CN106557403A - Tpe测试方法、装置及设备 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供了一种TPE测试方法、装置及设备。一方面，本发明实施例通过响应TPE测试指令，将终端转换到TPE测试状态，在TPE测试状态下调整工作CPU的数量和/或工作频率，以使调整后终端能够进入指定状态，以及基于终端在指定状态下工作CPU的数量和工作频率以及显示器的亮度获得终端的TPE值，自动完成TPE的测试，自动获取到TPE值，耗时短，因此效率高。并且，由于TPE测试过程中不需要人工操作，从而避免了由人工操作失误引起的人为误差，进而提高了TPE测试结果的准确度。因此，本发明实施例解决了现有技术中测试TPE值时效率低以及测试结果准确度低的问题。

Description

TPE测试方法、装置及设备

【技术领域】

本方案涉及电子技术领域，尤其涉及一种TPE测试方法、装置及设备。

【背景技术】

当前，智能终端的硬件配置越来越高端，相应地，智能终端的功耗也越来越大，这导致智能终端的发热情况越来越严重。很多终端，例如手机、平板电脑、笔记本电脑等，只能靠终端的表面将热量一点点散出去。终端的散热性能取决于终端的热设计的好坏。在业内，用TPE(Thermal Power Envelope，外壳热功率)值来评价终端的散热能力。在终端的研发过程中，研发人员会根据TPE值来改进终端的热设计，以使最终产品的散热性能达到预定要求。因此，在终端的研发过程中，经常需要测试终端的TPE值。

TPE值的含义是，终端消耗多大的能量，能使终端温度升高预定值(例如，对于手机来说，目前是20度)时，终端的表面温度不会继续升高，即终端内部产生热的速度和其向外扩热散的速度达到一个动态平衡。

现有技术中，对于TPE值采取人工测试的方式来实现。

在实现本方案过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下问题：

人工测试TPE值耗时比较长，导致效率低下。并且，人工测试过程中，会由于人工操作的失误造成测试结果存在较大误差，从而使得测试结果准确度较低。

【发明内容】

有鉴于此，本方案实施例提供了一种TPE测试方法、装置及设备，用以解决现有技术中测试TPE值时效率低以及测试结果准确度低的问题。

第一方面，本方案实施例提供一种TPE测试方法，所述方法包括：

响应于外壳热功率TPE测试指令，将终端转换到TPE测试状态；

在所述TPE测试状态下，调整工作CPU的数量和/或工作频率，以使调整后所述终端能够进入指定状态；

基于所述终端在所述指定状态下工作CPU的数量和工作频率以及显示器的亮度获得所述终端的TPE值。

如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述TPE测试状态指终端的屏幕常亮且亮度值保持不变、充电功能关闭、所述终端中除工作CPU之外的所有耗电模块均关闭的状态。

如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，调整工作CPU的数量和/或工作频率，以使调整后所述终端能够进入指定状态，包括：

在所述TPE测试状态下，设置工作CPU的初始数量及初始工作频率，使所述工作CPU在所述初始工作频率下满负载运行指定时长；

在所述指定时长后，测试所述终端各个面的最高温度；

根据所述各个面的最高温度中的最大值Tmax计算第一差值ΔT1，第一差值ΔT1等于所述最大值Tmax与测试前的环境温度T0的差值；

根据所述第一差值ΔT1与预定温度差值的关系调整工作CPU的数量和/或工作频率，直至调整后所述第一差值ΔT1与所述预定温度差值的差值小于预定阈值。

如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，根据所述第一差值ΔT1与预定温度差值的关系调整工作CPU的数量和/或工作频率，包括：

在所述第一差值ΔT1大于所述预定温度差值时，增加工作CPU的数量和/或提高工作CPU的工作频率；

或，在所述第一差值ΔT1小于所述预定温度差值时，减少工作CPU的数量和/或降低工作CPU的工作频率。

如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，基于所述终端在所述指定状态下工作CPU的数量和工作频率以及显示器的亮度获得所述终端的TPE值，包括：

获取调整后所述终端中工作CPU的数量和工作频率以及显示器的亮度；

根据获取的所述显示器的亮度确定所述终端的显示器消耗的第一电功率P1；

根据获取的工作CPU的数量和工作频率确定所述终端的CPU消耗的第二电功率P2；

根据所述第一电功率P1和所述第二电功率P2计算所述终端的TPE值。

如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述终端的TPE值等于所述第一电功率P1和所述第二电功率P2之和。

如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，在将终端转换到TPE测试状态之前，包括：

测试环境温度T0并存储。

第二方面，本方案实施例提供一种TPE测试装置，所述装置包括：

转换模块，用于响应于外壳热功率TPE测试指令，将终端转换到TPE测试状态；

调整模块，用于在所述TPE测试状态下，调整工作CPU的数量和/或工作频率，以使调整后所述终端能够进入指定状态；

获得模块，用于基于所述终端在所述指定状态下工作CPU的数量和工作频率以及显示器的亮度获得所述终端的TPE值。

如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述TPE测试状态指终端的屏幕常亮且亮度值保持不变、充电功能关闭、所述终端中除工作CPU之外的所有耗电模块均关闭的状态。

如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述调整模块在调整工作CPU的数量和/或工作频率，以使调整后所述终端能够进入指定状态时，具体用于：

在所述TPE测试状态下，设置工作CPU的初始数量及初始工作频率，使所述工作CPU在所述初始工作频率下满负载运行指定时长；

在所述指定时长后，测试所述终端各个面的最高温度；

根据所述各个面的最高温度中的最大值Tmax计算第一差值ΔT1，第一差值ΔT1等于所述最大值Tmax与测试前的环境温度T0的差值；

根据所述第一差值ΔT1与预定温度差值的关系调整工作CPU的数量和/或工作频率，直至调整后所述第一差值ΔT1与所述预定温度差值的差值小于预定阈值。

如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述调整模块在根据所述第一差值ΔT1与预定温度差值的关系调整工作CPU的数量和/或工作频率时，具体用于：

在所述第一差值ΔT1大于所述预定温度差值时，增加工作CPU的数量和/或提高工作CPU的工作频率；

或，在所述第一差值ΔT1小于所述预定温度差值时，减少工作CPU的数量和/或降低工作CPU的工作频率。

如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述获得模块在基于所述终端在所述指定状态下工作CPU的数量和工作频率以及显示器的亮度获得所述终端的TPE值时，具体用于：

获取调整后所述终端中工作CPU的数量和工作频率以及显示器的亮度；

根据获取的所述显示器的亮度确定所述终端的显示器消耗的第一电功率P1；

根据获取的工作CPU的数量和工作频率确定所述终端的CPU消耗的第二电功率P2；

根据所述第一电功率P1和所述第二电功率P2计算所述终端的TPE值。

如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述终端的TPE值等于所述第一电功率P1和所述第二电功率P2之和。

如上所述的方面和任一可能的实现方式，进一步提供一种实现方式，所述装置还包括：

环境测试模块，用于测试环境温度T0并存储。

第三方面，本方案实施例提供一种TPE测试设备，包括第二方面所述的TPE测试装置。

本发明实施例具有以下有益效果：

本发明实施例通过响应TPE测试指令，将终端转换到TPE测试状态，在TPE测试状态下调整工作CPU的数量和/或工作频率，以使调整后终端能够进入指定状态，以及基于终端在指定状态下工作CPU的数量和工作频率以及显示器的亮度获得终端的TPE值，自动完成TPE的测试，自动获取到TPE值，耗时短，因此效率高。并且，由于TPE测试过程中不需要人工操作，从而避免了由人工操作失误引起的人为误差，进而提高了TPE测试结果的准确度。

【附图说明】

为了更清楚地说明本方案实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本方案的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为本发明实施例一中TPE测试方法的流程示意图；

图2为本发明实施例二中TPE测试装置的功能方块图；

图3为本发明实施例三中TPE测试设备的功能方块图；

图4为本发明实施例所提供的TPE测试设备的一种硬件结构示意图。

【具体实施方式】

为了更好的理解本方案的技术方案，下面结合附图对本方案实施例进行详细描述。

应当明确，所描述的实施例仅仅是本方案一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本方案中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本方案保护的范围。

在本方案实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本方案。在本方案实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。

应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

取决于语境，如在此所使用的词语“如果”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”或“响应于检测”。类似地，取决于语境，短语“如果确定”或“如果检测(陈述的条件或事件)”可以被解释成为“当确定时”或“响应于确定”或“当检测(陈述的条件或事件)时”或“响应于检测(陈述的条件或事件)”。

实施例一

本发明实施例提供了一种TPE测试方法流程，该TPE测试方法流程可以应用于TPE测试设备。TPE测试设备可以是PC(Personal Computer，个人电脑)机等能够执行计算机指令的电子设备。

图1为本发明实施例一中TPE测试方法的流程示意图。如图1所示，本实施例中，TPE测试方法可以包括如下步骤：

S101，响应于TPE测试指令，将终端转换到TPE测试状态；

例如，当本发明实施例的TPE测试方法流程应用于PC机时，如果PC机接收到TPE测试指令，就自动进入本发明实施例的TPE测试流程。

其中，TPE测试指令可以由用户通过PC机的输入设备直接输入给PC机，还可以由用户通过与PC机无线或有线相连的其他终端以网络指令的方式向PC机发送TPE测试指令，本发明实施例对此不作限制。

在一个具体的实现过程中，TPE测试状态指终端的屏幕常亮且亮度值保持不变、充电功能关闭、终端中除工作CPU之外的所有耗电模块均关闭的状态。

其中，终端可以是手机、平板电脑、笔记本电脑等。

S102，在TPE测试状态下，调整工作CPU的数量和/或工作频率，以使调整后终端能够进入指定状态；

其中，指定状态是指，终端温度升高预定值(即本文后续涉及的预定温度差值，例如20度)后，终端表面温度不会继续升高，即终端内部产生热的速度和其向外扩热散的速度达到动态平衡的状态。

其中，工作CPU是指终端中处于运行状态的CPU。例如，假设一台笔记本电脑的CPU总数是8个，其中有6个CPU处于运行状态，2个CPU没有运行，则该笔记本电脑中工作CPU的数量为6个。

在一个具体的实现过程中，可以通过与终端操作系统对应的调试命令来将终端转换到TPE测试状态以及调整工作CPU的数量和/或工作频率。例如，对于采用安卓(Android)操作系统的终端，可以通过adb(Android Debug Bridge，安卓调试桥)命令关闭充电功能，通过adb命令设置工作CPU的数量以及每个工作CPU的工作频率，让每个工作CPU满负载运行测试程序，通过adb命令关闭其他耗电模块等等。

后面将对S102作进一步详细说明。

S103，基于终端在指定状态下工作CPU的数量和工作频率以及显示器的亮度获得终端的TPE值。

由上可见，本发明实施例根据TPE测试指令，自动完成TPE的测试过程，并且自动获取到TPE值，耗时短，因此效率高。并且，TPE测试过程中不需要人工操作，从而避免了由于人工操作失误引起的人为误差，进而提高了TPE测试结果的准确度。

而且，由于TPE测试过程是自动化完成的，从而减少了用于TPE测试的人力、物力，进而节省了TPE测试的人力成本和物力成本。

在一个具体的实现过程中，调整工作CPU的数量和/或工作频率，以使调整后终端能够进入指定状态，可以包括：在TPE测试状态下，设置工作CPU的初始数量及初始工作频率，使工作CPU在初始工作频率下满负载运行指定时长；在指定时长后，测试终端各个面的最高温度；根据各个面的最高温度中的最大值Tmax计算第一差值ΔT1，第一差值ΔT1等于最大值Tmax与转换到TPE测试状态前的环境温度T0的差值；根据第一差值ΔT1与预定温度差值的关系调整工作CPU的数量和/或工作频率，直至调整后第一差值ΔT1与预定温度差值的差值小于预定阈值。

其中，指定时长一般指工作CPU满负载运行该指定时长后，终端表面温度升高到一定值且保持稳定，不再继续升高。

其中，终端各个面的最高温度是指终端各个面的温度稳定后不再继续升高时的温度。Tmax是终端各个面的最高温度的最大值。以手机为例，手机有6个面(手机的四个边框看作4个面)，各个面的最高温度分别为40度、40.2度、40.3度、40.25度、40.23度、40.21度，则对该手机来将，Tmax＝40.3度。

其中，在根据第一差值ΔT1与预定温度差值的关系调整工作CPU的数量和/或工作频率时，可以进一步根据第一差值ΔT1计算第二差值ΔT2，第二差值ΔT2等于第一差值ΔT1与预定温度差值的差值，然后根据第二差值ΔT2调整工作CPU的数量或工作频率。

在一个具体的实现过程中，根据第一差值ΔT1与预定温度差值的关系调整工作CPU的数量和/或工作频率，可以包括：在第一差值ΔT1大于预定温度差值时，增加工作CPU的数量和/或提高工作CPU的工作频率；或，在第一差值ΔT1小于预定温度差值时，减少工作CPU的数量和/或降低工作CPU的工作频率。

举例说明。仍以手机为例。假设测试前环境温度为19度，预定温度差值是20度，预定阈值为0.5度。如果测得手机的6个面中最高温度为41度，则对该手机来说，第一差值ΔT1＝41-19＝22度，第二差值ΔT2＝22-20＝2度，第二差值ΔT2的绝对值大于预定阈值(0.5度)，第一差值ΔT1大于20度，则有3种调整方式：一是，减少工作CPU的数量，保持工作CPU的工作频率不变；二是，降低工作CPU的工作频率，保持工作CPU的数量不变；三是，减少工作CPU的数量，并且降低工作CPU的工作频率。

如果测得手机的6个面中最高温度为38度，则对该手机来说，第一差值ΔT1＝38-19＝19度，第二差值ΔT2＝19-20＝-1度，第二差值ΔT2的绝对值大于预定阈值(0.5度)，但第一差值ΔT1小于20度，则有3种调整方式：一是，增加工作CPU的数量，保持工作CPU的工作频率不变；二是，提高工作CPU的工作频率，保持工作CPU的数量不变；三是，增加工作CPU的数量，并且提高工作CPU的工作频率。

在一个具体的实现过程中，基于终端在指定状态下工作CPU的数量和工作频率以及显示器的亮度获得终端的TPE值，可以包括：获取调整后终端中工作CPU的数量和工作频率以及显示器的亮度；根据获取的显示器的亮度确定终端的显示器消耗的第一电功率P1；根据获取的工作CPU的数量和工作频率确定终端的CPU消耗的第二电功率P2；根据第一电功率P1和第二电功率P2计算终端的TPE值。

在一个具体的实现过程中，终端的TPE值等于第一电功率P1和第二电功率P2之和。

在一个具体的实现过程中，在将终端转换到TPE测试状态之前，TPE测试方法还可以包括：测试环境温度T0并存储。存储的环境温度T0可以用于计算前述的第一差值ΔT1。

需要说明的是，在TPE测试方法不包括“测试环境温度T0并存储”这个步骤的情况下，执行TPE测试方法的TPE测试设备可以接收其他设备传输给该TPE测试设备环境温度T0的值，TPE测试设备还可以预先在本地(例如本地缓存或本地硬盘等)预先存储环境温度T0的值。本发明实施例对此不作限制。

下面通过示例对本发明实施例提供的TPE测试方法作进一步说明。

以平板电脑为例。假设平板电脑采用安卓操作系统，平板电脑的预定温度差值为20度，预定阈值为0.2度。

对该平板电脑进行TPE测试的过程如下：

接收到TPE测试指令后，设置平板电脑的屏幕常亮并且屏幕亮度值保持不变，通过adb命令关闭平板电脑的充电功能；

通过adb命令设置平板电脑中工作CPU的数量以及每个工作CPU的工作频率，让每个工作CPU满负载运行测试程序，关闭其他耗电模块；

一段时间后，当终端的温度稳定后，测试终端各个面的最高温度，取最最高温度中的最大值Tmax；

用Tmax减去测试前的环境温度得到ΔT；

判断ΔT是否大于20度，如果大于20度，则减少工作CPU的数量和/或降低工作CPU的工作频率，再测试ΔT；如果ΔT小于20度，增加CPU的数量和/或提高工作CPU的工作频率，再测试ΔT；如此调整工作CPU的数量和/或工作频率，直到ΔT与20度的差值小于0.2为止；

在ΔT与20度的差值小于0.2后，根据平板电脑的屏幕亮度确定屏幕消耗的电功率P1，根据工作CPU的数量和工作频率确定CPU消耗的电量P2，则TPE值等于P1与P2的和。

本发明实施例提供的TPE测试方法，通过响应TPE测试指令，将终端转换到TPE测试状态，在TPE测试状态下调整工作CPU的数量和/或工作频率，以使调整后终端能够进入指定状态，以及基于终端在指定状态下工作CPU的数量和工作频率以及显示器的亮度获得终端的TPE值，自动完成TPE的测试，自动获取到TPE值，耗时短，因此效率高。并且，由于TPE测试过程中不需要人工操作，从而避免了由人工操作失误引起的人为误差，进而提高了TPE测试结果的准确度。

为了实现前述TPE测试方法实施例中的各步骤，本发明实施例还提供了TPE测试操作装置实施例。

实施例二

本发明实施例提供了一种TPE测试装置，该TPE测试装置可以设置于TPE测试设备中。该TPE测试设备可以是PC机等能够执行计算机指令的电子设备。

图2为本发明实施例二中TPE测试装置的功能方块图。如图2所示，本实施例中，TPE测试装置可以包括：

转换模块210，用于响应于外壳热功率TPE测试指令，将终端转换到TPE测试状态；

调整模块220，用于在TPE测试状态下，调整工作CPU的数量和/或工作频率，以使调整后终端能够进入指定状态；

获得模块230，用于基于终端在指定状态下工作CPU的数量和工作频率以及显示器的亮度获得终端的TPE值。

在一个具体的实现过程中，TPE测试状态指终端的屏幕常亮且亮度值保持不变、充电功能关闭、终端中除工作CPU之外的所有耗电模块均关闭的状态。

在一个具体的实现过程中，调整模块220在调整工作CPU的数量和/或工作频率，以使调整后所述终端能够进入指定状态时，可以具体用于：在TPE测试状态下，设置工作CPU的初始数量及初始工作频率，使工作CPU在初始工作频率下满负载运行指定时长；在指定时长后，测试终端各个面的最高温度；根据各个面的最高温度中的最大值Tmax计算第一差值ΔT1，第一差值ΔT1等于最大值Tmax与测试前的环境温度T0的差值；根据第一差值ΔT1与预定温度差值的关系调整工作CPU的数量和/或工作频率，直至调整后第一差值ΔT1与预定温度差值的差值小于预定阈值。

在一个具体的实现过程中，调整模块220在根据所述第一差值ΔT1与预定温度差值的关系调整工作CPU的数量和/或工作频率时，可以具体用于：在第一差值ΔT1大于预定温度差值时，增加工作CPU的数量和/或提高工作CPU的工作频率；或，在第一差值ΔT1小于预定温度差值时，减少工作CPU的数量和/或降低工作CPU的工作频率。

在一个具体的实现过程中，获得模块230在基于终端在指定状态下工作CPU的数量和工作频率以及显示器的亮度获得终端的TPE值时，可以具体用于：获取调整后终端中工作CPU的数量和工作频率以及显示器的亮度；根据获取的显示器的亮度确定终端的显示器消耗的第一电功率P1；根据获取的工作CPU的数量和工作频率确定终端的CPU消耗的第二电功率P2；根据第一电功率P1和第二电功率P2计算终端的TPE值。

在一个具体的实现过程中，终端的TPE值等于第一电功率P1和第二电功率P2之和。

在一个具体的实现过程中，TPE测试装置还可以包括：环境测试模块，用于测试环境温度T0并存储。

由于本实施例中的TPE测试装置能够执行前述实施例一中的TPE测试方法，本实施例未详细描述的部分，可参考对前述实施例一中TPE测试方法的相关说明。

本发明实施例提供的TPE测试装置，通过响应TPE测试指令，将终端转换到TPE测试状态，在TPE测试状态下调整工作CPU的数量和/或工作频率，以使调整后终端能够进入指定状态，以及基于终端在指定状态下工作CPU的数量和工作频率以及显示器的亮度获得终端的TPE值，自动完成TPE的测试，自动获取到TPE值，耗时短，因此效率高。并且，由于TPE测试过程中不需要人工操作，从而避免了由人工操作失误引起的人为误差，进而提高了TPE测试结果的准确度。

实施例三

本发明实施例还提供了一种TPE测试设备。图3为本发明实施例三中TPE测试设备的功能方块图。参见图3，该TPE测试设备包括前述实施例二所述的TPE测试装置。该TPE测试设备可以是PC机等能够执行计算机指令的电子设备。

本发明实施例提供的TPE测试设备，通过响应TPE测试指令，将终端转换到TPE测试状态，在TPE测试状态下调整工作CPU的数量和/或工作频率，以使调整后终端能够进入指定状态，以及基于终端在指定状态下工作CPU的数量和工作频率以及显示器的亮度获得终端的TPE值，自动完成TPE的测试，自动获取到TPE值，耗时短，因此效率高。并且，由于TPE测试过程中不需要人工操作，从而避免了由人工操作失误引起的人为误差，进而提高了TPE测试结果的准确度。

请参见图4，其为本发明实施例所提供的TPE测试设备的一种硬件结构示意图。如图4所示，TPE测试设备可以包括以下一个或多个组件：处理组件402，存储器404，电源组件406，多媒体组件408，音频组件410，输入/输出(I/O)的接口412，传感器组件414，以及通信组件416。

处理组件402通常控制TPE测试设备的整体操作，诸如与显示，电话呼叫，数据通信，相机操作和记录操作相关联的操作。处理组件402可以包括一个或多个处理器420来执行指令，以完成前述的TPE测试方法的全部或部分步骤，具体包括：响应于外壳热功率TPE测试指令，将终端转换到TPE测试状态；在所述TPE测试状态下，调整工作CPU的数量和/或工作频率，以使调整后所述终端能够进入指定状态；基于所述终端在所述指定状态下工作CPU的数量和工作频率以及显示器的亮度获得所述终端的TPE值。此外，处理组件402可以包括一个或多个模块，便于处理组件402和其他组件之间的交互。例如，处理组件402可以包括多媒体模块，以方便多媒体组件408和处理组件402之间的交互。

存储器404被配置为存储各种类型的数据以支持在TPE测试设备的操作。这些数据的示例包括用于在TPE测试设备上操作的任何应用程序或方法的指令，联系人数据，电话簿数据，消息，图片，视频等。存储器404可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器(SRAM)，电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)，可擦除可编程只读存储器(EPROM)，可编程只读存储器(PROM)，只读存储器(ROM)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。

电源组件406为TPE测试设备的各种组件提供电力。电源组件406可以包括电源管理系统，一个或多个电源，及其他与为TPE测试设备生成、管理和分配电力相关联的组件。

多媒体组件408包括在所述TPE测试设备和用户之间的提供一个输出接口的屏幕。在一些实施例中，屏幕可以包括液晶显示器(LCD)和触摸面板(TP)。如果屏幕包括触摸面板，屏幕可以被实现为触摸屏，以接收来自用户的输入信号。触摸面板包括一个或多个触摸传感器以感测触摸、滑动和触摸面板上的手势。所述触摸传感器可以不仅感测触摸或滑动动作的边界，而且还检测与所述触摸或滑动操作相关的持续时间和压力。在一些实施例中，多媒体组件408包括一个前置摄像头和/或后置摄像头。当TPE测试设备处于操作模式，如拍摄模式或视频模式时，前置摄像头和/或后置摄像头可以接收外部的多媒体数据。每个前置摄像头和后置摄像头可以是一个固定的光学透镜系统或具有焦距和光学变焦能力。

音频组件410被配置为输出和/或输入音频信号。例如，音频组件410包括一个麦克风(MIC)，当TPE测试设备处于操作模式，如呼叫模式、记录模式和语音识别模式时，麦克风被配置为接收外部音频信号。所接收的音频信号可以被进一步存储在存储器404或经由通信组件416发送。在一些实施例中，音频组件410还包括一个扬声器，用于输出音频信号。

I/O接口412为处理组件402和外围接口模块之间提供接口，上述外围接口模块可以是键盘，点击轮，按钮等。这些按钮可包括但不限于：主页按钮、音量按钮、启动按钮和锁定按钮。

传感器组件414包括一个或多个传感器，用于为TPE测试设备提供各个方面的状态评估。例如，传感器组件414可以检测到TPE测试设备的打开/关闭状态，组件的相对定位，例如所述组件为TPE测试设备的显示器和小键盘，传感器组件414还可以检测TPE测试设备或TPE测试设备一个组件的位置改变，用户与TPE测试设备接触的存在或不存在，TPE测试设备方位或加速/减速和TPE测试设备的温度变化。传感器组件414可以包括接近传感器，被配置用来在没有任何的物理接触时检测附近物体的存在。传感器组件414还可以包括光传感器，如CMOS或CCD图像传感器，用于在成像应用中使用。在一些实施例中，该传感器组件414还可以包括加速度传感器，陀螺仪传感器，磁传感器，压力传感器或温度传感器。

通信组件416被配置为便于TPE测试设备和其他设备之间有线或无线方式的通信。TPE测试设备可以接入基于通信标准的无线网络，如WiFi、2G、3G或4G或它们的组合。在一个示例性实施例中，通信组件416经由广播信道接收来自外部广播管理系统的广播信号或广播相关信息。在一个示例性实施例中，所述通信组件416还包括近场通信(NFC)模块，以促进短程通信。例如，在NFC模块可基于射频识别(RFID)技术，红外数据协会(IrDA)技术，超宽带(UWB)技术，蓝牙(BT)技术和其他技术来实现。

在示例性实施例中，TPE测试设备可以被一个或多个应用专用集成电路(ASIC)、数字信号处理器(DSP)、数字信号处理设备(DSPD)、可编程逻辑器件(PLD)、现场可编程门阵列(FPGA)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现，用于执行上述方法。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统，装置和模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统，装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如，多个模块或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的，作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理模块，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个模块单独物理存在，也可以两个或两个以上模块集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。

上述以软件功能单元的形式实现的集成的单元，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。上述软件功能单元存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机装置(可以是个人计算机，服务器，或者网络装置等)或处理器(Processor)执行本发明各个实施例所述方法的部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述仅为本方案的较佳实施例而已，并不用以限制本方案，凡在本方案的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本方案保护的范围之内。

Claims (15)

1.一种TPE测试方法，其特征在于，所述方法包括：

响应于外壳热功率TPE测试指令，将终端转换到TPE测试状态；

在所述TPE测试状态下，调整工作CPU的数量和/或工作频率，以使调整后所述终端能够进入指定状态；

基于所述终端在所述指定状态下工作CPU的数量和工作频率以及显示器的亮度获得所述终端的TPE值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述TPE测试状态指终端的屏幕常亮且亮度值保持不变、充电功能关闭、所述终端中除工作CPU之外的所有耗电模块均关闭的状态。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，调整工作CPU的数量和/或工作频率，以使调整后所述终端能够进入指定状态，包括：

在所述TPE测试状态下，设置工作CPU的初始数量及初始工作频率，使所述工作CPU在所述初始工作频率下满负载运行指定时长；

在所述指定时长后，测试所述终端各个面的最高温度；

根据所述各个面的最高温度中的最大值Tmax计算第一差值ΔT1，第一差值ΔT1等于所述最大值Tmax与测试前的环境温度T0的差值；

根据所述第一差值ΔT1与预定温度差值的关系调整工作CPU的数量和/或工作频率，直至调整后所述第一差值ΔT1与所述预定温度差值的差值小于预定阈值。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述第一差值ΔT1与预定温度差值的关系调整工作CPU的数量和/或工作频率，包括：

在所述第一差值ΔT1大于所述预定温度差值时，增加工作CPU的数量和/或提高工作CPU的工作频率；

或，在所述第一差值ΔT1小于所述预定温度差值时，减少工作CPU的数量和/或降低工作CPU的工作频率。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，基于所述终端在所述指定状态下工作CPU的数量和工作频率以及显示器的亮度获得所述终端的TPE值，包括：

获取调整后所述终端中工作CPU的数量和工作频率以及显示器的亮度；

根据获取的所述显示器的亮度确定所述终端的显示器消耗的第一电功率P1；

根据获取的工作CPU的数量和工作频率确定所述终端的CPU消耗的第二电功率P2；

根据所述第一电功率P1和所述第二电功率P2计算所述终端的TPE值。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述终端的TPE值等于所述第一电功率P1和所述第二电功率P2之和。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在将终端转换到TPE测试状态之前，包括：

测试环境温度T0并存储。

8.一种TPE测试装置，其特征在于，所述装置包括：

转换模块，用于响应于外壳热功率TPE测试指令，将终端转换到TPE测试状态；

调整模块，用于在所述TPE测试状态下，调整工作CPU的数量和/或工作频率，以使调整后所述终端能够进入指定状态；

获得模块，用于基于所述终端在所述指定状态下工作CPU的数量和工作频率以及显示器的亮度获得所述终端的TPE值。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述TPE测试状态指终端的屏幕常亮且亮度值保持不变、充电功能关闭、所述终端中除工作CPU之外的所有耗电模块均关闭的状态。

10.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述调整模块在调整工作CPU的数量和/或工作频率，以使调整后所述终端能够进入指定状态时，具体用于：

在所述TPE测试状态下，设置工作CPU的初始数量及初始工作频率，使所述工作CPU在所述初始工作频率下满负载运行指定时长；

在所述指定时长后，测试所述终端各个面的最高温度；

根据所述各个面的最高温度中的最大值Tmax计算第一差值ΔT1，第一差值ΔT1等于所述最大值Tmax与测试前的环境温度T0的差值；

根据所述第一差值ΔT1与预定温度差值的关系调整工作CPU的数量和/或工作频率，直至调整后所述第一差值ΔT1与所述预定温度差值的差值小于预定阈值。

11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，所述调整模块在根据所述第一差值ΔT1与预定温度差值的关系调整工作CPU的数量和/或工作频率时，具体用于：

在所述第一差值ΔT1大于所述预定温度差值时，增加工作CPU的数量和/或提高工作CPU的工作频率；

或，在所述第一差值ΔT1小于所述预定温度差值时，减少工作CPU的数量和/或降低工作CPU的工作频率。

12.根据权利要求11所述的装置，其特征在于，所述获得模块在基于所述终端在所述指定状态下工作CPU的数量和工作频率以及显示器的亮度获得所述终端的TPE值时，具体用于：

获取调整后所述终端中工作CPU的数量和工作频率以及显示器的亮度；

根据获取的所述显示器的亮度确定所述终端的显示器消耗的第一电功率P1；

根据获取的工作CPU的数量和工作频率确定所述终端的CPU消耗的第二电功率P2；

根据所述第一电功率P1和所述第二电功率P2计算所述终端的TPE值。

13.根据权利要求12所述的装置，其特征在于，所述终端的TPE值等于所述第一电功率P1和所述第二电功率P2之和。

14.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

环境测试模块，用于测试环境温度T0并存储。

15.一种TPE测试设备，其特征在于，包括权利要求8至14任一项所述的TPE测试装置。