CN106610469A - 一种交替循环翻转的测试数据压缩方法 - Google Patents

一种交替循环翻转的测试数据压缩方法 Download PDF

Info

Publication number
CN106610469A
CN106610469A CN201611117080.4A CN201611117080A CN106610469A CN 106610469 A CN106610469 A CN 106610469A CN 201611117080 A CN201611117080 A CN 201611117080A CN 106610469 A CN106610469 A CN 106610469A
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
seed
subset
vector
flipping
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201611117080.4A
Other languages
English (en)
Inventor
吴海峰
江健生
程飞
程一飞
吴琼
詹文法
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to CN201611117080.4A priority Critical patent/CN106610469A/zh
Publication of CN106610469A publication Critical patent/CN106610469A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Compression, Expansion, Code Conversion, And Decoders (AREA)

Abstract

本发明公开了一种交替循环翻转的测试数据压缩方法，步骤包括：将原始测试向量进行向量排序，取排序后的第一个测试向量作为种子，并对种子做一位交替循环翻转，获得测试子集，将原始测试向量与测试子集进行比较，删除强相容于测试子集的测试向量，生成新的测试集。再重复执行上述操作，直至测试集为空，获得的种子集结果即为压缩结果。与现有技术相比，本发明提供的该交替循环翻转的测试数据压缩方法解压协议简单、压缩效率高，每个种子解压生成4L‑4个测试向量，解压时每次仅需翻转一位，测试功耗低。

Description

一种交替循环翻转的测试数据压缩方法
技术领域
本发明涉及的是一种集成电路测试技术，尤其涉及的是一种交替循环翻转的测试数据压缩方法。
背景技术
在系统芯片(System-on-a-Chip,SoC)设计中，越来越高的电路密度导致测试数据量急剧增加。更大的测试数据规模不仅要求更高的内存需求，而且还增加测试时间。ITRS2013报告显示，SOC-CP-Consumer SOC进行测试的最小测试数据量10年增加了近4倍，最低压缩比10年增加了近6倍。测试数据压缩技术通过减少测试数据量来解决这个问题，而不会影响系统的整体性能。
测试数据压缩技术能有效地减少测试数据量，一方面可以降低测试功耗，另一方面可以缩短测试应用时间，节约测试成本。常见的测试数据压缩技术有：测试集紧缩技术、编码压缩技术、线性压缩技术等。
(1)测试集紧缩技术。测试集紧缩(Test Set Compaction)技术运用自动测试模式生成算法，对部分确定的测试向量实行紧缩，以达到减少测试数据量的目的。通常它不需要额外的硬件投资，测试集紧缩的结果将使得用于芯片测试向量数目的减少，它的不利之处在于其非模型故障的覆盖率要受到影响。通常测试集的紧缩可用动态或静态的途径来实现。
(2)编码压缩技术。编码压缩技术就是压缩预先计算的测试集TD，而得到比TD小的测试集TE，并将其存储在ATE的存储器中。测试应用时，利用芯片上的硬件，解压存储在ATE中的TE而还原得到TD，再将其应用到被测电路。由于只需传输最终压缩后的编码数据，因而更能节省测试时间，并可有效降低对ATE数据传输带宽的要求。编码压缩技术的优点是在不降故障覆盖率的情况下，降低了对ATE性能的要求，能有效地保护知识产权，其被测芯片上的解压模块可以重用。但确定的测试数据的理论极限(熵)是确定的，编码压缩的效果不可能超过其理论极限(熵)。
(3)线性压缩技术。线性压缩技术通过线性方程的扩展来实现解码过程，因其使用控制逻辑简单的解码器就能实现测试数据解压，所以大部分商业EDA软件都集成了该类工具。线性压缩技术的压缩效果，很大程度上受测试向量无关位比例的限制；同时，由于线性解压结构，如LFSR、XOR网络、Illinois扫描结构、折叠计数器等都存在一定的线性相关性，可能造成向量的不编码性，虽然可以在ATPG中加入相应约束来保证向量的可编码性，但结果往往会增加测试向量的个数，不利于测试数据压缩和测试时间的减少，同时解压结构依赖确定测试集的特征，因此测试移植性不强。
对于线性压缩技术，解压时都是通过对预先求得种子进行线性变换，生成更多的测试向量，从而完成故障测试。然而现有线性压缩技术的解压协议都比较复杂，每个种子解压生成的子集中向量数目有限，测试功耗较高。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供了一种交替循环翻转的测试数据压缩方法，以使用尽可能少的种子来覆盖整个测试集，达到进一步提高压缩率，缩短测试应用时间的目的。
本发明是通过以下技术方案实现的：
本发明提供了一种交替循环翻转的测试数据压缩方法，包括以下步骤：
步骤一：将原始测试向量进行向量排序，获得测试集T0；
步骤二：取T0中的第一个测试向量v1作为种子s1，对种子s1做一位交替循环翻转，获得测试子集C1，将种子s1从T0中删除并加入种子集S中，删除种子s1后的测试集标记为T1；
步骤三：将T1中的每个测试向量vi逐一与测试子集C1进行比较，若vi强相容于测试子集C1中的某一向量cj，则将vi从T1中删除，获得T2；所述的强相容指的是：若向量v1中值为确定位的位，向量v2中与之对应位置的位的值为相同的确定位，则称向量v1强相容于向量v2；
步骤四：取T2中的第一个测试向量vj作为种子，重复执行步骤二、步骤三，直至测试集为空，得到种子集S即为压缩结果。
进一步地，所述步骤二中，所述一位交替循环翻转的方法为：设初始种子的长度为L，记为x1x2…xi…xL-1xL，其中，第i位xi翻转后记为 再次翻转后即为xi，对L位依次进行一位交替循环翻转4L-4次，记录每次翻转的结果，获得包含4L-4个向量的测试子集C。
本发明相比现有技术具有以下优点：本发明提供了一种交替循环翻转的测试数据压缩方法，该方法解压协议简单、压缩效率高，每个种子解压生成4L-4个测试向量，解压时每次仅需翻转一位，测试功耗低。
具体实施方式
下面对本发明的实施例作详细说明，本实施例在以本发明技术方案为前提下进行实施，给出了详细的实施方式和具体的操作过程，但本发明的保护范围不限于下述的实施例。
实施例1
本实施例提供的一种交替循环翻转的测试数据压缩方法，包括以下步骤：
(1)使用ATPG工具进行随机测试，分离出难测故障，生成完全测试集T：
(2)对完全测试集T中的测试向量按照确定为的数量从多到少排序，确定位数量多的测试向量在前，确定位数量少的测试向量在后，获得测试集T0；
(3)取测试集T0中的第一个测试向量v1作为种子s1，种子s1的初始长度为L，记为x1x2…xi…xL-1xL，其中，第i位xi翻转后记为 再次翻转后即为xi，对L位的种子s1依次进行一位交替循环翻转4L-4次，记录每次翻转的结果，如下表1为生成的测试子集的时序性考察结果，最终获得包含4L-4个向量的测试子集C1＝{f(1,s1),f(2,s1),…,f(4L-4,s1)}；
表1：L位种子实施一位交替循环翻转技术的生成时序
从表1中可知，一位交替循环翻转的测试数据压缩方法能够把4L-4个测试向量压缩成一个种子，每生成一个新的向量只需翻转1位。
然后，将种子s1从T0中删除并加入种子集S中，删除种子s1后的测试集标记为T1；
(4)将T1中的每个测试向量vi逐一与测试子集C1进行比较，若vi强相容于测试子集C1中的某一向量cj，则将vi从T1中删除，获得T2；
(5)取T2中的第一个测试向量vj作为种子，重复执行步骤(3)-(4)，直至测试集为空，得到种子集S即为压缩结果。
为了更清楚地阐述本发明内容，下面通过一具体实例进行详细阐述：
设原始测试集T＝{1X10X0，01X001，01X1X0，100101，00X1XX，1X1X1，101X00，…}
将原始测试集T进行向量排序，获得T0:
T0＝{100101,01X001,101X00,1X10X0,01X1X0,00X1XX,X1X1X1，…}
取T0的第一个测试向量100101作为种子，使用一位交替循环翻转技术，生成测试子集C1：
C1＝{000101，010101，011101，011001，011011，011010，011000，011100，010100，000100，100100，110100，111100，111000，111010，111011，111001，111101，110101，100101}
将100101加入种子集S中，S＝{100101}
从T0中删除100101，得到T1：
T1＝{01X001,101X00,1X10X0,01X1X0,00X1XX,X1X1X1，…}
依次将T1中每个向量vi逐一与测试子集C1进行比较，若vi强相容于测试子集C1中的某一向量cj，则将vi从T1中删除，01X001强相容于011001，1X10X0强相容于111000，01X1X0强相容于011100，00X1XX强相容于000101，X1X1X1强相容于010101。此时，T＝{101X00，…}；获得T2＝{101X00,…}；
重复上述步骤进行筛除，直到T0为空，得到种子集S＝{100101,…}，即为压缩结果。
以上为本发明一种详细的实施方式和具体的操作过程，是以本发明技术方案为前提下进行实施，但本发明的保护范围不限于上述的实施例。

Claims (2)

1.一种交替循环翻转的测试数据压缩方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤一：将原始测试向量进行向量排序，获得测试集T0；
步骤二：取T0中的第一个测试向量v1作为种子s1，对种子s1做一位交替循环翻转，获得测试子集C1，将种子s1从T0中删除并加入种子集S中，删除种子s1后的测试集标记为T1；
步骤三：将T1中的每个测试向量vi逐一与测试子集C1进行比较，若vi强相容于测试子集C1中的某一向量cj，则将vi从T1中删除，获得T2；
步骤四：取T2中的第一个测试向量vj作为种子，重复执行步骤二、步骤三，直至测试集为空，得到种子集S即为压缩结果。
2.根据权利要求1所述的一种交替循环翻转的测试数据压缩方法，其特征在于，所述步骤二中，所述一位交替循环翻转的方法为：设初始种子的长度为L，记为x1x2…xi…xL-1xL，其中，第i位xi翻转后记为 再次翻转后即为xi，对L位依次进行一位交替循环翻转4L-4次，记录每次翻转的结果，获得包含4L-4个向量的测试子集C。
CN201611117080.4A 2016-12-07 2016-12-07 一种交替循环翻转的测试数据压缩方法 Pending CN106610469A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201611117080.4A CN106610469A (zh) 2016-12-07 2016-12-07 一种交替循环翻转的测试数据压缩方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201611117080.4A CN106610469A (zh) 2016-12-07 2016-12-07 一种交替循环翻转的测试数据压缩方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN106610469A true CN106610469A (zh) 2017-05-03

Family

ID=58636568

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201611117080.4A Pending CN106610469A (zh) 2016-12-07 2016-12-07 一种交替循环翻转的测试数据压缩方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106610469A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN118425776A (zh) * 2024-05-09 2024-08-02 江苏欧力特能源科技有限公司 一种磷酸铁锂电池用循环寿命测试系统

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6299882A (ja) * 1985-10-25 1987-05-09 Nec Corp 手書文字認識の前処理方式
CN1505790A (zh) * 2001-03-19 2004-06-16 韵律设计系统公司 带有可编程组件的基于块的设计方法
KR20050119233A (ko) * 2004-06-16 2005-12-21 학교법인연세대학교 시스템온칩 환경하에서 제로검출 런렝스 코드를 이용한테스트데이터 압축 및 압축해제 방법
CN1862274A (zh) * 2006-05-27 2006-11-15 合肥工业大学 一种多扫描链的大规模集成电路测试数据压缩方法
CN101692351A (zh) * 2009-11-02 2010-04-07 华为技术有限公司 存储器测试方法及装置
CN101762782A (zh) * 2010-01-13 2010-06-30 詹文法 系统芯片外建自测试数据的压缩方法及专用解码单元
CN101968528A (zh) * 2010-08-19 2011-02-09 詹文法 集成电路测试中的测试数据压缩方法
CN102081142A (zh) * 2010-12-02 2011-06-01 合肥工业大学 基于并行折叠计数器的重播种测试方案
CN104467869A (zh) * 2014-11-17 2015-03-25 安庆师范学院 一种二分对称折叠技术的测试数据压缩方法
CN104635148A (zh) * 2015-02-13 2015-05-20 合肥工业大学 一种并行折叠计数器状态向量的选择生成方法及其硬件电路
CN105137321A (zh) * 2015-08-12 2015-12-09 安庆师范学院 一种基于分组测试向量之间的近似兼容性压缩方法
CN105606991A (zh) * 2015-12-21 2016-05-25 安庆师范学院 基于向量切分的线性压缩方法

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6299882A (ja) * 1985-10-25 1987-05-09 Nec Corp 手書文字認識の前処理方式
CN1505790A (zh) * 2001-03-19 2004-06-16 韵律设计系统公司 带有可编程组件的基于块的设计方法
KR20050119233A (ko) * 2004-06-16 2005-12-21 학교법인연세대학교 시스템온칩 환경하에서 제로검출 런렝스 코드를 이용한테스트데이터 압축 및 압축해제 방법
CN1862274A (zh) * 2006-05-27 2006-11-15 合肥工业大学 一种多扫描链的大规模集成电路测试数据压缩方法
CN101692351A (zh) * 2009-11-02 2010-04-07 华为技术有限公司 存储器测试方法及装置
CN101762782A (zh) * 2010-01-13 2010-06-30 詹文法 系统芯片外建自测试数据的压缩方法及专用解码单元
CN101968528A (zh) * 2010-08-19 2011-02-09 詹文法 集成电路测试中的测试数据压缩方法
CN102081142A (zh) * 2010-12-02 2011-06-01 合肥工业大学 基于并行折叠计数器的重播种测试方案
CN104467869A (zh) * 2014-11-17 2015-03-25 安庆师范学院 一种二分对称折叠技术的测试数据压缩方法
CN104635148A (zh) * 2015-02-13 2015-05-20 合肥工业大学 一种并行折叠计数器状态向量的选择生成方法及其硬件电路
CN105137321A (zh) * 2015-08-12 2015-12-09 安庆师范学院 一种基于分组测试向量之间的近似兼容性压缩方法
CN105606991A (zh) * 2015-12-21 2016-05-25 安庆师范学院 基于向量切分的线性压缩方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
李扬: "超大规模集成电路老化与内建自测试研究", 《中国博士学位论文全文数据库 信息科技辑》 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN118425776A (zh) * 2024-05-09 2024-08-02 江苏欧力特能源科技有限公司 一种磷酸铁锂电池用循环寿命测试系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6782501B2 (en) System for reducing test data volume in the testing of logic products
Lee et al. LFSR-reseeding scheme achieving low-power dissipation during test
Reda et al. Reducing test application time through test data mutation encoding
CN108845248B (zh) 一种基于向量压缩的低功耗测试压缩方法和系统、clfsr
Khan et al. VLSI architecture of a cellular automata machine
CN100454318C (zh) 适用于多扫描链设计芯核的soc测试数据的压缩方法
El-Maleh et al. A geometric-primitives-based compression scheme for testing systems-on-a-chip
Bayraktaroglu et al. Concurrent application of compaction and compression for test time and data volume reduction in scan designs
Bayraktaroglu et al. Decompression hardware determination for test volume and time reduction through unified test pattern compaction and compression
CN1862274A (zh) 一种多扫描链的大规模集成电路测试数据压缩方法
Schafer et al. RESPIN++-deterministic embedded test
CN104467869A (zh) 一种二分对称折叠技术的测试数据压缩方法
CN106610469A (zh) 一种交替循环翻转的测试数据压缩方法
CN106603082A (zh) 通用型高速ldpc码编码方法及编码器
CN107026651A (zh) 二分区间的数据压缩方法及集成电路的测试数据存储方法
Kajihara et al. Test data compression using don't-care identification and statistical encoding [logic testing]
US7103816B2 (en) Method and system for reducing test data volume in the testing of logic products
CN105137321B (zh) 一种基于分组测试向量之间的近似兼容性压缩方法
CN109143039B (zh) 单固定型故障低功耗测试方法
Chen et al. Enabling embedded memory diagnosis via test response compression
Balakrishnan et al. Matrix-based test vector decompression using an embedded processor
Kalaiselvi et al. LFSR-reseeding scheme for achieving test coverage
CN109444727A (zh) 一种面向扫描设计的低功耗lfsr重播种测试压缩方法
Karimi et al. Using data compression in automatic test equipment for system-on-chip testing
CN105606991A (zh) 基于向量切分的线性压缩方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20170503

RJ01 Rejection of invention patent application after publication