序如下：试验前S1、S2、S3、S4和AFDD闭合位置且试验电流到达稳定；然后打开S2；试验时突然打开S4。
电弧故障试验装置T的选择为电缆试品。
2.2a)带抑制性负载屏蔽试验(第二组试验)中的卤素灯配置A
第一负载接口不接入负载。
第二负载接口中的负载插座XS4接入总功率300W、12V电子变压器供电的卤素灯，负载插座XS5接入5A的阻性负载(白炽灯)。
试验开关S1、S2、S3、S4的操作顺序如下：试验前S1、S2、S3、S4和AFDD闭合位置且试验电流到达稳定；然后打开S2；试验时突然打开S4。
电弧故障试验装置T的选择为电缆试品。
2.2b)带抑制性负载屏蔽试验(第二组试验)中的卤素灯配置B
第一负载接口中的负载插座XS1接入总功率300W、12V电子变压器供电的卤素灯，负载插座XS2接入5A的阻性负载(白炽灯)。
第二负载接口中的负载插座XS4接入可调电阻箱(3A)。
试验开关S1、S2、S3、S4的操作顺序如下：试验前S1、S2、S3、S4和AFDD闭合位置且试验电流到达稳定；然后打开S2；试验时突然打开S4。
电弧故障试验装置T的选择为电缆试品。
2.2c)带抑制性负载屏蔽试验(第二组试验)中的卤素灯配置C
第一负载接口中的负载插座XS1接入可调电阻箱(3A)。
第二负载接口中的负载插座XS4接入总功率300W、12V电子变压器供电的卤素灯，负载插座XS5接入5A的阻性负载(白炽灯)。
试验开关S1、S2、S3、S4的操作顺序如下：试验前S1、S2、S3、S4和AFDD闭合位置且试验电流到达稳定；然后打开S2；试验时突然打开S4。
电弧故障试验装置T的选择为电缆试品。
2.2d)带抑制性负载屏蔽试验(第二组试验)中的卤素灯配置D
第一负载接口不接入负载。
第二负载接口中的负载插座XS4接入总功率300W、12V电子变压器供电的卤素灯，负载插座XS5接入5A的阻性负载(白炽灯)，负载插座XS6接入可调电阻箱(3A)。
试验开关S1、S2、S3、S4的操作顺序如下：试验前S1、S2、S3、S4和AFDD闭合位置且试验电流到达稳定；然后打开S2；试验时突然打开S4。
电弧故障试验装置T的选择为电缆试品。
2.3a)EMI滤波器屏蔽测试(a)
第一负载接口中，在负载插座XS1与负载插座XS2之间、以及负载插座XS2与负载插座XS3之间的连接导线换成各15m、2.5mm2的BVVB导线。然后在负载插座XS2和负载插座XS3上各接入SPT-2导线长2m、1.5mm2的EMI滤波器，该EMI滤波器由0.22μF的电容实现。
第二负载接口中的负载插座XS4接入可调电阻箱(3A)。
试验开关S1、S2、S3、S4的操作顺序如下：试验前S1、S2、S3、S4和AFDD闭合位置且试验电流到达稳定；然后打开S2；试验时突然打开S4。
电弧故障试验装置T的选择为电缆试品。
2.3b)EMI滤波器屏蔽测试(b)
第一负载接口中，负载插座XS1与负载插座XS2之间的连接导线换成15m、2.5mm2的BVVB导线；然后在负载插座XS2上接入SPT-2导线长2m、1.5mm2的EMI滤波器，该EMI滤波器为现成的EMI滤波器。
第二负载接口中的负载插座XS4接入可调电阻箱(3A)。
试验开关S1、S2、S3、S4的操作顺序如下：试验前S1、S2、S3、S4和AFDD闭合位置且试验电流到达稳定；然后打开S2；试验时突然打开S4。
电弧故障试验装置T的选择为电缆试品。
2.4)带线路阻抗的屏蔽试验
第一负载接口中，负载插座XS1与负载插座XS2之间的连接导线换成30m、2.5mm2的铠装电缆。
第二负载接口中的负载插座XS4接入可调电阻箱(3A)。
试验开关S1、S2、S3、S4的操作顺序如下：试验前S1、S2、S3、S4和AFDD闭合位置且试验电流到达稳定；然后打开S2；试验时突然打开S4。
电弧故障试验装置T的选择为电缆试品。
表3
表3是误脱扣试验对试验配置接线电路验证情况。在进行串扰试验时，在AFDD旁放置微型断路器(MCB)，原AFDD输出端的电路接入MCB输出端，MCB输入端接入AFDD输入端同一侧的S1，参照图6所示。AFDD不需移动，输出端换接5A的阻性负载(白炽灯)。带各种干扰负载试验列举了7种干扰负载之一的卤素灯测试情况。经测试，这种试验配置接线电路能满足实际试验要求，而且S2可拆掉不用。
具体而言，表3中进行的测试验证的情况如下：
3.1)串扰试验
样机选择为MCB时，将AFDD换成MCB。
第一负载接口不接入负载。
第二负载接口中的负载插座XS4接入可调电阻箱(5A)。
试验开关S1、S2、S3、S4不做操作。
电弧故障试验装置T的选择为电缆试品。
样机选择为AFDD时，第一负载接口、第二负载接口不使用，试验开关不做操作，不接入电弧故障试验装置。接线方式为在试验开关S1后面再接入AFDD，后直接带5A的阻性负载(白炽灯)。
3.2a)带各种干扰负载的试验中的卤素灯配置A
样机选择为AFDD。
第一负载接口不接入负载。
第二负载接口中的负载插座XS4接入总功率300W、12V电子变压器供电的卤素灯，负载插座XS5接入5A的阻性负载(白炽灯)。
试验开关S1、S2、S3、S4的操作顺序如下：试验前试验开关S1、S2、S3、S4和AFDD闭合位置且试验电流到达稳定；试验时突然打开试验开关或插拔负载。
电弧故障试验装置T不接入电缆试品。
3.2b)带各种干扰负载的试验中的卤素灯配置B
样机选择为AFDD。
第一负载接口中的负载插座XS1接入总功率300W、12V电子变压器供电的卤素灯，负载插座XS2接入5A的阻性负载(白炽灯)。
第二负载接口中的负载插座XS4接入可调电阻箱(3A)。
试验开关S1、S2、S3、S4的操作顺序如下：试验前试验开关S1、S2、S3、S4和AFDD闭合位置且试验电流到达稳定；试验时突然打开试验开关或插拔负载。
电弧故障试验装置T不接入电缆试品。
3.2c)带各种干扰负载的试验中的卤素灯配置C
样机选择为AFDD。
第一负载接口中的负载插座XS1接入可调电阻箱(3A)。
第二负载接口中的负载插座XS4接入总功率300W、12V电子变压器供电的卤素灯，负载插座XS5接入5A的阻性负载(白炽灯)。
试验开关S1、S2、S3、S4的操作顺序如下：试验前试验开关S1、S2、S3、S4和AFDD闭合位置且试验电流到达稳定；试验时突然打开试验开关或插拔负载。
电弧故障试验装置T不接入电缆试品。
3.2d)带各种干扰负载的试验中的卤素灯配置D
样机选择为AFDD。
第一负载接口不接入负载。
第二负载接口中的负载插座XS4接入总功率300W、12V电子变压器供电的卤素灯，负载插座XS5接入5A的阻性负载(白炽灯)，负载插座XS6接入可调电阻箱(3A)。
试验开关S1、S2、S3、S4的操作顺序如下：试验前试验开关S1、S2、S3、S4和AFDD闭合位置且试验电流到达稳定；试验时突然打开试验开关或插拔负载。
电弧故障试验装置T不接入电缆试品。
经测试，AFDD试验配置接线电路对Ex9B-AD16等样机的测试体现出以下特点：
该电路整合了串联电弧故障试验电路、屏蔽试验电路及其试验配置、EMI滤波器屏蔽试验电路、线路阻抗屏蔽试验电路、串扰试验电路，符合国标和IEC标准规定的试验要求，能以更高的可靠性来进行电弧故障测试；
该电路通用性强，可完成额定电流及以下电流AFDD所有的电弧试验，能提高试验测试的稳定性、试验结果的准确性，且试验时一般无需移动试品，有效避免分散、不同的试验电路对试验结果造成潜在离散性的影响；
该电路可精减试验开关S2，操作简化，实用性强，加载电阻性负载和屏蔽负载方便灵活，且第一负载接口和第二负载接口都采用了家用插座，可根据需要扩展，还可接入其它家用电器、组合负载或混合负载进行相关电弧试验。
AFDD试验配置接线电路除了上述方面的特点外，还可用于EMC试验后的AFDD试品试后验证。通过试验验证表明：该电路能很好地对电弧故障断路器产品进行质量评价，有助于提高和确保电弧故障断路器对电弧故障检测的可靠性，同时能为电弧故障断路器产品尽快投入实用奠定良好的基础。
本发明的电弧故障检测装置的试验装置及试验方法通用性强，可完成额定电流及以下电流AFDD所有的电弧试验，能提高试验测试的稳定性、试验结果的准确性，且试验时一般无需移动试品，有效避免分散、不同的试验电路对试验结果造成潜在离散性的影响。该试验装置操作简化，实用性强，加载电阻性负载和屏蔽负载方便灵活。
上述实施例是提供给熟悉本领域内的人员来实现或使用本发明的，熟悉本领域的人员可在不脱离本发明的发明思想的情况下，对上述实施例做出种种修改或变化，因而本发明的保护范围并不被上述实施例所限，而应该是符合权利要求书提到的创新性特征的最大范围。

Claims (6)

1.一种电弧故障检测装置的试验装置，其特征在于，包括：电源(V)、第一试验开关组、电弧故障检测装置(AFDD)、第一负载接口、第二负载接口、第二试验开关组和电弧故障试验装置(T)；
电弧故障检测装置(AFDD)通过第一试验开关组中的一号试验开关(S1)接入电源(V)，电弧故障检测装置(AFDD)的输出端连接到相线和中性线；
第一负载接口跨接在相线和中性线之间，所述第一负载接口接入屏蔽负载和/或电阻性负载，所述第一负载接口包括三个并联的第一负载插座：一号负载插座(XS1)、二号负载插座(XS2)和三号负载插座(XS3)，三个第一负载插座均跨接在相线和中性线之间，通过第一负载接口的三个第一负载插座接入屏蔽负载和/或电阻性负载；
第二负载接口串接在中性线上，所述第二负载接口接入电阻性负载以调节试验回路的试验电流等级，或者接入屏蔽负载和/或电阻性负载，所述第二负载接口包括三个并联的第二负载插座：四号负载插座(XS4)、五号负载插座(XS5)和六号负载插座(XS6)，三个第二负载插座并联后整体串接在中性线上，通过第二负载接口的三个第二负载插座接入电阻性负载以调节试验回路的试验电流等级，或者接入屏蔽负载和/或电阻性负载；
第二试验开关组跨接在相线和中性线之间，或者串接在中性线中，所述第二试验开关组包括三个试验开关：二号试验开关(S2)、三号试验开关(S3)和四号试验开关(S4)，其中二号试验开关(S2)和四号试验开关(S4)跨接在相线和中性线之间，三号试验开关(S3)串接在中性线上；
电弧故障试验装置(T)连接在相线和中性线之间。
2.如权利要求1所述的电弧故障检测装置的试验装置，其特征在于，所述电源(V)是220V交流电源，所述电弧故障试验装置(T)是具有碳化通道的电缆或电弧发生器。
3.一种电弧故障检测装置的试验方法，其特征在于，使用如权利要求1或2中任一项所述的电弧故障检测装置的试验装置，使用同一个试验装置完成串联电弧故障试验、屏蔽试验和误脱扣试验。
4.如权利要求3所述的电弧故障检测装置的试验方法，其特征在于，进行串联电弧故障试验时，试验方法如下：
验证电路中突然出现串联电弧故障时的正确动作：
第一负载接口不接入负载；
第二负载接口中的四号负载插座(XS4)接入可调电阻箱；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关(S1)、二号试验开关(S2)、三号试验开关(S3)和四号试验开关(S4)以及电弧故障检测装置(AFDD)闭合位置且试验电流到达稳定，通过阻性负载将回路电流调到对应的试验电流等级；然后打开二号试验开关(S2)；试验时突然打开四号试验开关(S4)；
电弧故障试验装置(T)的选择为电缆试品；
极限温度下的试验：
第一负载接口不接入负载；
第二负载接口中的四号负载插座(XS4)接入可调电阻箱；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关(S1)、二号试验开关(S2)、三号试验开关(S3)和四号试验开关(S4)以及电弧故障检测装置(AFDD)闭合位置且试验电流到达稳定，通过阻性负载将回路电流调到对应的试验电流等级；然后打开二号试验开关(S2)；试验时突然打开四号试验开关(S4)；
电弧故障试验装置(T)的选择为电缆试品；
验证接入带串联电弧故障负载的正确动作：
第一负载接口不接入负载；
第二负载接口中的四号负载插座(XS4)接入可调电阻箱；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关(S1)、二号试验开关(S2)、三号试验开关(S3)和四号试验开关(S4)以及电弧故障检测装置(AFDD)闭合位置且试验电流到达稳定，通过阻性负载将回路电流调到对应的试验电流等级；然后打开二号试验开关(S2)；试验时突然打开三号试验开关(S3)；
电弧故障试验装置(T)的选择为电缆试品；
验证闭合串联电弧故障时的正确动作：
第一负载接口不接入负载；
第二负载接口中的四号负载插座(XS4)接入可调电阻箱；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关(S1)、二号试验开关(S2)、三号试验开关(S3)和四号试验开关(S4)以及电弧故障检测装置(AFDD)闭合位置且试验电流到达稳定，通过阻性负载将回路电流调到对应的试验电流等级；然后打开一号试验开关(S1)、二号试验开关(S2)和四号试验开关(S4)；试验时突然闭合一号试验开关(S1)；
电弧故障试验装置(T)的选择为电缆试品。
5.如权利要求3所述的电弧故障检测装置的试验方法，其特征在于，进行屏蔽试验时，试验方法如下：
不带抑制性负载屏蔽试验，即第一组试验：
第一负载接口不接入负载；
第二负载接口中的四号负载插座(XS4)接入可调电阻箱，电流为3A；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关(S1)、二号试验开关(S2)、三号试验开关(S3)和四号试验开关(S4)和电弧故障检测装置(AFDD)闭合位置且试验电流到达稳定；然后打开二号试验开关(S2)；试验时突然打开四号试验开关(S4)；
电弧故障试验装置(T)的选择为电缆试品；
带抑制性负载屏蔽试验，即第二组试验中的卤素灯配置A：
第一负载接口不接入负载；
第二负载接口中的四号负载插座(XS4)接入总功率300W、12V电子变压器供电的卤素灯，五号负载插座(XS5)接入5A的阻性负载；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关(S1)、二号试验开关(S2)、三号试验开关(S3)和四号试验开关(S4)和电弧故障检测装置(AFDD)闭合位置且试验电流到达稳定；然后打开二号试验开关(S2)；试验时突然打开四号试验开关(S4)；
电弧故障试验装置(T)的选择为电缆试品；
带抑制性负载屏蔽试验，即第二组试验中的卤素灯配置B：
第一负载接口中的一号负载插座(XS1)接入总功率300W、12V电子变压器供电的卤素灯，二号负载插座(XS2)接入5A的阻性负载；
第二负载接口中的四号负载插座(XS4)接入可调电阻箱，电流为3A；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关(S1)、二号试验开关(S2)、三号试验开关(S3)和四号试验开关(S4)和电弧故障检测装置(AFDD)闭合位置且试验电流到达稳定；然后打开二号试验开关(S2)；试验时突然打开四号试验开关(S4)；
电弧故障试验装置(T)的选择为电缆试品；
带抑制性负载屏蔽试验，即第二组试验中的卤素灯配置C：
第一负载接口中的一号负载插座(XS1)接入可调电阻箱，电流为3A；
第二负载接口中的四号负载插座(XS4)接入总功率300W、12V电子变压器供电的卤素灯，五号负载插座(XS5)接入5A的阻性负载；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关(S1)、二号试验开关(S2)、三号试验开关(S3)和四号试验开关(S4)和电弧故障检测装置(AFDD)闭合位置且试验电流到达稳定；然后打开二号试验开关(S2)；试验时突然打开四号试验开关(S4)；
电弧故障试验装置(T)的选择为电缆试品；
带抑制性负载屏蔽试验，即第二组试验中的卤素灯配置D：
第一负载接口不接入负载；
第二负载接口中的四号负载插座(XS4)接入总功率300W、12V电子变压器供电的卤素灯，五号负载插座(XS5)接入5A的阻性负载，六号负载插座(XS6)接入可调电阻箱，电流为3A；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关(S1)、二号试验开关(S2)、三号试验开关(S3)和四号试验开关(S4)和电弧故障检测装置(AFDD)闭合位置且试验电流到达稳定；然后打开二号试验开关(S2)；试验时突然打开四号试验开关(S4)；
电弧故障试验装置(T)的选择为电缆试品；
EMI滤波器屏蔽测试(a)：
第一负载接口中，在一号负载插座(XS1)与二号负载插座(XS2)之间、以及二号负载插座(XS2)与三号负载插座(XS3)之间的连接导线换成各15m、2.5mm2的BVVB导线，在二号负载插座(XS2)和三号负载插座(XS3)上各接入SPT-2导线长2m、1.5mm2的EMI滤波器，该EMI滤波器由0.22μF的电容实现；
第二负载接口中的四号负载插座(XS4)接入可调电阻箱，电流为3A；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关(S1)、二号试验开关(S2)、三号试验开关(S3)和四号试验开关(S4)和电弧故障检测装置(AFDD)闭合位置且试验电流到达稳定；然后打开二号试验开关(S2)；试验时突然打开四号试验开关(S4)；
电弧故障试验装置(T)的选择为电缆试品；
EMI滤波器屏蔽测试(b)：
第一负载接口中，一号负载插座(XS1)与二号负载插座(XS2)之间的连接导线换成15m、2.5mm2的BVVB导线；在二号负载插座(XS2)上接入SPT-2导线长2m、1.5mm2的EMI滤波器，该EMI滤波器为现成的EMI滤波器；
第二负载接口中的四号负载插座(XS4)接入可调电阻箱，电流为3A；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关(S1)、二号试验开关(S2)、三号试验开关(S3)和四号试验开关(S4)和电弧故障检测装置(AFDD)闭合位置且试验电流到达稳定；然后打开二号试验开关(S2)；试验时突然打开四号试验开关(S4)；
电弧故障试验装置(T)的选择为电缆试品；
带线路阻抗的屏蔽试验：
第一负载接口中，在一号负载插座(XS1)与二号负载插座(XS2)之间的连接导线换成30m、2.5mm2的铠装电缆；
第二负载接口中的四号负载插座(XS4)接入可调电阻箱，电流为3A；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关(S1)、二号试验开关(S2)、三号试验开关(S3)和四号试验开关(S4)和电弧故障检测装置(AFDD)闭合位置且试验电流到达稳定；然后打开二号试验开关(S2)；试验时突然打开四号试验开关(S4)；
电弧故障试验装置(T)的选择为电缆试品。
6.如权利要求3所述的电弧故障检测装置的试验方法，其特征在于，进行误脱扣试验时，试验方法如下：
串扰试验：
样机选择为微型断路器(MCB)时，将电弧故障检测装置(AFDD)换成微型断路器(MCB)；
第一负载接口不接入负载；
第二负载接口中的四号负载插座(XS4)接入可调电阻箱，电流为5A；
一号试验开关(S1)、二号试验开关(S2)、三号试验开关(S3)和四号试验开关(S4)不做操作；
电弧故障试验装置(T)的选择为电缆试品；
样机选择为电弧故障检测装置(AFDD)时，第一负载接口、第二负载接口不使用，一号试验开关(S1)、二号试验开关(S2)、三号试验开关(S3)和四号试验开关(S4)不做操作，不接入电弧故障试验装置，接线方式为在一号试验开关(S1)后接入电弧故障检测装置(AFDD)，后直接带电流为5A的阻性负载；
带各种干扰负载的试验中的卤素灯配置A：
样机选择为电弧故障检测装置(AFDD)；
第一负载接口不接入负载；
第二负载接口中的四号负载插座(XS4)接入总功率300W、12V电子变压器供电的卤素灯，五号负载插座(XS5)接入5A的阻性负载；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关(S1)、二号试验开关(S2)、三号试验开关(S3)和四号试验开关(S4)和电弧故障检测装置(AFDD)闭合位置且试验电流到达稳定；试验时突然打开试验开关或插拔负载；
电弧故障试验装置(T)不接入电缆试品；
带各种干扰负载的试验中的卤素灯配置B：
样机选择为电弧故障检测装置(AFDD)；
第一负载接口中的一号负载插座(XS1)接入总功率300W、12V电子变压器供电的卤素灯，二号负载插座(XS2)接入电流为5A的阻性负载；
第二负载接口中的四号负载插座(XS4)接入可调电阻箱，电流为3A；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关(S1)、二号试验开关(S2)、三号试验开关(S3)和四号试验开关(S4)和电弧故障检测装置(AFDD)闭合位置且试验电流到达稳定；试验时突然打开试验开关或插拔负载；
电弧故障试验装置(T)不接入电缆试品；
带各种干扰负载的试验中的卤素灯配置C：
样机选择为电弧故障检测装置(AFDD)；
第一负载接口中的一号负载插座(XS1)接入可调电阻箱，电流为3A；
第二负载接口中的四号负载插座(XS4)接入总功率300W、12V电子变压器供电的卤素灯，五号负载插座(XS5)接入电流为5A的阻性负载；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关(S1)、二号试验开关(S2)、三号试验开关(S3)和四号试验开关(S4)和电弧故障检测装置(AFDD)闭合位置且试验电流到达稳定；试验时突然打开试验开关或插拔负载；
电弧故障试验装置(T)不接入电缆试品；
带各种干扰负载的试验中的卤素灯配置D：
样机选择为电弧故障检测装置(AFDD)；
第一负载接口不接入负载；
第二负载接口中的四号负载插座(XS4)接入总功率300W、12V电子变压器供电的卤素灯，五号负载插座(XS5)接入电流为5A的阻性负载，六号负载插座(XS6)接入可调电阻箱，电流为3A；
试验开关的操作顺序如下：试验前一号试验开关(S1)、二号试验开关(S2)、三号试验开关(S3)和四号试验开关(S4)和电弧故障检测装置(AFDD)闭合位置且试验电流到达稳定；试验时突然打开试验开关或插拔负载；
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