CN106445752A - 显示测试方法和装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种显示测试方法和装置。该方法包括：eDP TCON在BIST模块输出第一图案后，抓取整帧；在BIST模块输出第二图案后，从第二图案中获取选中区域的图案，eDP TCON的存储器中的帧画面更新区域用于指示选中区域的图案的存储位置，预更新区域用于指示选中区域的图案的数据，eDP TCON中的控制寄存器用于控制开启或关闭屏幕自刷新模式2；eDP TCON通过控制寄存器进入屏幕自刷新模式2；将第一图案和第二图案中的选中区域的图案进行混合显示，以对显示进行测试。本发明解决了相关技术中芯片屏幕自刷新功能的测试对eDP source依赖较高，导致测试效率较低、可靠性较差的技术问题。

Description

显示测试方法和装置
技术领域
本发明涉及电子领域，具体而言，涉及一种显示测试方法和装置。
背景技术
屏幕自刷新功能2(PSR2)是eDP1.4a的新特性，最大的特点就是根据输入视频的变化进行屏幕的局部更新，从而降低CPU的功耗。在现有的标准下，PSR2对eDPsource或DPsource的要求很高，例如，eDPsource视频输出支持PSR，PSR2和正常工作模式；eDPsource在不同模式下，要输出相匹配的SDP数据包；eDPsource通过AUX CH与eDP Sink进行关于PSR的通讯。
在现有的市场上，带有标准DP输出接口的显卡，都不支持PSR和PSR2的功能。只有部分笔记本电脑的内置液晶显示屏幕使用的是eDP接口，而其中的也只有一部分高端系统支持PSR和PSR2功能，这个现实对PSR2功能的调试和测试都造成很大的困扰。虽然在实验室内可以使用部分系统搭建出PSR2的平台，但是在进入大规模的量产和使用的情况下，这样的平台无论是稳定性和成本，都不能满足需求。
针对相关技术中芯片屏幕自刷新功能的测试对eDP source依赖较高，导致测试效率较低、可靠性较差的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
发明内容
本发明实施例提供了一种显示测试方法和装置，以至少解决相关技术中芯片屏幕自刷新功能的测试对eDP source依赖较高，导致测试效率较低、可靠性较差的技术问题。
根据本发明实施例的一个方面，提供了一种显示测试方法，包括：eDP TCON在BIST模块输出第一图案之后，抓取整帧，其中，BIST模块用于根据预先配置输出预定分辨率的图案，其中，预定分辨率的图案包括第一图案和第二图案；eDP TCON在BIST模块输出第二图案之后，从第二图案中获取选中区域的图案，其中，eDP TCON的存储器中的帧画面更新区域用于指示选中区域的图案的存储位置，eDP TCON的存储器中的预更新区域用于指示选中区域的图案的数据，eDP TCON中的控制寄存器用于控制开启或关闭屏幕自刷新模式2；eDP TCON通过控制寄存器进入屏幕自刷新模式2；eDP TCON将第一图案和第二图案中的选中区域的图案进行混合显示，以对显示进行测试。
进一步地，BIST模块用于根据预先配置以下信息输出预定分辨率的图案：水平信息、垂直信息、BIST图案、BIST控制寄存器。
进一步地，第一图案由eDP source替代BIST模块输出。
进一步地，帧画面更新区域需要的寄存器包括：行起始地址寄存器、行结束地址寄存器、列起始地址寄存器、列结束地址寄存器。
进一步地，eDP TCON在抓取整帧之前，方法还包括：eDP TCON输入命令，其中，命令用于指示进入屏幕自刷新模式；eDP TCON进入屏幕自刷新模式。
进一步地，在eDP TCON将第一图案和第二图案中的选中区域的图案进行混合显示之后，方法还包括：eDP TCON计算混合显示的数据的校验值。
进一步地，在eDP TCON将第一图案和第二图案中的选中区域的图案进行混合显示之后，方法还包括：eDP TCON退出屏幕自刷新模式2和/或屏幕自刷新模式；eDP TCON接收第三图案；eDP TCON显示第三图案，以对显示进行测试。
根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种显示测试装置，包括：抓取单元，用于eDP TCON在BIST模块输出第一图案之后，抓取整帧，其中，BIST模块用于根据预先配置输出预定分辨率的图案，其中，预定分辨率的图案包括第一图案和第二图案；获取单元，用于eDP TCON在BIST模块输出第二图案之后，从第二图案中获取选中区域的图案，其中，eDPTCON的存储器中的帧画面更新区域用于指示选中区域的图案的存储位置，eDP TCON的存储器中的预更新区域用于指示选中区域的图案的数据，eDP TCON中的控制寄存器用于控制开启或关闭屏幕自刷新模式2；读取单元，用于eDP TCON通过控制寄存器进入屏幕自刷新模式2；第一显示单元，用于eDP TCON将第一图案和第二图案中的选中区域的图案进行混合显示，以对显示进行测试。
进一步地，BIST模块用于根据预先配置以下信息输出预定分辨率的图案：水平信息、垂直信息、BIST图案、BIST控制寄存器。
进一步地，第一图案由eDP source替代BIST模块输出。
进一步地，帧画面更新区域需要的寄存器包括：行起始地址寄存器、行结束地址寄存器、列起始地址寄存器、列结束地址寄存器。
进一步地，装置还包括：输入单元，用于eDP TCON在抓取整帧之前，eDP TCON输入命令，其中，命令用于指示进入屏幕自刷新模式；进入单元，用于eDP TCON进入屏幕自刷新模式。
进一步地，装置还包括：计算单元，用于在eDP TCON将第一图案和第二图案中的选中区域的图案进行混合显示之后，eDP TCON计算混合显示的数据的校验值。
进一步地，装置还包括：退出单元，用于在eDP TCON将第一图案和第二图案中的选中区域的图案进行混合显示之后，eDP TCON退出屏幕自刷新模式2和/或屏幕自刷新模式；接收单元，用于eDP TCON接收第三图案；第二显示单元，用于eDP TCON显示第三图案，以对显示进行测试。
在本发明实施例中，通过eDP TCON在BIST模块输出第一图案后，抓取整帧；在BIST模块输出第二图案后，从第二图案中获取选中区域的图案，eDP TCON的存储器中的帧画面更新区域用于指示选中区域的图案的存储位置，预更新区域用于指示选中区域的图案的数据，eDP TCON中的控制寄存器用于控制开启或关闭屏幕自刷新模式2；eDP TCON通过控制寄存器进入屏幕自刷新模式2；将第一图案和第二图案中的选中区域的图案进行混合显示，以对显示进行测试，达到了PSR2自测试功能降低了对eDPsource或DP source的依赖的目的，从而实现了提高测试效率和可靠性的技术效果，进而解决了相关技术中芯片屏幕自刷新功能的测试对eDP source依赖较高，导致测试效率较低、可靠性较差的技术问题。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
图1是根据本发明实施例的PSR2的标准流程的示意图；
图2是根据本发明实施例的显示测试方法的流程图；
图3是根据本发明实施例的启动BIST模块的流程图；
图4是根据本发明实施例的有DP/eDP source输入时的PSR2的自测试流程的示意图；
图5是根据本发明实施例的无DP/eDP source输入时的PSR2的自测试流程的示意图；
图6是根据本发明实施例的PSR2的自测试功能的显示效果的示意图；以及
图7是根据本发明实施例的显示测试装置的示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
首先，在对本发明实施例进行描述的过程中出现的部分名词或术语适用于如下解释：
eDP source或DP source，具有eDP接口或DP接口的显示端口源。
eDP TCON，具有eDP接口的TCON显示芯片。
根据本发明实施例，提供了一种显示测试方法的方法实施例，需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
在对本发明实施例的显示测试方法进行详细介绍之前，此处首先介绍一下标准的PSR2的进入和退出的流程。图1是根据本发明实施例的PSR2的标准流程的示意图，如图1所示，PSR2的标准流程可以包括以下步骤：
步骤S11，eDP TX，也即eDP source的发送端口，输出第一图案。
步骤S12，eDP TX发送SDP数据包给eDP TCON，eDP TX进入PSR模式。
步骤S13，eDP RX，也即eDP TCON的接收端口，进入PSR模式，抓取整帧数据。
步骤S14，eDP TX输出第二图案，其中，第二图案与第一图案相比只有部分区域发生改变。
步骤S15，eDP TX发送第二图案中选中的区域的更新的SDP数据包给eDP TCON，其中，更新的SDP数据包中包含选中的区域的位置信息。
步骤S16，eDP RX重新获取更新的SDP数据包，并更新第二图案中选中的区域的图案。
步骤S17，eDP TX向eDP TCON发送用于指示退出PSR模式的SDP数据包，其中，该SDP数据包中包含有指示eDP TCON退出PSR模式的信息。
步骤S18，eDP RX重新获取该用于指示退出PSR模式的SDP数据包，退出PSR模式，以正常工作模式工作。
针对上述PSR2的标准流程，需要说明的是，步骤S13、步骤S16以及步骤S18是eDPTCON执行的操作，其他步骤都是eDP Source执行的操作。通过上述步骤可以看出，PSR2的功能对整个系统的依赖度极高，在eDP source不具备相应的能力下，完全无法进行验证，极大的影响了调试和生产。
针对上述PSR2的标准流程存在的缺陷，本发明实施例提供了一种全新的PSR2测试流程。
图2是根据本发明实施例的显示测试方法的流程图，如图2所示，该方法包括如下步骤：
步骤S21，eDP TCON在BIST模块输出第一图案之后，抓取整帧，其中，BIST模块用于根据预先配置输出预定分辨率的图案，其中，预定分辨率的图案包括第一图案和第二图案；
步骤S22，eDP TCON在BIST模块输出第二图案之后，从第二图案中获取选中区域的图案，eDP TCON的存储器中的帧画面更新区域用于指示选中区域的图案的存储位置，预更新区域用于指示选中区域的图案的数据，eDP TCON中的控制寄存器用于控制开启或关闭屏幕自刷新模式2；
步骤S23，eDP TCON通过控制寄存器进入屏幕自刷新模式2；
步骤S24，eDP TCON将第一图案和第二图案中的选中区域的图案进行混合显示，以对显示进行测试。
通过上述步骤，可以实现PSR2自测试功能降低对eDPsource或DP source的依赖的目的，进而解决了相关技术中芯片屏幕自刷新功能的测试对eDP source依赖较高，导致测试效率较低、可靠性较差的技术问题，实现了提高测试效率和可靠性的技术效果。
在步骤S21提供的方案中，本发明实施例第一图案不做具体限定，第一图案可以是任意图案。第一图案可以是BIST模块输出的，也可以是eDP source输出的，该实施例为了减少对eDP source的依赖，优选地利用BIST模块输出第一图案。此处需要说明的是，BIST模块可以用于根据预先配置输出预定分辨率的图案，其中，预定分辨率的图案包括第一图案和第二图案。可选地，BIST模块的作用主要是通过配置寄存器，以输出所需的分辨率数据，来取代从eDP source接收的图案数据。BIST模块主要包括两部分功能,BIST video data配置和PSR2区域数据更新配置。
其中，BIST video data配置需要的寄存器可以如下表1所示：
表1
需要说明的是，BIST模块通过预先配置上述表1中的信息，包括：水平信息Horizontal Information、垂直信息Vertical Information、BIST图案BIST pattern、BIST控制寄存器BIST Control Register，能够实现输入预定分辨率的图案，例如第一图案。
在默认的初始化情况下，BIST模块的电源是关闭的，BIST的功能也是关掉的。当需要打开BIST的时候，可以按照图3所示的流程进行，具体包括以下步骤：
步骤S31，打开BIST模块的电源；
步骤S32，配置需要的分辨率，包括水平分辨率和垂直分辨率；
步骤S33，选择BIST图案；
步骤S34，打开BIST逻辑。
其中，PSR2区域数据更新配置需要的寄存器可以如下表2所示：
表2
需要说明的是，BIST模块对PSR2区域数据更新配置可以包括配置帧画面更新区域、PSR2控制寄存器以及预更新区域的数据，其中，帧画面更新区域的配置可以用于指示第二图案中的选中区域的图案的存储位置，预更新区域的数据配置可以用于指示第二图案中选中区域的图案的数据，例如颜色值，eDP TCON中的PSR2控制寄存器可以用于控制开启或关闭屏幕自刷新模式2，即PSR2。可选地，配置帧画面更新区域需要配置的寄存器可以包括：行起始地址寄存器、行结束地址寄存器、列起始地址寄存器、列结束地址寄存器。配置预更新区域的数据需要配置自定义图案，包括各个颜色，例如白、黑、红、绿、蓝等。
在BIST模块输出第一图案之后，eDP TCON可以抓取该第一图案的整帧数据。可选地，eDP TCON在抓取整帧之前，该实施例的显示测试方法还可以包括以下步骤：
步骤S201，eDP TCON输入命令，其中，该命令可以用于指示eDP TCON进入屏幕自刷新模式；
步骤S202，eDP TCON进入屏幕自刷新模式。
需要说明的是，eDP TCON输入的命令可以支持两个数据通道，分别为：对于eDP TX的AUX CH通道；对于控制器(例如MCU、ARM)的eDP TCON的I2C接口。
在步骤S22提供的方案中，eDP TCON进入屏幕自刷新模式之后，BIST模块可以通过对PSR2区域数据进行更新配置以实现输出第二图案，本发明实施例对第二图案也不做具体限定，其中，第二图案与第一图案不同。在BIST模块输出第二图案之后，该实施例可以从第二图案中获取选中区域的图案，其中，eDP TCON的存储器中的帧画面更新区域用于指示选中区域的图案的存储位置，预更新区域用于指示选中区域的图案的数据，eDP TCON中的控制寄存器用于控制开启或关闭屏幕自刷新模式2。
可选地，PSR2自测试功能需要的寄存器可以包括：帧画面更新区域需要的寄存器和PSR2控制寄存器，其中：
帧画面更新区域需要的寄存器可以包括：行起始地址寄存器、行结束地址寄存器、列起始地址寄存器、列结束地址寄存器，具体地：
帧画面更新区域，行起始地址(Horizontal Line Start Address)
低八位起始地址寄存器：PSR2_H_Line_Start_Addr_L[7:0]
高五位起始地址寄存器：PSR2_H_Line_Start_Addr_H[4:0]
帧画面更新区域，行结束地址(Horizontal Line End Address)
低八位起始地址寄存器：PSR2_H_Line_End_Addr_L[7:0]
高五位起始地址寄存器：PSR2_H_Line_End_Addr_H[4:0]
帧画面更新区域，列起始地址(Vertical Line Start Address)
低八位起始地址寄存器：PSR2_V_Line_Start_Addr_L[7:0]
高五位起始地址寄存器：PSR2_V_Line_Start_Addr_H[4:0]
帧画面更新区域，列结束地址(Vertical Line End Address)
低八位起始地址寄存器：PSR2_V_Line_End_Addr_L[7:0]
高五位起始地址寄存器：PSR2_V_Line_End_Addr_H[4:0]
PSR2控制寄存器，进入PSR2
PSR2_Self_Test_CTRL[0]
PSR2控制寄存器，退出PSR2
PSR2_Self_Test_CTRL[1]
在步骤S23提供的技术方案中，eDP TCON可以通过控制寄存器进入屏幕自刷新模式2，并根据帧画面更新区域的指示存储第二图案中的选中区域的图案，其中，该选中区域的图案可以通过预更新区域中存储的数据进行配置输出。此处需要说明的是，第二图案中的选中区域的图案可以为需要部分区域进行更新的图案。该实施例通过eDP TCON的控制寄存器使得eDP TCON进入PSR2模式，并根据帧画面更新区域的指示存储需要部分区域更新的图案，能够实现在PSR2模式下进行图案局部更新的目的。
在步骤S24提供的技术方案中，第一图案和第二图案中选中区域的图案进行混合显示，能够实现对第一图案中的部分图案进行局部更新，此处的部分图案即为第二图案中选中区域的图案，进而实现对显示进行测试，即实现PSR2自测试功能。
作为一种可选地实施例，在步骤S24eDP TCON将第一图案和第二图案中的选中区域的图案进行混合显示之后，该实施例的显示测试方法还可以包括：步骤S25，eDP TCON计算混合显示的数据的校验值。需要说明的是，混合显示的数据的校验值可以用于指示此次PSR2自测试的性能，该实施例通过计算混合显示的数据的校验值，可以实现根据该校验值可以对PSR2自测试功能进行综合评价的目的。
作为一种可选地实施例，在步骤S24eDP TCON将第一图案和第二图案中的选中区域的图案进行混合显示之后，该实施例的显示测试方法还可以包括：
步骤S26，eDP TCON退出屏幕自刷新模式2和/或屏幕自刷新模式；
步骤S27，eDP TCON接收第三图案；
步骤S28，eDP TCON显示第三图案，以对显示进行测试。
在上述步骤中，该实施例在将第一图案和第二图案中的选中区域的图案进行混合显示，以实现PSR2自测试功能之后，eDP TCON可以退出PSR2模式和/或PSR模式，以正常模式工作。当eDP TCON处于正常工作模式时，可以接收BIST模块输出的第三图案，并通过在eDPTCON中显示该第三图案，实现在正常工作模式下对eDP TCON进行显示测试的目的。此处需要说明的是，第三图案可以是BIST模块通过预先配置输出的图案。该实施例通过在执行完PSR2自测试之后，再对正常工作模式下的eDP TCON进行显示测试，能够提高对eDP TCON进行显示测试的准确度的效果。
PSR2的自测试功能有两种典型的应用，分别为：有DP/eDP source输入、无DP/eDPsource输入。
在有DP/eDP source输入的情况下，PSR2自测试的完整流程可以如图4所示，具体包括以下步骤：
步骤S41，eDP TX，也即eDP source的发送端口，输出第一图案。
步骤S42，eDP TCON输入命令，该命令可以用于指示eDP TCON进入PSR模式，eDPTCON输入的命令可以支持两个数据通道，分别为：对于eDP TX的AUX CH通道；对于控制器(例如MCU、ARM)的eDP TCON的I2C接口。
步骤S43，eDP TCON进入PSR模式，抓取整帧数据。
步骤S44，BIST模块输出第二图案。
步骤S45，eDP TCON输入用于指示进入PSR2模式的命令，并根据预先配置输出第二图案，从第二图案中获取选中区域的图案，其中，eDP TCON的存储器中的帧画面更新区域用于指示选中区域的图案的存储位置，预更新区域用于指示选中区域的图案的数据，eDPTCON中的控制寄存器用于控制开启或关闭屏幕自刷新模式2。
步骤S46，eDP TCON进入PSR2模式，并存储第二图案中选中区域的图案。
步骤S47，eDP TCON将第一图案与第二图案中选中区域的图案混合显示。
步骤S48，eDP TCON计算混合显示的数据的校验值。
步骤S49，eDP TCON退出PSR2模式和/或PSR模式。
步骤S410，eDP TCON以正常模式工作显示正常稳定的图案。
在无DP/eDP source输入的情况下，只需要用到预更新区域的数据SelectiveUpdate Pattern，PSR2自测试的完整流程可以如图5所示，具体包括以下步骤：
步骤S51，BIST模块输出第一图案。
步骤S52，eDP TCON输入命令，该命令可以用于指示eDP TCON进入PSR模式，eDPTCON输入的命令可以支持两个数据通道，分别为：对于eDP TX的AUX CH通道；对于控制器(例如MCU、ARM)的eDP TCON的I2C接口。
步骤S53，eDP TCON进入PSR模式，抓取整帧数据。
步骤S54，BIST模块输出第二图案。
步骤S55，eDP TCON输入用于指示进入PSR2模式的命令，并根据预先配置输出第二图案，从第二图案中获取选中区域的图案，其中，eDP TCON的存储器中的帧画面更新区域用于指示选中区域的图案的存储位置，预更新区域用于指示选中区域的图案的数据，eDPTCON中的控制寄存器用于控制开启或关闭屏幕自刷新模式2。
步骤S56，eDP TCON进入PSR2模式，并存储第二图案中选中区域的图案。
步骤S57，eDP TCON将第一图案与第二图案中选中区域的图案混合显示。
步骤S58，eDP TCON计算混合显示的数据的校验值。
步骤S59，BIST模块输出第三图案。
步骤S510，eDP TCON退出PSR2模式和/或PSR模式。
步骤S511，eDP TCON显示第三图案，以正常模式工作。
图6是根据本发明实施例的PSR2的自测试功能的显示效果的示意图，如图6所示，BIST模块输出第一图案之后，eDP TCON进入PSR模式，并抓取整帧数据；BIST模块输出第二图案之后，eDP TCON进入PSR2模式，实现部分图案局部更新；BIST模块输出第三图案之后，eDP TCON返回正常模式，显示第三图案。
本发明实施例PSR2自测试功能的原理是使用eDP TCON本身的BIST模块，取代从eDP source发送过来的SDP数据包。通过配置自身的寄存器，触发PSR2功能。在这种情况下，可以完全摆脱对系统的依赖。即使是在要求必须有输入源的情况下，也可以只是操作芯片本身就可以实现需求。避免了复杂的操作，以及系统的差异带来的长期调试过程。本发明中的PSR2自测试在芯片的调试以及量产中，加速了PSR2稳定性和可靠性的验证，大大的加快了芯片进入市场的脚步。
根据本发明实施例，还提供了一种显示测试的装置实施例，需要说明的是，该显示测试装置可以用于执行本发明实施例中的显示测试方法，本发明实施例中的显示测试方法可以在该显示测试装置中执行。
图7是根据本发明实施例的显示测试装置的示意图，如图7所示，该装置可以包括：
抓取单元51，用于用于eDP TCON在BIST模块输出第一图案之后，抓取整帧，其中，BIST模块用于根据预先配置输出预定分辨率的图案，其中，预定分辨率的图案包括第一图案和第二图案；获取单元52，用于eDP TCON在BIST模块输出第二图案之后，从第二图案中获取选中区域的图案，eDP TCON的存储器中的帧画面更新区域用于指示选中区域的图案的存储位置，预更新区域用于指示选中区域的图案的数据，eDP TCON中的控制寄存器用于控制开启或关闭屏幕自刷新模式2；读取单元53，用于eDP TCON通过控制寄存器进入屏幕自刷新模式2；第一显示单元54，用于eDP TCON将第一图案和第二图案中的选中区域的图案进行混合显示，以对显示进行测试。
需要说明的是，该实施例中的抓取单元51可以用于执行本申请实施例中的步骤S21，该实施例中的获取单元52可以用于执行本申请实施例中的步骤S22，该实施例中的读取单元53可以用于执行本申请实施例中的步骤S23，该实施例中的第一显示单元54可以用于执行本申请实施例中的步骤S24。上述模块与对应的步骤所实现的示例和应用场景相同，但不限于上述实施例所公开的内容。
可选地，BIST模块可以用于根据预先配置以下信息输出预定分辨率的图案：水平信息、垂直信息、BIST图案、BIST控制寄存器。
可选地，第一图案可以由eDP source替代BIST模块输出。
可选地，帧画面更新区域需要的寄存器可以包括：行起始地址寄存器、行结束地址寄存器、列起始地址寄存器、列结束地址寄存器。
可选地，该事实的显示测试装置还可以包括：输入单元，用于eDP TCON在抓取整帧之前，eDP TCON输入命令，其中，命令用于指示进入屏幕自刷新模式；进入单元，用于eDPTCON进入屏幕自刷新模式。
可选地，该事实的显示测试装置还可以包括：计算单元，用于在eDP TCON将第一图案和第二图案中的选中区域的图案进行混合显示之后，eDP TCON计算混合显示的数据的校验值。
可选地，该事实的显示测试装置还可以包括：退出单元，用于在eDP TCON将第一图案和第二图案中的选中区域的图案进行混合显示之后，eDP TCON退出屏幕自刷新模式2和/或屏幕自刷新模式；接收单元，用于eDP TCON接收第三图案；第二显示单元，用于eDP TCON显示第三图案，以对显示进行测试。
通过本发明实施例的显示测试装置，能够实现PSR2自测试功能降低对eDPsource或DP source的依赖的目的，进而解决了相关技术中芯片屏幕自刷新功能的测试对eDPsource依赖较高，导致测试效率较低、可靠性较差的技术问题，实现了提高测试效率和可靠性的技术效果。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
在本发明的上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的技术内容，可通过其它的方式实现。其中，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如所述单元的划分，可以为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，单元或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (14)

1.一种显示测试方法，其特征在于，包括：
eDP TCON在BIST模块输出第一图案之后，抓取整帧，其中，所述BIST模块用于根据预先配置输出预定分辨率的图案，其中，所述预定分辨率的图案包括所述第一图案和第二图案；
所述eDP TCON在所述BIST模块输出所述第二图案之后，从所述第二图案中获取选中区域的图案，其中，所述eDP TCON的存储器中的帧画面更新区域用于指示所述选中区域的图案的存储位置，所述eDP TCON的存储器中的预更新区域用于指示所述选中区域的图案的数据，所述eDP TCON中的控制寄存器用于控制开启或关闭所述屏幕自刷新模式2；
所述eDP TCON通过所述控制寄存器进入所述屏幕自刷新模式2；
所述eDP TCON将所述第一图案和所述选中区域的图案进行混合显示，以对显示进行测试。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述BIST模块用于根据预先配置以下信息输出预定分辨率的图案：
水平信息、垂直信息、BIST图案、BIST控制寄存器。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一图案由所述eDP source替代所述BIST模块输出。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
所述帧画面更新区域需要的寄存器包括：行起始地址寄存器、行结束地址寄存器、列起始地址寄存器、列结束地址寄存器。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述eDP TCON在抓取所述整帧之前，所述方法还包括：
所述eDP TCON输入命令，其中，所述命令用于指示进入屏幕自刷新模式；
所述eDP TCON进入所述屏幕自刷新模式。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述eDP TCON将所述第一图案和所述第二图案中的所述选中区域的图案进行混合显示之后，所述方法还包括：
所述eDP TCON计算混合显示的数据的校验值。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述eDP TCON将所述第一图案和所述第二图案中的所述选中区域的图案进行混合显示之后，所述方法还包括：
所述eDP TCON退出所述屏幕自刷新模式2和/或所述屏幕自刷新模式；
所述eDP TCON接收第三图案；
所述eDP TCON显示所述第三图案，以对显示进行测试。
8.一种显示测试装置，其特征在于，包括：
抓取单元，用于eDP TCON在BIST模块输出第一图案之后，抓取整帧，其中，所述BIST模块用于根据预先配置输出预定分辨率的图案，其中，所述预定分辨率的图案包括所述第一图案和第二图案；
获取单元，用于所述eDP TCON在所述BIST模块输出所述第二图案之后，从所述第二图案中获取选中区域的图案，其中，所述eDP TCON的存储器中的帧画面更新区域用于指示所述选中区域的图案的存储位置，所述eDP TCON的存储器中的预更新区域用于指示所述选中区域的图案的数据，所述eDP TCON中的控制寄存器用于控制开启或关闭所述屏幕自刷新模式2；
读取单元，用于所述eDP TCON通过所述控制寄存器进入所述屏幕自刷新模式2；
第一显示单元，用于所述eDP TCON将所述第一图案和所述选中区域的图案进行混合显示，以对显示进行测试。
9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述BIST模块用于根据预先配置以下信息输出预定分辨率的图案：
水平信息、垂直信息、BIST图案、BIST控制寄存器。
10.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述第一图案由所述eDP source替代所述BIST模块输出。
11.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，
所述帧画面更新区域需要的寄存器包括：行起始地址寄存器、行结束地址寄存器、列起始地址寄存器、列结束地址寄存器。
12.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
输入单元，用于所述eDP TCON在抓取所述整帧之前，所述eDP TCON输入命令，其中，所述命令用于指示进入屏幕自刷新模式；
进入单元，用于所述eDP TCON进入所述屏幕自刷新模式。
13.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
计算单元，用于在所述eDP TCON将所述第一图案和所述第二图案中的所述选中区域的图案进行混合显示之后，所述eDP TCON计算混合显示的数据的校验值。
14.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
退出单元，用于在所述eDP TCON将所述第一图案和所述第二图案中的所述选中区域的图案进行混合显示之后，所述eDP TCON退出所述屏幕自刷新模式2和/或所述屏幕自刷新模式；
接收单元，用于所述eDP TCON接收第三图案；
第二显示单元，用于所述eDP TCON显示所述第三图案，以对显示进行测试。
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