CN106403823A - 一种珠体宽度缺陷检测方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明是关于一种珠体宽度缺陷检测方法及装置，通过将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域；在每个第一采样投影区域中，筛选出由相应边缘点组成的路径边缘对；连接相邻路径边缘对的中点，形成路径折线；沿路径折线，将待检测珠体图像划分为多个第二采样投影区域；在每个第二采样投影区域中，筛选出由相应边缘点组成的宽度边缘对；当宽度边缘对中边缘点之间的距离超出宽度阈值范围时，记录珠体宽度缺陷。本发明通过采样投影技术精确定位珠体路径边缘位置，用路径折线粗略估计珠体的延展路径；在路径折线基础上精细定位，获得珠体宽度边缘对，珠体宽度边缘对能够精确吻合待检测珠体的宽度方向，保证获得准确的珠体宽度，具有很高精度。

Description

一种珠体宽度缺陷检测方法及装置

技术领域

本发明涉及视觉图像检测技术领域，尤其涉及一种宽度缺陷检测方法及装置。

背景技术

珠体具有一致的宽度和不规则的延展路径，例如电线或缆绳等均属于珠体。珠体各个位置处的宽度一致，但是延展路径不规则；其中，珠体的延展路径可能为基本趋势为直线的路径，例如曲线；当珠体的延展路径的弯曲度较大时，其基本趋势可以是折线等；而且，珠体的延展路径还可以为基本趋势为圆形的路径，例如闭合曲线或者圆弧等。

珠体宽度是衡量珠体质量的重要技术特征，而珠体宽度缺陷检测主要是检测珠体宽度的一致性，即检测珠体宽度是否满足一定范围，是否存在宽度过小或过大的情况。如果珠体存在宽度缺陷，该宽度缺陷容易造成使用安全隐患，例如电线存在宽度过窄的缺陷，流通的工作电流很容易在缺陷位置处熔断电线，造成工作事故；而且在正常工作一段时间后，珠体也会产生宽度缺陷，如不及时更换会产生工作异常。因此，宽度缺陷检测是保证珠体正常工作的关键。

然而，由于珠体延展路径不规则，很难对珠体宽度缺陷进行精确检测，由此如何对珠体宽度缺陷进行精确检测是本领域技术人员亟需解决的技术问题。

发明内容

本发明实施例中提供了一种珠体宽度缺陷检测方法及装置，以解决现有技术中的珠

体宽度缺陷检测精度低的问题。

为了解决上述技术问题，本发明实施例发明了如下技术方案：

本发明实施例提供一种珠体宽度缺陷检测方法，该方法包括：

将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域；

在每个第一采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的路径边缘对；

连接相邻路径边缘对的中点，形成路径折线；

沿所述路径折线，将所述待检测珠体图像划分为多个第二采样投影区域；

在每个第二采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的宽度边缘对；

当宽度边缘对中边缘点之间的距离超出宽度阈值范围时，记录珠体宽度缺陷。

可选地，所述将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域，包括：

根据珠体延展路径的基本趋势，将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域。

可选地，将所述珠体图像划分为多个第二采样投影区域之前，还包括：

沿当前路径折线，将待检测珠体图像划分为多个优化采样投影区域；

在每个优化采样投影区域中，筛选出相应边缘点组成的优化路径边缘对；

连接相邻优化路径边缘对的中点，形成新的路径折线。

可选地，所述将珠体图像划分为多个第一采样投影区域，包括：

根据第一采样投影区域间距，将珠体图像划分为多个第一采样投影区域；

所述将珠体图像划分为多个第二采样投影区域，包括：

根据第二采样投影区域间距，将珠体图像划分为多个第二采样投影区域，其中，所述第二采样投影区域间距小于所述第一采样投影区域间距。

可选地，所述将珠体图像划分为多个第一采样投影区域，包括：

根据待检测珠体的弯曲度，设置多个第一采样投影区域间距；

根据第一采样投影区域间距，将珠体图像划分为多个第一采样投影区域；

所述将珠体图像划分为多个第二采样投影区域，包括：

根据待检测珠体的弯曲度，设置多个第二采样投影区域间距；

根据第二采样投影区域宽度，将珠体图像划分为多个第二采样投影区域，其中，所述第二采样投影区域间距小于所述第一采样投影区域间距。

可选地，沿所述路径折线，将所述珠体图像划分为多个第二采样投影区域，包括：

沿所述路径折线中的每条折线段，将所述珠体图像划分为多个第二采样投影区域，所述第二采样投影区域的中轴线垂直于相应的折线段。

本发明实施例还提供一种珠体宽度缺陷检测装置，该装置包括：

第一采样投影区域划分模块，用于将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域；

路径边缘对确定模块，用于在每个第一采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的路径边缘对；

路径折线生成模块，用于连接相邻路径边缘对的中点，形成路径折线；

第二采样投影区域划分模块，用于沿所述路径折线，将所述待检测珠体图像划分为多个第二采样投影区域；

宽度边缘对确定模块，用于在每个第二采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的宽度边缘对；

宽度缺陷记录模块，用于当宽度边缘对中边缘点之间的距离超出宽度阈值范围时，记录珠体宽度缺陷。

可选地，所述第一采样投影区域划分模块，用于根据待检测珠体延展路径的基本趋势，将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域。

可选地，该装置还包括：

优化采样投影区域划分模块，用于沿当前路径折线，将待检测珠体图像划分为多个优化采样投影区域；

优化路径边缘对确定模块，用于在每个优化采样投影区域中，筛选出相应边缘点组成的优化路径边缘对；

路径折线更新模块，用于连接相邻优化路径边缘对的中点，形成新的路径折线。

可选地，所述第一采样投影区域划分模块，还用于根据第一采样投影区域间距，将珠体图像划分为多个第一采样投影区域；

所述第二采样投影区域划分模块，还用于根据第二采样投影区域间距，将珠体图像划分为多个第二采样投影取区域，其中，所述第二采样投影区域间距小于所述第一采样投影区域间距。

可选地，所述第一采样投影区域划分模块，还用于根据待检测珠体的弯曲度，设置多个的第一采样投影区域间距；根据第一采样投影区域间距，将珠体图像划分为多个第一采样投影区域；

所述第二采样投影区域划分模块，还用于根据珠体图像的弯曲度，设置多个第二采样投影区域间距；根据第二采样投影区域宽度，将珠体图像划分为多个第二采样投影区域，其中，所述第二采样投影区域间距小于所述第一采样投影区域间距。

可选地，第二采样投影区域划分模块，还用于沿所述路径折线中的每条折线段，将所述珠体图像划分为多个第二采样投影区域，所述第二采样投影区域的中轴线垂直于相应的折线段。

本发明的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：本发明的实施例提供的一种珠体宽度缺陷检测方法及装置，通过将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域；在每个第一采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的路径边缘对；连接相邻路径边缘对的中点，形成路径折线；沿所述路径折线，将所述待检测珠体图像划分为多个第二采样投影区域；在每个第二采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的宽度边缘对；当宽度边缘对中边缘点之间的距离超出宽度阈值范围时，记录珠体宽度缺陷。在所述珠体宽度缺陷检测过程中，通过采样投影技术精确定位珠体路径边缘位置，用路径折线粗略估计珠体的延展路径；在所述路径折线基础上，进行精细定位，获得珠体宽度边缘对，所述珠体宽度边缘对能够精确吻合待检测珠体的宽度方向，从而保证获得准确的珠体宽度，具有很高精度。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本发明。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有

技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人

员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的珠体示意图；

图2为本发明实施例提供的一种珠体宽度缺陷检测方法的流程示意图；

图3为本发明实施例提供的一种直线珠体采样投影区域划分示意图；

图4为本发明实施例提供的一种折线珠体采样投影区域划分示意图；

图5为本发明实例提供的一种圆形珠体采样投影区域划分示意图；

图6为本发明实施例提供的一种圆形珠体的路径折线示意图；

图7为本发明实施例提供的一种圆形珠体第二采样投影区域划分的示意图；

图8为本发明实施例提供的另一种珠体宽度缺陷检测方法的流程示意图；

图9为本发明实施例提供的珠体宽度缺陷检测装置的结构示意图；

图10为本发明实例提供的另一种珠体宽度缺陷检测装置的结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

参见图1，为本发明实施例提供的珠体示意图，如图1所示，珠体通常具有固定的宽度，但是珠体的延展路径通常是不规则的；珠体的形状可以理解为珠子在平面上滚动后留下的路径形状。例如电线或线缆均属于珠体，电线或线缆的宽度一致，但在使用过程中延展路径可能是弯曲、不规则的。由于珠体的形状的不规则，因此对珠体的宽度缺陷检测难度很高。

虽然珠体具有不规则的形状，但具有一定的基本趋势，即珠体的延展路径具有基本趋势。在图1中，珠体110的延展路径弯曲度比较低，与直线的形状近似，珠体110的基本趋势为直线；珠体111的延展路径弯曲度与圆形形状近似，珠体111的基本趋势为圆形；珠体112的延展路径弯曲度变化比较大，与折线形状近似，珠体112的基本趋势为折线。

为了检测珠体宽度的一致性，以判断珠体是否出现宽度缺陷，参见图2，为本发明实施例提供的一种珠体宽度缺陷检测方法的流程示意图，该方法包括：

步骤S101：将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域。

在珠体宽度缺陷检测的过程中，摄像设备获取待检测珠体的图像，通过采样投影技术，将待检测珠体宽度图像划分为多个第一采样投影区域。其中，所述第一采样投影区域可以为仿射矩形或仿射圆弧环等。

为了更准确的表征珠体的延展路径，根据珠体延展路径的基本趋势，将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域。

参见图3，为本发明实施例提供的一种直线珠体采样投影区域划分示意图。如图3所示，在待检测珠体图像中，待检测珠体110的基本趋势为直线；将待检测珠体110划分为多个第一采样投影区域210，所述采样投影区域210沿待检测珠体110延展路径的基本趋势设置。在具体实施时，可以用参考直线表征待检测珠体110延展路径的基本趋势，例如所述参考直线可以为待检测珠体110的头端和尾端所连接成的直线；所述第一采样投影区域210沿所述参考直线分布，且可选地，所述第一采样投影区域210的中轴线垂直于所述参考直线。

需要说明的是，上述表征所述待检测珠体110延展路径的基本趋势的方式仅是一示例性实施例，还可以使用拟合的方式确定描述所述基本趋势的参考直线；而且，所述第一采样投影区域210的中轴线可以与所述参考直线成任意角度。

参见图4，为本发明实施例提供的一种折线珠体采样投影区域划分示意图。如图4所示，在待检测珠体图像中，待检测珠体111的基本趋势为折线；将待检测珠体111划分为多个第一采样投影区域211，所述第一采样投影区域211沿待检测珠体111延展路径的基本趋势设置。在具体实施时，可以在待检测珠体111弯曲度最大的位置，将待检测珠体图像划分为多个延展路径段，在每个延展路径段上，待检测珠体111的延展路径的基本趋势为直线。在图4中，待检测珠体111被划分为2个延展路径段；对每个延展路径段，确定相应的参考直线，并按照上述直线珠体采样投影区域的划分方式，将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域，具体的划分过程可参见上述直线珠体实施例，在此不再赘述。

参见图5，为本发明实例提供的一种圆形珠体采样投影区域划分示意图。如图5所示，在待检测珠体图像中，待检测珠体112的基本趋势为圆形；将待检测珠体112划分为多个第一采样投影区域212，所述第一采样投影区域212沿待检测珠体112延展路径的基本趋势设置。在具体实施时，可以在待检测珠体112所围成区域的内部确定参考中心，例如在待检测珠体112的上随机选择三个点，所述三个点能够唯一确定一个圆心，将所述圆心作为参考中心，所述参考中心确定的任意圆形可以用于表征待检测珠体112的基本趋势；以所述参考中心为圆心，沿向外发散的径向方向设置所述第一采样投影区域212，所述第一采样投影区域212的中轴线方向平行于所述径向方向，所有第一采样投影区域212的中轴线汇聚于所述参考中心。

而且，在具体实施时，所述第一采样投影区域可以均匀分布或不均匀分布。在第一种实施情况下，根据第一采样投影区域间距，将珠体图像划分为多个第一采样投影区域。对于直线待检测珠体，预设第一采样投影区域间距，所述第一采样投影区域间距可以理解为沿所述参考直线，相邻第一采样投影区域之间的距离。以所述第一采样投影间距，均匀设置所述第一采样投影区域。对于折线待检测珠体，同样预设第一采样投影区域间距，在每个延展路径段内，沿相应的参考直线，以所述第一采样投影区域间距，均匀设置所述第一采样投影区域。对于圆形待检测珠体，所述第一采样投影间距可以理解为相邻第一采样投影区域之间的角度或弧长，以所述参考中心为圆心，按照所述角度或弧长，均匀设置所述第一采样投影区域。

在第二种实施情况下，根据待检测珠体图像的弯曲度，设置多个第一采样投影区域间距。在具体实施时，待检测珠体图像中，各个区域的弯曲度不同；例如待检测珠体图像的第一区域具有第一弯曲度，则设置相应的第一采样投影区域间距D1；待检测珠体图像的第二区域具有第二弯曲度，则设置相应的第一采样投影区域间距D2；待检测珠体图像的第三区域具有第三弯曲度，则设置相应的第一采样投影区域间距D3。而且，如果待检测珠体图像区域的弯曲度越高，则设置相应的第一采样投影区域间距越小；具体地，在第一弯曲度>第二弯曲度>第三弯曲度的情况下，第一采样投影区域间距D1<第一采样投影区域间距D2<第一采样投影区域间距D3。

在待检测珠体图像的不同区域内，按照相应的第一采样投影间距，设置所述第一采样投影区域。具体地，在待检测珠体图像的第一区域内，以第一采样投影间距D1，设置所述第一采样投影区域；在待检测珠体图像的第二区域内，以第一采样投影间距D2，设置所述第一采样投影区域；在待检测珠体图像的第三区域，以第一采样投影间距D3，设置所述第一采样投影区域。

在本发明实施例中，以不同的第一采样投影间距设置所述第一采样投影区域，在弯曲度较高区域，以较小的第一采样投影间距设置第一采样投影区域，提高采样密度，能够有效提高待检测珠体的描述精度；在弯曲度较低的区域，以较大的第一采样投影间距设置第一采样投影区域，减小采样密度，能够节省计算资源，进而提高珠体宽度缺陷检测效率。

步骤S102：在每个第一采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的路径边缘对。

根据步骤S101确定的第一采样投影区域，在每个第一采样投影区域中，确定相应的边缘点；具体地，将灰度变化最大的位置确定为所述边缘点，由于在第一采样投影区域内，外界环境的干扰可能导致出现假边缘点，因此在第一采样投影区域内，确定的边缘点数目可能大于2，即在一个第一采样投影区域内，确定的边缘点包括待检测珠体的实际边缘点和假边缘点。

在每个第一采样投影区域内，将所述边缘点两两组合为参考边缘对。根据评价准则，对各个参考边缘对进行评分。其中，所述评价准则包括“第一边缘准则”、“最强边缘准则”和“对尺寸准则”中的一种或多种的组合。

所述“第一边缘准则”为：在每个第一采样投影区域内，边缘点的评分按照边缘点位置从外到内的顺序降低；将每个参考边缘对中两个边缘点的评分的平均值，作为所述参考边缘对的评分。

所述“最强边缘准则”为：在每个第一采样投影区域内，边缘点的评分按照边缘点的对比度从高到低的顺序降低；将每个参考边缘对中两个边缘点的评分的平均值，作为所述参考边缘对的评分。

所述“对尺寸准则”为：计算每个参考边缘对中两个边缘点之间的距离，并计算所述距离与预设尺寸阈值的差值，所述参考边缘对的评分随着所述差值绝对值的从小到大的顺序降低。

在具体实施时，可以使用上述评价准则中的一种对参考边缘对进行评分；当使用多种评价准则对参考边缘对进行评分时，可以将不同评价准则得到的评分取算术平均或加权平均，作为参考边缘对的评分。在每个第一采样投影区域内，选择评分最高的参考边缘对作为路径边缘对。

步骤S103：连接相邻路径边缘对的中点，形成路径折线。

参见图6，为本发明实施例提供的一种圆形珠体的路径折线示意图，如图6所示，在待检测珠体图像中，待检测珠体112的图像被划分为多个第一采样投影区域213；在每个采样投影区域213中，确定了路径边缘对，每个路径边缘对均有2个边缘点214组成；路径边缘对中点311，为每个路径边缘对中相应2个边缘点的连线的中点，对每个路径边缘对均确定相应的路径边缘对中点311；连接相邻的路径边缘对中点311，从而形成路径折线310，所述路径折线310更接近待检测珠体112延展路径的基本趋势，从而对待检测珠体112的延展路径的基本趋势进行准确描述。

步骤S104：沿所述路径折线，将所述珠体图像划分为多个第二采样投影区域。

沿路径折线，将所述待检测珠体图像划分为多个第二采样投影区域。参见图7，为本发明实施例提供的一种圆形珠体第二采样投影区域划分的示意图；在图7中，沿步骤S103中确定的路径折线310，将待检测珠体112的图像划分为多个第二采样投影区域410。

在具体实施时，所述第二采样投影区域可以均匀或者不均匀设置。在第一种实施情况下，预设第二采样投影区域间距；以第二采样投影区域间距，在路径折线310上设置多个第二采样投影区域；由于路径折线310包括多条折线段，可选地，在每条折线段上，以第二采样投影区域间距，均匀设置所述第二采样投影区域，其中，所述第二采样投影区域的中轴线垂直于相应的折线段。而且，为了保证第二采样投影区域的中轴线沿待检测珠体的宽度方向，所述第二采样投影区域间距小于第一采样投影区域间距。

在第二种实施情况下，根据待检测珠体图像的弯曲度，设置多个第二采样投影区域间距。在步骤S101中，根据待检测珠体图像中各个区域弯曲度的不同，在具有第一弯曲度的第一区域，以第一采样投影区域间距D1设置第一采样投影区域；在具有第二弯曲度的第二区域，以第一采样投影区域间距D2设置第一采样投影区域；在具有第三弯曲度的第三区域，以第一采样投影区域间距D3设置第一采样投影区域。在所述第一区域，根据第一弯曲度设置第二采样投影区域间距W1；在所述第二区域，根据第二弯曲度设置第二采样投影区域间距W2；在所述第三区域，根据第三弯曲度设置第二采样投影区域间距W3。如果待检测珠体图像区域的弯曲度越高，则设置相应的第二采样投影区域间距越小；具体地，在第一弯曲度>第二弯曲度>第三弯曲度的情况下，第二采样投影区域间距W1<第二采样投影区域间距W2<第二采样投影区域间距W3。

在待检测珠体图像的不同区域内，按照相应的第二采样投影间距，设置所述第二采样投影区域。具体地，在待检测珠体图像的第一区域内，以第二采样投影间距W1，设置所述第二采样投影区域，所述第二采样投影区域的中轴线垂直于第一区域内相应的折线段；在待检测珠体图像的第二区域内，以第二采样投影间距W2，设置所述第二采样投影区域，所述第二采样投影区域的中轴线垂直于第二区域内相应的折线段；在待检测珠体图像的第三区域，以第二采样投影间距W3，设置所述第二采样投影区域，所述第二采样投影区域的中轴线垂直于第三区域内相应的折线段。而且，为了保证第二采样投影区域的中轴线沿待检测珠体的宽度方向，所述第二采样投影区域间距小于第一采样投影区域间距；具体地，在第一区域内，第二采样投影间距W1小于第一采样投影区域间距D1；在第二区域内，第二采样投影间距W2小于第一采样投影区域间距D2；在第三区域内，第二采样投影间距W3小于第一采样投影区域间距D3。

步骤S105：在每个第二采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的宽度边缘对。

在每个第二采样投影区域中，确定相应的边缘点；具体地，将灰度变化最大的位置确定为所述边缘点，将所述边缘点两两组合为候选边缘对。根据评价准则，对各个候选边缘对进行评分。其中，所述评价准则包括“第一边缘准则”、“最强边缘准则”和“对尺寸准则”。在具体实施时，可以使用所述评价准则中的一种或多种的组合，对候选边缘对进行评分；当使用多种评价准则对候选边缘对进行评分时，可以将不同评价准则得到的评分取算术平均或加权平均，作为候选边缘对的评分。在每个第二采样投影区域内，选择评分最高的候选边缘对作为宽度边缘对。具体的评分过程，可参见步骤S102的描述，在此不再赘述。

步骤S106：当宽度边缘对中边缘点之间的距离超出宽度阈值范围时，记录珠体宽度缺陷。

在每个宽度边缘对中，计算相应的两个边缘点之间的距离；如果所述距离超出宽度阈值范围，则确定所述宽度边缘对为缺陷边缘对。具体地，可以设定靠近标准宽度的宽度范围，作为所述宽度阈值范围，例如所述宽度阈值范围可以为(标准宽度-X，标准宽度+X)，其中X可以取任意小于标准宽度的数值。当宽度边缘对计算出的距离小于所述宽度阈值范围的下限，即标准宽度-X时，则所述宽度边缘对为缺陷边缘对，且该缺陷边缘对所对应的缺陷类型为窄缺陷；当宽度边缘对计算出的距离大于所述宽度阈值范围的上限，即标准宽度+X时，则所述宽度边缘对为缺陷边缘对，且该缺陷边缘对所对应的缺陷类型为宽缺陷。

遍历所有的宽度边缘对，判断所述宽度边缘对是否为缺陷边缘对，并记录所述缺陷边缘对；对所述缺陷边缘对，进行缺陷分析，将相邻的缺陷类型相同缺陷边缘对进行合并计算，可以计算得出窄缺陷或宽缺陷所对应的面积、尺寸等物理指标，统计边缘宽度缺陷出现的位置等，得到边缘宽度缺陷检测结果。

由上述实施例可见，本发明实施例提供的一种珠体宽度缺陷检测方法，通过将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域；在每个第一采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的路径边缘对；连接相邻路径边缘对的中点，形成路径折线；沿所述路径折线，将所述待检测珠体图像划分为多个第二采样投影区域；在每个第二采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的宽度边缘对；当宽度边缘对中边缘点之间的距离超出宽度阈值范围时，记录珠体宽度缺陷。在所述珠体宽度缺陷检测过程中，通过采样投影技术精确定位珠体路径边缘位置，用路径折线粗略估计珠体的延展路径；在所述路径折线基础上，进行精细定位，获得珠体宽度边缘对，所述珠体宽度边缘对能够精确吻合待检测珠体的宽度方向，从而保证获得准确的珠体宽度，具有很高精度。

参见图8，为本发明实施例提供的另一种珠体宽度缺陷检测方法的流程示意图，在图1所示的珠体宽度缺陷检测方法的基础上，将所述珠体图像划分为多个第二采样投影区域之前，本发明实施例示出了路径折线的优化方法，该方法包括：

步骤S201：沿当前路径折线，将珠体图像划分为多个优化采样投影区域。

在步骤S103确定的路径折线，由于第一采样投影区域的间距较大，由此获得的路径折线是对待检测珠体延展路径基本趋势的粗略表示，为了进一步提高对所述基本趋势描述的准确性，在本发明实施例中，沿当前路径折线，将待检测珠体图像划分为多个优化采样投影区域。

所述当前路径折线由多条折线段组成，在每个折线段内，沿所述折线段的延伸方向设置所述优化采样投影区域，所述优化采样投影区域的中轴线与相应的折线段垂直。而且，所述优化采样投影区域可以均匀划分或不均匀划分，通过设置相同的采样投影区域间距的方式，均匀划分所述优化采样投影区域；通过设置不同区域的采样投影区域间距的方式，不均匀划分所述优化采样投影区域。上述优化采样投影区域的划分方式与步骤S104中的过程类似，在此不再赘述。

步骤S202：在每个优化采样投影区域中，筛选出相应边缘点组成的优化路径边缘对。

在每个优化采样投影区域中，通过灰度差值，能够确定多个边缘点；将所述边缘点两两组合形成参考边缘对；通过“第一条边缘”、“最强边缘”和“对尺寸”评价准则中的一种或多种组合的评价方式，对参考边缘对进行评分；将评分高的参考边缘对作为相应优化采样投影区域的优化路径边缘对。对优化路径边缘对的筛选与步骤S102的过程类似，详细的过程描述可参见步骤S102，在此不再赘述。

步骤S203：连接相邻优化路径边缘对的中点，形成新的路径折线。

将优化路径边缘对中2个边缘点连线的中点，作为优化路径边缘对的中点；连接相邻优化路径边缘对的中点，从而得到新的路径折线；用新的路径折线替换掉当前路径折线，从而完成路径折线的优化更新。

另外，需要说明的是，根据实际珠体宽度缺陷检测精度的需要，可以进行一次或多次步骤S201至步骤S203的迭代，从而实现对路径折线的优化，以大量优化的路径折线段逼近待检测珠体延展路径。

由上述实施例可见，本发明实施例提供的另一种珠体宽度缺陷检测方法，对获得的路径折线进行优化，在每个路径折线段上，进一步划分细化的优化采样投影区域，在每个优化采样投影区域内，确定优化路径边缘对，从而得到优化的路径折线。所述优化的路径折线包含了更多折线段，更准确地描述了待检测珠体延展路径的细节，从而进一步提高珠体宽度缺陷检测的精度。

通过以上的方法实施例的描述，所属领域的技术人员可以清楚地了解到本发明可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：只读存储器(ROM)、随机存取存储器(RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

与本发明提供的一种珠体宽度缺陷检测方法实施例相对应，本发明还提供了一种珠体宽度缺陷检测装置，参见图9，为本发明实施例提供的珠体宽度缺陷检测装置的结构示意图，该装置包括：

第一采样投影区域划分模块11，用于将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域；

路径边缘对确定模块12，用于在每个第一采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的路径边缘对；

路径折线生成模块13，用于连接相邻路径边缘对的中点，形成路径折线；

第二采样投影区域划分模块14，用于沿所述路径折线，将所述待检测珠体图像划分为多个第二采样投影区域；可选地，第二采样投影区域划分模块14，还用于沿所述路径折线中的每条折线段，将所述珠体图像划分为多个第二采样投影区域，所述第二采样投影区域的中轴线垂直于相应的折线段；

宽度边缘对确定模块，用于在每个第二采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的宽度边缘对；

宽度缺陷记录模块，用于当宽度边缘对中边缘点之间的距离超出宽度阈值范围时，记录珠体宽度缺陷。

可选地，所述第一采样投影区域划分模块11，用于根据待检测珠体延展路径的基本趋势，将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域。

在具体实施时，在第一种实施情况下，可以均匀划分所述第一采样投影区域和所述第二采样投影区域，因此，可选地，所述第一采样投影区域划分模块11，还用于根据第一采样投影区域间距，将珠体图像划分为多个第一采样投影区域；所述第二采样投影区域划分模块14，还用于根据第二采样投影区域间距，将珠体图像划分为多个第二采样投影取区域，其中，所述第二采样投影区域间距小于所述第一采样投影区域间距。

在第二种实施情况下，根据待检测珠体的弯曲度，不均匀划分第一采样投影区域和第二采样投影区域，因此，可选地，所述第一采样投影区域划分模块11，还用于根据待检测珠体的弯曲度，设置多个的第一采样投影区域间距；根据第一采样投影区域间距，将珠体图像划分为多个第一采样投影区域。所述第二采样投影区域划分模块14，还用于根据待检测珠体的弯曲度，设置多个第二采样投影区域间距；根据第二采样投影区域宽度，将珠体图像划分为多个第二采样投影区域，其中，所述第二采样投影区域间距小于所述第一采样投影区域间距。

由上述实施例可见，本发明实施例提供的一种珠体宽度缺陷检测装置，通过将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域；在每个第一采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的路径边缘对；连接相邻路径边缘对的中点，形成路径折线；沿所述路径折线，将所述待检测珠体图像划分为多个第二采样投影区域；在每个第二采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的宽度边缘对；当宽度边缘对中边缘点之间的距离超出宽度阈值范围时，记录珠体宽度缺陷。在所述珠体宽度缺陷检测过程中，通过采样投影技术精确定位珠体路径边缘位置，用路径折线粗略估计珠体的延展路径；在所述路径折线基础上，进行精细定位，获得珠体宽度边缘对，所述珠体宽度边缘对能够精确吻合待检测珠体的宽度方向，从而保证获得准确的珠体宽度，具有很高精度。

参见图10，为本发明实例提供的另一种珠体宽度缺陷检测装置的结构示意图，在图9所示的珠体宽度缺陷检测装置的基础上，该装置还包括：

优化采样投影区域划分模块21，用于沿当前路径折线，将待检测珠体图像划分为多个优化采样投影区域；

优化路径边缘对确定模块22，用于在每个优化采样投影区域中，筛选出相应边缘点组成的优化路径边缘对；

路径折线更新模块23，用于连接相邻优化路径边缘对的中点，形成新的路径折线。

由上述实施例可见，本发明实例提供的另一种珠体宽度缺陷检测装置，对获得的路径折线进行优化，在每个路径折线段上，进一步划分细化的优化采样投影区域，在每个优化采样投影区域内，确定优化路径边缘对，从而得到优化的路径折线。所述优化的路径折线包含了更多折线段，更准确地描述了待检测珠体延展路径的细节，从而进一步提高珠体宽度缺陷检测的精度。

为了描述的方便，描述以上装置时以功能分为各种单元分别描述。当然，在实施本发明时可以把各单元的功能在同一个或多个软件和/或硬件中实现。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于装置或系统实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述得比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的装置及系统实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。

需要说明的是，在本文中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上所述仅是本发明的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所发明的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (12)

1.一种珠体宽度缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域；

在每个第一采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的路径边缘对；

连接相邻路径边缘对的中点，形成路径折线；

沿所述路径折线，将所述待检测珠体图像划分为多个第二采样投影区域；

在每个第二采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的宽度边缘对；

当宽度边缘对中边缘点之间的距离超出宽度阈值范围时，记录珠体宽度缺陷。

2.根据权利要求1所述的珠体宽度缺陷检测方法，其特征在于，所述将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域，包括：

根据珠体延展路径的基本趋势，将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域。

3.根据权利要求1所述的珠体宽度缺陷检测方法，其特征在于，将所述珠体图像划分为多个第二采样投影区域之前，还包括：

沿当前路径折线，将待检测珠体图像划分为多个优化采样投影区域；

在每个优化采样投影区域中，筛选出相应边缘点组成的优化路径边缘对；

连接相邻优化路径边缘对的中点，形成新的路径折线。

4.根据权利要求1所述的珠体宽度缺陷检测方法，其特征在于，

所述将珠体图像划分为多个第一采样投影区域，包括：

根据第一采样投影区域间距，将珠体图像划分为多个第一采样投影区域；

所述将珠体图像划分为多个第二采样投影区域，包括：

根据第二采样投影区域间距，将珠体图像划分为多个第二采样投影区域，其中，所述第二采样投影区域间距小于所述第一采样投影区域间距。

5.根据权利要求1所述的珠体宽度缺陷检测方法，其特征在于，

所述将珠体图像划分为多个第一采样投影区域，包括：

根据待检测珠体的弯曲度，设置多个第一采样投影区域间距；

根据第一采样投影区域间距，将珠体图像划分为多个第一采样投影区域；

所述将珠体图像划分为多个第二采样投影区域，包括：

根据待检测珠体的弯曲度，设置多个第二采样投影区域间距；

根据第二采样投影区域宽度，将珠体图像划分为多个第二采样投影区域，其中，所述第二采样投影区域间距小于所述第一采样投影区域间距。

6.根据权利要求1所述的珠体宽度缺陷检测方法，其特征在于，沿所述路径折线，将所述珠体图像划分为多个第二采样投影区域，包括：

沿所述路径折线中的每条折线段，将所述珠体图像划分为多个第二采样投影区域，所述第二采样投影区域的中轴线垂直于相应的折线段。

7.一种珠体宽度缺陷检测装置，其特征在于，包括：

第一采样投影区域划分模块，用于将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域；

路径边缘对确定模块，用于在每个第一采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的路径边缘对；

路径折线生成模块，用于连接相邻路径边缘对的中点，形成路径折线；

第二采样投影区域划分模块，用于沿所述路径折线，将所述待检测珠体图像划分为多个第二采样投影区域；

宽度边缘对确定模块，用于在每个第二采样投影区域中，筛选出由相应的边缘点组成的宽度边缘对；

宽度缺陷记录模块，用于当宽度边缘对中边缘点之间的距离超出宽度阈值范围时，记录珠体宽度缺陷。

8.根据权利要求7所述的珠体宽度缺陷检测装置，其特征在于，第一采样投影区域划分模块，用于根据待检测珠体延展路径的基本趋势，将待检测珠体图像划分为多个第一采样投影区域。

9.根据权利要求7所述的珠体宽度缺陷检测装置，其特征在于，该装置还包括：

优化采样投影区域划分模块，用于沿当前路径折线，将待检测珠体图像划分为多个优化采样投影区域；

优化路径边缘对确定模块，用于在每个优化采样投影区域中，筛选出相应边缘点组成的优化路径边缘对；

路径折线更新模块，用于连接相邻优化路径边缘对的中点，形成新的路径折线。

10.根据权利要求7所述的珠体宽度缺陷检测装置，其特征在于，

所述第一采样投影区域划分模块，还用于根据第一采样投影区域间距，将珠体图像划分为多个第一采样投影区域；

所述第二采样投影区域划分模块，还用于根据第二采样投影区域间距，将珠体图像划分为多个第二采样投影取区域，其中，所述第二采样投影区域间距小于所述第一采样投影区域间距。

11.根据权利要求7所述的珠体宽度缺陷检测装置，其特征在于，

所述第一采样投影区域划分模块，还用于根据待检测珠体的弯曲度，设置多个的第一采样投影区域间距；根据第一采样投影区域间距，将珠体图像划分为多个第一采样投影区域；

所述第二采样投影区域划分模块，还用于根据珠体图像的弯曲度，设置多个第二采样投影区域间距；根据第二采样投影区域宽度，将珠体图像划分为多个第二采样投影区域，其中，所述第二采样投影区域间距小于所述第一采样投影区域间距。

12.根据权利要求7所述的珠体宽度缺陷检测装置，其特征在于，第二采样投影区域划分模块，还用于沿所述路径折线中的每条折线段，将所述珠体图像划分为多个第二采样投影区域，所述第二采样投影区域的中轴线垂直于相应的折线段。