CN106291209B - 键盘测试装置 - Google Patents

键盘测试装置 Download PDF

Info

Publication number
CN106291209B
CN106291209B CN201510250185.6A CN201510250185A CN106291209B CN 106291209 B CN106291209 B CN 106291209B CN 201510250185 A CN201510250185 A CN 201510250185A CN 106291209 B CN106291209 B CN 106291209B
Authority
CN
China
Prior art keywords
keyboard
led
power supply
cathode
resistance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN201510250185.6A
Other languages
English (en)
Other versions
CN106291209A (zh
Inventor
贺武
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitac Computer Kunshan Co Ltd
Original Assignee
Mitac Computer Kunshan Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitac Computer Kunshan Co Ltd filed Critical Mitac Computer Kunshan Co Ltd
Priority to CN201510250185.6A priority Critical patent/CN106291209B/zh
Publication of CN106291209A publication Critical patent/CN106291209A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN106291209B publication Critical patent/CN106291209B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Input From Keyboards Or The Like (AREA)

Abstract

一种键盘测试装置，其用于对笔记本电脑的键盘进行测试，所述键盘具有键盘排线，所述键盘排线具有若干端子，所述键盘测试装置包括：电源，其具有正极及负极，所述负极接地；电阻，其一端连接所述电源的正极；若干第一LED，第一LED的正极并联连接于所述电阻的另一端，第一LED的负极分别一一对应连接所述键盘排线的端子；若干第二LED，第二LED的正极分别一一对应连接所述键盘排线的端子，第二LED的负极并联连接于电源的负极。该键盘测试装置测试简单，能直观的检测出按键的不良，且实际测试时间仅为30s,测试时间短，节约了测试时间，提高了工作效率。

Description

键盘测试装置
【技术领域】
本发明涉及一种键盘测试装置，具体涉及一种笔记本电脑的键盘测试装置。
【背景技术】
随着生活水平的提高，人们对笔记本电脑的质量要求越来越高。为了保证笔记本电脑的质量，在笔记本电脑出货前都会对笔记本电脑的按键进行测试，以保证笔记本电脑的按键在使用过程中保持良好的电性性能。
现有技术在对笔记本电脑的按键进行测试时，是将笔记本电脑组装好后，在开机状态下进入DOS中进行程式按键类比测试，不仅测试不方便，且浪费时间，测试完成需要3分钟。
有鉴于此，实有必要开发一种键盘测试装置，以解决上述测试不方便及浪费时间的缺陷。
【发明内容】
因此，本发明的目的是提供一种键盘测试装置，该键盘测试装置能够克服现有技术测试不方便及浪费时间的缺陷。
为了达到上述目的，本发明的键盘测试装置，其用于对笔记本电脑的键盘进行测试，所述键盘具有键盘排线，所述键盘排线具有若干端子，所述键盘测试装置包括：
电源，其具有正极及负极，所述负极接地；
电阻，其一端连接所述电源的正极；
若干第一LED，第一LED的正极并联连接于所述电阻的另一端，第一LED的负极分别一一对应连接所述键盘排线的端子；
若干第二LED，第二LED的正极分别一一对应连接所述键盘排线的端子，第二LED的负极并联连接于电源的负极。
可选地，所述第一LED的数量为8个，所述第二LED的数量为16个。
可选地，所述电源为19V，所述电阻的阻值为10KΩ。
可选地，所述键盘测试装置还包括一复位按钮、另一个电源及另一个电阻，所述复位按钮一端连接所述键盘排线的多个端子并接地，所述复位按钮的另一端连接所述另一个电源的负极，所述另一个电源的正极连接所述另一个电阻的一端，所述另一个电阻的另一端连接键盘排线的一端子。
可选地，所述另一个电源为19V，所述另一个电阻的阻值为2.2KΩ。
相较于现有技术，本发明的键盘测试装置，通过测试员逐个按压按键，若按键所对应的第一LED和第二LED均导通发亮，电路构成一个回路，则说明按下的按键测试通过；若按键所对应的第一LED及第二LED均不亮，则说明该按键空焊，按键出现不良；若出现三个及三个以上的第一LED及第二LED发亮，则说明该按键连锡，按键出现不良。因此，该键盘测试装置测试简单，能直观的检测出按键的不良，且实际测试时间仅为30s,测试时间短，节约了测试时间，提高了工作效率。
【附图说明】
图1绘示本发明键盘测试装置于一较佳实施例中的电路示意图。
图2绘示本发明键盘测试装置于另一较佳实施例中的电路示意图。
【具体实施方式】
请参阅图1所示，其绘示了本发明键盘测试装置于一较佳实施例中的电路示意图。
于一较佳实施例中，本发明的键盘测试装置，其用于对笔记本电脑的键盘进行测试，所述键盘具有键盘排线100，所述键盘排线100与按键分别电性连接，所述键盘排线100具有30个端子(第1端子至第30端子)，所述键盘测试装置包括：
电源200，其具有正极及负极，所述负极接地；
电阻300，其一端连接所述电源200的正极；
若干第一LED400，第一LED400的正极并联连接于所述电阻300的另一端，第一LED400的负极分别一一对应连接所述键盘排线100的端子；
若干第二LED500，第二LED500的正极分别一一对应连接所述键盘排线100的端子，第二LED500的负极并联连接于电源200的负极。
其中，由于键盘的按键都是利用矩阵图控制而实现相应的功能，即由所述矩阵图中的行线及列线确定所述按键的坐标位，当该坐标位上的按键被下压时，内部电路会因接触而导通，为了对应于按键的矩阵，所述第一LED400的数量为8个，一一对应连接所述键盘排线100的第23端子至第30端子，所述第二LED500的数量为16个，一一对应连接所述键盘排线100的第7端子至第22端子。
其中，所述电源200为19V，所述电阻300的阻值为10KΩ，所述电阻300为10KΩ的阻值能更好地分压保护所述第一LED400及第二LED500。
在测试按键时，对电源200进行供电，通过测试员逐个按压按键，由于按键与键盘排线100电性连接，若按键所对应的第一LED400和第二LED500均导通发亮，则电路构成一个回路，则说明按下的按键测试通过；若按键所对应的第一LED400及第二LED500均不亮，则说明该按键空焊，电路无法构成回路，按键出现不良，判断为线路断路；若出现三个及三个以上的第一LED400及第二LED500发亮，则说明该按键连锡，电路出现两个或两个以上回路，按键出现不良，判断为短路。
请参阅图2所示，图2绘示了本发明键盘测试装置于另一较佳实施例中的电路示意图。
其中，为了测试键盘上的键盘灯是否全亮，键盘排线100的第1端子、第2端子、第3端子及第5端子与键盘灯电性连接，所述键盘测试装置还包括一复位按钮600、另一个电源700及另一个电阻800，所述复位按钮600一端连接所述键盘排线100的第1端子、第2端子、第3端子及第5端子并接地，所述复位按钮600的另一端连接所述另一个电源700的负极，所述另一个电源700的正极连接所述另一个电阻800的一端，所述另一个电阻800的另一端连接键盘排线100的第4端子。
其中，所述另一个电源700为19V，所述另一个电阻800的阻值为2.2KΩ。
在测试键盘灯时，对另一个电源700进行供电，按下复位按钮600，构成回路，由于键盘排线100的第1端子、第2端子、第3端子及第5端子与键盘灯电性连接，则可以测试键盘灯是否全亮。
相较于现有技术，本发明的键盘测试装置，不仅使测试简单，能直观的检测出按键的不良，且实际测试时间仅为30s,测试时间短，节约了工作时间，提高了工作效率。

Claims (5)

1.一种键盘测试装置，其用于对笔记本电脑的按键进行测试，所述键盘具有键盘排线，所述键盘排线具有若干端子，其特征在于，所述键盘测试装置包括：
电源，其具有正极及负极，所述负极接地；
电阻，其一端连接所述电源的正极；
若干第一LED，第一LED的正极并联连接于所述电阻的另一端，第一LED的负极分别一一对应连接所述键盘排线的端子；
若干第二LED，第二LED的正极分别一一对应连接所述键盘排线的端子，第二LED的负极并联连接于电源的负极。
2.根据权利要求1所述的键盘测试装置，其特征在于，所述第一LED的数量为8个，所述第二LED的数量为16个。
3.根据权利要求1所述的键盘测试装置，其特征在于，所述电源为19V，所述电阻的阻值为10KΩ。
4.根据权利要求1所述的键盘测试装置，其特征在于，所述键盘测试装置还包括复位按钮、另一个电源及另一个电阻，所述复位按钮一端连接所述键盘排线的多个端子并接地，所述复位按钮的另一端连接所述另一个电源的负极，所述另一个电源的正极连接所述另一个电阻的一端，所述另一个电阻的另一端连接键盘排线的一端子。
5.根据权利要求4所述的键盘测试装置，其特征在于，所述另一个电源为19V，所述另一个电阻的阻值为2.2KΩ。
CN201510250185.6A 2015-05-15 2015-05-15 键盘测试装置 Expired - Fee Related CN106291209B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510250185.6A CN106291209B (zh) 2015-05-15 2015-05-15 键盘测试装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510250185.6A CN106291209B (zh) 2015-05-15 2015-05-15 键盘测试装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN106291209A CN106291209A (zh) 2017-01-04
CN106291209B true CN106291209B (zh) 2018-06-22

Family

ID=57631853

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201510250185.6A Expired - Fee Related CN106291209B (zh) 2015-05-15 2015-05-15 键盘测试装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106291209B (zh)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101568042A (zh) * 2008-04-21 2009-10-28 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 手机键盘灯测试系统及方法
CN201429676Y (zh) * 2009-07-09 2010-03-24 厦门达尔电子有限公司 挠性电路板上按键开关和led灯的测试装置
CN102221672A (zh) * 2010-04-19 2011-10-19 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 按键检测电路
CN202362437U (zh) * 2011-12-01 2012-08-01 群光电子(苏州)有限公司 键盘led灯简易测试治具
CN104142467A (zh) * 2013-05-07 2014-11-12 神讯电脑(昆山)有限公司 键盘寿命测试装置
CN204177925U (zh) * 2014-10-11 2015-02-25 中山恩普吉数码科技有限公司 一种功能按键板的测试装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101568042A (zh) * 2008-04-21 2009-10-28 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 手机键盘灯测试系统及方法
CN201429676Y (zh) * 2009-07-09 2010-03-24 厦门达尔电子有限公司 挠性电路板上按键开关和led灯的测试装置
CN102221672A (zh) * 2010-04-19 2011-10-19 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 按键检测电路
CN202362437U (zh) * 2011-12-01 2012-08-01 群光电子(苏州)有限公司 键盘led灯简易测试治具
CN104142467A (zh) * 2013-05-07 2014-11-12 神讯电脑(昆山)有限公司 键盘寿命测试装置
CN204177925U (zh) * 2014-10-11 2015-02-25 中山恩普吉数码科技有限公司 一种功能按键板的测试装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN106291209A (zh) 2017-01-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN207301294U (zh) 一种负荷点电源通用测试装置
CN106291209B (zh) 键盘测试装置
CN205427089U (zh) 一种电缆导通绝缘测试装置
CN105202987A (zh) 一种数显卡尺用零件自动评分设备及其工作方法
CN203479945U (zh) 航插接口测试装置
CN101876682B (zh) 测试装置
CN203909180U (zh) 一种can总线终端电阻检测装置
CN203443981U (zh) 用于柔性印刷线路板电测的转接装置
CN203720295U (zh) 电脑外置接口可靠性测试装置
CN106324410B (zh) 触摸屏测试装置
CN204392380U (zh) 整机mmi的自动化测试平台结构
CN207817645U (zh) 一种新型电子屏幕点击器
CN202002993U (zh) 同轴线缆测试装置
CN103529374B (zh) 一种可控硅简易检测板
CN104793093A (zh) 电脑外置接口可靠性测试装置
CN206862605U (zh) 一种led灯具测试装置
TWI452318B (zh) 電源測試系統
CN202330640U (zh) 键盘薄膜电路板功能测试简易治具
CN206132892U (zh) 一种防爆漏电测试治具
CN103604834B (zh) 一种表贴内存条插座焊接检测装置及方法
CN203630297U (zh) 一种可控硅简易检测板
CN1892233A (zh) 光耦放大式电子测电笔
CN214311711U (zh) 一种电源板和芯片烧录装置
CN102385022A (zh) 导电连接线的批量测试装置
TW200716997A (en) Electrical testing device

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20180622