CN106526649A - 一种软x射线源辐射强度标定系统和标定方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种软X射线源辐射强度标定系统和标定方法,包括辐射源真空腔、实验真空腔、X射线传输腔、X射线源、软X射线CCD探测器;本发明采用单光子计数技术,标定软X射线辐射强度,尤其是可以标定能量在2keV以下的X射线源的辐射强度,打破了单光子计数X射线CCD的能量限制。
Description
技术领域
本发明属于X射线领域,具体涉及一种辐射强度标定方法,特别涉及软X射线辐射强度、软X射线探测及单光子计数技术。
背景技术
X射线在空间中广泛存在,特别是在天体物理现象活跃爆发时,X射线会大量产生,在天文观测中常被观测记录。在X射线成像方面,1999年发射升空的美国钱德拉天文台和2000年发射成功的欧洲牛顿天文台是目前世界上性能最好的X射线天文望远镜,十几年的工作已帮助人类记录了大量空间的X射线事件。
除了成像外,还有一类X射线活动是以X射线光子形态存在的,对这类天文现象的记录称为X射线探测。国际已有相关宇航单位开展了空间X射线探测载荷的研制工作,相应的载荷性能测试工作同步开展。载荷性能测试中需要构造符合空间X射线辐射水平的X射线光子源,此时就需要对X射线光源的辐射强度进行标定。
单光子计数技术是对极微弱光的一种探测技术。极微弱光辐射到探测器像面上,达到单光子计数条件,即单位像元面积内获得的光子数小于1;从而通过统计获得信号的像元数目,就可以得到极微弱光源辐射到探测器上的光子的数量,从而计算出光源的辐射强度。
但是目前的单光子计数CCD探测器不能探测能量在2keV以下的软X射线。同时,目前的软X射线源单位时间内的辐射强度都很大,短距离内不能达到单光子计数条件。总之,现有技术无法对软X射线源的辐射强度进行标定。
发明内容
本发明的目的在于克服上述现有技术的不足,提供了一种软X射线源辐射强度标定系统及标定方法,可以实现对软X射线源、特别是能量在2keV以下的软X射线源辐射强度的标定。
本发明的技术方案是:一种软X射线源辐射强度标定系统,包括辐射源真空腔、实验真空腔、X射线传输腔、X射线源、软X射线CCD探测器;所述辐射源真空腔内产生X射线,经过X射线传输腔内长距离传输后实现CCD单位像元、单位时间内接收到的X射线光子数小于1,作为软X射线源辐射强度标定的X射线源和标定系统。
所述辐射源真空腔为卧式容器,容器上开有电接口法兰、粗抽管路接口法兰、X射线传输腔接口。
所述实验真空腔为卧式容器,内部具有实验平台及去污冷屏,容器上开有软X射线CCD探测器接口法兰、电接口法兰、粗抽管路接口法兰、X射线传输腔接口。
所述X射线传输腔长10m到200m,由主管道及波纹管调节管道连接组成,真空连接管路材料为不锈钢,内壁抛光处理。
所述X射线源为双阳极X射线管,双阳极X射线管装配固定在辐射源真空腔中,通过电源激励电子轰击在金属材料上,使得金属材料内层电子跃迁,产生特定谱段的X射线辐射。
所述X射线源的谱段为Mg~1.25keV;Al~1.49keV,带宽:Mg~0.70eV;Al~0.85eV,每秒输出光子数:109~1012。
所述软X射线CCD探测器具有高灵敏度特点,能够响应能量1eV~10keV的单光子量级的X射线光子。
一种软X射线源辐射强度标定方法,在软X射线源辐射强度标定系统系统内对软X射线源、特别是能量在2keV以下的软X射线源的辐射强度进行标定,包括以下步骤:
(1)根据X射线源参数,估算X射线源辐射强度I;X射线源参数包括软X射线源工作功率、X射线光子能量、辐射立体角范围和X射线源能量转化效率;
(2)根据估算的X射线源辐射强度I和软X射线CCD探测器像元尺寸,估算X射线源到软X射线探测器的距离L,使得单位像元单位时间内接收到的X射线光子数远小于1;
(3)将软X射线CCD探测器固定在距离X射线源距离为L处,且使像面垂直于X射线源与X射线CCD探测器中心连线;
(4)在单位时间t内,使用软X射线CCD探测器采集X射线源辐射的X射线光子;
(5)统计单位时间t内,软X射线CCD探测面积S上获得信号的像元数A,即可得到单位时间和单位面积内X射线源的辐射强度:AL2/tS。
本发明与现有技术相比具有以下优点:
(1)由于在本发明中X射线源到X射线CCD探测器像面的距离可以做到很长,可以通过增加源到探测器的距离减小单位时间单位面积内X射线光子数,使得探测器平均每个像元接收到的X射线光子数远小于1,从而达到单光子计数条件;
(2)本发明中的软X射线CCD探测器可探测能量2keV以下X射线光子,从而使得本发明可以标定能量2keV以下的X射线源的辐射强度,打破了单光子计数X射线CCD的能量范围限制。
附图说明
图1为本发明标定系统构成图;
图2为本发明标定方法的流程;
图3为本发明为软X射线CCD探测器信号图。
具体实施方式
下面结合附图1对本发明的系统做进一步的描述。
如图1所示,本发明的标定系统包括以下五个部分:辐射源真空腔、实验真空腔、X射线传输腔、X射线源、软X射线CCD探测器。辐射源真空腔、实验真空腔、X射线传输腔、X射线源如图1中所示连接成一整套真空系统。软X射线CCD探测器在实验真空腔内,通过法兰接口与真空腔外的电脑相连。辐射源真空腔内产生X射线,经过X射线传输腔内长距离传输后实现CCD单位像元、单位时间内接收到的X射线光子数小于1,作为软X射线源辐射强度标定的X射线源和标定系统。
如图2所示,本发明标定方法步骤如下:
步骤1:估算X射线源辐射强度。
根据X射线源参数:X射线源辐射功率P,X射线光子能量E和X射线源能量转化效率η,估算单位时间X射线源辐射强度I=ηP/E。
根据估算的单位时间X射线源辐射强度I、X射线源辐射立体角θ,计算单位时间单位立体角内X射线源的辐射强度I=I/。
步骤2:估算探测器到X射线源的距离。
定义软X射线CCD探测器到X射线源的距离为L,软X射线CCD探测器单位像元面积为D,则软X射线CCD探测器单位像元对X射线源的立体角为D/L2。
根据单位时间单位立体角内X射线源的辐射强度Iθ,计算得到单位时间单位像元接收到的X射线光子数量为IθD/L2=ID/θL2=ηPD/EL2。
根据单光子计数条件,ηPD/EL2<<1,得到L>>(ηPD/E)0.5。
步骤3:装配调整标定系统。
将软X射线CCD探测器固定在实验真空腔内距离X射线源L(>>(ηPD/E)0.5)处,且使像面垂直于X射线源与探测器中心连线。
步骤4:采集X射线光子。
在标定系统内,使用软X射线CCD探测器采集X射线源辐射的X射线光子。软X射线CCD探测器采集到的图像如附图3所示,图中白色亮点为采集到X射线光子的CCD像元。
步骤5:计算辐射强度。
统计时间t内、探测面积S上获得信号的像元数A。
计算得出X射线源单位时间单位立体角内的辐射强度:AL2/tS。
如图3所示,白色亮点为采集到X射线光子的CCD像元,黑色部分为没有采集到X射线光子的CCD像元,通过软件可以统计出采集到X射线光子的数目。
总之,本发明采用单光子计数技术,标定软X射线辐射强度,尤其是可以标定能量在2keV以下的X射线源的辐射强度,打破了单光子计数X射线CCD的能量限制。
本发明说明书中未作详细描述的内容属本领域技术人员的公知技术。
Claims (8)
1.一种软X射线源辐射强度标定系统,其特征在于:包括辐射源真空腔、实验真空腔、X射线传输腔、X射线源、软X射线CCD探测器;所述辐射源真空腔内产生X射线,经过X射线传输腔内长距离传输后实现CCD单位像元、单位时间内接收到的X射线光子数小于1,作为软X射线源辐射强度标定的X射线源和标定系统。
2.根据权利要求1所述的软X射线源辐射强度标定系统,其特征在于:所述辐射源真空腔为卧式容器,容器上开有电接口法兰、粗抽管路接口法兰、X射线传输腔接口。
3.根据权利要求1所述的软X射线源辐射强度标定系统,其特征在于:所述实验真空腔为卧式容器,内部具有实验平台及去污冷屏,容器上开有软X射线CCD探测器接口法兰、电接口法兰、粗抽管路接口法兰、X射线传输腔接口。
4.根据权利要求1所述的软X射线源辐射强度标定系统,其特征在于,所述X射线传输腔长10m到200m,由主管道及波纹管调节管道连接组成,真空连接管路材料为不锈钢,内壁抛光处理。
5.根据权利要求1所述的软X射线源辐射强度标定系统,其特征在于,所述X射线源为双阳极X射线管,双阳极X射线管装配固定在辐射源真空腔中,通过电源激励电子轰击在金属材料上,使得金属材料内层电子跃迁,产生特定谱段的X射线辐射。
6.根据权利要求1或5所述的软X射线源辐射强度标定系统,其特征在于,所述X射线源的谱段为Mg~1.25keV;Al~1.49keV,带宽:Mg~0.70eV;Al~0.85eV,每秒输出光子数:109~1012。
7.根据权利要求1所述的软X射线源辐射强度标定系统,其特征在于,所述软X射线CCD探测器能够响应能量1eV~10keV的单光子量级的X射线光子。
8.一种软X射线源辐射强度标定方法,在软X射线源辐射强度标定系统系统内对软X射线源、特别是能量在2keV以下的软X射线源的辐射强度进行标定,其特征在于包括以下步骤:
(1)根据X射线源参数,估算X射线源辐射强度I;X射线源参数包括软X射线源工作功率、X射线光子能量、辐射立体角范围和X射线源能量转化效率;
(2)根据估算的X射线源辐射强度I和软X射线CCD探测器像元尺寸,估算X射线源到软X射线探测器的距离L,使得单位像元单位时间内接收到的X射线光子数远小于1;
(3)将软X射线CCD探测器固定在距离X射线源距离为L处,且使像面垂直于X射线源与X射线CCD探测器中心连线;
(4)在单位时间t内,使用软X射线CCD探测器采集X射线源辐射的X射线光子;
(5)统计单位时间t内,软X射线CCD探测面积S上获得信号的像元数A,即可得到单位时间和单位面积内X射线源的辐射强度:A2/。
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