CN106405360A - 一种带螺栓外形半导体产品老化测试方法 - Google Patents

一种带螺栓外形半导体产品老化测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN106405360A
CN106405360A CN201610379972.5A CN201610379972A CN106405360A CN 106405360 A CN106405360 A CN 106405360A CN 201610379972 A CN201610379972 A CN 201610379972A CN 106405360 A CN106405360 A CN 106405360A
Authority
CN
China
Prior art keywords
semiconductor components
test
devices
burn
aging test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201610379972.5A
Other languages
English (en)
Other versions
CN106405360B (zh
Inventor
袁锟
王明康
代骞
杨辉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
China Zhenhua Group Wiko Electronics Co Ltd (state 873 Factory)
Original Assignee
China Zhenhua Group Wiko Electronics Co Ltd (state 873 Factory)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by China Zhenhua Group Wiko Electronics Co Ltd (state 873 Factory) filed Critical China Zhenhua Group Wiko Electronics Co Ltd (state 873 Factory)
Priority to CN201610379972.5A priority Critical patent/CN106405360B/zh
Publication of CN106405360A publication Critical patent/CN106405360A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN106405360B publication Critical patent/CN106405360B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2642—Testing semiconductor operation lifetime or reliability, e.g. by accelerated life tests

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本发明提供了一种带螺栓外形半导体产品老化测试方法，包括如下步骤：①焊接：将导电引线分别焊接在相配合的半导体元器件螺母上；②配对：将相配合且焊接好导电引线的半导体元器件螺母和半导体元器件螺栓以螺纹配对上紧；③安装：将螺纹配对好的半导体元器件安装在弹片夹具型老化测试板的弹片夹具上，安装时将导电引线夹入至弹片夹具中；④测试。本发明通过外接引线，以外接的引线夹入弹片夹具中进行老化测试的方法，能有效降低老化测试板生产厂家的成本，并且有效提高带螺栓外形半导体产品的老化测试良品率，降低因老化测试本身带来的不良影响，从而最终在很大程度上降低老化测试方面的社会整体成本。

Description

一种带螺栓外形半导体产品老化测试方法
技术领域
本发明涉及一种带螺栓外形半导体产品老化测试方法。
背景技术
半导体元器件封装外形中很多是带螺栓的封装外形如DO-5形封装、DO-4形封装等，这些器件在进行各种老化筛选时由于螺栓直径较粗不能安装在弹片夹具型老化板上，而是需要特殊夹具的老化板一般采用鳄鱼夹作为老化板夹具，但鳄鱼夹的尖齿容易导致螺栓上的螺纹变形同时易伤害到元器件的表面镀层(弹片型夹具不会引起螺纹和表面镀层的损伤)，导致生产厂家良品率的降低
发明内容
为解决上述技术问题，本发明提供了一种带螺栓外形半导体产品老化测试方法，该带螺栓外形半导体产品老化测试方法通过
本发明通过以下技术方案得以实现。
本发明提供的一种带螺栓外形半导体产品老化测试方法，包括如下步骤：
①焊接：将导电引线分别焊接在相配合的半导体元器件螺母上；
②配对：将相配合且焊接好导电引线的半导体元器件螺母和半导体元器件螺栓以螺纹配对上紧；
③安装：将螺纹配对好的半导体元器件安装在弹片夹具型老化测试板的弹片夹具上，安装时将导电引线夹入至弹片夹具中；
④测试：待老化测试板上的测试位都安装满，或者需要进行老化测试的半导体元器件全部安装完毕后，对老化测试版接线并启动老化测试。
所述导电引线为铜引线。
本发明的有益效果在于：通过外接引线，以外接的引线夹入弹片夹具中进行老化测试的方法，能有效降低半导体器件生产厂家或筛选单位的成本，并且有效提高带螺栓外形半导体产品的老化测试良品率，降低因老化测试本身带来的不良影响，从而最终在很大程度上降低老化测试方面的社会整体成本。
具体实施方式
下面进一步描述本发明的技术方案，但要求保护的范围并不局限于所述。
本发明提供了一种带螺栓外形半导体产品老化测试方法，其特征在于：包括如下步骤：
①焊接：将导电引线焊接在相配合的半导体元器件螺母上；
②配对：将相配合且焊接好导电引线的半导体元器件螺母和半导体元器件螺栓以螺纹配对上紧；
③安装：将螺纹配对好的半导体元器件安装在弹片夹具型老化测试板的弹片夹具上，安装时将导电引线夹入至弹片夹具中；
④测试：待老化测试板上的测试位都安装满，或者需要进行老化测试的半导体元器件全部安装完毕后，对老化测试版接线并启动老化测试。
由此，老化测试板生产厂家无需再为直径较大的带螺纹的半导体元器件专门准备弹片夹具和鳄鱼夹夹具两套老化测试板，而只需要通用的老化测试板即可，从而极大的降低了生产成本，而对带螺纹半导体元器件进行老化测试的厂家也无需担心鳄鱼夹的尖齿导致螺栓上的螺纹变形，从而极大的提高良品率。
作为导电引线的最优选方案，所述导电引线为铜引线。该设置一方面在于铜引线导电率高，不会因外接引线而过多影响到老化测试结果，另一方面也在于铜引线更易于再次利用，从而有效降低成本。

Claims (2)

1.一种带螺栓外形半导体产品老化测试方法，其特征在于：包括如下步骤：
①焊接：将导电引线分别焊接在相配合的半导体元器件螺母上；
②配对：将相配合且焊接好导电引线的半导体元器件螺母和半导体元器件螺栓以螺纹配对上紧；
③安装：将螺纹配对好的半导体元器件安装在弹片夹具型老化测试板的弹片夹具上，安装时将导电引线夹入至弹片夹具中；
④测试：待老化测试板上的测试位都安装满，或者需要进行老化测试的半导体元器件全部安装完毕后，对老化测试版接线并启动老化测试。
2.如权利要求1所述的带螺栓外形半导体产品老化测试方法，其特征在于：所述导电引线为铜引线。
CN201610379972.5A 2016-06-01 2016-06-01 一种带螺栓外形半导体产品老化测试方法 Active CN106405360B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610379972.5A CN106405360B (zh) 2016-06-01 2016-06-01 一种带螺栓外形半导体产品老化测试方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610379972.5A CN106405360B (zh) 2016-06-01 2016-06-01 一种带螺栓外形半导体产品老化测试方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN106405360A true CN106405360A (zh) 2017-02-15
CN106405360B CN106405360B (zh) 2020-01-31

Family

ID=58005885

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610379972.5A Active CN106405360B (zh) 2016-06-01 2016-06-01 一种带螺栓外形半导体产品老化测试方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106405360B (zh)

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101202313A (zh) * 2007-08-29 2008-06-18 浙江正邦电力电子有限公司 超快恢复二极管
US20090008755A1 (en) * 2007-07-05 2009-01-08 I-Chiun Precision Industry Co., Ltd. Structure and method for manufacturing smd diode frame
CN201589848U (zh) * 2010-01-08 2010-09-22 常州银河电器有限公司 步进二极管检测装置
CN102128991A (zh) * 2010-01-12 2011-07-20 北大方正集团有限公司 一种老化测试装置及测试方法
CN102280249A (zh) * 2011-05-19 2011-12-14 湖南艾华集团股份有限公司 电解电容器引线夹持方法
CN202916404U (zh) * 2012-10-23 2013-05-01 镇江艾科半导体有限公司 芯片手测器
CN104269356A (zh) * 2014-09-29 2015-01-07 西安卫光科技有限公司 一种50a大电流快恢复二极管的制作方法
CN204903583U (zh) * 2015-08-25 2015-12-23 贵州航天计量测试技术研究所 一种带散热功能的大功率二极管老化试验夹具
CN105277863A (zh) * 2014-07-17 2016-01-27 中国运载火箭技术研究院 一种功率放大器老化装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090008755A1 (en) * 2007-07-05 2009-01-08 I-Chiun Precision Industry Co., Ltd. Structure and method for manufacturing smd diode frame
CN101202313A (zh) * 2007-08-29 2008-06-18 浙江正邦电力电子有限公司 超快恢复二极管
CN201589848U (zh) * 2010-01-08 2010-09-22 常州银河电器有限公司 步进二极管检测装置
CN102128991A (zh) * 2010-01-12 2011-07-20 北大方正集团有限公司 一种老化测试装置及测试方法
CN102280249A (zh) * 2011-05-19 2011-12-14 湖南艾华集团股份有限公司 电解电容器引线夹持方法
CN202916404U (zh) * 2012-10-23 2013-05-01 镇江艾科半导体有限公司 芯片手测器
CN105277863A (zh) * 2014-07-17 2016-01-27 中国运载火箭技术研究院 一种功率放大器老化装置
CN104269356A (zh) * 2014-09-29 2015-01-07 西安卫光科技有限公司 一种50a大电流快恢复二极管的制作方法
CN204903583U (zh) * 2015-08-25 2015-12-23 贵州航天计量测试技术研究所 一种带散热功能的大功率二极管老化试验夹具

Also Published As

Publication number Publication date
CN106405360B (zh) 2020-01-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8454210B2 (en) Cable receiving apparatus and lamp using the same
WO2012048596A1 (zh) 一种pcb上固定结构件的压接装置
CN206412606U (zh) 一种用于互感器二次端子短接的连接装置
CN106405360A (zh) 一种带螺栓外形半导体产品老化测试方法
US8485852B2 (en) Wire locking structure
CN204348941U (zh) 一种配电线路的设备线夹
CN207967329U (zh) 一种电缆铺设用异型并沟线夹
CN104668705A (zh) 一种波峰焊pcb固定装置
CN204795891U (zh) 一种基板贴片用固定夹具
CN204572705U (zh) 一种带垫圈的螺母
CN104065011A (zh) 一种纯电动汽车电机三相线安装结构
MX366746B (es) Abrazadera para sujetar una terminal eléctrica que termina en un alambre eléctrico para un poste eléctricamente conductor.
CN203236257U (zh) 一种发动机进气管夹具
CN202562969U (zh) 挂线试验用金属杆头
CN204614967U (zh) 水平排的连接装置
CN104767039B (zh) 水平排的连接装置
CN105242193A (zh) 一种功率电路壳温测试装置
CN207459210U (zh) 一种接地线紧固装置
CN208262186U (zh) 一种快开门轴座焊接工装
CN208432455U (zh) 一种水体检测所用微波消解罐拧紧装置
CN104075262A (zh) 一种灯具安装组件及灯具
CN107069245A (zh) 外夹式终端快速节能导电接头
CN213093411U (zh) 线鼻子安装总成
CN202917645U (zh) 一种开关插座的螺纹型端子
RU162004U1 (ru) Электрическое контактное соединение

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant