CN106462298B - 模块和用于运行模块的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提出一种用于提供人机接口的模块，其中，所述模块配置用于定位在测位区中对象的测位，其中，所述模块配置用于产生初级射束，其中，所述模块具有扫描镜结构，其中，所述扫描镜结构能够如此被控制，使得由所述初级射束实施在所述测位区内基本上沿辐射面的扫描运动，其中，所述模块如此配置，使得如果通过所述初级射束与定位在所述辐射面中的对象的相互作用产生次级信号，则探测所述次级信号，其中，所述模块配置用于根据所述次级信号产生测位信息，其中，所述模块具有用于产生所述初级射束的光源和用于探测所述次级信号的光学探测装置，其中，所述光源、所述扫描镜结构以及所述光学探测装置集成在所述模块中。

Description

模块和用于运行模块的方法
技术领域
本发明基于一种根据权利要求1的前序部分的模块。
背景技术
众所周知用于提供人机接口的设备。
发明内容
本发明的任务在于，提出一种用于提供人机接口的模块，所述模块具有相对紧凑的结构型式并且由此可多方面地应用。
根据并列的权利要求的根据本发明的模块和根据本发明的方法相比现有技术具有以下优点：提供相对紧凑并且简单设计的模块，该模块尽管如此可以相对精确并且可靠地确定用户命令。此外能够实现对象的、尤其手指的特别快速的测位，从而实现具有非常灵活的应用可能性的模块，尤其用于通过检测用户姿势来识别用户命令。光源、扫描镜结构以及光学探测装置如此汇总在唯一的根据本发明的模块中，使得模块可以灵活的方式安装到多个不同的设备类型中。基于模块化结构，根据组合部件原理(Baukasten)原理可以将各个部件或整个模块更灵活地匹配于不同要求。通过应用扫描镜结构——其尤其包括微机电系统(MEMS)——根据本发明的模块提供如下优点，即提供相比于现有技术相对大幅小型化的模块，该模块用于提供人机接口。人机接口在此称为HMI，而模块称为HMI模块。
尤其应将人机接口理解为如下用户接口，通过该用户接口人员可以与电设备和/或模块如此相互作用或者可以输入命令，使得电设备和/或模块通过人员控制和/或操作。该模块尤其用作用于电设备的命令输入装置。优选地，对象是手指、笔或其他物品，其由用户定位在测位区中和/或由用户使其在测位区中运动。测位在此尤其表示：确定对象相对于模块的位置坐标，其中，尤其由位置坐标探测对象与模块之间的距离和/或对象相对于模块的速度。初级射束与对象的相互作用尤其表示：初级射束在对象上被反射，从而次级信号是经反射的初级射束的一部分，该部分可通过光学探测装置探测。优选地，光源配置用于产生辐射到测位区中的初级射束，其中，初级射束例如包括可见光和/或红外光。尤其应将初级射束(基本上沿辐射面)的扫描运动理解为初级射束在测位区的两个测位边界之间的周期性的网格式或行式的运动，其中，初级射束尤其是连续的或脉冲式的光束。优选地，光学探测装置配置用于探测次级信号，其中，次级信号尤其通过初级射束与对象的相互作用而产生并且因此如果对象定位在辐射面中则次级信号是可探测的。
本发明有利的构型和扩展方案可由从属权利要求以及参照附图的说明书得出。
根据一个优选的扩展方案设置，所述扫描镜结构能够被调节到在两个最大偏转位置之间的偏转位置上，其中，所述扫描镜结构如此配置，使得所述初级射束在所述测位平面内的扫描运动期间在所述测位区的两个测位边界之间运动。
由此有利地可能的是，以高精度定位对象。基本上沿辐射面实现的扫描运动在此尤其表示基本上单行的扫描运动。
根据另一优选的扩展方案设置，所述扫描镜结构是微机电系统(MEMS)，其中，所述扫描镜结构具有微机电扫描镜元件，其中，所述扫描镜元件尤其具有能够绕第一轴线和/或绕与所述第一轴线基本上垂直的第二轴线摆动的镜单元，其中，所述镜单元尤其能够绕所述第一和第二轴线或者仅仅绕所述第一轴线摆动。
由此有利地可能的是，提供相对紧凑的模块，所述模块尽管如此允许对象的相对精确和快速的测位。
根据另一优选的扩展方案设置，所述模块具有广角光学器件，其中，所述广角光学器件或者扩张光学器件(Aufweitungsoptik)包括凸镜光学器件、凹镜光学器件、衍射光学元件(DOE)和/或透镜或者透镜系统。
由此有利地可能的是，随着可运动的扫描镜元件的相对小的偏转或偏转位置的相对小的变化通过广角光学器件产生相对大的张角。由此可以借助仅仅一个唯一可运动的镜结构精确并且快速地对对象测位。广角光学器件尤其抗相对运动(bewegungsfest)地集成在模块中。
根据另一优选的扩展方案设置，所述模块具有集成在所述模块中的另一光源，其中，所述另一光源配置用于产生另一初级射束，其中，所述扫描镜结构如此配置，使得所述另一初级射束的另一扫描运动基本上沿另一辐射面在所述测位区内实现，其中，所述模块如此配置，使得如果通过所述另一初级射束与定位在所述另一辐射面中的对象的相互作用产生另一次级信号，则探测所述另一次级信号，其中，所述模块配置用于根据所述另一次级信号产生另一测位信息。
由此有利地可能的是，还进一步提高不仅在辐射面中而且在另一辐射面中对象测位的精度。
根据另一优选的扩展方案设置，
所述扫描镜元件配置用于产生所述扫描运动并且用于产生所述另一扫描运动；或者
所述扫描镜结构具有另一扫描镜元件，其中，所述扫描镜元件配置用于产生扫描运动，并且所述另一扫描镜元件配置用于产生所述另一扫描运动。
由此有利地可能的是，为了提高测位精度，通过不同方式实现两个辐射面并且因此将模块匹配于不同要求。
根据另一优选的扩展方案设置，所述辐射面和所述另一辐射面相互平行地布置，其中，所述辐射面和所述另一辐射面沿基本上垂直于所述辐射面的投影方向重叠，其中，所述辐射面和所述另一辐射面尤其完全重叠。此外，根据另一优选的扩展方案设置，所述辐射面和所述另一辐射面沿所述投影方向以一辐射间距间隔开，其中，所述辐射间距优选在0与50毫米之间、特别优选在1毫米与5毫米之间，完全特别优选为3毫米。
由此有利地可能的是，还进一步提高测位精度。此外尤其有利地可能的是，如果对象以时间顺序依次穿过辐射面和另一辐射面地运动，则探测对象沿与辐射面的投影方向垂直的对象运动。由此尤其可以探测对象的点击移动或轻拍运动。
根据另一优选的扩展方案设置，所述广角光学器件和所述辐射面沿基本上垂直于辐射面的投影方向布置在不同平面中。
由此有利地可能的是，提供模块的更紧凑的结构型式，因为一方面光源和扫描镜结构而另一方面广角光学器件相叠布置。
根据另一优选的扩展方案设置，所述模块配置用于借助于飞行时间方法和/或借助于强度测量的测位。
由此有利地可能的是，进行对象的相对精确和高分辨率的测位。
根据另一优选的扩展方案设置，所述光学探测装置包括光学探测元件，其中，
所述光学探测元件和所述光源集成在相同的半导体激光构件中，其中，所述半导体激光构件尤其是具有垂直空穴(VCSEL)的表面发射激光器或者具有外部垂直空穴(VeCSEL)的表面发射激光器；或者
所述光学探测元件和所述光源相互分离地布置，其中，所述光学探测元件与所述扫描镜结构具有错位间距(Versatzabstand)，其中，所述错位间距小于5厘米、优选小于2厘米、完全特别优选小于1厘米。
由此有利地可能的是，提供模块的更紧凑和更小的实施方式。
根据另一优选的扩展方案设置，所述电设备能够根据所述测位信息和/或所述另一测位信息被控制。
由此有利地可能的是，使用具有电设备的模块并且由此在电设备上提供人机接口。尤其电设备是便携式电设备、电信终端设备、膝上型电脑、笔记本电脑、个人计算机、电视机或用于电子数据处理的其他设备。
根据本发明的方法的一个优选的扩展方案设置，在第二运行步骤中使朝所述扫描镜结构定向的初级射束如此偏转并且朝所述广角光学器件定向，使得通过所述广角光学器件使所述初级射束偏转到所述辐射面中。通过广角光学器件根据本发明有利地可能的是，可以相比于镜单元的扫描角更大地选择初级射束的扫过的角。光源的射束成形光学器件优选如此匹配于广角光学器件，使得初级射束在广角光学器件之后的射束成形不超过5毫米、优选3毫米、进一步优选1毫米、完全特别优选0.5毫米的直径。
由此有利地可能的是，随着扫描镜结构的相对小的偏转或偏转位置的相对小的变化产生比相对大的张角。由此可以借助仅仅一个唯一的可运动的镜结构精确并且快速地对对象测位。
附图说明
在附图中示出并且在以下描述中进一步阐明本发明的实施例。附图示出：
图1至7：根据本发明的不同实施方式的模块。
具体实施方式
在不同图中相同部分总是设有相同附图标记并且因此通常也分别仅仅一次命名或提及。
在图1中示出根据本发明的一种实施方式的用于提供人机接口的模块2的示意图。模块2在此配置用于布置在辐射面30中的对象4的测位。模块2如此配置，使得初级射束3实施基本上沿辐射面30的扫描运动，其中，如果初级射束3与定位在辐射面30中的对象4如此相互作用使得产生次级信号5，则探测次级信号5。例如，如果初级射束3沿辐射方向101辐射并且射到对象4上并且如果对象由模块2看去沿辐射方向101定位在辐射面30中，则通过初级射束3在对象4上的反射产生次级信号5。
模块2配置用于通过探测次级信号5来对对象4测位，其中，对象4的测位根据距离探测和/或强度探测来实现，其中，距离探测尤其借助于飞行时间方法实现和/或强度探测借助于强度探测实现，其中，强度探测包括在次级信号5的所测量的强度与参考强度之间的强度比较。参考强度例如在参考测量中被测量并且被存储在模块2中。
对象4的测位在此表示整个对象或仅仅一个对象部分(例如在对象4的对象表面上的由初级射束3产生的投影点)的位置确定，其中，位置确定涉及在模块2与对象4或对象部分之间的距离的或间距的确定和/或涉及(与在对象部分关联的)投影点相对于(与另一对象部分关联的)另一投影点的位置的确定，其中，尤其分别在扫描运动期间在不同的时刻产生该投影点和另一投影点。
优选地，模块2具有第一子模块21、第二子模块22、第三子模块23、第四子模块24、第五子模块25、第六子模块26、第七子模块27、第八子模块28和/或另外的子模块。由此提供模块化地构造的模块2，该模块例如根据组合部件原理可灵活地匹配于多个不同的电设备1和/或应用情况。
在模块2的一种示例性的实施方式中，第一子模块21是配置用于产生初级射束3和/或另一初级射束3’的光模块21；和/或，第二子模块22是配置用于产生初级射束3的扫描运动的和/或另一初级射束3’的另一扫描运动的扫描模块22；和/或，第三子模块23是配置用于根据次级信号5和/或另一次级信号5’产生探测信号的第一控制和/或探测模块23；和/或，第四子模块24是用于产生测位信息的分析处理模块24；和/或，第五子模块25是第二控制和/或探测模块25；和/或，第六子模块26是用于控制能量供给的控制模块26；和/或，第七子模块27是摄像机模块；和/或，第八子模块28是配置用于与电设备1通信和/或到电设备1上的数据传输的通信模块28。
在图2中示出根据本发明的一种实施方式的模块2。模块2具有用于产生初级射束3的光源6。光源优选是激光二极管，例如以表面发射激光器的形式。由光源6产生的初级射束3尤其是可见光束3——也即大约380纳米(nm)至780nm的波长的光——或者红外(IR)光束3。
模块2在此具有扫描镜结构7，所述扫描镜结构具有微机电扫描镜元件7。模块2尤其如此配置，使得通过扫描镜结构7以如下方式使初级射束3偏转，使得初级射束3基本上沿(平整的)辐射面30延伸。微机械扫描镜元件7可调整到在(扫描镜元件7或另外的扫描镜元件7’的)两个最大的偏转位置之间的区域中的多个偏转位置中。在所述两个最大偏转位置中的第一最大偏转位置中，通过扫描镜结构7使初级射束3沿辐射面30以第一辐射方向101’辐射。在所述两个最大偏转位置的第二最大偏转位置中，通过扫描镜结构7使初级射束3沿辐射面30以第二辐射方向101’辐射。通过第一辐射方向101’和第二辐射方向101”在此限定测位区30的测位边界101’、101”。尤其在该实施方式中术语测位区30和辐射面30具有相同含义。微机械扫描镜元件7尤其如此配置，使得当以控制信号加载扫描镜元件7时，扫描镜元件7执行在所述两个最大偏转位置之间的偏转运动。初级射束3尤其是激光射束3，例如连续激光射束3或脉冲式激光射束3。
尤其使初级射束3在具有扫描频率的扫描运动期间运动，其中，所述扫描频率与扫描运动的扫描周期关联。尤其使初级射束3在所述扫描周期期间由第一测位边界101’(通过具有附图标记3’的初级射束表示)至第二测位边界101”(通过具有附图标记3”的初级射束表示)并且又回到第一测位边界101’地扫描或摆动。扫描频率优选在1赫兹与2000赫兹(Hz)之间，特别优选在5赫兹与500赫兹之间，完全特别优选在10赫兹与200赫兹之间。
在扫描镜元件7的最大偏转位置之间的区域中的偏转位置中，使初级射束3沿辐射方向101辐射。如果对象4——例如用户手指4如此布置或定位在辐射面30中，使得对象4触碰辐射面30或与辐射面30相交，则通过初级射束3与对象4的相互作用——也即例如反射产生次级信号5。例如使对象4通过对象4沿与辐射面30垂直的投影方向103的对象运动运动到辐射面30中，从而对象4布置或定位在辐射面30中。在此，如果初级射束3(在扫描运动期间)沿辐射方向101辐射，则产生次级信号5。
模块2包括配置用于探测次级信号5的光学探测装置9、9’，所述光学探测装置具有光学探测元件9，例如光电二极管9。在一种替代的实施方式中，光学探测元件9与光源9单片地集成，尤其如果光源是VCSEL。优选地，模块2配置用于根据通过光学探测元件9探测的次级信号5产生探测信号。模块2尤其配置用于根据探测信号产生测位信息。优选地，模块2如此配置用于在探测次级信号5期间产生关于扫描镜元件7的偏转位置的和/或另一扫描镜元件7’的另一偏转位置的位置探测信号，使得时间分辨地根据探测信号和位置探测信号产生测位信息。测位信息尤其包括关于对象4与模块2的距离的距离信息和/或关于对象4相对于模块2的取向方向的取向信息和/或关于在对象4的对象表面上的投影点的位置的位置坐标。模块2尤其配置用于借助于飞行时间方法(英语：Time-of-Flight，TOF，探测)和/或借助于强度比较分别借助时间分辨的分析处理来对对象测位。
在图3中示出根据本发明的一种实施方式的模块2。在此示出具有模块2和底座10的系统，其中，模块2具有模块下侧2‘，模块下侧支承在底座10(支承面)例如桌子上。支承面10在此主要沿平面100延伸。模块2尤其如此配置，使得在模块2以模块下侧2‘支承在支承面10上的情况下辐射面30和主延伸平面100基本上相互平行地布置并且沿垂直于辐射面30的投影方向100在支承面10与辐射面100之间具有辐射距离11。优选地，辐射距离11在0.1毫米与10毫米(mm)之间、特别优选在0.5毫米与5毫米之间、完全特别优选为大约1毫米。
在图3中示出的实施方式中，光源6、扫描镜元件7以及光学探测元件9基本上布置在第一模块平面中而广角光学器件8布置在第二模块平面中，其中，第一和第二模块平面基本上平面平行并且相互间隔开。由此有利地可能的是，提供特别紧凑地设计的模块2。对此替代地，根据本发明可以设置，光源6、扫描镜元件7、光学探测元件9和广角光学器件8布置在一个共同的模块平面中。
在图4中示出根据本发明的一种实施方式的模块2。在此示出错位间距12，其中，错位间距由模块2的第一位置——在该第一位置上初级射束3由模块2辐射——延伸直至模块2的第二位置，在该第二位置上次级信号5由模块2探测。第一位置例如相应于模块2的射束输出区域，而第二位置例如相应于模块2的探测区域，其中，在探测区域布置有光学探测元件9。根据本发明，错位间距12小于5厘米、优选小于2厘米、完全特别优选小于1厘米。
在图5中示出根据本发明的一种实施方式的模块2。在此，模块2包括光源6和另一光源6’。另一光源6’配置用于产生另一初级射束3’。在此，扫描镜结构7配置用于产生另一初级射束3’的基本上沿另一辐射面30’的另一扫描运动。在此，测位区30、30’通过辐射面30和另一辐射面30’形成。另一初级射束3’的另一扫描运动和初级射束3的扫描运动尤其以相同扫描频率或以不同扫描频率和/或同步地或异步地实现。广角光学器件8在此具有镜面元件8’和另一镜面元件8”。通过扫描镜元件7使初级射束3朝镜面元件8’定向，而另一初级射束3’朝另一镜面元件8”定向。在此，镜面元件8’和另一镜面元件8”如此配置，使得初级射束3在沿辐射面30的扫描运动期间辐射而另一初级射束3’在沿另一辐射面30’的另一扫描运动期间辐射。在此，辐射面30和另一辐射面30’沿投影方向103具有辐射间距13。
如果对象4布置在辐射面30中并且初级射束3与对象4相互作用，则产生次级信号5并且通过光学探测元件9探测该次级信号。如果对象4布置在另一辐射面30’中并且另一初级射束3’与对象4相互作用，则产生另一次级信号5’并且通过光学探测元件9探测该另一次级信号。在一种替代的实施方式中(未示出)，次级信号5通过光源6探测而另一次级信号5’通过另一光源6’探测，尤其如果光源6和另一光源6’是VCSEL。通过使用两个(平整的和相互平行布置的)辐射面30、30’有利地可能的是，以相对高的精度对对象4测位。
在图6中示出根据本发明的一种实施方式的模块2。在此示出的实施方式与在图5中示出的实施方式的区别在于，光源6和另一光源6’如此定位或布置，使得如此引导初级射束3和另一初级射束3’，使得初级射束3基本上沿辐射面30而另一初级射束3’基本上沿另一辐射面30’辐射，其中，初级射束3和另一初级射束3’从光源6或另一光源6’出发基本上在相同点上射到扫描镜结构7上。广角光学器件8例如构造为自由型式。
在图7中示出根据本发明的一种实施方式的模块2。在此，模块2具有扫描镜结构7、7’以及广角光学器件8，所述扫描镜结构具有微机电扫描镜元件7和另一微机电扫描镜元件7’。在此，辐射面30和另一辐射面30’布置在相同平面30、30’中，其中，初级射束3的扫描运动基本上沿辐射面30通过扫描镜元件7产生，而另一初级射束3’的另一扫描运动基本上沿另一辐射面30’通过另一扫描镜元件7’产生。由此有利地可能的是，实现用于对象4的测位的相对高的角分辨率。
替代地，例如光源6是VCSEL多普勒传感器，其中，VCSEL多普勒传感器配置用于产生初级射束3并且用于探测次级信号5。

Claims (25)

1.一种用于提供人机接口的模块(2)，其中，所述模块(2)配置用于定位在测位区(30、30’)中对象(4)的测位，其中，所述模块(2)配置用于产生初级射束(3)，其中，所述模块(2)具有扫描镜结构(7、7’)，其中，所述扫描镜结构(7、7’)能够如此被控制，使得由所述初级射束(3)实施在所述测位区(30、30’)内基本上沿辐射面(30)的扫描运动，其中，所述模块(2)如此配置，使得如果通过所述初级射束(3)与定位在所述辐射面(30)中的对象(4)的相互作用产生次级信号(5)，则探测所述次级信号(5)，其中，所述模块(2)配置用于根据所述次级信号(5)产生测位信息，其特征在于，所述模块(2)具有用于产生所述初级射束(3)的光源(6)和用于探测所述次级信号(5)的光学探测装置(9、9’)，其中，所述光源(6)、所述扫描镜结构(7、7’)以及所述光学探测装置(9、9’)集成在所述模块(2)中，其中，所述模块(2)具有集成在所述模块(2)中的另一光源(6’)，其中，所述另一光源(6’)配置用于产生另一初级射束(3’)，其中，所述扫描镜结构(7、7’)如此配置，使得所述另一初级射束(3’)的另一扫描运动基本上沿另一辐射面(30’)在所述测位区(30、30’)内实现，其中，所述模块(2)如此配置，使得如果通过所述另一初级射束(3’)与定位在所述另一辐射面(30’)中的对象(4)的相互作用产生另一次级信号(5’)，则探测所述另一次级信号(5’)，其中，所述模块(2)配置用于根据所述另一次级信号(5’)产生另一测位信息。
2.根据权利要求1所述的模块，其特征在于，所述扫描镜结构(7、7’)能够被调节到在两个最大偏转位置之间的偏转位置上，其中，所述扫描镜结构(7、7’)如此配置，使得所述初级射束(3)在所述测位区(30)内的扫描运动期间在所述测位区(30、30’)的两个测位边界(101’、101”)之间运动。
3.根据权利要求1或2所述的模块(2)，其特征在于，所述扫描镜结构(7、7’)是微机电系统(MEMS)，其中，所述扫描镜结构(7、7’)具有微机电扫描镜元件(7)。
4.根据权利要求1或2所述的模块(2)，其特征在于，所述模块(2)具有广角光学器件(8)，其中，所述广角光学器件(8)包括凸镜光学器件、凹镜光学器件、衍射光学元件和/或透镜。
5.根据权利要求3所述的模块(2)，其特征在于，
所述扫描镜元件(7)配置用于产生所述扫描运动并且用于产生所述另一扫描运动；或者
所述扫描镜结构(7、7’)具有另一扫描镜元件(7’)，其中，所述扫描镜元件(7)配置用于产生扫描运动，并且所述另一扫描镜元件(7’)配置用于产生所述另一扫描运动。
6.根据权利要求1或2所述的模块(2)，其特征在于，所述辐射面(30)和所述另一辐射面(30’)相互平行地布置，其中，所述辐射面(30)和所述另一辐射面(30’)沿基本上垂直于所述辐射面(30)的投影方向(103)重叠。
7.根据权利要求6所述的模块(2)，其特征在于，所述辐射面(30)和所述另一辐射面(30’)沿所述投影方向(103)以一辐射间距(13)间隔开。
8.根据权利要求1或2所述的模块(2)，其特征在于，所述模块(2)配置用于借助于飞行时间方法和/或借助于强度测量的测位。
9.根据权利要求1或2所述的模块(2)，其特征在于，所述光学探测装置(9、9’)包括光学探测元件(9)，其中，
所述光学探测元件(9)和所述光源(6)集成在相同的半导体激光构件中；或者
所述光学探测元件(9)和所述光源(6)相互分离地布置，其中，所述光学探测元件(9)与所述扫描镜结构(7、7’)具有错位间距(12)，其中，所述错位间距(12)小于5厘米。
10.根据权利要求3所述的模块(2)，其特征在于，所述扫描镜元件(7)具有能够绕第一轴线(701)和/或绕与所述第一轴线(701)基本上垂直的第二轴线(702)摆动的镜单元(71)。
11.根据权利要求10所述的模块(2)，其特征在于，所述镜单元(71)能够绕所述第一轴线(701)和第二轴线(702)或者仅仅绕所述第一轴线(701)摆动。
12.根据权利要求4所述的模块(2)，其特征在于，所述广角光学器件(8)优选与所述光源(6)的射束成形光学器件如此协调，使得所述初级射束(3)的在所述广角光学器件(8)之后的射束成形不超过5毫米的直径。
13.根据权利要求4所述的模块(2)，其特征在于，所述广角光学器件(8)优选与所述光源(6)的射束成形光学器件如此协调，使得所述初级射束(3)的在所述广角光学器件(8)之后的射束成形不超过3毫米的直径。
14.根据权利要求4所述的模块(2)，其特征在于，所述广角光学器件(8)优选与所述光源(6)的射束成形光学器件如此协调，使得所述初级射束(3)的在所述广角光学器件(8)之后的射束成形不超过1毫米的直径。
15.根据权利要求4所述的模块(2)，其特征在于，所述广角光学器件(8)优选与所述光源(6)的射束成形光学器件如此协调，使得所述初级射束(3)的在所述广角光学器件(8)之后的射束成形不超过0.5毫米的直径。
16.根据权利要求6所述的模块(2)，其特征在于，所述辐射面(30)和所述另一辐射面(30’)尤其完全重叠。
17.根据权利要求7所述的模块(2)，其特征在于，所述辐射间距(13)在0与50毫米之间。
18.根据权利要求7所述的模块(2)，其特征在于，所述辐射间距(13)在1毫米与5毫米之间。
19.根据权利要求7所述的模块(2)，其特征在于，所述辐射间距(13)为3毫米。
20.根据权利要求9所述的模块(2)，其特征在于，所述半导体激光构件是具有垂直空穴的表面发射激光器或者具有外部垂直空穴的表面发射激光器。
21.根据权利要求9所述的模块(2)，其特征在于，所述错位间距(12)小于2厘米。
22.根据权利要求9所述的模块(2)，其特征在于，所述错位间距(12)小于1厘米。
23.一种电设备(1)，所述电设备具有根据以上权利要求中任一项所述的模块(2)，其特征在于，所述电设备(1)能够根据所述测位信息和/或所述另一测位信息被控制。
24.一种用于运行根据权利要求1至22中任一项所述的模块(2)的方法，其中，如果对象(4)位于所述测位区(30、30’)中，则通过所述模块(2)对所述对象测位，其特征在于，在第一运行步骤中通过所述光源(6)产生初级射束(3)，其中，使所述初级射束(3)朝所述扫描镜结构(7、7’)定向，其中，在第二运行步骤中如此控制所述扫描镜结构(7、7’)，使得由所述初级射束(3)实施在所述测位区(30、30’)的辐射面(30)中的扫描运动，其中，在第三运行步骤中，在所述扫描镜结构(7、7’)的偏转位置中，如果在所述扫描镜结构(7、7’)的偏转位置中所述初级射束(3)与所述对象(4)相互作用，则通过所述光学探测装置(9、9’)探测次级信号(5)，其中，在第四运行步骤中根据所探测的次级信号(5)产生测位信息。
25.根据权利要求24所述的方法，其特征在于，在第二运行步骤中使朝所述扫描镜结构(7、7’)定向的初级射束(3)如此偏转并且朝广角光学器件(8)定向，使得通过所述广角光学器件(8)使所述初级射束(3)偏转到所述辐射面(30)中。
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