CN106383125A - 用于纱线疵点检测的光电系统 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及用于纱线疵点检测的光电系统,该系统设置于被测纱线两侧,包括设置于被测纱线一侧的背景光源系统和设置于纱线另一侧的疵点检测系统;背景光源系统包括背景光源屏幕和与背景光源屏幕连接的光源控制器;疵点检测系统包括与被测纱线垂直的光学系统,沿光学系统光轴方向依次设置检测狭缝和光电检测器,背景光源屏幕、光学系统和检测狭缝构成一个包含被测纱线的扇形检测视场。本发明探测视场大,系统结构简单,制造使用成本低,该系统采用背景光源、光学系统以及狭缝形成一个厚度均匀的扇形检测视场,使纱线陷落在背景光源中,解决了因纱线毛刺和抖动而引起的误检;同时,本发明采用线阵CCD器件或光电二极管阵列,疵点的检测准确、快速。

Description

用于纱线疵点检测的光电系统
技术领域
本发明专利涉及纱线质量检测领域,具体涉及一种用于纱线疵点检测的光电系统。
背景技术
近年来,随着国内的纺织品市场不断的发展,我国的纺织产业在当今世界上占着举足轻重的位置。纱线疵点检测的准确性对纱线的生产质量有着至关重要的影响,因此如何能够更加有效的对纱线疵点进行检测,引起纺织业人士的重视。目前光电检测技术正在渗入到纺织工业,利用光电检测纱线疵点的技术越来越成为一种趋势。
目前,人们在纱线疵点检测方面提出了很多的技术方案。比如:付明磊等提出的双光源检测系统,能同时检测纱线的粗细瑕疵和扁平瑕疵;唐述宏等提出采用平行光照射纱线,并通过线阵CCD控制电路来实现纱线疵点的检测;徐英杰等提出采用数据服务器和通信中继控制器的以太网驱动模块进行通信的技术,来实现纱线瑕疵的检测;等等。虽然上述方案都能解决纱线瑕疵问题,但这些技术方案都有一个共同的特点:电路结构复杂、成本高,并且纱线在高速运动中产生抖动会造成干扰及误检。
发明内容
本发明的目的是提供一种用于纱线疵点检测的光电系统,解决现有技术中纱线疵点检测装置电路结构复杂、检测成本高、纱线在高速运动中产生抖动所造成的干扰及误检等技术问题。
为了解决上述问题,本发明的技术方案为:
用于纱线疵点检测的光电系统,该系统设置于被测纱线两侧,包括设置于被测纱线一侧的背景光源系统和设置于纱线另一侧的疵点检测系统;背景光源系统与疵点检测系统在同一水平面上;所述的背景光源系统包括背景光源屏幕和与背景光源屏幕连接的光源控制器;所述的疵点检测系统包括与被测纱线垂直设置的光学系统,沿所述光学系统光轴方向依次设置检测狭缝和光电检测器,所述的背景光源屏幕、光学系统和检测狭缝构成一个包含被测纱线的扇形检测视场;所述光电检测器依次连接信号调理电路、信号采集电路和疵点计数电路。
所述的背景光源屏幕包括一排发光二极管,在发光二极管外设置匀光片,背景光源屏幕的亮度可根据被测纱线的颜色进行调节。
所述的光学系统为一组标准镜头或一组透镜组。
所述的光电探测器为一个线阵CCD器件或一个光电二极管阵列。
本发明的有益效果:
本发明探测视场大,系统结构简单,制造成本和使用成本低,该系统采用背景光源、光学系统以及狭缝形成一个厚度均匀的扇形检测视场,使纱线陷落在背景光源中,解决了因纱线毛刺和抖动而引起的误检;同时,本发明采用线阵CCD器件或光电二极管阵列,疵点的检测准确、快速。
附图说明
图1为本发明的整体结构示意图;
图2为图1的局部俯视图;
图中,1-被测纱线,2-背景光源屏幕,3-光源控制器,4-光学系统,5-检测狭缝,6-光电检测器,7-扇形检测视场,8-信号调理电路,9-信号采集电路,10-疵点计数电路。
具体实施方式
下面结合附图对本发明进行进一步的说明,参照图1和图2所示的一种用于纱线疵点检测的光电系统,该系统设置于被测纱线1两侧,包括设置于被测纱线1一侧的背景光源系统和设置于纱线另一侧的疵点检测系统;背景光源系统与疵点检测系统在同一水平面上;所述的背景光源系统包括背景光源屏幕2和与背景光源屏幕2连接的光源控制器3,所述背景光源屏幕2的亮度和颜色可以调节,使被测纱线1 陷落在背景光源中,以突出被测纱线1上的疵点;所述的疵点检测系统包括与被测纱线临设的光学系统4,沿所述光学系统4光轴方向依次设置检测狭缝5和光电检测器6,所述的背景光源屏幕2、光学系统4和检测狭缝5构成一个包含被测纱线1的扇形检测视场7,使高速运动的被测纱线1始终保持在检测视场7内;所述光电检测器6依次连接信号调理电路8、信号采集电路9和疵点计数电路10。
所述的背景光源屏幕2包括一排发光二极管,在发光二极管外设置匀光片。
所述的光学系统4为一组标准镜头或一组透镜组。
所述的光电探测器6为一个线阵CCD器件或一个光电二极管阵列。
下面介绍本发明专利的工作原理:
本发明专利工作时,通过背景光源屏幕2、光学系统4以及检测狭缝5形成一个厚度均匀的扇形检测视场7,使被测纱线1陷落在背景光源中,当被测纱线1上无疵点时,线阵CCD器件或光电二极管阵列感应不到光亮的变化,信号调理电路8的输出信号也不会变化,当被测纱线1上有疵点时,线阵CCD器件或光电二极管阵列感应到光亮的变化,信号调理电路8的输出信号会变化,信号采集电路9采集到变化的信息,疵点计数电路10根据该信号的变化情况得到疵点的个数。
本发明专利的内容不限于实施例所列举,本领域普通技术人员通过阅读本发明说明书而对本发明技术方案采取的任何等效的变换,均为本发明的权利要求所涵盖。

Claims (4)

1.用于纱线疵点检测的光电系统,该系统设置于被测纱线(1)两侧,其特征在于:包括设置于被测纱线(1)一侧的背景光源系统和设置于纱线另一侧的疵点检测系统;背景光源系统与疵点检测系统在同一水平面上;所述的背景光源系统包括背景光源屏幕(2)和与背景光源屏幕连接的光源控制器(3);所述的疵点检测系统包括与被测纱线垂直设置的光学系统(4),沿所述光学系统(4)光轴方向依次设置检测狭缝(5)和光电检测器(6),所述的背景光源屏幕(2)、光学系统(4)和检测狭缝(5)构成一个包含被测纱线(1)的扇形检测视场(7);所述光电检测器(6)依次连接信号调理电路(8)、信号采集电路(9)和疵点计数电路(10)。
2.根据权利要求1所述的用于纱线疵点检测的光电系统,其特征在于: 所述的背景光源屏幕(2)包括一排发光二极管,在发光二极管外设置匀光片,背景光源屏幕(2)的亮度可根据被测纱线(1)的颜色进行调节。
3.根据权利要求1或2所述的用于纱线疵点检测的光电系统,其特征在于:所述的光学系统(4)为一组标准镜头或一组透镜组。
4.根据权利要求3所述的用于纱线疵点检测的光电系统,其特征在于:所述的光电探测器(6)为一个线阵CCD器件或一个光电二极管阵列。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108333919A (zh) * 2018-01-31 2018-07-27 西安工业大学 一种考虑路面波动干扰的非平衡身管俯仰位置控制方法
CN112304968A (zh) * 2020-09-11 2021-02-02 嘉兴驭光光电科技有限公司 用于微纳光学元件的检测系统及检测方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1277349A (zh) * 1999-06-10 2000-12-20 株式会社纽科姆 检测物体用的光学装置及使用它的坐标输入设备
CN2531393Y (zh) * 2002-02-08 2003-01-15 山东省纺织科学研究院 自动纱线综合测试仪
CN102230901A (zh) * 2011-06-21 2011-11-02 福州大学 织物瑕疵光电检测装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1277349A (zh) * 1999-06-10 2000-12-20 株式会社纽科姆 检测物体用的光学装置及使用它的坐标输入设备
CN2531393Y (zh) * 2002-02-08 2003-01-15 山东省纺织科学研究院 自动纱线综合测试仪
CN102230901A (zh) * 2011-06-21 2011-11-02 福州大学 织物瑕疵光电检测装置

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
VITOR CARVALHO等: "Yarn hairiness and diameter characterization using a CMOS line array", 《MEASUREMENT》 *
符小锋等: "电子清纱器光电检测系统的研究与应用", 《纺织器材》 *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108333919A (zh) * 2018-01-31 2018-07-27 西安工业大学 一种考虑路面波动干扰的非平衡身管俯仰位置控制方法
CN108333919B (zh) * 2018-01-31 2021-02-19 西安工业大学 一种考虑路面波动干扰的非平衡身管俯仰位置控制方法
CN112304968A (zh) * 2020-09-11 2021-02-02 嘉兴驭光光电科技有限公司 用于微纳光学元件的检测系统及检测方法

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