CN106526520B - 一种光学电流互感器光源波动干扰试验系统 - Google Patents

一种光学电流互感器光源波动干扰试验系统 Download PDF

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Abstract

本发明实施例公开了一种光学电流互感器光源波动干扰试验系统,将光源光强控制、被测电流控制和数据采集、分析处理系统相结合,实现待测光学电流互感器的光强性能测试的自动化,提高检测效率,解决了现有技术中通常通过手动多次在控制主机上调节光源的驱动电流从而间接地调节光强,再进行全量程电流的测量造成的测试效率低下、影响待测光学电流互感器的性能测试进度的技术问题。本发明实施例方法包括:控制主机、大电流发生器、与所述大电流发生器连接的标准互感器和待测光学电流互感器、与所述控制主机和所述待测光学电流互感器连接的采集单元、与所述控制主机和所述标准互感器以及所述采集单元同时通信连接的电子式互感器校验仪。

Description

一种光学电流互感器光源波动干扰试验系统
技术领域
本发明涉及光学电流互感器性能测试领域,尤其涉及一种光学电流互感器光源波动干扰试验系统。
背景技术
基于Faraday磁光效应和Sagnac结构的待测光学电流互感器(以下简称OCT)具有许多优异的性能特点,如安全性高、测量品质优良、结构简单、体小质轻、低碳环保、智能化水平高等,成为未来电流互感器的发展方向。在OCT的工程应用中,应用环境非常恶劣,光源受环境的干扰比较严重,除研究较多的光源波长的影响外,常常忽略了光源光强的影响。而在实际的故障分析中,常发现光源的光强在长期运行中,将会发生衰减或波动,其影响程度是未知的,如是否存在光强变化的上下限值,光强持续波动是否会对OCT的输出和工作状态造成影响。
现在,在OCT的性能测量中,通常由手动多次在控制主机上调节光源的驱动电流,从而间接地调节光强,再进行全量程电流的测量,然而这样的测试效率低下,影响OCT的性能测试的进度。
发明内容
本发明实施例提供了一种光学电流互感器光源波动干扰试验系统,将光源光强控制、被测电流控制和数据采集、分析处理系统相结合,实现待测光学电流互感器的光强性能测试的自动化,提高检测效率,解决了现有技术中通常通过手动多次在控制主机上调节光源的驱动电流从而间接地调节光强,再进行全量程电流的测量造成的测试效率低下、影响待测光学电流互感器的性能测试进度的技术问题。
本发明实施例提供了一种光学电流互感器光源波动干扰试验系统,包括:
控制主机、大电流发生器、与所述大电流发生器连接的标准互感器和待测光学电流互感器、与所述控制主机和所述待测光学电流互感器连接的采集单元、与所述控制主机和所述标准互感器以及所述采集单元同时通信连接的电子式互感器校验仪;
所述控制主机用于通过控制指令控制所述采集单元为所述待测光学电流互感器提供光源并设置所述电子式互感器校验仪的参数;
所述大电流发生器用于提供所述标准互感器和所述待测光学电流互感器所需的一次侧电流;
所述标准互感器用于提供精准的测量值来作为所述待测光学电流互感器电流测量误差比对的基准值;
所述采集单元用于根据接收的所述控制主机的控制指令通过改变光源光强驱动电流间接地改变所述待测光学电流互感器的光源光强并向所述电子式互感器校验仪提供采集处理后的电流信号;
所述电子式互感器校验仪用于实时采集、分析和处理所述标准互感器和经所述采集单元处理后的所述待测光学电流互感器的输出数据并实时分析所述待测光学电流互感器的性能和工作状态。
从以上技术方案可以看出,本发明实施例具有以下优点:
本发明实施例将光源光强控制、被测电流控制和数据采集、分析处理系统相结合,实现待测光学电流互感器的光强性能测试的自动化,提高检测效率,解决了现有技术中通常通过手动多次在控制主机上调节光源的驱动电流从而间接地调节光强,再进行全量程电流的测量造成的测试效率低下、影响待测光学电流互感器的性能测试进度的技术问题,并很好的解决了施工过程和工程应用过程中光源光强受干扰对光学式电流互感器性能影响的量化评价难题。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1为本发明实施例提供的一种光学电流互感器光源波动干扰试验系统的结构示意图。
具体实施方式
本发明实施例提供了一种光学电流互感器光源波动干扰试验系统,将光源光强控制、被测电流控制和数据采集、分析处理系统相结合,实现待测光学电流互感器的光强性能测试的自动化,提高检测效率,解决了现有技术中通常通过手动多次在控制主机上调节光源的驱动电流从而间接地调节光强,再进行全量程电流的测量造成的测试效率低下、影响待测光学电流互感器的性能测试进度的技术问题。
为使得本发明的发明目的、特征、优点能够更加的明显和易懂,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,下面所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而非全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。
请参阅图1,本发明实施例提供的一种光学电流互感器光源波动干扰试验系统,包括:控制主机1、大电流发生器2、与大电流发生器2连接的标准互感器3和待测光学电流互感器4、与控制主机1和待测光学电流互感器4连接的采集单元5、与控制主机1和标准互感器3以及采集单元5同时通信连接的电子式互感器校验仪6;
控制主机1用于通过控制指令控制采集单元5为待测光学电流互感器4提供光源并设置电子式互感器校验仪6的参数;
大电流发生器2用于提供标准互感器3和待测光学电流互感器4所需的一次侧电流;
标准互感器3用于提供精准的测量值来作为待测光学电流互感器4电流测量误差比对的基准值;
采集单元5用于根据接收的控制主机1的控制指令通过改变光源光强驱动电流间接地改变待测光学电流互感器4的光源光强并向电子式互感器校验仪提6供采集处理后的电流信号;
电子式互感器校验仪6用于实时采集、分析和处理标准互感器3和经采集单元5处理后的待测光学电流互感器7的输出数据并实时分析待测光学电流互感器4的性能和工作状态。
上面是对一种光学电流互感器光源波动干扰试验系统结构和连接方式进行的详细说明,为便于理解,下面将以一具体应用场景对一种光学电流互感器光源波动干扰试验系统的应用进行说明,应用例包括:
首先通过控制主机1控制采集单元5输出的光源光强在工作点上,进行OCT的测量试验,验证OCT在工作点上工作时的稳定性,通过大电流发生器2向标准互感器3和待测光学电流互感器4输出一次侧电流进行测试;
然后,控制光源光强在工作点附近波动时,进行OCT的测量试验,验证工作点偏移过程中OCT的稳定性,通过大电流发生器2向标准互感器3和待测光学电流互感器4输出一次侧电流进行测试;
随后,控制光源光强至上限值附近,进行OCT的测量试验,找到OCT不能正常工作的光源光强上限值,通过大电流发生器2向标准互感器3和待测光学电流互感器4输出一次侧电流进行测试;
再者,控制光源光强至下限值附近,进行OCT的测量试验,找到OCT不能正常工作的光源光强下限值,通过大电流发生器2向标准互感器3和待测光学电流互感器4输出一次侧电流进行测试;
最后记录待测光学电流互感器4停止正常工作时的光源光强驱动电流值(上、下极限值),以及在调节光源光强驱动电流时,待测光学电流互感器4输出准确度超差的测量电流点和光源光强驱动电流值,以及波形的分析和处理结果。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为描述的方便和简洁,上述描述的系统,装置和单元的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的系统,装置和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,所述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM,Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述,以上实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (1)

1.一种光学电流互感器光源波动干扰试验系统,其特征在于,包括:控制主机、大电流发生器、与所述大电流发生器连接的标准互感器和待测光学电流互感器、与所述控制主机和所述待测光学电流互感器连接的采集单元、与所述控制主机和所述标准互感器以及所述采集单元同时通信连接的电子式互感器校验仪;
所述控制主机用于通过控制指令控制所述采集单元为所述待测光学电流互感器提供光源并设置所述电子式互感器校验仪的参数;
所述大电流发生器用于提供所述标准互感器和所述待测光学电流互感器所需的一次侧电流;
所述标准互感器用于提供精准的测量值来作为所述待测光学电流互感器电流测量误差比对的基准值;
所述采集单元用于根据接收的所述控制主机的控制指令通过改变光源光强驱动电流间接地改变所述待测光学电流互感器的光源光强并向所述电子式互感器校验仪提供采集处理后的电流信号;
所述电子式互感器校验仪用于记录待测光学电流互感器停止正常工作时的光源光强驱动电流值,以及在调节光源光强驱动电流时,待测光学电流互感器输出准确度超差的测量电流点和光源光强驱动电流值,以及波形的分析和处理结果。
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