CN106553431B - Ctp制版机的版材上版到位检测电路及检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及CTP制版机的版材上版到位检测电路及检测方法,属于CTP制版技术领域,包括用于放置CTP版材的版道、主控板、第一探针、第二探针和到位检测电路,所述主控板分别与到位检测电路和版道电连接,版道、检测电路和主控板均接地,制版时,CTP版材放在版道上。本发明结构简单,可靠性高。到位检测电路与主控板使用同一电源,在版道与到位检测电路、主控板共地的情况下,不论版材是否与版道存在电接触,均能检测出版材是否到位。
Description
技术领域
本发明涉及一种CTP制版机电路控制系统,属于CTP制版技术领域,尤其涉及CTP制版机的版材上版到位检测电路,本发明还公开了电路的检测方法。
背景技术
CTP制版机是计算机直接制版机的简称,属于印前设备。CTP制版机采用数字化的工作流程,将上位机中的文字、图像信息转变为数字信号,然后通过控制激光器扫描刻板,在印版上形成图像的潜影,经显影后,上位机中的文字、图像信息即还原在印版上供胶印机直接印刷。
CTP制版机由精确而复杂的光学系统,电路系统,以及机械系统三大部分构成。其中,电路控制系统对整个CTP制版机的制版质量和效率以及可操控性能起着至关重要的作用。目前,CTP所采用的版材通常为0.3毫米厚的铝板,铝板上版后,通过夹具固定在转鼓上,由于转鼓的转速较高,如果铝板固定不牢而飞出,其具有的巨大的动能,不仅打坏机器,还有可能造成人身伤害。因此在上版时,必须保证版材的头部到达夹具下压的位置。
发明内容
本发明的目的在于针对上述问题,提供一种CTP制版机的版材上版到位检测电路,本电路可将版材牢固地固定在夹具上,防止版材飞出造成的机器损坏和避免人员伤亡。
为了达到目的,本发明提供的技术方案为:
本发明涉及的一种CTP制版机的版材上版到位检测电路,所述的制版机包括用于放置CTP版材的版道和主控板,版道和主控板电连接,且均接地,其特征在于:其还包括第一探针、第二探针和到位检测电路,所述的到位检测电路包括第一分压电路、第二分压电路、第一比较电路、第二比较电路、第一基准电路、第二基准电路、第一与门电路U5A、第二与门电路U5B和或门电路U6A,所述的第一探针和第二探针的一端分别与CTP版材配合,另一端分别连接第一分压电路和第二分压电路;所述的第一比较电路包括两个比较器U1A、U2A,第二比较电路包括两个比较器U3A、U4A,第一探针分别与U1A的正极和U3A的负极连接,第二探针分别与U2A的正极和U4A的负极连接,U1A和U2A的负极均与第一基准电路连接,U3A和U4A的正极均与第二基准电路连接,U1A和U2A的输出端分别与U5A的两个输入端连接,U3A和U4A的输出端分别与U5B的两个输入端连接,U5A和U5B的输出端分别与U6A的两个输入端连接,U6A的输出端与主控板连接。
优选地,所述的第一分压电路包括两个电阻R2和R4,电阻R2的一端与电源连通,另一端与电阻R4的一端连接,电阻R4的另一端接地;所述的第二分压电路包括两个电阻R6和R7,电阻R6的一端与电源连通,另一端与电阻R7的一端连接,电阻R7的另一端接地。
优选地,所述的第一基准电路包括两个电阻R1、R3和电容C1,电阻R1一端与电源连通,另一端与电阻R3一端连接,电阻R3另一端接地,电容C1连接在电阻R1和电阻R3之间,电容C1一端与基准电压电源连通,另一端接地;所述的第二基准电路包括两个电阻R8、R5和电容C2,电阻R8的一端与电源连通,另一端与电阻R5一端连接,电阻R5另一端接地,电容C2连接在电阻R8和电阻R5之间,电阻C2的一端与基准电压电源连通,另一端接地。
优选地,所述的比较器U1A、U2A、U3A和U4A的一端均与电源连通,另一端均接地。
本发明还公开了基于上述CTP制版机的版材上版到位检测电路的检测方法,其包括以下步骤:
(1)设定输入第一分压电路和第二分压电路的电压值为V1和V2,V2>V1,根据两个分压电路电压设定输入第一基准电路的电压Vref1和输入第二基准电路的电压Vref2,其中(V1+V2)/2>Vref1>V1,V1>Vref2>0;
(2)将CTP版材安装至版道上,设定第一探针和第二探针的电压分别为Va和Vb;
(3)若第一探针和第二探针均与CTP版材接触,则到位检测电路向主控板输出高电平信号;若第一探针和第二探针没有全部与CTP版材接触,则到位检测电路不向主控板输出高电平信号。
采用本发明提供的技术方案,与现有技术相比,具有如下有益效果:
本发明在CTP制版机内设置了版材上版到位检测电路,该电路不论版材是否与版道存在电接触,均能检测出版材是否到位,防止CTP制版机工作时,CTP版材在高速转动的情况下飞出,避免造成机器的损坏及人身伤害。
附图说明
图1是本发明版材上版到位检测电路结构示意图;
图2是本发明基于版材上版到位检测电路的CTP制版机电路结构示意图。
图示说明:1版道,2CTP版材,3第一探针,4第二探针,5到位检测电路,6主控板,511第一分压电路,512第二分压电路,521第一比较电路,522第二比较电路,53与门电路,54或门电路,551第一基准电路,552第一基准电路。
具体实施方式
为进一步了解本发明的内容,结合实施例对本发明作详细描述,以下实施例用于说明本发明,但不用来限制本发明的范围。
结合附图1、2所示,本实施例涉及一种CTP制版机的版材上版到位检测电路,所述的制版机包括用于放置CTP版材的版道1、主控板6、第一探针3、第二探针4和到位检测电路5,所述主控板6分别与到位检测电路5、版道1电连接,版道1、检测电路5和主控板6均接地,制版时,CTP版材2放在版道1上。
所述的到位检测电路5包括第一分压电路511、第二分压电路512、第一比较电路521、第二比较电路522、第一基准电路551、第二基准电路552、第一与门电路U5A、第二与门电路U5B和或门电路U6A。所述的第一探针3和第二探针4的一端分别与CTP版材2配合,另一端分别连接第一分压电路511和第二分压电路512。上述的第一分压电路511包括两个电阻R2和R4,R2的一端与电源连通,另一端与R4的一端连接,R4的另一端接地,第一探针3连接在R2和R4之间;上述第二分压电路512包括两个电阻R6和R7,R6的一端与电源连通,另一端与R7的一端连接,R7的另一端接地,第一探针4连接在R6和R7之间。第一比较电路521包括两个比较器U1A、U2A,第二比较电路522包括两个比较器U3A、U4A,第一探针3分别与U1A的正极和U3A的负极连接,第二探针4分别与U2A的正极和U4A的负极连接,U1A和U2A的负极均与第一基准电路551连接,U3A和U4A的正极均与第二基准电路552连接,U1A和U2A的输出端分别与U5A的两个输入端连接,U3A和U4A的输出端分别与U5B的两个输入端连接,U5A和U5B的输出端分别与U6A的两个输入端连接,U6A的输出端与主控板6连接,比较器U1A、U2A、U3A和U4A的一端均与电源连通,另一端均接地。
上述的第一基准电路551包括两个电阻R1、R3和电容C1,R1一端与电源连通,另一端与R3一端连接,R3另一端接地,C1连接在R1和R3之间,C1一端与基准电压电源连通,另一端接地;上述的第二基准电路552包括两个电阻R8、R5和电容C2,R8的一端与电源连通,另一端与R5一端连接,R5另一端接地,C2连接在R8和R5之间,C2的一端与基准电压电源连通,另一端接地。
采用上述CTP制版机的版材上版到位检测电路的检测方法,其包括以下步骤:
步骤一:设定输入第一分压电路511和第二分压电路512的电压值为V1和V2,V2>V1,根据两个分压电路电压设定输入第一基准电路551的电压Vref1和输入第二基准电路552的电压Vref2,其中(V1+V2)/2>Vref1>V1,V1>Vref2>0;
步骤二:将CTP版材安装至版道上,设定第一探针3和第二探针4的电压分别为Va和Vb;
步骤三:若第一探针和第二探针均与CTP版材接触,则到位检测电路5向主控板6输出高电平信号;若第一探针和第二探针没有全部与CTP版材接触,则到位检测电路5不向主控板6输出高电平信号。
根据附图1对七种不同情况的连接进行分析:
情况一:当第一探针和第二探针均与CTP版材接触,且CTP版材与版道接触时,第一探针和第二探针上的电压为Va=Vb=0,此时U1A、U2A的正极、U3A、U4A的负极上的电压均为0,由于Vref2和Vref1的值均大于0,U1A、U2A输出端输出的信号为0,U3A、U4A输出端输出的信号为1,第一与门电路无输出,第二与门电路有输出,或门电路的其中一个输入端有信号输入,则或门电路向主控板输出高电平;
情况二:当第一探针和第二探针均与CTP版材接触,且CTP版材与版道不接触时,第一探针和第二探针上的电压为Va=Vb=(V1+V2)/2,此时U1A、U2A的正极、U3A、U4A的负极上的电压均为(V1+V2)/2,由于(V1+V2)/2>Vref1>V1,V1>Vref2,U1A、U2A输出端输出的信号为1,U3A、U4A输出端输出的信号为0,第一与门电路有输出,第二与门电路无输出,或门电路的其中一个输入端有信号输入,则或门电路向主控板输出高电平。
情况三:当第一探针与CTP版材接触,第二探针不与CTP版材接触,且CTP版材与版道接触时,第一探针的电压Va=0,第二探针的电压Vb=V2,由于V2>Vref1>Vref2,此时U1A、U4A输出信号为0,U2A、U3A输出的信号为1,与门电路U5A和U5B的两个输入端均输入0和1,则U5A和U5B均输出0,则或门电路U6A输出为0,即不向主控板输出高电平。
情况四:当第一探针与CTP版材接触,第二探针不与CTP版材接触,且CTP版材不与版道接触时,第一探针的电压Va=V1,第二探针的电压Vb=V2,由于V2>Vref1>V1>Vref2,此时U1A、U3A、U4A输出信号为0,U2A输出的信号为1,与门电路U5A和U5B的两个输入端至少有一个输入0,则U5A和U5B均输出0,则或门电路U6A输出为0,即不向主控板输出高电平。
情况五:当第一探针不与CTP版材接触,第二探针与CTP版材接触,且CTP版材与版道接触时,第一探针的电压Va=V1,第二探针的电压Vb=0,由于Vref1>V1>Vref2,此时U1A、U2A、U3A输出信号为0,U4A输出的信号为1,与门电路U5A和U5B的两个输入端至少有一个输入0,则U5A和U5B均输出0,则或门电路U6A输出为0,即不向主控板输出高电平。
情况六:当第一探针不与CTP版材接触,第二探针与CTP版材接触,且CTP版材不与版道接触时,第一探针的电压Va=V1,第二探针的电压Vb=V2,则高电平输出情况与情况四相同。
情况七:当第一探针和第二探针均不与CTP版材接触,且CTP版材不与版道接触时,第一探针的电压Va=V1,第二探针的电压Vb=V2,则高电平输出情况与情况四相同。
根据对上述七种情况分析可得:CTP制版机的版材上版到位检测电路不论版材是否与版道存在电接触,均能检测出版材是否到位。
以上结合实施例对本发明进行了详细说明,但所述内容仅为本发明的较佳实施例,不能被认为用于限定本发明的实施范围。凡依本发明申请范围所作的均等变化与改进等,均应仍属于本发明的专利涵盖范围之内。
Claims (5)
1.一种CTP制版机的版材上版到位检测电路,所述的制版机包括用于放置CTP版材的版道和主控板,版道和主控板电连接,且均接地,其特征在于:其还包括第一探针、第二探针和到位检测电路,所述的到位检测电路包括第一分压电路、第二分压电路、第一比较电路、第二比较电路、第一基准电路、第二基准电路、第一与门电路U5A、第二与门电路U5B和或门电路U6A,所述的第一探针和第二探针的一端分别与CTP版材配合,另一端分别连接第一分压电路和第二分压电路;所述的第一比较电路包括两个比较器U1A、U2A,第二比较电路包括两个比较器U3A、U4A,第一探针分别与U1A的正极和U3A的负极连接,第二探针分别与U2A的正极和U4A的负极连接,U1A和U2A的负极均与第一基准电路连接,U3A和U4A的正极均与第二基准电路连接,U1A和U2A的输出端分别与U5A的两个输入端连接,U3A和U4A的输出端分别与U5B的两个输入端连接,U5A和U5B的输出端分别与U6A的两个输入端连接,U6A的输出端与主控板连接。
2.根据权利要求1所述的CTP制版机的版材上版到位检测电路,其特征在于:所述的第一分压电路包括两个电阻R2和R4,电阻R2的一端与电源连通,另一端与电阻R4的一端连接,电阻R4的另一端接地;所述的第二分压电路包括两个电阻R6和R7,电阻R6的一端与电源连通,另一端与电阻R7的一端连接,电阻R7的另一端接地。
3.根据权利要求1所述的CTP制版机的版材上版到位检测电路,其特征在于:所述的第一基准电路包括两个电阻R1、R3和电容C1,电阻R1一端与电源连通,另一端与电阻R3一端连接,电阻R3另一端接地,电容C1连接在电阻R1和电阻R3之间,电容C1一端与基准电压电源连通,另一端接地;所述的第二基准电路包括两个电阻R8、R5和电容C2,电阻R8的一端与电源连通,另一端与电阻R5一端连接,电阻R5另一端接地,电容C2连接在电阻R8和电阻R5之间,电阻C2的一端与基准电压电源连通,另一端接地。
4.根据权利要求1所述的CTP制版机的版材上版到位检测电路,其特征在于:所述的比较器U1A、U2A、U3A和U4A的一端均与电源连通,另一端均接地。
5.一种基于权利要求1所述的CTP制版机的版材上版到位检测电路的检测方法,其特征在于,其包括以下步骤:
(1)设定输入第一分压电路和第二分压电路的电压值为V1和V2,V2>V1,根据两个分压电路电压设定输入第一基准电路的电压Vref1和输入第二基准电路的电压Vref2,其中(V1+V2)/2>Vref1>V1,V1>Vref2>0;
(2)将CTP版材安装至版道上,设定第一探针和第二探针的电压分别为Va和Vb;
(3)若第一探针和第二探针均与CTP版材接触,则到位检测电路向主控板输出高电平信号;若第一探针和第二探针没有全部与CTP版材接触,则到位检测电路不向主控板输出高电平信号。
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