CN106247967A - 一种基板翘曲量的测量装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种基板翘曲量的测量装置及方法，用于测量显示母板的基板翘曲量，所述显示母板包括相对而置的第一基板和第二基板，所述测量装置包括：光源、测量目镜及处理器；所述光源，用于向所述显示母板的待测量区域发射单色光，形成牛顿环干涉图案；所述测量目镜，用于采集所述牛顿环干涉图案，并测量出所述牛顿环干涉图案中每条干涉条纹的直径及对应的级数；所述处理器，与所述测量目镜连接，用于根据每条干涉条纹的直径、对应的级数及所述单色光的波长，得到每条干涉条纹处的空气层厚度，以获得所述显示母板的待测量区域的翘曲量。本发明能够判定显示区域边缘处的发黄程度，进而在制程中对局部发黄进行监控，避免资材浪费。

Description

一种基板翘曲量的测量装置及方法

技术领域

本发明涉及基板检测技术领域，尤其涉及一种基板翘曲量的测量装置及方法。

背景技术

薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，简称TFT-LCD)的显示面板主要包括彩膜基板和阵列基板，两基板采用封框胶(Sealant)在贴合工艺段将四周粘合。通常，在制程中，为保证两基板不会因为大气压力而导致局部翘曲，TFT-LCD制程中，为保证两基板的平坦性，会在显示面板对应的显示区域边界处的MainSealant之外设置Dummy Sealant和Loop Sealant用于支撑。

但是，由于Sealant支撑性较差，加之周边Dummy Pattern的不均一性，且各Sealant之间有一定距离，受到Dummy Pattern的影响，Sealant亦无法遍布所有非显示区域。这就造成在显示区域外部，尤其是在Dummy Pattern支撑较弱的区域会形成基板翘曲。由杠杆作用可知，非显示区域基板下陷之后，必然会导致显示区域周边基板上翘，形成局部的盒厚(Cell Gap)偏高，造成相关显示不良(如局部发黄等)。另外，诸如局部发黄的周边缺陷型不良亦缺乏制程中检查机制，无法在产品完全制成前进行先期检查，容易造成资材浪费。

发明内容

针对现有技术的缺陷，本发明提供一种基板翘曲量的测量装置及方法，能够解决现有技术中显示面板中基板翘曲造成显示不良，且制程中无法精确判定显示区域局部发黄程度的问题。

第一方面，本发明提供了一种基板翘曲量的测量装置，用于测量显示母板的基板翘曲量，所述显示母板包括相对而置的第一基板和第二基板，所述测量装置包括：光源、测量目镜及处理器；

所述光源，用于向所述显示母板的待测量区域发射单色光，在所述待测量区域的基板翘曲位置形成牛顿环干涉图案；

所述测量目镜，用于采集所述牛顿环干涉图案，并测量出所述牛顿环干涉图案中每条干涉条纹的直径及对应的级数；

所述处理器，与所述测量目镜连接，用于根据每条干涉条纹的直径、对应的级数及所述单色光的波长，得到每条干涉条纹处的空气层厚度，以获得所述显示母板的待测量区域的翘曲量；

其中，所述显示母板的待测量区域包括：水平的第二基板和向所述第二基板凹陷呈曲面的第一基板。

优选地，所述处理器，还用于：

根据每条干涉条纹处的空气层厚度以及预设盒厚，获得与所述牛顿环干涉图案临近的显示面板的显示区域边缘处的盒厚；

根据所述显示区域边缘的盒厚，判定所述显示区域边缘处的发黄程度。

优选地，所述处理器，具体用于：

根据每条干涉条纹的直径、对应的级数及所述单色光的波长，采用公式一得到每条干涉条纹处的空气层厚度：

其中，n、m均表示干涉条纹的级数，且n>m，d_n为第n级干涉条纹处的空气层厚度，D_n为第n级干涉条纹的直径，D_m为第m级干涉条纹的直径，λ为所述单色光的波长。

优选地，所述处理器，具体用于：

根据每条干涉条纹处的空气层厚度，以及预设盒厚，采用公式二得到与所述牛顿环干涉图案临近的显示区域边缘处的盒厚：

d1_n-d＝d-d_n 公式二

其中，d1_n为显示区域边缘处的盒厚，d为预设盒厚，d_n为干涉条纹处的空气层的厚度；d_n至显示区域与非显示区域分界处的第一封框胶的距离与d1_n至所述第一封框胶的距离相等。

优选地，所述处理器，还用于：

根据所述d1_n-d的值，判定d1_n对应的所述显示区域边缘处的发黄程度。

第二方面，本发明提供了一种基板翘曲量的测量方法，包括：

光源向显示母板的待测量区域发射单色光，在所述待测量区域的基板翘曲位置形成牛顿环干涉图案；

测量目镜采集所述牛顿环干涉图案，并测量出所述牛顿环干涉图案中每条干涉条纹的直径及对应的级数；

处理器根据每条干涉条纹的直径、对应的级数及所述单色光的波长，得到每条干涉条纹处的空气层厚度，以获得所述显示面板的待测量区域的翘曲量；

其中，所述显示母板的待测区域包括：水平的第二基板和向所述第二基板凹陷呈曲面的第一基板。

优选地，所述光源向显示母板的待测量区域发射单色光，以形成牛顿环干涉图案，包括：

所述光源向显示母板的待测量区域发射垂直于所述第二基板的多束单色光，在所述待测量区域的基板翘曲位置形成牛顿环干涉图案。

优选地，所述方法还包括：

所述处理器根据每条干涉条纹处的空气层厚度以及预设盒厚，获得与所述牛顿环干涉图案临近的显示面板的显示区域边缘处的盒厚；

所述处理器根据所述显示区域边缘的盒厚，判定所述显示区域边缘处的发黄程度。

优选地，所述根据每条干涉条纹的直径、对应的级数及所述单色光的波长，得到每条干涉条纹处的空气层厚度，包括：

根据每条干涉条纹的直径、对应的级数及所述单色光的波长，采用公式一得到每条干涉条纹处的空气层厚度：

其中，n、m均表示干涉条纹的级数，且n>m，d_n为第n级干涉条纹处的空气层厚度，D_n为第n级干涉条纹的直径，D_m为第m级干涉条纹的直径，λ为所述单色光的波长。

优选地，所述根据每条干涉条纹处的空气层厚度以及预设盒厚，获得与所述牛顿环干涉图案临近的显示面板的显示区域边缘处的盒厚，包括：

根据每条干涉条纹处的空气层厚度，以及预设盒厚，采用公式二得到与所述牛顿环干涉图案临近的显示区域边缘处的盒厚：

d1_n-d＝d-d_n 公式二

其中，d1_n为显示区域边缘处的盒厚，d为预设盒厚，d_n为干涉条纹处的空气层的厚度；d_n至显示区域与非显示区域分界处的第一封框胶的距离与d1_n至所述第一封框胶的距离相等。

优选地，所述根据所述显示区域边缘的盒厚，判定所述显示区域边缘处的发黄程度，包括：

根据所述d1_n-d的值，判定d1_n对应的所述显示区域边缘处的发黄程度。

优选地，所述方法还包括：

所述处理器根据插值计算，获得所述牛顿环干涉图案对应区域的第一基板的形变曲线。

由上述技术方案可知，本发明提供一种基板翘曲量的测量装置及方法，通过光源发射单色光至显示母板的待测量区域，以根据形成的牛顿环干涉图案确定待测量区域的基板翘曲。并通过测量目镜采集牛顿环干涉图案，并根据牛顿环干涉图案获得非显示区域翘曲位置的空气薄层的厚度，以获得所述显示母板的待测量区域的翘曲量。如此，根据该翘曲量容易获得与牛顿环干涉图案临近的显示面板的显示区域边缘处的盒厚，从而判定显示区域边缘处的发黄程度。进而在制程中对局部发黄进行监控，避免资材浪费。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些图获得其他的附图。

图1是本发明一实施例提供的显示母板的俯视结构示意图；

图2是本发明一实施例提供的图1所示显示母板的A-A’剖面示意图；

图3是本发明一实施例提供的一种基板翘曲量的测量装置的结构示意图；

图4是本发明另一实施例提供的基板翘曲量的测量装置的测量示意图；

图5是本发明另一实施例提供的牛顿环干涉图案的示意图；

图6是本发明一实施例提供的一种基板翘曲量的测量方法的流程示意图；

图7是本发明另一实施例提供的的一种基板翘曲量的测量方法的流程示意图；

其中，图1～图4中附图标记说明：101-第一基板、102-第三封框胶、103-第二封框胶、104-第一封框胶、105-显示面板、106-隔垫物PS、107-PS Pillow、108-栅线、109-绝缘层、110-第二基板、1-牛顿环干涉图案、200-测量目镜。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明一实施例提供了一种基板翘曲量的测量装置，该基板翘曲量的测量装置用于测量显示母板的基板翘曲量，所述显示母板包括相对而置的第一基板和第二基板，所述测量装置包括：光源、测量目镜及处理器；

所述光源，用于向所述显示母板的待测量区域发射单色光，在所述待测量区域的基板翘曲位置形成牛顿环干涉图案。

所述测量目镜，用于采集所述牛顿环干涉图案，并测量出所述牛顿环干涉图案中每条干涉条纹的直径及对应的级数。

所述处理器，与所述测量目镜连接，用于根据每条干涉条纹的直径、对应的级数及所述单色光的波长，得到每条干涉条纹处的空气层厚度，以获得所述显示母板的待测量区域的翘曲量。

其中，所述显示母板的待测量区域包括：水平的第二基板和向所述第二基板凹陷呈曲面的第一基板。

举例来说，如图3所示基板翘曲量的测量装置包括：具备单色光发射功能的测量目镜200及处理器(图3中未示出)。该测量装置用于测量显示母板的基板翘曲量。

具体来说，如图1所示的显示母板的俯视结构示意图，图2是图1所示的显示母板的A-A’剖面示意图，该显示母板包括：相对而置的第一基板101、第二基板110、以及设置在所述第一基板101和所述第二基板110之间的用于密封所述第一基板101和第二基板110的第一封框胶104、第二封框胶103和第三封框胶102。其中，所述第一封框胶104限定出多个显示面板105，所述第二封框胶103围绕预设数量的显示面板105限定出多个封闭区域，所述第三封框胶102设置于所述第一基板101与所述第二基板110的周边区域。

由于大气压影响，易在第一封框胶104(Main Sealant)和第二封框胶103(DummySealant)之间形成基板翘曲，尤其是在Dummy Pattern支撑较弱的区域，此现象更明显。如图2所示，由杠杆作用可知，非显示区域的基板下陷之后，必然会导致显示区域周边基板上翘，形成显示区域局部的盒厚偏高，造成相关显示不良(如局部发黄)。

进一步地，采用图3所示的基板翘曲量测量装置的测量目镜200发出的单色光照射该显示母板的待测量区域时，如图1所示，在第一封框胶104和第二封框胶103之间出现牛顿环干涉图案1，则测量目镜200采集该牛顿环干涉图案1，并测量出所述牛顿环干涉图案中每条干涉条纹的直径及对应的级数。则处理器则根据每条干涉条纹的直径、对应的级数及所述单色光的波长，得到每条干涉条纹处的空气层厚度，以获得所述显示母板的待测量区域的翘曲量。即获得显示母板的待测量区域对应的第一基板101的翘曲量。

由此可见，本实施例利用源发出的单色光照射翘曲基板引起的干涉条纹现象，测量出基板的翘曲量，从而推算出局部发黄的程度。进而在制程中对局部发黄进行监控，避免资材浪费。

进一步地，在本发明的一个可选实施例中，所述处理器，还用于：

当所述牛顿环干涉图案位于所述第一封框胶与所述第二封框胶之间时，根据每条干涉条纹处的空气层厚度以及预设盒厚，获得与所述牛顿环干涉图案临近的显示面板的显示区域边缘处的盒厚；根据所述显示区域边缘的盒厚，判定所述显示区域边缘处的发黄程度。

具体来说，所述处理器，具体用于：

根据每条干涉条纹的直径、对应的级数及所述单色光的波长，采用式(1)得到每条干涉条纹处的空气层厚度：

$d_n=\frac{(n-m)}{2}\frac{{D_n}^2}{{D_n}^2-{D_m}^2}\mathrm{\λ}---\left(1\right)$

其中，n、m均表示干涉条纹的级数，且n>m，d_n为第n级干涉条纹处的空气层厚度，D_n为第n级干涉条纹的直径，D_m为第m级干涉条纹的直径，λ为所述单色光的波长。

需要说明的是，由于干涉条纹包括明条纹和暗条纹，则上述公式(1)中的干涉条纹为明条纹或者为暗条纹。以暗条纹为例，牛顿环干涉图案中的中心的暗点对应0级暗条纹，且暗条纹的级数向外依次为1级、2级、…，以此类推。

如图4所示，两基板翘曲的位置，会在两基板之间形成一劈尖状空气薄层，有相干光原理可知当单色光垂直入射时，入射光在空气薄层的上下表面依此发生反射，两次反射光之间有一光程差，在透镜表面相遇时就会发生干涉现象，形成干涉条纹(即牛顿环)。图4中曲率半径较大的玻璃101和平面玻璃110在O点相较，曲面玻璃101的圆心曲率圆心设为O’，其曲率半径设为R。空气薄层的厚度设为d，在厚度d相同的位置将形成连贯的干涉条纹，该类干涉条纹是以接触点O为中心的一系列明暗相间的同心圆环(实际生产中产生的为椭圆状)，该系列圆环称之为牛顿环。

如图5所示的牛顿环干涉图案示意图，研究m级和n级干涉条纹，则根据上式(1)可求得不同级数的干涉条纹对应的空气层厚度。由式(1)可知，只要已知单色光波长λ，又能测出两条干涉条纹的半径D_m和D_n，以及级数差n-m，就可以得出n级干涉条纹处的空气层厚度d_n。

进一步地，所述处理器，具体用于：

根据每条干涉条纹处的空气层厚度，以及预设盒厚，采用式(2)得到与所述牛顿环干涉图案临近的显示区域边缘处的盒厚：

d1_n-d＝d-d_n (2)

其中，d1_n为显示区域边缘处的盒厚，d为预设盒厚，d_n为干涉条纹处的空气层的厚度；d_n至显示区域与非显示区域分界处的第一封框胶的距离与d1_n至所述第一封框胶的距离相等。

如图2所示，设计初衷为d1_n＝d_n＝d，但由于杠杆作用的影响，容易导致d1_n>d>d_n，其中d1_n为显示区域边缘。由于d1_n的升高，尤其是局部d1_n的升高，将使得显示面板边缘的局部发黄现象，d1_n升高越多，局部发黄现象越明显(根据经验，其升高值d1_n-d>0.2μm时，局部发黄的程度将无法被接受)。

由于杠杆效应，以第一封框胶104为支点，第一封框胶104左侧将呈现上升趋势，显示区域边缘的两个基板距离为d1_n，由几何关系可得到上式(2)。由此，通过上式(2)测得非显示区域的一系列d_n，并根据已知的d，便可以得到对应位置的显示区域的一系列d1_n值。

进一步地，所述处理器，还用于：

根据所述d1_n-d的值，判定d1_n对应的所述显示区域边缘处的发黄程度。

具体来说，将d1_n-d的值与经验值比较，可判定局部发黄程度。d1_n-d的值越大，局部发黄现象越明显。如此，通过测定第一封框胶104与第二封框胶103之间区域对应的牛顿环干涉图案的直径，通过计算可推算出显示区域边缘盒厚大小，从而判定局部发黄程度。

图6是本发明一实施例中的一种基板翘曲量的测量方法的流程示意图，如图6所示，该方法包括如下步骤：

S1：光源向显示母板的待测量区域发射单色光，在所述待测量区域的基板翘曲位置形成牛顿环干涉图案。

具体来说，光源向显示母板的待测量区域发射单色光，若待测量区域的基板翘曲，则会形成牛顿环干涉图案。

S2：测量目镜采集所述牛顿环干涉图案，并测量出所述牛顿环干涉图案中每条干涉条纹的直径及对应的级数。

S3：处理器根据每条干涉条纹的直径、对应的级数及所述单色光的波长，得到每条干涉条纹处的空气层厚度，以获得所述显示面板的待测量区域的翘曲量。

其中，所述显示母板的待测区域包括：水平的第二基板和向所述第二基板凹陷呈曲面的第一基板。

由此可见，本实施例利用源发出的单色光照射翘曲基板引起的干涉条纹现象，测量出基板的翘曲量，从而推算出局部发黄的程度。进而在制程中对局部发黄进行监控，避免资材浪费。

本实施例中，步骤S1，具体包括：

所述光源向显示母板的待测量区域发射垂直于所述第二基板的多束单色光，在所述待测量区域的基板翘曲位置形成牛顿环干涉图案。

进一步地，如图7所示，所述方法还包括如下步骤：

S4：所述处理器根据每条干涉条纹处的空气层厚度以及预设盒厚，获得与所述牛顿环干涉图案临近的显示面板的显示区域边缘处的盒厚；

S5：所述处理器根据所述显示区域边缘的盒厚，判定所述显示区域边缘处的发黄程度。

具体地，步骤S3中的所述根据每条干涉条纹的直径、对应的级数及所述单色光的波长，得到每条干涉条纹处的空气层厚度，具体包括：

根据每条干涉条纹的直径、对应的级数及所述单色光的波长，采用公式一得到每条干涉条纹处的空气层厚度：

其中，n、m均表示干涉条纹的级数，且n>m，d_n为第n级干涉条纹处的空气层厚度，D_n为第n级干涉条纹的直径，D_m为第m级干涉条纹的直径，λ为所述单色光的波长。

进一步地，步骤S4，具体包括：

根据每条干涉条纹处的空气层厚度，以及预设盒厚，采用公式二得到与所述牛顿环干涉图案临近的显示区域边缘处的盒厚：

d1_n-d＝d-d_n 公式二

其中，d1_n为显示区域边缘处的盒厚，d为预设盒厚，d_n为干涉条纹处的空气层的厚度；d_n至显示区域与非显示区域分界处的第一封框胶的距离与d1_n至所述第一封框胶的距离相等。

进一步地，步骤S5，具体包括：

根据所述d1_n-d的值，判定d1_n对应的所述显示区域边缘处的发黄程度。

如此，本实施例通过测定第一封框胶与第二封框胶之间区域对应的牛顿环干涉图案的直径，通过计算可推算出显示区域边缘盒厚大小，从而判定局部发黄程度。进而在制程中对局部发黄进行监控，避免资材浪费。

在本发明的一个可选实施例中，除了上述步骤，所述方法还包括如下步骤：

所述处理器根据插值计算，获得所述牛顿环干涉图案对应区域的第一基板的形变曲线。

需要说明的是，上述任一实施例中的基板翘曲量的测量装置及方法，适合各类模式的TFT-LCD制程。如TN、ADS、VA、IPS均可适用。

在本发明的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (12)

1.一种基板翘曲量的测量装置，用于测量显示母板的基板翘曲量，所述显示母板包括相对而置的第一基板和第二基板，其特征在于，所述测量装置包括：光源、测量目镜及处理器；

所述光源，用于向所述显示母板的待测量区域发射单色光，在所述待测量区域的基板翘曲位置形成牛顿环干涉图案；

所述测量目镜，用于采集所述牛顿环干涉图案，并测量出所述牛顿环干涉图案中每条干涉条纹的直径及对应的级数；

所述处理器，与所述测量目镜连接，用于根据每条干涉条纹的直径、对应的级数及所述单色光的波长，得到每条干涉条纹处的空气层厚度，以获得所述显示母板的待测量区域的翘曲量；

其中，所述显示母板的待测量区域包括：水平的第二基板和向所述第二基板凹陷呈曲面的第一基板。

2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述处理器，还用于：

根据每条干涉条纹处的空气层厚度以及预设盒厚，获得与所述牛顿环干涉图案临近的显示面板的显示区域边缘处的盒厚；

根据所述显示区域边缘的盒厚，判定所述显示区域边缘处的发黄程度。

3.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述处理器，具体用于：

根据每条干涉条纹的直径、对应的级数及所述单色光的波长，采用公式一得到每条干涉条纹处的空气层厚度：

其中，n、m均表示干涉条纹的级数，且n>m，d_n为第n级干涉条纹处的空气层厚度，D_n为第n级干涉条纹的直径，D_m为第m级干涉条纹的直径，λ为所述单色光的波长。

4.根据权利要求2所述的测量装置，其特征在于，所述处理器，具体用于：

根据每条干涉条纹处的空气层厚度，以及预设盒厚，采用公式二得到与所述牛顿环干涉图案临近的显示区域边缘处的盒厚：

d1_n-d＝d-d_n 公式二

其中，d1_n为显示区域边缘处的盒厚，d为预设盒厚，d_n为干涉条纹处的空气层的厚度；d_n至显示区域与非显示区域分界处的第一封框胶的距离与d1_n至所述第一封框胶的距离相等。

5.根据权利要求4所述的测量装置，其特征在于，所述处理器，还用于：

根据所述d1_n-d的值，判定d1_n对应的所述显示区域边缘处的发黄程度。

6.一种基板翘曲量的测量方法，其特征在于，包括：

光源向显示母板的待测量区域发射单色光，在所述待测量区域的基板翘曲位置形成牛顿环干涉图案；

测量目镜采集所述牛顿环干涉图案，并测量出所述牛顿环干涉图案中每条干涉条纹的直径及对应的级数；

处理器根据每条干涉条纹的直径、对应的级数及所述单色光的波长，得到每条干涉条纹处的空气层厚度，以获得所述显示面板的待测量区域的翘曲量；

其中，所述显示母板的待测区域包括：水平的第二基板和向所述第二基板凹陷呈曲面的第一基板。

7.根据权利要求6所述的测量方法，其特征在于，所述光源向显示母板的待测量区域发射单色光，在所述待测量区域的基板翘曲位置形成牛顿环干涉图案，包括：

所述光源向显示母板的待测量区域发射垂直于所述第二基板的多束单色光，在所述待测量区域的基板翘曲位置形成牛顿环干涉图案。

8.根据权利要求6所述的测量方法，其特征在于，所述方法还包括：

所述处理器根据每条干涉条纹处的空气层厚度以及预设盒厚，获得与所述牛顿环干涉图案临近的显示面板的显示区域边缘处的盒厚；

所述处理器根据所述显示区域边缘的盒厚，判定所述显示区域边缘处的发黄程度。

9.根据权利要求6所述的测量方法，其特征在于，所述根据每条干涉条纹的直径、对应的级数及所述单色光的波长，得到每条干涉条纹处的空气层厚度，包括：

根据每条干涉条纹的直径、对应的级数及所述单色光的波长，采用公式一得到每条干涉条纹处的空气层厚度：

其中，n、m均表示干涉条纹的级数，且n>m，d_n为第n级干涉条纹处的空气层厚度，D_n为第n级干涉条纹的直径，D_m为第m级干涉条纹的直径，λ为所述单色光的波长。

10.根据权利要求8所述的测量方法，其特征在于，所述根据每条干涉条纹处的空气层厚度以及预设盒厚，获得与所述牛顿环干涉图案临近的显示面板的显示区域边缘处的盒厚，包括：

根据每条干涉条纹处的空气层厚度，以及预设盒厚，采用公式二得到与所述牛顿环干涉图案临近的显示区域边缘处的盒厚：

d1_n-d＝d-d_n 公式二

其中，d1_n为显示区域边缘处的盒厚，d为预设盒厚，d_n为干涉条纹处的空气层的厚度；d_n至显示区域与非显示区域分界处的第一封框胶的距离与d1_n至所述第一封框胶的距离相等。

11.根据权利要求12所述的测量方法，其特征在于，所述根据所述显示区域边缘的盒厚，判定所述显示区域边缘处的发黄程度，包括：

根据所述d1_n-d的值，判定d1_n对应的所述显示区域边缘处的发黄程度。

12.根据权利要求6～11中任一项所述的测量方法，其特征在于，所述方法还包括：

所述处理器根据插值计算，获得所述牛顿环干涉图案对应区域的第一基板的形变曲线。