CN106248214A - 一种红外热像仪测量物体表面发射率的方法 - Google Patents
一种红外热像仪测量物体表面发射率的方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN106248214A CN106248214A CN201510301822.8A CN201510301822A CN106248214A CN 106248214 A CN106248214 A CN 106248214A CN 201510301822 A CN201510301822 A CN 201510301822A CN 106248214 A CN106248214 A CN 106248214A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- imaging system
- thermal imaging
- temperature
- emissivity
- source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
本发明公开了一种红外热像仪测量物体表面发射率的方法,使用稳定了10 min以上的热像仪,调整热像仪的焦距,使被测物体、面源黑体和标准漫反射板能够清晰成像,将热像仪中心像素点P对准面源黑体,调整面源黑体表面温度,使P 点灰度为H2,重复测量,使H1=H2,记录面源黑体温度与标准漫反射板温度,利用热像仪像素点P 测量被测物体表面,使P点灰度为H3,将热像仪中心像素点P再次对准面源黑体,调整面源黑体温度使P点灰度为H2,重复测量,使H2= H3,记录面源黑体温度与被测物体表面温度,分析测量数据获得物体表面发射率,该方法提高了发射率测量精度,误差小,对发射率偏低的设备,测量精度提升较为明显。
Description
技术领域
本发明属于检测领域,具体是一种红外热像仪测量物体表面发射率的方法。
背景技术
发射率(emissivity / emittance) 指物体的辐射能力与相同温度下黑体的辐射能力之比称为该物体的发射率或黑度,也称为辐射率,比辐射率。针对所有波长而言的,因此应称为全发射率,通常就简称为发射率。英语上的emissivity指单一物质的物理特性,跟辐射传热公式中的epsilon互通,emittance指某一样本的发射率。 实际物体的发射率与物体的表面状态(包括物体表面温度、表面粗糙度以及表面氧化层、表面杂质或涂层的存在)有关。金属的发射率随表面温度的上升而增大,而非金属的发射率一般是随表面温度的上升而减小。金属的发射率比非金属的小得多。黑体在单位时间内发出的热辐射能量由斯忒藩-波尔兹曼定律揭示为:Φ=AσT4(温度四次方)在红外检测活动中经常会用到这个词汇,它是检测仪器在检测过程中所测目标的能量与所收集到的能量所成的比例。
发射率是目标红外辐射特性建模与仿真的重要参数,发射率测量精度直接影响目标红外辐射特性计算的精度。目前发射率测量方法包括量热法、反射率法、能量法和多波长法等,这些方法大多需要对被测量表面进行精确控温或对测量环境要求较高,许多大型设备体积庞大、结构复杂,难以精确控制其表面温度,一般的利用红外热像仪或红外测温仪测量此类设备表面发射率的方法多是根据热像仪定标系数,计算物体表面辐射亮度,再结合物体表面温度反推其发射率,但此种方法没有考虑物体反射环境辐射对测量结果的影响,测量精度不高,误差较大。
发明内容
针对现有技术的不足,本发明提供一种红外热像仪测量物体表面发射率的方法,提高了发射率测量精度,误差小,对发射率偏低的设备,测量精度提升较为明显。
实现本发明目的的技术方案是
一种红外热像仪测量物体表面发射率的方法,包含如下步骤:
1)使用稳定了 10 min以上的热像仪,调整热像仪的焦距,使被测物体、面源黑体和标准漫反射板能够清晰成像;
2)用热像仪的中心像素点 P 测量标准漫反射板灰度 H1;
3)将热像仪中心像素点 P 对准面源黑体,调整面源黑体表面温度,使 P 点灰度为 H2;
4)重复步骤2)和步骤3),使H1=H2,记录面源黑体温度与标准漫反射板温度;
5)利用热像仪像素点 P 测量被测物体表面,使 P 点灰度为H3;
6)将热像仪中心像素点 P 再次对准面源黑体,调整面源黑体温度使 P 点灰度为H2;
7)重复步骤5)和步骤6)使H2= H3,记录面源黑体温度与被测物体表面温度;
8)分析测量数据获得物体表面发射率。
本发明的有益效果是
一种红外热像仪测量物体表面发射率的方法,该方法提供了新型的表面发射率测量方法,提高了发射率测量精度,误差小,对发射率偏低的设备,测量精度提升较为明显。
具体实施方式:
一种基于扫描共焦显微镜的表面轮廓检测方法,该方法相对于传统工程测量方法而言提高了发射率测量精度,尤其对发射率偏低的设备,测量精度提升较为明显。
具体包含如下步骤:
第一步,热像仪开机并稳定约 10
min,调整热像仪焦距使其对设备、面源黑体和标准漫反射板清晰成像,调整完毕后不再调整热像仪焦距;
第二步, 利用热像仪的中心像素点 P 测量标准漫反射板灰度 H1;
第三步,调整热像仪角度使像素点 P 对准面源黑体,调整面源黑体温度使 P 点灰度为 H1;
第四步, 重复步骤第二步和第三步,使二者灰度完全相同,记录此时面源黑体温度与标准漫反射板温度;
第五步,利用热像仪像素点 P 测量设备灰度 H2;
第六步,调整热像仪角度使像素点 P 对准面源黑体,调整面源黑体温度使 P 点灰度为 H2;
第七步,重复步骤五、六使二者灰度完全相同,记录此时面源黑体温度与设备温度;
最后,分析测量数据获得表面发射率数值。
Claims (1)
1.一种红外热像仪测量物体表面发射率的方法,其特征在于,包含如下步骤:
1)使用稳定了 10 min以上的热像仪,调整热像仪的焦距,使被测物体、面源黑体和标准漫反射板能够清晰成像;
2)用热像仪的中心像素点 P 测量标准漫反射板灰度 H1;
3)将热像仪中心像素点 P 对准面源黑体,调整面源黑体表面温度,使 P 点灰度为 H2;
4)重复步骤2)和步骤3),使H1=H2,记录面源黑体温度与标准漫反射板温度;
5)利用热像仪像素点 P 测量被测物体表面,使 P 点灰度为H3;
6)将热像仪中心像素点 P 再次对准面源黑体,调整面源黑体温度使 P 点灰度为H2;
7)重复步骤5)和步骤6)使H2= H3,记录面源黑体温度与被测物体表面温度;
8)分析测量数据获得物体表面发射率。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201510301822.8A CN106248214A (zh) | 2015-06-05 | 2015-06-05 | 一种红外热像仪测量物体表面发射率的方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201510301822.8A CN106248214A (zh) | 2015-06-05 | 2015-06-05 | 一种红外热像仪测量物体表面发射率的方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN106248214A true CN106248214A (zh) | 2016-12-21 |
Family
ID=57626331
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201510301822.8A Pending CN106248214A (zh) | 2015-06-05 | 2015-06-05 | 一种红外热像仪测量物体表面发射率的方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN106248214A (zh) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108344511A (zh) * | 2017-01-09 | 2018-07-31 | 杭州美盛红外光电技术有限公司 | 辐射率控制装置和辐射率控制方法 |
CN108712150A (zh) * | 2018-04-16 | 2018-10-26 | 中国计量大学 | 塔式太阳能用定日镜镜面发射率和洁净程度检测方法 |
CN109211959A (zh) * | 2017-06-29 | 2019-01-15 | 洛阳尖端技术研究院 | 一种基于红外热像仪的发射率测试方法 |
CN110017902A (zh) * | 2019-04-19 | 2019-07-16 | 西安应用光学研究所 | 高温目标材料红外发射率测量装置及方法 |
CN114113219A (zh) * | 2021-12-03 | 2022-03-01 | 哈尔滨工业大学 | 一种红外涂层的损伤检测方法及系统 |
-
2015
- 2015-06-05 CN CN201510301822.8A patent/CN106248214A/zh active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108344511A (zh) * | 2017-01-09 | 2018-07-31 | 杭州美盛红外光电技术有限公司 | 辐射率控制装置和辐射率控制方法 |
CN109211959A (zh) * | 2017-06-29 | 2019-01-15 | 洛阳尖端技术研究院 | 一种基于红外热像仪的发射率测试方法 |
CN108712150A (zh) * | 2018-04-16 | 2018-10-26 | 中国计量大学 | 塔式太阳能用定日镜镜面发射率和洁净程度检测方法 |
CN108712150B (zh) * | 2018-04-16 | 2019-09-20 | 中国计量大学 | 塔式太阳能用定日镜镜面发射率和洁净程度检测方法 |
CN110017902A (zh) * | 2019-04-19 | 2019-07-16 | 西安应用光学研究所 | 高温目标材料红外发射率测量装置及方法 |
CN114113219A (zh) * | 2021-12-03 | 2022-03-01 | 哈尔滨工业大学 | 一种红外涂层的损伤检测方法及系统 |
CN114113219B (zh) * | 2021-12-03 | 2023-11-17 | 哈尔滨工业大学 | 一种红外涂层的损伤检测方法及系统 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN106248214A (zh) | 一种红外热像仪测量物体表面发射率的方法 | |
CN103528694B (zh) | 一种用红外热像仪测量目标物体的温度的方法 | |
CN108562363B (zh) | 一种红外辐射特征瞬态温度场精确测量方法 | |
CN102818636B (zh) | 一种红外热像仪低温测温的辐射定标方法 | |
Zhang et al. | A method for reducing the influence of measuring distance on infrared thermal imager temperature measurement accuracy | |
CN109870239A (zh) | 非制冷红外焦平面探测器自适应定标方法 | |
CN104634458A (zh) | 一种测温标定系统及测温方法 | |
CN106124062A (zh) | 一种基于历史数据的红外测温自动补偿方法 | |
CN106468636A (zh) | 基于紫外照明dic的高温材料机械性能加载测量系统 | |
CN104764528A (zh) | 一种煤岩裂隙发育过程中的热红外信息去噪方法 | |
CN103675019A (zh) | 一种红外热像仪快速测量材料表面发射率的方法 | |
CN105004754A (zh) | 一种发射率的测量方法 | |
CN111947785A (zh) | 一种测温红外热像仪噪声等效温差校准方法 | |
CN105716721A (zh) | 一种红外温度检测精度校正方法 | |
CN104316194A (zh) | 一种调光式红外辐射标定方法 | |
CN102621180B (zh) | 一种节能门窗性能测试方法 | |
CN104101432B (zh) | 一种测量封闭空腔金属器具内壁温度分布的方法 | |
CN110455417A (zh) | 针对红外光学系统杂散辐射的定量测量误差校正方法 | |
CN111289148B (zh) | 一种基于现场校准的瞬态火球参数获取方法 | |
CN109269682A (zh) | 一种热流传感器的标定装置和标定方法 | |
CN212030747U (zh) | 红外热成像设备的检测系统 | |
CN112229523A (zh) | 一种红外热成像测温方法及装置 | |
Whitenton | An introduction for machining researchers to measurement uncertainty sources in thermal images of metal cutting | |
TWI636251B (zh) | 熱特性量測裝置 | |
CN106404177B (zh) | 红外线扫描测温修正方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20161221 |