CN106205537A - 用于系统端与显示面板兼容的自动识别方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种用于系统端与显示面板兼容的自动识别方法及装置,该自动识别方法包括持续检测显示面板输出的第一电压信号和第二电压信号;根据所述第一电压信号的状态变化确定所述第二电压信号的识别区间;在所述识别区间内对所述第二电压信号的状态变化进行检测;根据对所述第二电压信号的检测结果获取显示面板的类型,并根据显示面板的类型对系统端进行调整以使系统端与显示面板兼容。该方法解决了现有技术中基于料号的方式对系统端和显示面板进行搭配时易出现错误的问题,同时降低了搭配管理的成本。
Description
技术领域
本发明属于液晶显示领域,尤其涉及一种用于系统端与显示面板兼容的自动识别方法及装置。
背景技术
薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,TFTLCD)是当前平板显示的主要品种之一,已经成为了现代IT、视讯产品中重要的显示平台。
TFT LCD的主要驱动原理为,系统主板将R/G/B压缩信号、控制信号及动力通过线材与PCB板上的连接器connector相连接,数据经过PCB板上的时序控制器芯片(TimingController,TCON)处理后,经PCB板、源极驱动电路(Source-Chip on Film,S-COF)和栅极驱动电路(Gate-Chip on Film,G-COF)与显示面板上显示区连接,从而使得LCD获得所需的电源和信号,如图1所示。
因为不同供应商所提供的显示面板的光学表现等特性不同,不同供应商生产的不同面板在具体使用时对应于不同的系统参数,需要针对不同的显示面板对系统端进行调节,即搭配不同显示面板的系统端设定不同。如果不能正确识别某一个面板是哪一个厂家生产的,会导致系统参数与面板不匹配,从而增加加工时间,加重工作负担。
现有方式是主要通过料号的方式对不同的系统端设定进行管控,管理成本高,且易出现搭配错误。本发明针对上述问题提出解决方案。
发明内容
本发明所要解决的技术问题之一是需要提供一种低成本且准确度高的系统端与显示面板的搭配方法。
为了解决上述技术问题,本申请的实施例首先提供了一种用于系统端与显示面板兼容的自动识别方法,包括:持续检测显示面板输出的第一电压信号和第二电压信号;根据所述第一电压信号的状态变化确定所述第二电压信号的识别区间;在所述识别区间内对所述第二电压信号的状态变化进行检测;根据对所述第二电压信号的检测结果获取显示面板的类型,并根据显示面板的类型对系统端进行调整以使系统端与显示面板兼容。
优选地,所述根据所述第一电压信号的状态变化确定所述第二电压信号的识别区间,包括:将所述第一电压信号发生的第一次状态变化确定为所述第二电压信号的识别区间的起始点;将所述第一电压信号发生的第二次状态变化确定为所述第二电压信号的识别区间的结束点。
优选地,所述在所述识别区间内对所述第二电压信号的状态变化进行检测,包括:在获取所述第二电压信号的识别区间的起始点后,启动对所述第二电压信号的状态变化进行计数,所述第二电压信号每发生一次状态变化,计数值加一;在获取所述第二电压信号的识别区间的结束点后,停止计数,将所述计数值作为检测结果。
优选地,所述状态变化包括信号发生电压跳变时的上升沿或下降沿。
优选地,所述状态变化包括信号发生电压跳变时的正脉冲或负脉冲。
优选地,所述根据显示面板的类型对系统端进行调整以使系统端与显示面板兼容包括调整系统端的光学特性参数的设定。
本申请的实施例还提供了一种用于系统端与显示面板兼容的自动识别装置,包括:检测模块,其持续检测显示面板输出的第一电压信号和第二电压信号;识别区间确定模块,其根据所述第一电压信号的状态变化确定所述第二电压信号的识别区间;识别模块,其在所述识别区间内对所述第二电压信号的状态变化进行检测;调整模块,其根据对所述第二电压信号的检测结果获取显示面板的类型,并根据显示面板的类型对系统端进行调整以使系统端与显示面板兼容。
优选地,所述识别区间确定模块将所述第一电压信号发生的第一次状态变化确定为所述第二电压信号的识别区间的起始点;将所述第一电压信号发生的第二次状态变化确定为所述第二电压信号的识别区间的结束点。
优选地,所述识别模块在获取所述第二电压信号的识别区间的起始点后,启动对所述第二电压信号的状态变化进行计数,所述第二电压信号每发生一次状态变化,计数值加一;在获取所述第二电压信号的识别区间的结束点后,停止计数,将所述计数值作为检测结果。
优选地,所述调整模块调整系统端的光学特性参数的设定。
与现有技术相比,上述方案中的一个或多个实施例可以具有如下优点或有益效果:
通过对显示面板发出的第一电压信号和第二电压信号进行识别来确定显示面板的类型,解决了现有技术中基于料号的方式对系统端和显示面板进行搭配时易出现错误的问题,同时降低了搭配管理的成本。
本发明的其他优点、目标,和特征在某种程度上将在随后的说明书中进行阐述,并且在某种程度上,基于对下文的考察研究对本领域技术人员而言将是显而易见的,或者可以从本发明的实践中得到教导。本发明的目标和其他优点可以通过下面的说明书,权利要求书,以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
附图用来提供对本申请的技术方案或现有技术的进一步理解,并且构成说明书的一部分。其中,表达本申请实施例的附图与本申请的实施例一起用于解释本申请的技术方案,但并不构成对本申请技术方案的限制。
图1为现有技术中薄膜晶体管液晶显示器的驱动架构示意图;
图2为根据本发明一实施例的用于系统端与显示面板兼容的自动识别方法的流程示意图;
图3为根据本发明另一实施例的用于生成第一电压信号和第二电压信号的信号生成电路的结构示意图;
图4为图3所示的信号生成电路的检测波形示意图;
图5为根据本发明又一实施例的用于系统端与显示面板兼容的自动识别装置的结构示意图。
具体实施方式
以下将结合附图及实施例来详细说明本发明的实施方式,借此对本发明如何应用技术手段来解决技术问题,并达成相应技术效果的实现过程能充分理解并据以实施。本申请实施例以及实施例中的各个特征,在不相冲突前提下可以相互结合,所形成的技术方案均在本发明的保护范围之内。
图2为根据本发明一实施例的用于系统端与显示面板兼容的自动识别方法的流程示意图,如图所示,该方法包括以下步骤:
步骤S210、持续检测显示面板输出的第一电压信号和第二电压信号。
步骤S220、根据第一电压信号的状态变化确定第二电压信号的识别区间。
步骤S230、在识别区间内对第二电压信号的状态变化进行检测。
步骤S240、根据对第二电压信号的检测结果获取显示面板的类型,并根据显示面板的类型对系统端进行调整以使系统端与显示面板兼容。
具体的,在步骤S210中,在显示面板上设置有一个信号生成电路,在液晶显示器开机后,液晶显示器的系统端会持续获取该信号生成电路输出的第一电压信号和第二电压信号。
在步骤S220中,通过判断第一电压信号的状态变化来确定第二电压信号的识别区间。在本发明的实施例中,第一电压信号和第二电压信号均为二值状态,即为第一电压信号和第二电压信号分别定义两个状态。
将第一电压信号和第二电压信号的高电压(例如3.3V)定义为一个信号状态,将第一电压信号和第二电压信号的低电压(例如0V)定义为另一个信号状态,因此,一方面,本发明实施例中所说的状态变化指的是低电压跳变为高电压时的上升沿,或高电压跳变为低电压时的下降沿。实际检测时,可以采用边沿触发器进行信号获取。
另一方面,本发明实施例中所说的状态变化也可以指当信号的稳定状态为高电压时,且发生电压跳变时的负脉冲,或当信号的稳定状态为低电压时,且发生电压跳变时的正脉冲。实际检测时,可以采用电平触发器进行信号获取。
在检测到第一电压信号发生第一次状态变化时,将其确定为第二电压信号的识别区间的起始点,可以生成并输出一个起始信号。在检测到第一电压信号发生第二次状态变化时,将其确定为第二电压信号的识别区间的结束点,可以生成并输出一个结束信号。
接下来,在步骤S230中,在起始信号与结束信号所界定的识别区间内对第二电压信号的状态变化进行检测。
在本发明的一个实施例中,在接收到起始信号后,开始对第二电压信号的状态变化进行计数。具体的,可以采用计数器对第二电压信号进行计数,第二电压信号每发生一次状态变化,使计数器的计数值加一。在接收到结束信号后,停止计数,将计数值作为对第二电压信号的检测结果。
最后,在步骤S240中,通过这个计数值来判断是哪个供应商提供的面板,对不同厂的面板区别设置参数,包括调整系统端的光学特性参数的设定等,使系统端与显示面板兼容。
本发明实施例的自动识别方法,系统端通过对显示面板输出的第一电压信号和第二电压信号进行检测和识别来获取显示面板的类型信息,并进一步根据显示面板的类型信息进行参数的调整,实现系统端和显示面板之间的自动的识别和兼容,进而减少错误匹配所增加的时间和成本。
在本发明的另一实施例中,提出了一种用于生成第一电压信号和第二电压信号的信号生成电路,其结构示意图如图3所示。
该信号生成电路由薄膜晶体管M1和M2以及两个阻值为R的电阻组成,其中,薄膜晶体管M1的栅极端接收信号C1,其源极接信号地GND,其漏极通过电阻R接一高电压VDD,M1的漏极输出信号A,作为第二电压信号。薄膜晶体管M2的栅极端接收信号C2,其源极接信号地GND,其漏极通过电阻R接一高电压VDD,M2的漏极输出信号B,作为第一电压信号。
检测端A和B的高电压对应于图3中的VDD,一般为3.3V,低电压对应于图3中的GND,一般为0V。当M1的栅极为高电平时,M1开启,检测端A输出低电平,当M1的栅极为低电平时,M1关闭,检测端A输出高电平。当M2的栅极为低电平时,M2关闭,检测端B输出高电平,当M2的栅极为高电平时,M2开启,检测端B输出低电平,A和B的波形如图4所示。
当检测到B端的负脉冲(即为低电平信号)时,启动对A端的检测,并且每当A端检测到电压为负脉冲(即为低电平信号)时,计数值就加1。当B端第二次出现负脉冲(即为低电平信号)时,停止计数并停止检测A端,获取最终的计数值。
信号C1和C2用于根据显示面板的类型进行设定。如图4所示,在B端的两个负脉冲信号确定的识别区间内,A端一共被侦测到两个负脉冲,即计数值为2,可以通过查表得知对应的是2号面板供应商,调整系统参数,使得调整后的系统参数可以适应于2号面板的特性。
在本发明的又一个实施例中,还提供了一种用于系统端与显示面板兼容的自动识别装置,其结构如图5所示,包括:
检测模块51,其持续检测显示面板输出的第一电压信号和第二电压信号。
识别区间确定模块52,其根据第一电压信号的状态变化确定第二电压信号的识别区间。
识别模块53,其在识别区间内对第二电压信号的状态变化进行检测。
调整模块54,其根据对第二电压信号的检测结果获取显示面板的类型,并根据显示面板的类型对系统端进行调整以使系统端与显示面板兼容。
上述各模块的具体功能可以根据前一实施例相应的方法步骤得到,此处不再赘述。
本发明实施例适用于对液晶显示面板的来源进行自动识别并匹配,节约管控成本,调高匹配效率与匹配的准确度。
虽然本发明所揭露的实施方式如上,但所述的内容只是为了便于理解本发明而采用的实施方式,并非用以限定本发明。任何本发明所属技术领域内的技术人员,在不脱离本发明所揭露的精神和范围的前提下,可以在实施的形式上及细节上作任何的修改与变化,但本发明的专利保护范围,仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。
Claims (10)
1.一种用于系统端与显示面板兼容的自动识别方法,包括:
持续检测显示面板输出的第一电压信号和第二电压信号;
根据所述第一电压信号的状态变化确定所述第二电压信号的识别区间;
在所述识别区间内对所述第二电压信号的状态变化进行检测;
根据对所述第二电压信号的检测结果获取显示面板的类型,并根据显示面板的类型对系统端进行调整以使系统端与显示面板兼容。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一电压信号的状态变化确定所述第二电压信号的识别区间,包括:
将所述第一电压信号发生的第一次状态变化确定为所述第二电压信号的识别区间的起始点;
将所述第一电压信号发生的第二次状态变化确定为所述第二电压信号的识别区间的结束点。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述在所述识别区间内对所述第二电压信号的状态变化进行检测,包括:
在获取所述第二电压信号的识别区间的起始点后,启动对所述第二电压信号的状态变化进行计数,所述第二电压信号每发生一次状态变化,计数值加一;
在获取所述第二电压信号的识别区间的结束点后,停止计数,将所述计数值作为检测结果。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,所述状态变化包括信号发生电压跳变时的上升沿或下降沿。
5.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,所述状态变化包括信号发生电压跳变时的正脉冲或负脉冲。
6.根据权利要求4或5所述的方法,其特征在于,所述根据显示面板的类型对系统端进行调整以使系统端与显示面板兼容包括调整系统端的光学特性参数的设定。
7.一种用于系统端与显示面板兼容的自动识别装置,包括:
检测模块,其持续检测显示面板输出的第一电压信号和第二电压信号;
识别区间确定模块,其根据所述第一电压信号的状态变化确定所述第二电压信号的识别区间;
识别模块,其在所述识别区间内对所述第二电压信号的状态变化进行检测;
调整模块,其根据对所述第二电压信号的检测结果获取显示面板的类型,并根据显示面板的类型对系统端进行调整以使系统端与显示面板兼容。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述识别区间确定模块将所述第一电压信号发生的第一次状态变化确定为所述第二电压信号的识别区间的起始点;将所述第一电压信号发生的第二次状态变化确定为所述第二电压信号的识别区间的结束点。
9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述识别模块在获取所述第二电压信号的识别区间的起始点后,启动对所述第二电压信号的状态变化进行计数,所述第二电压信号每发生一次状态变化,计数值加一;在获取所述第二电压信号的识别区间的结束点后,停止计数,将所述计数值作为检测结果。
10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述调整模块调整系统端的光学特性参数的设定。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20161207 |