CN106657848A - 一种投影方法及电子设备 - Google Patents

一种投影方法及电子设备 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种投影方法及电子设备,涉及投影技术领域,用以解决现有技术中投影内容在不平整的投影面会出现失真现象的问题。该方法包括:获取投影面的相关信息;根据所述相关信息确定投影内容的调整参数;基于所述调整参数对所述投影内容进行调整,获得调整后的投影内容;将所述调整后的投影内容投影到所述投影面。

Description

一种投影方法及电子设备
技术领域
本申请涉及投影技术领域,尤其涉及一种投影方法及电子设备。
背景技术
随着科学技术的不断发展,出现了越来越多具有投影功能的电子设备,以方便多用户同时观看该电子设备显示的内容,例如,投影仪,具有投影功能的手机等。
但是,现有技术中,电子设备在进行投影时,需要选择近似平面的场地作为投影面,例如,投影幕布。在投影面不平整的情况下,投影内容在投影面上的成像图像会出现拉伸或者扭曲等失真现象,严重影响到显示效果。
发明内容
本发明实施例提供了一种投影方法及电子设备,用以解决现有技术中投影内容在不平整的投影面会出现失真现象的问题。
为了达到上述发明目的,本发明实施例提供一种投影方法,包括:
获取投影面的相关信息;
根据所述相关信息确定投影内容的调整参数;
基于所述调整参数对所述投影内容进行调整,获得调整后的投影内容;
将所述调整后的投影内容投影到所述投影面。
可选地,所述获取投影面的相关信息,具体包括:
获取所述投影面上的所述投影内容的成像图像;
所述根据所述相关信息确定投影内容的调整参数具体包括:
判断所述成像图像是否达到预设投影要求;
如果所述成像图像未达到所述预设投影要求,则触发调节,获取所述调整参数。
可选地,所述获取投影面的相关信息,具体包括:
获取所述投影面自身的凹凸信息;
所述根据所述相关信息确定投影内容的调整参数具体包括:
根据所述凹凸信息在所述投影面上确定一标准投影面,并确定所述标准投影面与所述投影面之间的映射关系参数,所述调整参数包括所述映射关系参数。
可选地,所述获取所述投影面自身的凹凸信息,具体包括:
对所述投影面的表面进行网格化;所述网格的纵向基线和横向基线的交叉点为所述投影面的特征点;
通过三维摄像头获取每个所述特征点的三维坐标信息;所述凹凸信息包括所述三维坐标信息,所述三维坐标信息包括每个所述特征点的纵向坐标,横向坐标以及深度坐标。
可选地,所述根据所述凹凸信息在所述投影面上确定一标准投影面,具体包括:
根据所述三维坐标信息确定包括具有相同深度坐标的特征点的数量最多的平面为所述标准投影面。
本发明实施例还提供一种电子设备,所述电子设备包括:获取模块,处理器和投影模块;
所述处理器用于,基于所述获取模块获取投影面的相关信息,根据所述相关信息确定投影内容的调整参数,基于所述调整参数对所述投影内容进行调整,获得调整后的投影内容,并调用投影模块将所述调整后的投影内容投影到所述投影面。
可选地,所述处理器具体用于:
基于所述获取模块获取所述投影面上的所述投影内容的成像图像;
判断所述成像图像是否达到预设投影要求;
如果所述成像图像未达到所述预设投影要求,则触发调节,获取所述调整参数。
可选地,所述处理器具体用于:
基于所述获取模块获取所述投影面自身的凹凸信息;
根据所述凹凸信息在所述投影面上确定一标准投影面,并确定所述标准投影面与所述投影面之间的映射关系参数,所述调整参数包括所述映射关系参数。
可选地,所述处理器具体用于:
对所述投影面的表面进行网格化;所述网格的纵向基线和横向基线的交叉点为所述投影面的特征点;
通过三维摄像头获取每个所述特征点的三维坐标信息;所述凹凸信息包括所述三维坐标信息,所述三维坐标信息包括每个所述特征点的纵向坐标,横向坐标以及深度坐标。
可选地,所述处理器具体用于:
根据所述三维坐标信息确定包括具有相同深度坐标的特征点的数量最多的平面为所述标准投影面。
本发明实施例还提供另一种电子设备,所述电子设备包括:
获取单元,用于获取投影面的相关信息;
确定单元,用于根据所述获取单元获取的所述相关信息确定投影内容的调整参数;
调整单元,用于基于所述调整参数对所述投影内容进行调整,获得调整后的投影内容;
投影单元,用于将所述调整后的投影内容投影到所述投影面。
采用上述方案,电子设备获取投影面的相关信息,根据所述相关信息确定投影内容的调整参数;基于所述调整参数对所述投影内容进行调整,获得调整后的投影内容;将所述调整后的投影内容投影到所述投影面。这样,该电子设备可以根据投影面的相关信息,该相关信息可以是该投影面上的投影内容的成像图像,或者是该投影面自身的凹凸信息,相应的调整投影内容,优化了投影内容在投影面的显示效果,解决了投影内容在不平整的投影面会出现拉伸或者扭曲等失真现象的问题,增强了电子设备投影的实用性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作一简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种投影方法的流程示意图;
图2为本发明实施例提供的一种投影内容在投影面的成像示意图;
图3为本发明实施例提供的一种对投影面进行网格化的示意图;
图4为本发明实施例提供的一种调整后的投影内容在投影面的成像示意图;
图5为本发明实施例提供的一种电子设备的结构示意图;
图6为本发明实施例提供的另一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
本发明实施例提供一种投影方法及电子设备,用以解决现有技术中投影内容在不平整的投影面会出现失真现象的问题,其总体思路如下:
一种投影方法,所述方法包括:
获取投影面的相关信息;根据所述相关信息确定投影内容的调整参数;基于所述调整参数对所述投影内容进行调整,获得调整后的投影内容;将所述调整后的投影内容投影到所述投影面。
这样,该电子设备可以根据投影面的相关信息,该相关信息可以是该投影面上的投影内容的成像图像,或者是该投影面自身的凹凸信息,相应的调整投影内容,优化了投影内容在投影面的显示效果,解决了投影内容在不平整的投影面会出现拉伸或者扭曲等失真现象的问题,增强了电子设备投影的实用性。
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
实施例一
图1所示为本发明实施例提供的一种投影方法的流程图,该方法应用于一电子设备,值得说明的是,本发明实施例所描述的电子设备是具有投影功能的电子设备,例如投影仪,或者具有投影功能的手机等。该投影方法包括:
S101、该电子设备获取投影面的相关信息。
值得说明的是,本发明实施例可以适用于电子设备在不平整的投影面进行投影的场景,也就是说,该投影面可能存在凹陷部分或者凸起部分。在具体实施过程中,该电子设备可以包括第一投影模式和第二投影模式,则该电子设备在检测到用户选择第一投影模式的操作时,按照现有技术的投影方法在平整投影面进行投影,该平整投影面可以是幕布;该电子设备在检测到用户选择第二投影模式的操作时,执行步骤S101,该第二投影模式是电子设备在不平整的投影面进行投影时的工作模式。
上述只是本发明实施例的一种可能的实现方式,本发明实施例的电子设备也可以无论投影面是否平整,均直接执行步骤S101,本发明对此不做限定。
具体地,该电子设备获取的该相关信息可以是该投影面自身的凹凸信息,也可以是投影内容在该投影面上的成像图像。
S102、该电子设备根据该相关信息确定投影内容的调整参数。
结合步骤S101中的描述,该相关信息可以是该投影面自身的凹凸信息,也可以是投影内容在该投影面上的成像图像,因此,电子设备获取该相关信息,并根据该相关信息确定投影内容的调整参数可以包括以下两种实现方式:
方式一、电子设备获取该投影面上的该投影内容的成像图像;判断该成像图像是否达到预设投影要求;如果该成像图像未达到该预设投影要求,则触发调节,获取该调整参数。
示例地,如图2所示,ABDFEC为投影面,该投影面由平面ABCD以及平面CDEF组成,其中,电子设备的投影内容为一矩形图像,该投影内容在该投影面上的成像图像如图2所示,该成像图像在平面ABCD显现的部分为子图像a,在平面CDEF显现的部分为子图像b,参照图2,由于电子设备到达平面CDEF的投射光束扩散小于到达平面ABCD的投射光束,因此,投影内容在平面CDEF发生变形,得到如子图像b所示的梯形。具体地,该电子设备获取投影内容的成像图像的方法可以有多种,例如,该电子设备可以是通过投影仪自带或者外接的拍摄设备拍摄得到,也可以由其他设备传输给电子设备得到,本发明实施例不做限定。无论以哪种方式获取到该成像图像,为了使投影内容可以正常显示在投影面上,本发明实施例提供的方法还包括获取调整参数的过程,以通过后续步骤根据调整参数对投影内容进行调整。
另外,本发明实施例不对预设投影要求进行限定,具体实施过程中,可以根据实际情况进行确定。以图2举例说明,将矩形图像的投影内容投影到投影面ABDFEC,为了使投影内容的成像图像能够正常显示,不发生变形,可将预设投影要求设定为投影得到的成像图像平面ABCD以及平面CDEF上均为矩形。因此,电子设备在获取到成像图像后,判断该成像图像的子图像a和子图像b是否均为矩形,如果不是,则判断该成像图像未达到预设投影要求,从而触发调节,分析该成像图像得到对该投影内容进行调整的调整参数。
方式二、电子设备获取该投影面自身的凹凸信息;根据该凹凸信息在该投影面上确定一标准投影面,并确定该标准投影面与该投影面之间的映射关系参数,该调整参数包括该映射关系参数。
示例地,如图3所示,投影面为ABDFEC,包括平面CDEF,以及ABCD面,其中,该ABCD面包括一凹陷面cdefg。在具体实施过程中,该电子设备可以通过三维摄像头获取该投影面的三维信息,并对该投影面的表面进行网格化,如图3所示,网格的纵向基线和横向基线的交叉点为该投影面的特征点,例如交叉点c、d、e、f、x、y、z。进一步地,该电子设备可以通过三维摄像头获取每个特征点的三维坐标信息,该三维坐标信息包括每个特征点的纵向坐标,横向坐标以及深度坐标,如图3中的坐标轴所示,特征点的深度坐标可以是该特征点与电子设备之间垂直距离。
也就是说,方式二中该电子设备获取的该凹凸信息可以是每个特征点的三维坐标信息,这样,该电子设备根据该凹凸信息在该投影面上确定一标准投影面具体可以是:根据该三维坐标信息确定包括具有相同深度坐标的特征点的数量最多的平面为该标准投影面。
仍然以图3举例说明,特征点x、y、z具有相同的深度坐标,并且,ABCD面中除凹陷面cdefg以外,其包括的特征点均具有相同的深度坐标,而平面CDEF中具有相同深度坐标的仅是同一横向基线上的特征点,因此,可以确定该x、y、z所处平面为标准投影面,由图3可知,该x、y、z所处平面可以表示为平面ABE’F’。
进一步地,该电子设备确定该标准投影面ABE’F’到该投影面ABDFEC的映射关系参数。具体地,在图3中,该标准投影面ABE’F’与该投影面ABDFEC不重合的部分包括凹陷面cdefg以及平面CDEF,因此,电子设备只需要分析计算平面cdef到凹陷面cdefg的映射关系参数,以及平面CDE’F’到平面CDEF的映射关系参数。
其中,电子设备可以通过分析特征点的三维坐标信息确定平面CDEF与平面CDE’F’之间的夹角为θ,也就是说,该平面CDE’F’除以cosθ即得到平面CDEF,对于凹陷面cdefg,该电子设备可以通过微积分的方法,计算确定该凹陷面cdefg映射到该平面cdef的映射关系参数。
上述只是举例说明,实际实施过程中,投影面自身的凹凸情况是很复杂的,例如该投影面上存在多个凹陷面,或者,该投影面上还可能存在凸起面,本发明对此不做限定。并且,投影面上的凹陷面或者凸起面可能并不是规则的形状,此时,电子设备可以均采用微积分的方法,将不规则的凹陷面或者凸起面划分为无数个规则的平面,由此计算出凹陷面或者凸起面到标准投影面的映射关系参数。
另外,值得说明的是,在方式二中,由于该电子设备可以获得该投影面的凹凸信息,因此,在本发明实施例的一种可能的实现方式中,该电子设备在初始投影之前,可以首先通过三维摄像头获取投影方向上的投影区域的凹凸信息,并根据该凹凸信息变换投影位置,将较平整的区域作为该投影面,例如,电子设备投影方向的投影区域的右下方存在凹陷面,则该电子设备可以将投影位置向左上方向移动,避免了将投影内容投影到该凹陷面。
S103、该电子设备基于该调整参数对该投影内容进行调整,获得调整后的投影内容。
S104、该电子设备将该调整后的投影内容投影到该投影面。
在本发明实施例的一种可能的实现方式中,以图2举例说明,电子设备在获取到如图2中所示的成像图像后,计算将该子图像b拉伸为矩形的拉伸比例,并根据该拉伸比例对投影到该平面CDEF的投影内容进行拉伸,并将投影到平面ABCD的投影内容保持不变,得到调整后的投影内容,将该调整后的投影内容投影到投影面后,其成像图像如图4所示,由图4可知,投影内容在平面CDEF显现的子图像b’也为矩形,解决了成像图像的变形问题。
在本发明实施例的另一种可能的实现方式中,以图4举例说明,该电子设备也可以在获取到投影面ABDFEC的凹凸信息后,根据该凹凸信息确定平面ABE’F’为标准投影面,并且确定该平面CDEF与该平面CDE’F’之间的夹角为θ,这样,该电子设备将投影到平面CDEF的投影内容除以cosθ,并将投影到平面ABCD的投影内容保持不变,得到调整后的投影内容,将该调整后的投影内容投影到投影面后,其成像图像如图4所示,对于用户感知来说,该成像图像相当于投影在平面ABE’F’上,解决了成像图像的变形问题,提升了用户体验。
值的说明的是,在实际实施过程中,投影面的凹凸情况在电子设备的投影过程中可能会发生变化,因此,在本发明实施例的一种可能的实现方式中,可以预先设定调整周期,电子设备根据该调整周期获取投影面的相关信息,这样,该电子设备可以在当期周期获取到该相关信息后,通过与该投影面在前一周期的相关信息进行比较,判断该投影面的相关信息是否发生变化,若确定发生变化,则执行上述步骤S102至步骤S104,对该投影内容进行调整,若确定投影面的相关信息未发生变化,则该电子设备在当前周期可以不对投影内容进行调整,并在下一周期到达时,再次获取该投影面的相关信息。
采用本发明实施例提供的一种投影方法,电子设备获取投影面的相关信息,根据所述相关信息确定投影内容的调整参数;基于所述调整参数对所述投影内容进行调整,获得调整后的投影内容;将所述调整后的投影内容投影到所述投影面。这样,该电子设备可以根据投影面的相关信息,该相关信息可以是该投影面上的投影内容的成像图像,或者是该投影面自身的凹凸信息,相应的调整投影内容,优化了投影内容在投影面的显示效果,解决了投影内容在不平整的投影面会出现拉伸或者扭曲等失真现象的问题,增强了电子设备投影的实用性。
实施例二
本发明实施例提供一种电子设备50,用于实施例本发明实施例一提供的一种投影方法,如图5所示,该电子设备50包括:
获取模块51,处理器52和投影模块53;
所述处理器52用于,基于所述获取模块51获取投影面的相关信息,根据所述相关信息确定投影内容的调整参数,基于所述调整参数对所述投影内容进行调整,获得调整后的投影内容,并调用投影模块53将所述调整后的投影内容投影到所述投影面。
其中,该电子设备获取的该相关信息可以是该投影面自身的凹凸信息,也可以是投影内容在该投影面上的成像图像。
因此,在本发明实施例的一种可能的实现方式中,所述处理器52还用于:
基于所述获取模块获取所述投影面上的所述投影内容的成像图像;
判断所述成像图像是否达到预设投影要求;
如果所述成像图像未达到所述预设投影要求,则触发调节,获取所述调整参数。
在本发明实施例的另一种可能的实现方式中,所述处理器52还用于:
基于所述获取模块获取所述投影面自身的凹凸信息;
根据所述凹凸信息在所述投影面上确定一标准投影面,并确定所述标准投影面与所述投影面之间的映射关系参数,所述调整参数包括所述映射关系参数。
可选地,所述处理器52根据所述凹凸信息在所述投影面上确定一标准投影面具体包括:对所述投影面的表面进行网格化;所述网格的纵向基线和横向基线的交叉点为所述投影面的特征点;通过三维摄像头获取每个所述特征点的三维坐标信息;所述凹凸信息包括所述三维坐标信息,所述三维坐标信息包括每个所述特征点的纵向坐标,横向坐标以及深度坐标。
进一步地,所述处理器52还用于:根据所述三维坐标信息确定包括具有相同深度坐标的特征点的数量最多的平面为所述标准投影面。
所属本领域的技术人员可以清楚地了解到,为描述的方便和简洁,上述描述的电子设备的具体工作过程和描述,可以参考前述实施例一中的对应过程,在此不再赘述。
采用上述电子设备,该电子设备获取投影面的相关信息,根据所述相关信息确定投影内容的调整参数;基于所述调整参数对所述投影内容进行调整,获得调整后的投影内容;将所述调整后的投影内容投影到所述投影面。这样,该电子设备可以根据投影面的相关信息,该相关信息可以是该投影面上的投影内容的成像图像,或者是该投影面自身的凹凸信息,相应的调整投影内容,优化了投影内容在投影面的显示效果,解决了投影内容在不平整的投影面会出现拉伸或者扭曲等失真现象的问题,增强了电子设备投影的实用性。
实施例三
本发明实施例提供另一种电子设备60,用于实施本发明实施例一提供的一种投影方法,如图6所示,该电子设备60包括:
获取单元61,用于获取投影面的相关信息;
确定单元62,用于根据所述获取单元获取的所述相关信息确定投影内容的调整参数;
调整单元63,用于基于所述调整参数对所述投影内容进行调整,获得调整后的投影内容;
投影单元64,用于将所述调整后的投影内容投影到所述投影面。
可选地,所述获取单元61具体用于,获取所述投影面上的所述投影内容的成像图像;所述确定单元62具体用于,判断所述成像图像是否达到预设投影要求;如果所述成像图像未达到所述预设投影要求,则触发调节,获取所述调整参数。
可选地,所述获取单元61具体用于,获取所述投影面自身的凹凸信息;所述确定单元62具体用于,根据所述凹凸信息在所述投影面上确定一标准投影面,并确定所述标准投影面与所述投影面之间的映射关系参数,所述调整参数包括所述映射关系参数。
可选地,所述获取单元61还用于,对所述投影面的表面进行网格化;所述网格的纵向基线和横向基线的交叉点为所述投影面的特征点;通过三维摄像头获取每个所述特征点的三维坐标信息;所述凹凸信息包括所述三维坐标信息,所述三维坐标信息包括每个所述特征点的纵向坐标,横向坐标以及深度坐标。
可选地,所述获取单元61还用于,根据所述三维坐标信息确定包括具有相同深度坐标的特征点的数量最多的平面为所述标准投影面。
所属本领域的技术人员可以清楚地了解到,为描述的方便和简洁,上述描述的电子设备的具体工作过程和描述,可以参考前述实施例一中的对应过程,在此不再赘述。
采用上述电子设备,该电子设备获取投影面的相关信息,根据所述相关信息确定投影内容的调整参数;基于所述调整参数对所述投影内容进行调整,获得调整后的投影内容;将所述调整后的投影内容投影到所述投影面。这样,该电子设备可以根据投影面的相关信息,该相关信息可以是该投影面上的投影内容的成像图像,或者是该投影面自身的凹凸信息,相应的调整投影内容,优化了投影内容在投影面的显示效果,解决了投影内容在不平整的投影面会出现拉伸或者扭曲等失真现象的问题,增强了电子设备投影的实用性。
本领域内的技术人员应明白,本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此,本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上,使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
具体来讲,本申请实施例中的信息处理方法对应的计算机程序指令可以被存储在光盘,硬盘,U盘等存储介质上,当存储介质中的与操作引导方法对应的计算机程序指令被一电子设备读取或被执行时,包括如下步骤:
获取投影面的相关信息;
根据所述相关信息确定投影内容的调整参数;
基于所述调整参数对所述投影内容进行调整,获得调整后的投影内容;
将所述调整后的投影内容投影到所述投影面。
可选地,所述获取投影面的相关信息,具体包括:
获取所述投影面上的所述投影内容的成像图像;
所述根据所述相关信息确定投影内容的调整参数具体包括:
判断所述成像图像是否达到预设投影要求;
如果所述成像图像未达到所述预设投影要求,则触发调节,获取所述调整参数。
可选地,所述获取投影面的相关信息,具体包括:
获取所述投影面自身的凹凸信息;
所述根据所述相关信息确定投影内容的调整参数具体包括:
根据所述凹凸信息在所述投影面上确定一标准投影面,并确定所述标准投影面与所述投影面之间的映射关系参数,所述调整参数包括所述映射关系参数。
可选地,所述获取所述投影面自身的凹凸信息,具体包括:
对所述投影面的表面进行网格化;所述网格的纵向基线和横向基线的交叉点为所述投影面的特征点;
通过三维摄像头获取每个所述特征点的三维坐标信息;所述凹凸信息包括所述三维坐标信息,所述三维坐标信息包括每个所述特征点的纵向坐标,横向坐标以及深度坐标。
可选地,所述根据所述凹凸信息在所述投影面上确定一标准投影面,具体包括:
根据所述三维坐标信息确定包括具有相同深度坐标的特征点的数量最多的平面为所述标准投影面。
尽管已描述了本申请的优选实施例,但本领域内的普通技术人员一旦得知了基本创造性概念,则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以,所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本申请范围的所有变更和修改。
显然,本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样,倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内,则本申请也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (11)

1.一种投影方法,其特征在于,包括:
获取投影面的相关信息;
根据所述相关信息确定投影内容的调整参数;
基于所述调整参数对所述投影内容进行调整,获得调整后的投影内容;
将所述调整后的投影内容投影到所述投影面。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取投影面的相关信息,具体包括:
获取所述投影面上的所述投影内容的成像图像;
所述根据所述相关信息确定投影内容的调整参数具体包括:
判断所述成像图像是否达到预设投影要求;
如果所述成像图像未达到所述预设投影要求,则触发调节,获取所述调整参数。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取投影面的相关信息,具体包括:
获取所述投影面自身的凹凸信息;
所述根据所述相关信息确定投影内容的调整参数具体包括:
根据所述凹凸信息在所述投影面上确定一标准投影面,并确定所述标准投影面与所述投影面之间的映射关系参数,所述调整参数包括所述映射关系参数。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述获取所述投影面自身的凹凸信息,具体包括:
对所述投影面的表面进行网格化;所述网格的纵向基线和横向基线的交叉点为所述投影面的特征点;
通过三维摄像头获取每个所述特征点的三维坐标信息;所述凹凸信息包括所述三维坐标信息,所述三维坐标信息包括每个所述特征点的纵向坐标,横向坐标以及深度坐标。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述凹凸信息在所述投影面上确定一标准投影面,具体包括:
根据所述三维坐标信息确定包括具有相同深度坐标的特征点的数量最多的平面为所述标准投影面。
6.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:获取模块,处理器和投影模块;
所述处理器用于,基于所述获取模块获取投影面的相关信息,根据所述相关信息确定投影内容的调整参数,基于所述调整参数对所述投影内容进行调整,获得调整后的投影内容,并调用投影模块将所述调整后的投影内容投影到所述投影面。
7.根据权利要求6所述的电子设备,其特征在于,所述处理器具体用于:
基于所述获取模块获取所述投影面上的所述投影内容的成像图像;
判断所述成像图像是否达到预设投影要求;
如果所述成像图像未达到所述预设投影要求,则触发调节,获取所述调整参数。
8.根据权利要求6所述的电子设备,其特征在于,所述处理器具体用于:
基于所述获取模块获取所述投影面自身的凹凸信息;
根据所述凹凸信息在所述投影面上确定一标准投影面,并确定所述标准投影面与所述投影面之间的映射关系参数,所述调整参数包括所述映射关系参数。
9.根据权利要求8所述的电子设备,其特征在于,所述处理器具体用于:
对所述投影面的表面进行网格化;所述网格的纵向基线和横向基线的交叉点为所述投影面的特征点;
通过三维摄像头获取每个所述特征点的三维坐标信息;所述凹凸信息包括所述三维坐标信息,所述三维坐标信息包括每个所述特征点的纵向坐标,横向坐标以及深度坐标。
10.根据权利要求9所述的电子设备,其特征在于,所述处理器具体用于:
根据所述三维坐标信息确定包括具有相同深度坐标的特征点的数量最多的平面为所述标准投影面。
11.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:
获取单元,用于获取投影面的相关信息;
确定单元,用于根据所述获取单元获取的所述相关信息确定投影内容的调整参数;
调整单元,用于基于所述调整参数对所述投影内容进行调整,获得调整后的投影内容;
投影单元,用于将所述调整后的投影内容投影到所述投影面。
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