CN106569105A - 一种gis局部放电光学特高频联合检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种GIS局部放电光学特高频联合检测方法。其特点是，包括如下步骤：1)将光电倍增管放置在GIS的观察窗处；2)将外置式特高频传感器放置在紧邻步骤1)所述的观察窗的盆式绝缘子处；3)通过步骤1)的光电倍增管和步骤2)的外置式特高频传感器两者同时进行检测，根据检测结果判定局部放电是否发生在观察窗所在气室。经过试用证明，本发明的检测方法充分发挥了光学检测抗干扰性能强，特高频检测范围广的优点，可实现GIS局部放电的准确现场检测。

Description

一种GIS局部放电光学特高频联合检测方法
技术领域
本发明涉及一种GIS局部放电光学特高频联合检测方法。
背景技术
GIS(Gas Insulated switchgear)是电网中的关键设备，其具有占地面积小、安全可靠性高、易于维护的特点，目前是电网中大量使用的重要电力设备。局部放电是绝缘击穿的前兆现象，通过对局部放电的检测可以实现对设备击穿前的预警，这对于设备的安全运行具有重要意义。目前GIS局部放电现场检测多采用高频法和超声波法。但由于现场环境复杂，还是存在大量的不确定放电，及时特高频和超声波法检测到了信号，也无法判定是干扰还是局放。当发生局部放电时会产生光子，通过光学的方法进行局放的检测具有准确度高、干扰小的优点。
发明内容
本发明的目的是提供一种GIS局部放电光学特高频联合检测方法，能够实现对GIS局部放电的准确现场检测。
一种GIS局部放电光学特高频联合检测方法，其特别之处在于，包括如下步骤：
1)将光电倍增管放置在GIS的观察窗处；
2)将外置式特高频传感器放置在紧邻步骤1)所述的观察窗的盆式绝缘子处；
3)通过步骤1)的光电倍增管和步骤2)的外置式特高频传感器两者同时进行检测，根据检测结果判定局部放电是否发生在观察窗所在气室，具体是：
当两者均有信号时，判定局部放电源位于步骤1)的观察窗所在的气室；当光学检测无信号，但特高频检测有信号时，判定局部放电源位于观察窗所在气室之外；当光学检测有信号，但特高频检测无信号时，判定局部放电源位于观察窗所在气室，并且其放电类型为沿面等对特高频不灵敏的缺陷类型；当两者均无信号时，判定检测不到有效的局部放电信号，即局部放电信号幅值低于检测阈值。
经过试用证明，本发明的检测方法充分发挥了光学检测抗干扰性能强，特高频检测范围广的优点，可实现GIS局部放电的准确现场检测。
附图说明
附图1为本发明的应用原理示意图，其中包括：盆式绝缘子1；GIS2；GIS本体观察窗3；光电倍增管4；特高频传感器5；示波器6。
具体实施方式
本发明提出了一种利用GIS本身的观察窗作为检测点，利用光电倍增管作为光学法检测传感器，通过和特高频法进行联合检测，实现GIS现场局部放电的准确检测。
实施例1：
一种GIS局部放电光学特高频联合检测方法，该方法的步骤为：1)将光电倍增管放置在GIS本体的观察窗处；2)将外置式特高频传感器放置在紧邻上述观察窗的盆式绝缘子处；3)同时进行检测，根据检测结果判定局放是否发生在观察窗所在气室。
本发明的具体实施方法为将光电倍增管作为光学检测传感器放置在GIS本体的观察窗处，接收从观察窗传出的光子信号；将特高频传感器放置在紧邻观察窗的盆式绝缘子处进行特高频检测；同时进行光学和特高频检测，根据检测结果进行具体判断。
判断标准为：当两者均有信号时(均有信号指均发现有超过设定阈值的信号，或明显的局部放电信号，阈值的设定可根据现场噪声水平设定)，可判定局放源位于观察窗所在的气室；当光学检测无信号特高频检测有信号时，判定局放源位于观察窗所在气室之外；当光学检测有信号而特高频检测无信号时，判定为局放源位于观察窗所在气室其放电类型为沿面等对特高频不灵敏的缺陷类型。当两者均无信号时，判定检测设备检测不到有效的局放信号，即局放信号幅值低于检测阈值。
附图1为本发明的具体示意图，包括：盆式绝缘子1；GIS 2；GIS本体的观察窗3，该观察窗3可透射出光子信号；光电倍增管4，将该光电倍增管4正对观察窗进行光子信号的接收；特高频传感器5，放置在紧邻观察窗的盆式绝缘子处；示波器6，将光电倍增管和特高频传感器接收到的信号传到示波器进行采集。
具体实施时同时进行光学和特高频两路信号的测量，并根据两路信号的检测结果进行结果的判定，具体判定原则为：当两者均有信号时，可判定局放源位于观察窗所在的气室；当光学检测无信号特高频检测有信号时判定局放源位于观察窗所在气室之外；当光学检测有信号而特高频检测无信号时，可判定为局放源位于观察窗所在气室其放电类型为沿面等对特高频不灵敏的缺陷类型。
以上对本发明进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (1)

1.一种GIS局部放电光学特高频联合检测方法，其特征在于，包括如下步骤：
1)将光电倍增管放置在GIS的观察窗处；
2)将外置式特高频传感器放置在紧邻步骤1)所述的观察窗的盆式绝缘子处；
3)通过步骤1)的光电倍增管和步骤2)的外置式特高频传感器两者同时进行检测，根据检测结果判定局部放电是否发生在观察窗所在气室，具体是：
当两者均有信号时，判定局部放电源位于步骤1)的观察窗所在的气室；当光学检测无信号，但特高频检测有信号时，判定局部放电源位于观察窗所在气室之外；当光学检测有信号，但特高频检测无信号时，判定局部放电源位于观察窗所在气室，并且其放电类型为沿面等对特高频不灵敏的缺陷类型；当两者均无信号时，判定检测不到有效的局部放电信号，即局部放电信号幅值低于检测阈值。
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