CN106452968A - 一种pcie设备可靠性的加速检测方法 - Google Patents

一种pcie设备可靠性的加速检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN106452968A
CN106452968A CN201610946650.4A CN201610946650A CN106452968A CN 106452968 A CN106452968 A CN 106452968A CN 201610946650 A CN201610946650 A CN 201610946650A CN 106452968 A CN106452968 A CN 106452968A
Authority
CN
China
Prior art keywords
pcie
reliability
measured
pcie device
control unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201610946650.4A
Other languages
English (en)
Inventor
刘涛
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Zhengzhou Yunhai Information Technology Co Ltd
Original Assignee
Zhengzhou Yunhai Information Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Zhengzhou Yunhai Information Technology Co Ltd filed Critical Zhengzhou Yunhai Information Technology Co Ltd
Priority to CN201610946650.4A priority Critical patent/CN106452968A/zh
Publication of CN106452968A publication Critical patent/CN106452968A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L43/00—Arrangements for monitoring or testing data switching networks
    • H04L43/08—Monitoring or testing based on specific metrics, e.g. QoS, energy consumption or environmental parameters
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F13/00—Interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
    • G06F13/38—Information transfer, e.g. on bus
    • G06F13/40—Bus structure
    • G06F13/4004—Coupling between buses
    • G06F13/4022—Coupling between buses using switching circuits, e.g. switching matrix, connection or expansion network

Abstract

本发明公开了一种PCIE设备可靠性的加速检测方法，所述方法通过建立PCIE可靠性测试控制单元，实现PCIE设备数据的发送与设备状态控制，待测PCIE设备直连安装于该PCIE可靠性测试控制单元上，所述PCIE可靠性测试控制单元的PCIE数据总线直接连接至待测PCIE设备上，同时所述PCIE可靠性测试控制单元直接控制待测PCIE设备的复位reset信号，实现硬复位控制权限，通过采用多组高强度、高频次的集中式快速强化功能单项测试，将PCIE设备的潜在隐患快速抓取出来。本发明方法可以很方便的实现PCIE设备可靠性的加速检测，不仅达到了可靠性要求，而且实现高性能要求，实现服务器系统的可靠性、稳定性。

Description

一种PCIE设备可靠性的加速检测方法
技术领域
本发明涉及计算机通信技术领域，具体涉及一种PCIE设备可靠性的加速检测方法，来解决当前PCIE设备可靠性检测中的测试覆盖度不足及测试资源投入大的问题，为了保证服务器系统的快速稳定运行，在实际服务器系统PCIE设备可靠性检测运行过程中，实现可靠性的加速检测尤为重要，并成为决定服务器可靠性优势的关键要素之一。
背景技术
服务器系统中以PCIE协议进行数据交换的设备越来越多，各种数据借助PCIE总线的使用，不断在服务器之间交换。PCIE设备质量可靠性越来越重要，成为服务器系统中关键的传输路径。为了保证当前的服务器系统PCIE设备稳定工作，服务器系统上线使用前，需要经过可靠的设备工作检测，以保证PCIE设备在长期的工作环境中稳定工作。
当前，针对PCIE设备可靠性的检测，均采用开关机重启、系统加压方式，使卡工作在高负载条件下，通过加长测试时间、加大测试样本来使稳定性问题尽可能在服务器出厂呈现出来，当前PCIE设备可靠性的检测方法存在较大的弊端：一是测试方法单一且测试周期长，对于低概率的稳定性问题无法及时复现出来，测试关注焦点仅停留在压力条件下系统的稳定性，对于可能存在稳定性隐患的系统状态切换过程，有效测试力度不足；二是测试资源投入大，需要投入数十台服务器系统进行同步测试。针对当前PCIE设备可靠性检测中的测试覆盖度不足及测试资源投入大的问题，为了保证服务器系统的快速稳定运行，在实际服务器系统PCIE设备可靠性检测运行过程中，实现可靠性的加速检测尤为重要，并成为决定服务器可靠性优势的关键要素之一。
发明内容
本发明要解决的技术问题是：本发明针对服务器PCIE设备可靠性检测过程中遇到的上述问题，结合PCIE链路信号等关键电气因素，提供一种PCIE设备可靠性的加速检测方法。
本发明所采用的技术方案为：
一种PCIE设备可靠性的加速检测方法，所述方法通过建立PCIE可靠性测试控制单元，实现PCIE设备数据的发送与设备状态控制，待测PCIE设备直连安装于该PCIE可靠性测试控制单元上，所述PCIE可靠性测试控制单元的PCIE数据总线直接连接至待测PCIE设备上，同时所述PCIE可靠性测试控制单元直接控制待测PCIE设备的复位reset信号，实现硬复位控制权限，通过采用多组高强度、高频次的集中式快速强化功能单项测试，将PCIE设备的潜在隐患快速抓取出来。
所述方法通过PCIE可靠性测试控制单元，引导PCIE设备完成初始化阶段，监测PCIE链路传输状态，并向PCIE设备发送数据处理包；所述数据处理包为指令响应包，通过要求PCIE设备将指令中的数据进行运算后，反馈给PCIE可靠性测试控制单元，确认待测PCIE设备响应正常。
所述方法通过PCIE可靠性测试控制单元，启动链路速率快速切换模式，通过向待测PCIE设备发送速率切换指令，使PCIE链路在GEN1、GEN2、GEN3之间依次反复切换，总共切换次数为10000次；在向待测PCIE设备发送速率切换指令的同时，对待测PCIE设备的PCIE速率进行读取，若读取当前的待测PCIE设备的PCIE速率与期望值不同，则停止测试，此时待测PCIE设备即呈现出链路速率切换问题。
所述方法通过PCIE可靠性测试控制单元向待测PCIE设备发出复位reset信号，实现硬复位控制，同时PCIE可靠性测试控制单元实时监测待测PCIE设备的复位完成情况，当待测PCIE设备完成复位后，PCIE可靠性测试控制单元再次向待测PCIE设备发出复位reset信号，依次往复，总共测试次数为1000次，若读取当前的待测PCIE设备无法正常复位，则停止测试，此时待测PCIE设备即呈现出复位初始化问题。
所述方法通过PCIE可靠性测试控制单元向PCIE设备发出链路状态切换指令，即将PCIE 链路的power状态在link0、link1（空闲与繁忙）之间切换，同时PCIE可靠性测试控制单元实时监测PCIE 链路的power状态情况，总共切换次数为1000次，若读取当前的PCIE 链路power状态无法正常切换，则停止测试，此时待测PCIE设备即呈现出PCIE 链路power状态问题。
本发明的有益效果为：
本发明方法可以很方便的实现PCIE设备可靠性的加速检测，不仅达到了可靠性要求，而且实现高性能要求，实现服务器系统的可靠性、稳定性。
附图说明
图1为本发明方法实施流程示意图。
具体实施方式
下面根据说明书附图，结合具体实施方式对本发明进一步说明：
1、建立PCIE可靠性测试控制单元，采用基于FPGA芯片实现，带宽设置为X16，待测PCIE设备直连安装于该测试控制单元的PCIE标准槽位上；
2、通过PCIE可靠性测试控制单元，引导待测PCIE设备完成初始化阶段，监测PCIE链路传输状态，并向待测PCIE设备发送数据处理包，确认待测PCIE设备响应正常；
3、通过PCIE可靠性测试控制单元，启动链路速率快速切换模式，通过向待测PCIE设备发送速率切换指令，使PCIE链路在GEN1、GEN2、GEN3之间依次反复切换；
4、通过PCIE可靠性测试控制单元向待测PCIE设备发出复位reset信号，即将reset信号主动设置为低电平，使待测PCIE设备进入复位状态，实现硬复位控制；
5、通过PCIE可靠性测试控制单元向待测PCIE设备发出链路状态切换指令，即将PCIE链路的power状态在link0、link1（空闲与繁忙）之间切换。
实施方式仅用于说明本发明，而并非对本发明的限制，有关技术领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，还可以做出各种变化和变型，因此所有等同的技术方案也属于本发明的范畴，本发明的专利保护范围应由权利要求限定。

Claims (5)

1.一种PCIE设备可靠性的加速检测方法，其特征在于，所述方法通过建立PCIE可靠性测试控制单元，实现PCIE设备数据的发送与设备状态控制，待测PCIE设备直连安装于该PCIE可靠性测试控制单元上，所述PCIE可靠性测试控制单元的PCIE数据总线直接连接至待测PCIE设备上，同时所述PCIE可靠性测试控制单元直接控制待测PCIE设备的复位reset信号，实现硬复位控制权限，通过采用多组高强度、高频次的集中式快速强化功能单项测试，将PCIE设备的潜在隐患快速抓取出来。
2.根据权利要求1所述的一种PCIE设备可靠性的加速检测方法，其特征在于，
所述方法通过PCIE可靠性测试控制单元，引导PCIE设备完成初始化阶段，监测PCIE链路传输状态，并向PCIE设备发送数据处理包；所述数据处理包为指令响应包，通过要求PCIE设备将指令中的数据进行运算后，反馈给PCIE可靠性测试控制单元，确认待测PCIE设备响应正常。
3.根据权利要求1或2所述的一种PCIE设备可靠性的加速检测方法，其特征在于，所述方法通过PCIE可靠性测试控制单元，启动链路速率快速切换模式，通过向待测PCIE设备发送速率切换指令，使PCIE链路在GEN1、GEN2、GEN3之间依次反复切换，在向待测PCIE设备发送速率切换指令的同时，对待测PCIE设备的PCIE速率进行读取，若读取当前的待测PCIE设备的PCIE速率与期望值不同，则停止测试，此时待测PCIE设备即呈现出链路速率切换问题。
4.根据权利要求1或2所述的一种PCIE设备可靠性的加速检测方法，其特征在于，所述方法通过PCIE可靠性测试控制单元向待测PCIE设备发出复位reset信号，实现硬复位控制，同时PCIE可靠性测试控制单元实时监测待测PCIE设备的复位完成情况，当待测PCIE设备完成复位后，PCIE可靠性测试控制单元再次向待测PCIE设备发出复位reset信号，依次往复，若读取当前的待测PCIE设备无法正常复位，则停止测试，此时待测PCIE设备即呈现出复位初始化问题。
5.根据权利要求1或2所述的一种PCIE设备可靠性的加速检测方法，其特征在于，所述方法通过PCIE可靠性测试控制单元向PCIE设备发出链路状态切换指令，即将PCIE 链路的power状态在link0、link1之间切换，同时PCIE可靠性测试控制单元实时监测PCIE 链路的power状态情况，若读取当前的PCIE 链路power状态无法正常切换，则停止测试，此时待测PCIE设备即呈现出PCIE 链路power状态问题。
CN201610946650.4A 2016-10-24 2016-10-24 一种pcie设备可靠性的加速检测方法 Pending CN106452968A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610946650.4A CN106452968A (zh) 2016-10-24 2016-10-24 一种pcie设备可靠性的加速检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610946650.4A CN106452968A (zh) 2016-10-24 2016-10-24 一种pcie设备可靠性的加速检测方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN106452968A true CN106452968A (zh) 2017-02-22

Family

ID=58178413

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610946650.4A Pending CN106452968A (zh) 2016-10-24 2016-10-24 一种pcie设备可靠性的加速检测方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106452968A (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107807867A (zh) * 2017-09-29 2018-03-16 曙光信息产业(北京)有限公司 测试通信链路稳定性的方法及装置
CN110932930A (zh) * 2019-11-13 2020-03-27 苏州浪潮智能科技有限公司 一种服务器pcie链路稳定性的检测方法、装置及介质
CN114817107A (zh) * 2022-06-28 2022-07-29 深圳云豹智能有限公司 Pcie设备切换系统、方法、装置、计算机设备和存储介质

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1878098A (zh) * 2006-07-05 2006-12-13 华为技术有限公司 一种级联设备可靠性测试的方法及系统
CN102541723A (zh) * 2010-12-08 2012-07-04 上海杉达学院 用于软件测试的自动化测试装置
CN102739472A (zh) * 2012-06-29 2012-10-17 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种服务器高频数据传输的稳定性测试方法
CN102968362A (zh) * 2012-11-21 2013-03-13 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种系统开机过程中检测pcie设备完整性的方法
US20150312347A1 (en) * 2012-01-30 2015-10-29 Doosan Infracore Co., Ltd. Method of communication between contruction equipment and management server

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1878098A (zh) * 2006-07-05 2006-12-13 华为技术有限公司 一种级联设备可靠性测试的方法及系统
CN102541723A (zh) * 2010-12-08 2012-07-04 上海杉达学院 用于软件测试的自动化测试装置
US20150312347A1 (en) * 2012-01-30 2015-10-29 Doosan Infracore Co., Ltd. Method of communication between contruction equipment and management server
CN102739472A (zh) * 2012-06-29 2012-10-17 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种服务器高频数据传输的稳定性测试方法
CN102968362A (zh) * 2012-11-21 2013-03-13 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种系统开机过程中检测pcie设备完整性的方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107807867A (zh) * 2017-09-29 2018-03-16 曙光信息产业(北京)有限公司 测试通信链路稳定性的方法及装置
CN107807867B (zh) * 2017-09-29 2020-09-25 曙光信息产业(北京)有限公司 测试通信链路稳定性的方法及装置
CN110932930A (zh) * 2019-11-13 2020-03-27 苏州浪潮智能科技有限公司 一种服务器pcie链路稳定性的检测方法、装置及介质
CN110932930B (zh) * 2019-11-13 2021-08-10 苏州浪潮智能科技有限公司 一种服务器pcie链路稳定性的检测方法、装置及介质
CN114817107A (zh) * 2022-06-28 2022-07-29 深圳云豹智能有限公司 Pcie设备切换系统、方法、装置、计算机设备和存储介质

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106452968A (zh) 一种pcie设备可靠性的加速检测方法
CN102566564B (zh) 一种车载控制器测试系统
US20120136614A1 (en) Wafer inspection system
CN104767657A (zh) 光猫注册及测试系统和方法
CN105071995A (zh) 一种基于带外网络的网络设备巡检方法、装置及系统
CN104954081A (zh) 一种电子设备的测试系统及其测试方法
CN106201755A (zh) 网络设备的复位方法及装置
CN102074273B (zh) 存储器稳态总剂量效应试验测试方法
CN107145426A (zh) 一种bmc 测试me状态异常的方法
CN102420462B (zh) 一种智能变电站过程层智能终端设备
CN103018659A (zh) 一种处理器单粒子效应的频率响应的测试系统及方法
CN116684343A (zh) 一种交换机自动测试方法、装置、系统、设备及介质
CN106019021B (zh) 电子设备测试装置的通用测试工装及其测试方法
CN106814728A (zh) 一种基于产品供电接口时序逻辑的设备检测装置
CN108538132A (zh) 一种物联网嵌入式单片机远程综合实验实训平台
CN115599438A (zh) 应用程序的发布包的构建方法、装置、设备及介质
CN104062530A (zh) 一种移动终端硬件故障检测装置及方法
CN109726055A (zh) 检测PCIe芯片异常的方法及计算机设备
JP6871980B2 (ja) 非集中化環境においてデバイスを制御する方法、非集中化ストレージシステム、非集中化ストレージネットワーク
CN111106981B (zh) 一种pcie通道的检修方法及装置
CN107544465A (zh) 一种对控制装置远程调试的系统及方法
CN111665054A (zh) 一种便携式发动机数字调节器检测装置
CN113704152A (zh) PCIe插槽接口转接设备、测试设备、系统和方法
CN104201772A (zh) 500kV变电站集中监控系统104规约通道巡检方法
CN101072089B (zh) 一种对传输交叉类单板进行测试的装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20170222

RJ01 Rejection of invention patent application after publication